專利名稱：顯示面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種顯示面板，且特別是有關(guān)于一種具有測試焊盤的顯示面板。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今市面上常見的顯示面板，如液晶顯示面板，可分為顯示區(qū)(displayregion) 與周邊線路區(qū)(peripheral circuit region)，其中在顯示區(qū)內(nèi)配置陣列排列的多個像素 單元，以通過像素單元顯示圖框畫面。周邊線路區(qū)內(nèi)設(shè)置電性連接該些像素單元的驅(qū)動器 以及測試線路等，以驅(qū)動該些像素單元或?qū)υ撔┫袼貑卧M(jìn)行電性檢測。通過電性檢測，可 判斷像素單元可否正常運(yùn)作。當(dāng)像素單元無法正常運(yùn)作時，便可對于不良的元件(如薄膜 晶體管或像素電極等)或線路進(jìn)行修補(bǔ)。電性檢測的方式通常是以探針接觸測試線路的測試焊盤，以輸入測試信號至各像 素單元，并觀察各像素單元是否正常運(yùn)作。然而，限于現(xiàn)有的測試焊盤結(jié)構(gòu)，在探針與測試 焊盤接觸時，容易使探針在測試焊盤表面滑動偏擺而移出測試焊盤之外，導(dǎo)致基板表面的 元件被探針撞擊損壞或是基板表面的線路被探針刮傷等意外。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種顯示面板，是對測試焊盤的結(jié)構(gòu)進(jìn)行改動，以穩(wěn)定探針在測試焊 盤上的位置，并有助于提高測試良率及測試準(zhǔn)確度。為具體描述本發(fā)明之內(nèi)容，在此提出一種顯示面板，包括一基板、一像素陣列以及 一測試焊盤。基板具有一承載面，且基板可劃分一顯示區(qū)以及位于顯示區(qū)外圍的一周邊線 路區(qū)。像素陣列配置于承載面上，且位于顯示區(qū)內(nèi)。測試焊盤配置于承載面上，且位于周邊 線路區(qū)內(nèi)。測試焊盤電性連接至像素陣列。測試焊盤包括一中央部分以及圍繞中央部分 的一外圍部分，其中外圍部分的高度大于中央部分的高度，且外圍部分具有多個第一溝槽 (trench)。第一溝槽暴露出承載面。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，所述顯示面板更包括多個止擋肋條，配置于承載面上，且 位于測試焊盤的外側(cè)。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，止擋肋條的高度大于測試焊盤的外圍部分 的高度。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，測試焊盤與其相鄰的每一止擋肋條之間具有一第二溝槽， 且第二溝槽暴露出承載面。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，止擋肋條相互平行，且沿測試焊盤的一 側(cè)邊設(shè)置。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，相互平行的兩個止擋肋條之間具有一第三溝槽暴露出 承載面。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，測試焊盤包括一第一金屬層、一柵絕緣層、一第二金屬層 以及一透明電極層。第一金屬層配置于承載面上，且第一金屬層包括一第一部分以及圍繞 第一部分的一第二部分。柵絕緣層配置于第一金屬層的第二部分上，并且暴露出第一金屬 層的第一部分。第二金屬層配置于柵絕緣層上。透明電極層覆蓋第二金屬層以及第一金屬 層的第一部分。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，止擋肋條包括一第一金屬層、一柵絕緣層、一半導(dǎo) 體層、一第二金屬層、一保護(hù)層以及一透明電極層。第一金屬層配置于承載面上。柵絕緣層 配置于第一金屬層上。半導(dǎo)體層配置于柵絕緣層上。第二金屬層配置于半導(dǎo)體層上。保護(hù)層配置于第二金屬層上。透明電極層覆蓋第二金屬層。在本發(fā)明之一實(shí)施例中，所述止擋 肋條的柵絕緣層更延伸覆蓋第一金屬層的兩個相對側(cè)壁以及兩相對側(cè)壁外的部分承載面。 在本發(fā)明之一實(shí)施例中，所述止擋肋條的保護(hù)層更延伸覆蓋第二金屬層的兩個相對側(cè)壁、 半導(dǎo)體層的兩個相對側(cè)壁、位于第一金屬層的兩個相對側(cè)壁上的柵絕緣層以及位于承載面 上的柵絕緣層。基于上述，本發(fā)明在測試焊盤的外圍部分設(shè)置多個暴露承載面的第一溝槽，用以 避免探針與接觸墊接觸時滑出接觸墊之外而破壞基板上的其他元件。此外，本發(fā)明還可以 在測試焊盤的外側(cè)設(shè)置多個止擋肋條，以通過止擋肋條與測試焊盤之間的高度斷差以及位 于止擋肋條與測試焊盤之間的第二溝槽以及第三溝槽來加強(qiáng)對探針的拘束效果。因此，可 有效提高測試良率及測試準(zhǔn)確度。為讓本發(fā)明之上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附圖式 作詳細(xì)說明如下。


圖1為根據(jù)本發(fā)明之一實(shí)施例的一種液晶顯示面板的示意圖及其局部放大圖。圖2A為圖1的測試焊盤的頂視圖。
圖2B為圖1的測試焊盤的剖面圖。
圖3A與圖;3B分別繪示根據(jù)本發(fā)明之另一實(shí)施例的測試焊盤的頂視圖與剖面圖。
主要元件符號說明
100液晶顯示面板102顯示區(qū)104周邊線路區(qū)110像素陣列112像素單元120測試焊盤122測試焊盤的中央部分124測試焊盤的外圍部分130止擋肋條152第一溝槽154第二溝槽156第三溝槽190基板192基板的承載面Hl 測試焊盤的中央部分的高度
H2 測試焊盤的外圍部分的高度
H3 止擋肋條的高度P:探針
210第一金屬層220柵絕緣層230第二金屬層240透明電極層250半導(dǎo)體層260保護(hù)層320測試焊盤330止擋肋條390基板392基板的承載面410第一金屬層412第一金屬層的側(cè)壁420柵絕緣層430第二金屬層432第二金屬層的側(cè)壁450半導(dǎo)體層452半導(dǎo)體層的側(cè)壁460保護(hù)層
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的顯示面板可以是液晶顯示面板、有機(jī)電激發(fā)光面板等通過像素陣列來顯 示圖框畫面的各類型顯示面板。以下將以液晶顯示面板為例來說明將本發(fā)明的測試焊盤設(shè) 計應(yīng)用于其上的實(shí)際架構(gòu)。圖1為依照本發(fā)明之一實(shí)施例的一種液晶顯示面板的示意圖及其局部放大圖。如 圖1所示，液晶顯示面板100具有顯示區(qū)102以及位于顯示區(qū)102外圍的周邊線路區(qū)104。 顯示區(qū)102內(nèi)具有由多個像素單元112構(gòu)成的像素陣列110，而周邊線路區(qū)104內(nèi)具有電性 連接至像素陣列110的一或多個測試焊盤120。一般而言，液晶顯示面板100是由薄膜晶體管陣列基板、對向基板以及夾置于兩 基板間的液晶層所組成，而前述的像素單元112可包括位于薄膜晶體管陣列基板上的薄膜 晶體管、像素電極、液晶層內(nèi)的液晶分子以及對向基板上的共用電極等。本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人 員理當(dāng)能理解前述組成元件的結(jié)構(gòu)與作動方式，此處不逐一贅述。在進(jìn)行檢測時，探針P接觸測試焊盤120，以輸入測試信號至像素陣列110中的各 像素單元112，并觀察各像素單元112是否正常運(yùn)作。下文以單一個測試焊盤120做進(jìn)一步說明。圖2A為圖1之測試焊盤120的上視 圖，而圖2B為測試焊盤120的剖面圖。如圖2A與2B所示，測試焊盤120配置于基板190 的承載面192。此基板190例如是薄膜晶體管陣列基板側(cè)的玻璃基板，而所述測試焊盤120 例如是與薄膜晶體管陣列基板上的各元件共同制作。換言之，在基板190上沉積多個材料 層并對該些材料層進(jìn)行圖案化(光罩)制程，以形成薄膜晶體管以及像素電極的同時，也在 周邊線路區(qū)104內(nèi)選擇性地堆迭該些材料層，以構(gòu)成本實(shí)施例的測試焊盤120。請再參考圖2A與2B，本實(shí)施例的測試焊盤120包括一中央部分122以及圍繞中央 部分122的一外圍部分124。外圍部分124的高度H2大于中央部分122的高度H1，以形成 中央凹陷的結(jié)構(gòu)，且外圍部分1 具有多個第一溝槽152。該些第一溝槽152會貫穿測試焊 盤120的外圍部分124，而暴露出基板190的承載面192。中央部分122相對凹陷的測試焊盤120可在一定程度上穩(wěn)定探針P的位置，且由 于本實(shí)施例在測試焊盤120的外圍部分1 設(shè)置多個第一溝槽152，而第一溝槽152的深度 直抵基板190的承載面192，因此可在測試焊盤120的表面地形上形成足夠的高度差。當(dāng)探 針P在接觸墊120表面向外滑動時，探針P的尖端會進(jìn)入第一溝槽152內(nèi)，而通過第一溝槽 152產(chǎn)生一定程度的拘束效果。此外，本實(shí)施例更可選擇性地在測試焊盤120外側(cè)的承載面192上設(shè)置多個止擋 肋條130。所述止擋肋條130的高度H3至少大于或等于測試焊盤120的外圍部分124的高 度H2，因此即使探針P克服了第一溝槽152的拘束效果，仍可通過止擋肋條130來阻止探 針P繼續(xù)向測試焊盤120外部移動。再者，測試焊盤120與其相鄰的止擋肋條130之間具 有第二溝槽154。此第二溝槽IM也會暴露出基板190的承載面192，以提供與前述第一溝 槽152類似的拘束效果。另一方面，本發(fā)明并不限制止擋肋條130的位置以及數(shù)量。在本實(shí)施例中，止擋肋 條130的延伸方向會與測試焊盤120的邊緣實(shí)質(zhì)上相互平行，且測試焊盤120的同一側(cè)邊 上設(shè)置兩個以上且相互平行的止擋肋條130。其中，相互平行的兩個止擋肋條130之間會形 成第三溝槽156。所述第三溝槽156也會暴露出基板190的承載面192，以提供與前述第一溝槽152以及第二溝槽IM類似的拘束效果。另外，如前文所提，本實(shí)施例的測試焊盤120可與薄膜晶體管陣列基板上的各元 件共同制作，以節(jié)省工藝流程。即，本實(shí)施例的測試焊盤120可由現(xiàn)有薄膜晶體管陣列基板 制程中的各材料層所組成。舉例而言，本實(shí)施例的測試焊盤120便包括了第一金屬層210、 柵絕緣層220、第二金屬層230以及透明電極層M0。第一金屬層210對應(yīng)于薄膜晶體管中 的柵極材料層，配置于基板190的承載面192上。第一金屬層210包括第一部分212以及 圍繞第一部分212的第二部分214。柵絕緣層220對應(yīng)于薄膜晶體管中覆蓋柵極的柵絕緣 層。柵絕緣層220配置于第一金屬層210的第二部分214上，并且暴露出第一金屬層210 的第一部分212。第二金屬層230對應(yīng)于薄膜晶體管中的源極材料層，且第二金屬層230配 置于柵絕緣層220上。透明電極層240對應(yīng)于薄膜晶體管陣列基板上的像素電極層，且透 明電極層240覆蓋第二金屬層230以及第一金屬層210的第一部分212。因此，可構(gòu)成測試 焊盤120。換言之，測試焊盤120的中央部分122是由第一金屬層210以及透明電極層240 堆迭而成，而測試焊盤120的外圍部分IM是由第一金屬層210、柵絕緣層220、第二金屬層 230以及透明電極層240堆迭而成，因此兩者具有不同的高度。此外，止擋肋條130也可以與薄膜晶體管陣列基板上的各元件共同制作，而由現(xiàn) 有薄膜晶體管陣列基板制程中的各材料層所組成。本實(shí)施例的止擋肋條130包括前述第一 金屬層210、前述柵絕緣層220、一半導(dǎo)體層250、前述第二金屬層230、一保護(hù)層沈0以及前 述透明電極層對0。為了提高止擋肋條130的高度H3，本實(shí)施例除了測試焊盤120的外圍 部分IM所具有的膜層之外，更在迭層中增加了半導(dǎo)體層250以及保護(hù)層沈0。半導(dǎo)體層 250對應(yīng)于薄膜晶體管中的主動層，且半導(dǎo)體層250配置于柵絕緣層220與第二金屬層230 之間。保護(hù)層260對應(yīng)于薄膜晶體管陣列基板中用以覆蓋薄膜晶體管的保護(hù)層，且保護(hù)層 260配置于第二金屬層230與透明電極層240之間。本實(shí)施例的測試焊盤120的外圍部分IM具有多個暴露承載面192的第一溝槽 152，用以避免探針P與接觸墊120接觸時滑出接觸墊120之外而破壞基板190上的其他 元件。此外，本實(shí)施例還可在測試焊盤120的外側(cè)設(shè)置多個止擋肋條130，以通過止擋肋條 130與測試焊盤120之間的高度斷差以及位于止擋肋條130與測試焊盤120之間的第二溝 槽154以及第三溝槽156來加強(qiáng)對探針P的拘束效果。因此，可有效提高測試良率及測試 準(zhǔn)確度。圖3A與圖:3B更分別繪示依照本發(fā)明之另一實(shí)施例的測試焊盤的上視圖與剖面 圖。本實(shí)施例的測試焊盤320與前述實(shí)施例的測試焊盤120類似，除了 本實(shí)施例為了避免 外界水氣或異物造成止擋肋條330的金屬層氧化或其他膜層變質(zhì)，在定義止擋肋條330的 柵絕緣層420以及保護(hù)層460時，更使柵絕緣層420以及保護(hù)層460分別覆蓋下方膜層的 側(cè)壁。更具體而言，止擋肋條330的柵絕緣層420會延伸覆蓋第一金屬層410的兩個相對 側(cè)壁412以及兩相對側(cè)壁412外的基板390的部分承載面392。此外，止擋肋條330的保 護(hù)層460會延伸覆蓋第二金屬層430的兩個相對側(cè)壁432、半導(dǎo)體層450的兩個相對側(cè)壁 452、位于第一金屬層410的兩個相對側(cè)壁412上的柵絕緣層420以及位于基板390的承載 面392上的柵絕緣層420。通過柵絕緣層420以及保護(hù)層460的延伸部分可以使第一金屬層410、第二金屬層 430以及半導(dǎo)體層450與外界隔離，以保護(hù)止擋肋條330。
當(dāng)然，本實(shí)施例的測試焊盤320的其他部分也可以采用相同的設(shè)計，使柵絕緣層 420以及保護(hù)層460延伸覆蓋需要保護(hù)的特定膜層，以維持測試焊盤320的正常運(yùn)作。雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域 中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明之精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許之更動與潤飾，故本發(fā)明 之保護(hù)范圍當(dāng)視后附之申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板，包括一基板，具有一承載面，該基板具有一顯示區(qū)以及位于該顯示區(qū)外圍的一周邊線路區(qū)；一像素陣列，配置于該承載面上，且位于該顯示區(qū)內(nèi)；以及一測試焊盤，配置于該承載面上，且位于該周邊線路區(qū)內(nèi)，該測試焊盤電性連接至該像 素陣列，該測試焊盤包括一中央部分以及圍繞該中央部分的一外圍部分，其中該外圍部分 的高度大于該中央部分的高度，且該外圍部分具有多個第一溝槽，所述第一溝槽暴露出該 承載面。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于進(jìn)一步包括多個止擋肋條，配置于該承 載面上，且位于該測試焊盤的外側(cè)。
3.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于所述止擋肋條的高度大于測試焊盤的 該外圍部分的高度。
4.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于該測試焊盤與其相鄰的每一止擋肋條 之間具有一第二溝槽，該第二溝槽暴露出該承載面。
5.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于部分的所述止擋肋條相互平行，且沿該 測試焊盤的一側(cè)邊設(shè)置。
6.如權(quán)利要求5所述的顯示面板，其特征在于相互平行的兩個止擋肋條之間具有一 第三溝槽暴露出該承載面。
7.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于該測試焊盤包括一第一金屬層，配置于該承載面上，該第一金屬層包括一第一部分以及圍繞該第一部 分的一第二部分；一柵絕緣層，配置于該第一金屬層的該第二部分上，并且暴露出該第一金屬層的該第 一部分；一第二金屬層，配置于該柵絕緣層上；以及一透明電極層，覆蓋該第二金屬層以及該第一金屬層的該第一部分。
8.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于該止擋肋條包括一第一金屬層，配置于該承載面上；一柵絕緣層，配置于該第一金屬層上；一半導(dǎo)體層，配置于該柵絕緣層上；一第二金屬層，配置于該半導(dǎo)體層上；一保護(hù)層，配置于該第二金屬層上；以及一透明電極層，覆蓋該第二金屬層。
9.如權(quán)利要求8所述的顯示面板，其特征在于該柵絕緣層進(jìn)一步延伸覆蓋該第一金 屬層的兩個相對側(cè)壁以及該兩相對側(cè)壁外的部分該承載面。
10.如權(quán)利要求9所述的顯示面板，其特征在于該保護(hù)層更延伸覆蓋該第二金屬層的 兩個相對側(cè)壁、該半導(dǎo)體層的兩個相對側(cè)壁、位于該第一金屬層的該兩個相對側(cè)壁上的該 柵絕緣層以及位于該承載面上的該柵絕緣層。
全文摘要
一種顯示面板，包括一基板、一像素陣列以及一測試焊盤?；寰哂幸怀休d面，且基板具有一顯示區(qū)以及位于顯示區(qū)外圍的一周邊線路區(qū)。像素陣列配置于承載面上，且位于顯示區(qū)內(nèi)。測試焊盤配置于承載面上，且位于周邊線路區(qū)內(nèi)。測試焊盤電性連接至像素陣列。測試焊盤包括一中央部分以及圍繞中央部分的一外圍部分，其中外圍部分的高度大于中央部分的高度，且外圍部分具有多個第一溝槽。第一溝槽暴露出承載面。
文檔編號G02F1/136GK102122092SQ20111005230
公開日2011年7月13日 申請日期2011年3月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月24日
發(fā)明者廖一遂, 陳柄霖 申請人:友達(dá)光電股份有限公司