專利名稱：液晶顯示面板的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示面板檢測技術(shù)，特別是涉及一種液晶顯示面板的檢測方法，其可以在液晶顯示面板切除短路棒(shorting bar)后，還原點燈檢測。
背景技術(shù)：
隨著科技的高速發(fā)展，平面顯示裝置特別是液晶顯示裝置(Liquid CrystalDisplay，IXD)因其具有高畫質(zhì)、體積小、重量輕及應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點，而被廣泛地應(yīng)用在手機、筆記本電腦、桌上型顯示裝置、電視等各類消費性電子產(chǎn)品中，并已經(jīng)逐漸地取代傳統(tǒng)的陰極射線管顯示裝置(Cathode Ray Tube, CRT)而成為顯示裝置的主流。液晶顯示面板是液晶顯示裝置中最重要的元件，其通常包括薄膜晶體管(Thin Film Transistor, TFT)基板、彩色濾光片(Color Filter, CF)基板以及夾設(shè)在兩基板之間的液晶層。其中，薄膜晶體管基板上設(shè)置有多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、多個像素電極以及多個成矩陣排列的薄膜晶體管等等各類電子元器件。為了保證薄膜晶體管基板上各類電子元器件的電連接關(guān)系正確，業(yè)界通常在制程薄膜晶體管基板時，會一并在薄膜晶體管基板的邊緣處設(shè)置短路棒(shoring bar)，以利用短路棒而在模組化之前進行cell段的點燈檢測，然后檢測完畢后切除液晶顯示面板中的薄膜晶體管基板上的短路棒，再將液晶顯示面板送去進行模組化(Module段)。但是，如果發(fā)現(xiàn)模組化后的液晶顯示面板存在特殊缺陷時，由于此時薄膜晶體管基板上的短路棒已經(jīng)被切除掉了，則無法再利用短路棒進行cell點燈檢測，因此檢測人員無法判斷模組化后的液晶顯示面板所存在的特殊缺陷是由于點燈檢測人員漏了進行點燈檢測，還是點燈檢測無法檢出的缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，其能夠在切除短路棒后，還原點燈檢測。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，其包括提供一個全接觸點燈治具，其中所述全接觸點燈治具包括多個探針；以及利用所述全接觸點燈治具上的所述探針接觸所述液晶顯示面板上的面板端子，以執(zhí)行點燈檢測。其中，所述全接觸點燈治具進一步電性連接至印刷電路板，以利用所述印刷電路板所提供的點燈信號而執(zhí)行所述點燈檢測。其中，所述全接觸點燈治具通過COF封裝基板而電性連接至印刷電路板，以執(zhí)行所述點燈檢測。其中，所述液晶顯示面板通過所述連接端子而電性連接所述液晶顯示面板的驅(qū)動IC基板。其中，所述驅(qū)動IC基板包括位于X軸的源極驅(qū)動IC和位于Y軸的柵極驅(qū)動1C。
本發(fā)明的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明液晶顯示面板的檢測方法可以對模組化后的液晶顯示面板(即切除了短路棒后的液晶顯示面板)，利用全接觸點燈治具來還原原本由短路棒所執(zhí)行的點燈檢測，從而有助于判斷模組化后的液晶顯示面板所存在的缺陷是由于點燈檢測人員漏放了點燈檢測，還是點燈檢測無法檢出的缺陷，并可以調(diào)整點燈檢測的參數(shù)趨向至模組化檢測參數(shù)，從而增強點燈檢測的能力。


圖I是本發(fā)明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的流程示意圖；圖2是為本發(fā)明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的具體示意圖。
具體實施方式

圖I為本發(fā)明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的流程示意圖。請參閱圖1，本發(fā)明實施例所示的液晶顯示面板的檢測方法包括提供一個全接觸點燈治具，其中全接觸治具包括多個探針；以及利用全接觸點燈治具上的探針接觸液晶顯示面板，以還原點燈檢測。具體地，圖2為本發(fā)明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的具體示意圖。如圖2所示，液晶顯示面板100包括顯示區(qū)域110以及設(shè)置在邊緣區(qū)域內(nèi)的驅(qū)動IC基板120和130。其中，顯示區(qū)域110內(nèi)包括有多條掃描線(圖未示)和多條數(shù)據(jù)線(圖未示)，這些掃描線與這些數(shù)據(jù)線相互交叉以將液晶顯示面板100的顯示區(qū)域110劃分成多個像素區(qū)域，而每一個像素區(qū)域分別包括一個作為開關(guān)元件的薄膜晶體管(圖未示)和一個像素電極(圖未示)。顯示區(qū)域110內(nèi)的這些電子器件可通過連接端子140而電性連接處于邊緣區(qū)域的驅(qū)動IC基板120和130，以使液晶顯示面板100進行正常的工作。其中，驅(qū)動IC基板120和130包括位于Y軸的柵極驅(qū)動IC基板120和位于X軸的源極驅(qū)動IC基板130。柵極驅(qū)動IC基板120通過連接端子140而電性連接顯示區(qū)域110內(nèi)的柵極線，從而提供柵極信號以控制每一個薄膜晶體管的是否導通，而源極驅(qū)動IC基板130通過連接端子140而電性連接顯示區(qū)域110內(nèi)的數(shù)據(jù)線，以通過導通的薄膜晶體管而將圖像信號傳輸至對應(yīng)的像素電極，從而使液晶顯示面板100可以顯示畫面。此外，柵極驅(qū)動IC基板120和源極驅(qū)動IC基板130可利用COF (chip on film)或者TCP (tape carrierpackage)等等封裝技術(shù)而貼合在液晶顯示面板100上。此外，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的是，圖2所示的液晶顯示面板100是經(jīng)過了模組化(Module段)后的液晶顯示面板，即其在原本設(shè)置的短路棒(shorting bar)在經(jīng)過cell段的點燈檢測后已經(jīng)在面板切割過程中被切除掉了。在執(zhí)行本發(fā)明實施例所述的液晶顯示面板的檢測方法時，其可利用如圖2所示的全接觸點燈治具200，而電性連接液晶顯示面板100的連接端子140。其中，全接觸點燈治具200具有多個探針210，其探針210的數(shù)量可以設(shè)計與原本的短路棒的線路數(shù)量相同，從而還原原本利用短路棒進行的點燈檢測。具體地，全接觸點燈治具200的多個探針210的一端電性連接至液晶顯示面板100的連接端子140，而其另一端電性連接至COF封裝基板300，然后再通過COF封裝基板300而電性連接至印刷電路板400 (printed circuit board, PCB)。因此，印刷電路板400所提供的點燈信號可以通過COF封裝基板300傳遞至全接觸點燈治具200，然后再通過全接觸點燈治具200而傳遞至液晶顯示面板100內(nèi)，從而執(zhí)行點燈檢測。因此，本發(fā)明所述的液晶顯示面板的檢測方法可以對模組化后的液晶顯示面板100 (即切除了短路棒后的液晶顯示面板)，利用全接觸點燈治具200來還原原本由短路棒所執(zhí)行的點燈檢測，從而有助于判斷模組化后的液晶顯示面板所存在的缺陷是由于點燈檢測人員漏放了點燈檢測，還是點燈檢測無法檢出的缺陷，并可以調(diào)整點燈檢測的參數(shù)趨向至模組化檢測參數(shù)，從而增強點燈檢測的能力。以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)?！?br> 權(quán)利要求
1.ー種液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，包括 提供ー個全接觸點燈治具，其中所述全接觸點燈治具包括多個探針；以及 利用所述全接觸點燈治具上的所述探針接觸所述液晶顯示面板上的面板端子，以執(zhí)行點燈檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，所述全接觸點燈治具進ー步電性連接至印刷電路板，以利用所述印刷電路板所提供的點燈信號而執(zhí)行所述點燈檢測。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，所述全接觸點燈治具通過COF封裝基板而電性連接至印刷電路板，以執(zhí)行所述點燈檢測。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，所述液晶顯示面板通過所述連接端子而電性連接所述液晶顯示面板的驅(qū)動IC基板。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，所述驅(qū)動IC基板包括位于X軸的源極驅(qū)動IC和位于Y軸的柵極驅(qū)動1C。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示面板的檢測方法，其包括提供一個全接觸點燈治具，其中所述全接觸點燈治具包括多個探針；以及利用所述全接觸點燈治具上的所述探針接觸所述液晶顯示面板上的面板端子，以執(zhí)行點燈檢測。通過上述方式，本發(fā)明能夠?qū)δ＝M化后的液晶顯示面板，即切除了短路棒后的液晶顯示面板，利用全接觸點燈治具來還原原本由短路棒所執(zhí)行的點燈檢測，因此其可以增強點燈檢測的能力。
文檔編號G02F1/13GK102681227SQ20121017405
公開日2012年9月19日 申請日期2012年5月30日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月30日
發(fā)明者劉純, 潘昶宏, 黃皓 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司