專利名稱：自動光學(xué)檢驗設(shè)備及其校正方法
自動光學(xué)檢驗設(shè)備及其校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備，特別是有關(guān)于一種能降低整體流程的作業(yè)時間的自動光學(xué)檢驗設(shè)備及其校正方法。
背景技術(shù)：
一般在液晶面板的制造過程中，需要使用自動光學(xué)檢驗(automatedoptical inspection, Α0Ι)設(shè)備對其中的玻璃基板進行檢驗。所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備主要是利用光學(xué)裝置取得玻璃基板表面影像，再利用電腦影像處理技術(shù)檢查出異物或是圖案異常等缺陷。請參考圖1所示，圖1為現(xiàn)有自動光學(xué)檢驗設(shè)備進行日常校正的流程圖。進行日常校正時，自動光學(xué)檢驗設(shè)備必須先清空內(nèi)部待檢驗的產(chǎn)品(S900)。接著由工作人員將校正用的標(biāo)準(zhǔn)片以手動直接置入所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備內(nèi)(S901)，或是將所述標(biāo)準(zhǔn)片通過專用的卡匣置入所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備內(nèi)(S902)，以進行日常校正。待校正完畢(S903)，所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備即重新開始接收產(chǎn)品繼續(xù)進行檢驗(S904)。前述以人員搬取標(biāo)準(zhǔn)片的方式容易造成標(biāo)準(zhǔn)片損傷，一旦標(biāo)準(zhǔn)片損傷，就必須重新制作新的標(biāo)準(zhǔn)片。再者，圖1所揭露的校正流程必須將自動光學(xué)檢驗設(shè)備內(nèi)的待檢驗產(chǎn)品全數(shù)清空，才能置入標(biāo)準(zhǔn)片進行校正，此種方式過于耗時。故，有必要提供一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備及其校正方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備，能夠免除手動置入與取出標(biāo)準(zhǔn)片的動作，進而降低整體流程的作業(yè)時間，提升產(chǎn)品檢驗效率。本發(fā)明的次要目的在于提供一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法，其由前述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備執(zhí)行，讓日常校正流程得以自動化，縮短日常校正時間，而使檢驗產(chǎn)品的效率提尚。為達成本發(fā)明的前述目的，本發(fā)明提供一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備，所述光學(xué)檢驗設(shè)備包含一機臺，包括用于放置產(chǎn)品片的第一固定座，以及用于放置標(biāo)準(zhǔn)片的第二固定座， 第二固定座設(shè)置于第一固定座上方；以及一第一攝像件，設(shè)置于所述機臺上方，用于在預(yù)定時刻向上移動一預(yù)定距離，再對第二固定座上的標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描以實現(xiàn)校正。在本發(fā)明的一實施例中，所述第一攝像件在校正后向下移動所述預(yù)定距離，對所 述第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。在本發(fā)明的一實施例中，所述第二固定座可相對第一固定座移動。在本發(fā)明的一實施例中，進一步包含一光源裝置，設(shè)置于所述機臺上方并位于所述第一攝像件一側(cè)，用于對所述第一固定座及所述第二固定座提供照明。
在本發(fā)明的一實施例中，進一步包含一第二攝像件，設(shè)置于所述機臺下方，所述第二攝像件是與所述第一攝像件同步對第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。在本發(fā)明的一實施例中，所述光源裝置為一照射角度可調(diào)的光源裝置。本發(fā)明另提供一種自動光學(xué)檢驗方法，所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法是由一自動光學(xué)檢驗設(shè)備執(zhí)行，其中所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備包含一機臺及一第一攝像件，所述機臺包括用于放置產(chǎn)品片的第一固定座，以及用于放置標(biāo)準(zhǔn)片的第二固定座，第二固定座設(shè)置于第一固定座上方；所述第一攝像件設(shè)置于所述機臺上方；所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法包含下列步驟第一攝像件在預(yù)定時刻時向上移動一預(yù)定距離，再對第二固定座上的標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描以實現(xiàn)校正。在本發(fā)明的一實施例中，所述第一攝像件在校正后向下移動所述預(yù)定距離，繼續(xù)對所述第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。在本發(fā)明的一實施例中，所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備進一步包含一光源裝置，設(shè)置于所述機臺上方并位于所述第一攝像件一側(cè)，用于對所述第一固定座及所述第二固定座提供照明。在本發(fā)明的一實施例中，所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備進一步包含一第二攝像件，設(shè)置于所述機臺下方，所述第二攝像件是與所述第一攝像件同步對第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。本發(fā)明在機臺內(nèi)設(shè)置一可長時間放置標(biāo)準(zhǔn)片的固定座，并配合自動化的校正流程，在日常校正流程中免除了頻繁置入與取出標(biāo)準(zhǔn)片的動作，避免了人員搬取標(biāo)準(zhǔn)片造成的損傷風(fēng)險，進而降低整體流程的作業(yè)時間，使得產(chǎn)品檢驗效率獲得提升。

圖1是現(xiàn)有自動光學(xué)檢驗設(shè)備進行日常校正的流程圖。圖2是本發(fā)明一較佳實施例的自動光學(xué)檢驗設(shè)備的側(cè)視圖。圖3是圖2的自動光學(xué)檢驗設(shè)備啟動校正功能時的側(cè)視圖。圖4是本發(fā)明自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法的流程圖。
具體實施方式
為讓本發(fā)明上述目的、特征及優(yōu)點更明顯易懂，下文特舉本發(fā)明較佳實施例，并配合附圖，作詳細(xì)說明如下。再者，本發(fā)明所提到的方向用語，例如「上」、「下」、「前」、「后」、 「左」、「右」、「內(nèi)」、「外」、「側(cè)面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語是用以說明及理解本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。一般在進行自動光學(xué)檢驗(automated optical inspection, AOI)的校正程序之前，生產(chǎn)線需要停止運行以停止加入產(chǎn)品片，并清空內(nèi)部待檢驗的產(chǎn)品片，才能送入標(biāo)準(zhǔn)片以進行日常校正程序。因此，本發(fā)明將透過在自動光學(xué)檢驗設(shè)備內(nèi)部設(shè)置可存放標(biāo)準(zhǔn)片的固定座，以省去清空產(chǎn)品片與送入標(biāo)準(zhǔn)片的繁瑣步驟。請參考圖2所示，圖2為本發(fā)明一較佳實施例的自動光學(xué)檢驗設(shè)備的側(cè)視圖。所述光學(xué)檢驗設(shè)備主要包含有一機臺10以及一第一攝像件20 ；所述機臺10包括一第一固定座11及一第二固定座12 ；所述第一固定座11是用于放置至少一產(chǎn)品片110 ；所述第二固定座12設(shè)置于所述第一固定座11 一端的上方，用于放置至少一標(biāo)準(zhǔn)片120，且所述第二固定座12可相對第一固定座11移動；所述第二固定座12可以是跨設(shè)于所述第一固定座11上方，而不致影響生產(chǎn)線的運行。如圖 2所示，所述第一攝像件20設(shè)置于所述機臺10上方，其可以是裝設(shè)于一第一控制基座21上，所述第一攝像件20由所述第一控制基座21控制其移動。進一步參考圖3所示，在機臺運行至預(yù)定進行日常校正的時刻時，生產(chǎn)線將自動停止運行，以停止加入產(chǎn)品片，由于所述第二固定座12是設(shè)置于所述第一固定座11 一端的上方，因此，所述第一攝像件20會先向上移動一預(yù)定距離，以對第二固定座12上的標(biāo)準(zhǔn)片 120進行對焦，并對標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描，進而將掃描獲得的資料送出至一對應(yīng)的控制系統(tǒng)，以實現(xiàn)校正。其中所述第一攝像件20會從所述標(biāo)準(zhǔn)片120的一端往另一端移動以掃描。所述第一攝像件20在校正結(jié)束后即向下移動所述預(yù)定距離以對所述第一固定座上的產(chǎn)品片 110進行對焦，并對產(chǎn)品片110進行掃描。所述第一攝像件20會從所述產(chǎn)品片110的一端往另一端移動以掃描。如圖1和圖3所示，本發(fā)明自動光學(xué)檢驗設(shè)備可進一步包含一第二攝像件30。所述第二攝像件30是設(shè)置于所述機臺10下方，其可以是裝設(shè)于一第二控制基座31上。所述第一攝像件20由所述第一控制基座21控制其移動。所述第二攝像件30是與所述第一攝像件20同步對第一固定座11上的產(chǎn)品片110進行掃描。如圖1和圖3所示，本發(fā)明自動光學(xué)檢驗設(shè)備可進一步包含一光源裝置40，所述光源裝置40是設(shè)置于所述機臺10上方并位于所述第一攝像件20 —側(cè)，用于對所述第一固定座11及所述第二固定座12提供照明，使所述第一攝像件20得以從產(chǎn)品片110及標(biāo)準(zhǔn)片 120取得清晰的影像。所述光源裝置40優(yōu)選為一照射角度可調(diào)的光源裝置。請參考圖4所示，圖4是本發(fā)明自動光學(xué)檢驗設(shè)備進行日常校正的流程圖。所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法是由前述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備執(zhí)行。所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法包含下列步驟步驟S500，所述第一攝像件在預(yù)定時刻時停止掃描第一固定座上的產(chǎn)品片，向上移動一預(yù)定距離，再對第二固定座上的標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描以實現(xiàn)校正；例如每天的早上8點，生產(chǎn)線自動停止運行，所述第一攝像件停止掃描產(chǎn)品片并向上移動預(yù)定距離以對焦并掃描所述標(biāo)準(zhǔn)片，并將對標(biāo)準(zhǔn)片的掃描數(shù)據(jù)傳至一控制系統(tǒng)， 以實現(xiàn)對AOI設(shè)備的校正。步驟S501，所述第一攝像件在校正后向下移動所述預(yù)定距離，繼續(xù)對所述第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備配合所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法，即可定時進行校正，在校正完畢之后，所述第一攝像件向下移動預(yù)定距離以對焦所述產(chǎn)品片，并且生產(chǎn)線繼續(xù)運行。綜上所述，相較于現(xiàn)有以人員搬取標(biāo)準(zhǔn)片的方式，容易造成標(biāo)準(zhǔn)片損傷，且校正流程較為耗時，本發(fā)明通過在機臺上設(shè)置一可供長時間存放標(biāo)準(zhǔn)片的第二固定座，并配合自動化的校正流程，避免了人員搬取標(biāo)準(zhǔn)片造成的損傷風(fēng)險，并大幅減少日常校正所耗費的時間，進而提升了檢驗產(chǎn)品的效率，有助于提升產(chǎn)能。

本發(fā)明已由上述相關(guān)實施例加以描述，然而上述實施例僅為實施本發(fā)明的范例。 必需指出的是，已公開的實施例并未限制本發(fā)明的范圍。相反地，包含于權(quán)利要求書的精神及范圍的修改及均等設(shè)置均包括于本發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備，其特征在于，包括一機臺，包括用于放置產(chǎn)品片的第一固定座，以及用于放置標(biāo)準(zhǔn)片的第二固定座，第二固定座設(shè)置于第一固定座上方；以及一第一攝像件，設(shè)置于所述機臺上方，用于在預(yù)定時刻向上移動一預(yù)定距離，再對第二固定座上的標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描以實現(xiàn)校正。
2.如權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備，其特征在于所述第一攝像件在校正后向下移動所述預(yù)定距離，對所述第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。
3.如權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備，其特征在于所述第二固定座可相對第一固定座移動。
4.如權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備，其特征在于，進一步包含一光源裝置，設(shè)置于所述機臺上方并位于所述第一攝像件一側(cè)，用于對所述第一固定座及所述第二固定座提供照明。
5.如權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備，其特征在于，進一步包含一第二攝像件， 設(shè)置于所述機臺下方，所述第二攝像件是與所述第一攝像件同步對第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。
6.如權(quán)利要求4所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備，其特征在于所述光源裝置為一照射角度可調(diào)的光源裝置。
7.一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法，其特征在于所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法是由一自動光學(xué)檢驗設(shè)備執(zhí)行，其中所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備包含一機臺及一第一攝像件，所述機臺包括用于放置產(chǎn)品片的第一固定座，以及用于放置標(biāo)準(zhǔn)片的第二固定座，第二固定座設(shè)置于第一固定座上方；所述第一攝像件設(shè)置于所述機臺上方；所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法包含下列步驟第一攝像件在預(yù)定時刻時向上移動一預(yù)定距離，再對第二固定座上的標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描以實現(xiàn)校正。
8.如權(quán)利要求7所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法，其特征在于所述第一攝像件在校正后向下移動所述預(yù)定距離，繼續(xù)對所述第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。
9.如權(quán)利要求7所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法，其特征在于所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備進一步包含一光源裝置，設(shè)置于所述機臺上方并位于所述第一攝像件一側(cè)，用于對所述第一固定座及所述第二固定座提供照明。
10.如權(quán)利要求8所述的自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正方法，其特征在于所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備進一步包含一第二攝像件，設(shè)置于所述機臺下方，所述第二攝像件是與所述第一攝像件同步對第一固定座上的產(chǎn)品片進行掃描。
全文摘要
本發(fā)明公開一種自動光學(xué)檢驗設(shè)備及其校正方法。所述自動光學(xué)檢驗設(shè)備包括機臺與攝像件，機臺包括用于放置產(chǎn)品片的第一固定座，以及用于放置標(biāo)準(zhǔn)片的第二固定座，第二固定座設(shè)置于第一固定座上方，攝像件設(shè)置于機臺上方，用于在預(yù)定時刻向上移動一預(yù)定距離，對第二固定座上的標(biāo)準(zhǔn)片進行掃描以實現(xiàn)校正。本發(fā)明將自動光學(xué)檢驗設(shè)備的校正流程予以自動化，進而降低整體作業(yè)時間。
文檔編號G02F1/13GK102156357SQ20111004675
公開日2011年8月17日 申請日期2011年2月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年2月25日
發(fā)明者周炳宏, 賀成明 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司