專利名稱：觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀及操作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀及操作方法。
背景技術(shù)：
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，人類的探知領(lǐng)域也在不斷擴(kuò)大，單憑肉眼觀測(cè)已無(wú)法 滿足人類的求知欲望，而顯微鏡的發(fā)明使人類對(duì)微觀世界有了更為深入的了解，而所獲得 的這些知識(shí)指導(dǎo)人們?cè)诳茖W(xué)領(lǐng)域、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域不斷的進(jìn)取發(fā)展。 而隨著探知領(lǐng)域的深入，需要觀測(cè)的對(duì)象越來(lái)越小，如果想對(duì)微小對(duì)象進(jìn)行觀測(cè)， 比如對(duì)細(xì)胞進(jìn)行觀測(cè)時(shí)候，常會(huì)面臨一個(gè)主要問(wèn)題，那就是因?yàn)楸挥^測(cè)的對(duì)象非常微小，而 利用是用高倍的放大率觀測(cè)時(shí)，常會(huì)面臨著數(shù)量非常龐大的觀測(cè)對(duì)象。 如何對(duì)這些龐大數(shù)目的觀測(cè)對(duì)象進(jìn)行有效觀測(cè)，是一個(gè)并不容易解決的問(wèn)題，但 意義很大。在實(shí)際的應(yīng)用中，比如，在對(duì)大量的體細(xì)胞進(jìn)行觀察時(shí)，為了檢索可能的病變細(xì) 胞，顯然需要對(duì)待檢測(cè)的對(duì)象進(jìn)行大量的觀測(cè)。這樣不僅耗時(shí)耗力，而且因?yàn)闊o(wú)法準(zhǔn)確區(qū)分 已觀測(cè)區(qū)域和為觀測(cè)區(qū)域，從而造成觀測(cè)的重復(fù)性，且對(duì)于已確定的多個(gè)觀測(cè)點(diǎn)一一展示 時(shí)，因?yàn)闆](méi)有良好的參照點(diǎn)兒需要重新逐一觀測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀及操作方法，利用本發(fā)明中的陣列式可控 透光裝置，在檢測(cè)對(duì)待探測(cè)物體時(shí)，可以實(shí)現(xiàn)逐一探測(cè)，防止重復(fù)探測(cè)，觀測(cè)點(diǎn)定位的功能。
本發(fā)明的目的是提供一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，包括有
樣品置放板，它是用以放置待探測(cè)物體的樣品臺(tái)； 陣列式可控透光裝置，它由大量的透光可控單元組成，且每一個(gè)透光可控單元，其 透光特性均可以得到控制的結(jié)構(gòu)； 光學(xué)結(jié)構(gòu)，它是用來(lái)進(jìn)行光學(xué)放大，光學(xué)取像的結(jié)構(gòu)； 感光結(jié)構(gòu)，它是和前述的光學(xué)結(jié)構(gòu)相配合，用以對(duì)經(jīng)過(guò)光學(xué)結(jié)構(gòu)處理后的待測(cè)物
體圖像進(jìn)行感光記錄的結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步，所述探測(cè)儀還包括 所述探測(cè)儀設(shè)置有照明光源，它是用于對(duì)放置在所述樣品置放板上的待探測(cè)物體
提供照明的結(jié)構(gòu)；所述照明光源包括有以底部為角度，用以向待觀測(cè)的物體提供照明的底
部照明光源，及以側(cè)部為角度，用以向待觀測(cè)的物體提供照明的側(cè)部照明光源。 所述樣品置放板為透光板，它是用于讓上述底部照明光源直接穿透，照射待探測(cè)
物體的樣品臺(tái)。 所述陣列式可控透光裝置為液晶矩陣層，它是針對(duì)每一個(gè)透光可控單元，對(duì)應(yīng)設(shè) 置有一個(gè)液晶層單元，通過(guò)電源控制所述液晶層單元的透光性的結(jié)構(gòu)。 所述陣列式可控透光裝置設(shè)置有透光區(qū)域控制模塊，它是用于控制所述透光可控 單元形成透光區(qū)域，透光區(qū)域范圍，并規(guī)劃透光區(qū)域行進(jìn)路線的結(jié)構(gòu)。
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所述陣列式可控透光裝置設(shè)置有坐標(biāo)對(duì)應(yīng)模塊，它是用于當(dāng)用戶確定待探測(cè)物體 的觀測(cè)點(diǎn)時(shí)，記錄所述觀測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的透光可控單元的坐標(biāo)位置的結(jié)構(gòu)。 所述陣列式可控透光裝置是由至少一種呈幾何多邊形的透光可控單元組成的結(jié) 構(gòu)。
本發(fā)明的另一目的是提供一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作方法，包括有
步驟1，設(shè)置待探測(cè)物體于樣品置放板上； 步驟2，設(shè)置陣列式可控透光裝置，所述陣列式可控透光裝置所含透光可控單元，
驅(qū)動(dòng)所述陣列式可控透光裝置中透光可控單元的透光度，形成透光區(qū)域； 步驟3，通過(guò)所述透光區(qū)域，利用光學(xué)結(jié)構(gòu)觀測(cè)待探測(cè)物體，確定觀測(cè)點(diǎn)； 步驟4，通過(guò)感光結(jié)構(gòu)，記錄步驟3中所確定的觀測(cè)點(diǎn)的圖像資料。 進(jìn)一步，所述探測(cè)儀的操作方法還包括 在步驟1中，所述帶探測(cè)物體是置于具有照明光源照明的樣品置放板上。 在步驟2中，所述透光區(qū)域的開(kāi)啟或者關(guān)閉路線為自行或者預(yù)先設(shè)定的。 本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于利用本發(fā)明提供的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，對(duì)應(yīng)著待探測(cè)物
體，設(shè)置陣列式可控透光裝置，該裝置包含有大量的透光可控單元。每次觀測(cè)時(shí)，可以只將
一個(gè)或一組透光可控單元轉(zhuǎn)變成透光狀態(tài)，形成透光區(qū)域其它部分為不透光狀態(tài)，形成遮
蔽區(qū)域。然后，對(duì)著該透光區(qū)域呈現(xiàn)的待探測(cè)物體的部分結(jié)構(gòu)獨(dú)立成像。然后再變換其它
的透光可控單元，形成新的透光狀態(tài)，繼續(xù)觀察。以此原理，來(lái)對(duì)數(shù)量龐大的待探測(cè)物體進(jìn)
行圖像觀測(cè)，而且在觀測(cè)過(guò)程中不會(huì)出現(xiàn)重復(fù)觀測(cè)的情況，針對(duì)已確定需要同時(shí)觀測(cè)或者
比對(duì)的多個(gè)觀測(cè)點(diǎn)，可以控制陣列式可控透光裝置，同時(shí)對(duì)所述多個(gè)觀測(cè)點(diǎn)設(shè)置透光區(qū)域，
亦可標(biāo)記所述多個(gè)觀測(cè)點(diǎn)的透光可控單元坐標(biāo)位置，在光學(xué)結(jié)構(gòu)或者感光結(jié)構(gòu)中加注，顯
示給用戶。
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的說(shuō)明。
圖1是本發(fā)明所述觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的設(shè)備主要結(jié)構(gòu)圖。
圖2是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作方法的流程圖。
圖3是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作示意圖，為一種實(shí)施例。 圖4是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作示意圖，為一種實(shí)施例。 圖5是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀中陣列式可控透光裝置的透光區(qū)域
的開(kāi)啟或關(guān)閉路線示意圖。 圖6是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀中陣列式可控透光裝置的透光區(qū)域 放大或縮小示意圖。 圖7是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀中陣列式可控透光裝置的可控透光 單元的形狀示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面參照著附圖，結(jié)合著具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說(shuō)明。
首先參圖1所示，對(duì)本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)做說(shuō)明。
參圖1中所示，該圖中展示了這種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀100的主要結(jié)構(gòu)，包括 樣品置放板210，它是用以放置待探測(cè)物體的樣品臺(tái)，所述樣品置放板210周圍可以根據(jù)需 要，設(shè)置用于對(duì)放置在所述樣品置放板上的待探測(cè)物體提供照明的照明光源250，包括以底 部為角度，用以向待觀測(cè)的物體提供照明的底部照明光源251，及以側(cè)部為角度，用以向待 觀測(cè)的物體提供照明的側(cè)部照明光源252，而所述樣品置放板210可以由透明材質(zhì)做成，讓 底部照明光源251可以直接透過(guò)樣品置放板210，照射在待探測(cè)物體上。
所述探測(cè)儀100還設(shè)置有陣列式可控透光裝置220，它由大量的透光可控單元221 組成，且每一個(gè)透光可控單元221，其透光特性均可以得到控制，具體的，所述陣列式可控透 光裝置220可以采用液晶層來(lái)實(shí)現(xiàn)。每一個(gè)透光可控單元221，對(duì)應(yīng)設(shè)置有一個(gè)液晶層單 元，類似于一個(gè)像素，而透光可控單元221的外形可以為正三角形，正方形，正六邊形，或者 其他一種或者多種幾何圖形的組合。 而通過(guò)透光區(qū)域控制模塊222，可以控制所述透光可控單元221形成透光區(qū)域， 透光區(qū)域范圍，并規(guī)劃透光區(qū)域行進(jìn)路線，具體的，所述透光區(qū)域可以有多個(gè)透光可控單元 221組合形成，也可以同時(shí)分散在陣列式可控透光裝置220上。所述透光可控單元221的 透光或者遮蔽路線可以由透光區(qū)域控制模塊222，如逐一掃描式，或者Z字型抽檢式。而針 對(duì)透光區(qū)域的范圍大小，可以通過(guò)同時(shí)控制多個(gè)相鄰的透光可控單元221同時(shí)透光擴(kuò)大透 光范圍，或者縮小某一透光可控單元221的透光面積來(lái)縮小透光范圍。對(duì)于每一個(gè)透光可 控單元221，都可以通過(guò)坐標(biāo)對(duì)應(yīng)模塊223設(shè)置坐標(biāo)位置，用戶在確定待探測(cè)物體的觀測(cè)點(diǎn) 時(shí)，可以通過(guò)坐標(biāo)對(duì)應(yīng)模塊223記錄所述觀測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的透光可控單元221的坐標(biāo)位置，用 戶再次在所述待探測(cè)物體上尋找所述觀測(cè)點(diǎn)時(shí)，通過(guò)開(kāi)啟和記錄坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的透光可控單元 221，就可以快速定位。 所述探測(cè)儀100還設(shè)置有用來(lái)進(jìn)行光學(xué)放大，光學(xué)取像的光學(xué)結(jié)構(gòu)230，及和前述
的光學(xué)結(jié)構(gòu)230相配合，用以對(duì)經(jīng)過(guò)光學(xué)結(jié)構(gòu)230處理后的待測(cè)物體圖像進(jìn)行感光記錄的
感光結(jié)構(gòu)240，通過(guò)光學(xué)結(jié)構(gòu)230和感光結(jié)構(gòu)240，如顯微鏡及電子成像系統(tǒng)，就可以對(duì)所探
測(cè)的物體進(jìn)行放大觀測(cè)，或者成像處理。 下面結(jié)合一些具體實(shí)施例來(lái)展開(kāi)說(shuō)明。 圖3、圖4的說(shuō)明 圖3是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作示意圖，為一種實(shí)施例。
圖4是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作示意圖，為一種實(shí)施例。
如圖3所示，觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀100的樣品置放板210-1上放置的待探測(cè)物 品310-1及310-2。所述樣品置放板210-1為透光板，通過(guò)底部照明光源251-1及側(cè)部照明 光源252-2進(jìn)行光源補(bǔ)充。 此時(shí)用戶通過(guò)光學(xué)結(jié)構(gòu)230-1及感光結(jié)構(gòu)240-1觀測(cè)待探測(cè)物品310_1及310_2。
如果按照普通的觀測(cè)方法，在待探測(cè)物品310-1及310-2非常微小的時(shí)候，在很長(zhǎng) 的觀測(cè)時(shí)間內(nèi)用戶都觀測(cè)不到東西，容易擾亂用戶的觀測(cè)順序。 而通過(guò)探測(cè)儀100的陣列式可控透光裝置220-1，用戶就可以通過(guò)控制陣列式可 控透光裝置220-1的透光可控單元221-1的透光或者遮蔽效果，對(duì)樣品置放板210-1上的 承載物進(jìn)行逐一觀測(cè)。 如圖3所述，用戶控制陣列式可控透光裝置220-1 ，開(kāi)啟透光可控單元2211 ，形成
5透光區(qū)域224-1時(shí)，觀測(cè)到了待探測(cè)物體310-1。 而如圖4所述，用戶繼續(xù)控制陣列式可控透光裝置220-2，開(kāi)啟透光可控單元 221-2，形成透光區(qū)域224-2時(shí)，觀測(cè)到了待探測(cè)物體310-2。 用戶可以在觀測(cè)到待探測(cè)物體310-1和待探測(cè)物體310-2時(shí)，通過(guò)探測(cè)儀100-1， 記錄下透光區(qū)域224-1及透光區(qū)域224-2所對(duì)應(yīng)的透光可控單元221-1及透光可控單元 221-2的坐標(biāo)位置。當(dāng)用戶再次需要觀測(cè)上述的待探測(cè)物體310-1和待探測(cè)物體310-2時(shí)， 或者進(jìn)行比較觀測(cè)時(shí)，可以通過(guò)輸入記錄的坐標(biāo)位置，控制陣列式透光裝置220-1 (2)，同時(shí) 開(kāi)啟透光可控單元221-1和透光可控單元221-2，再次進(jìn)行觀察。
圖5的說(shuō)明 圖5是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀中陣列式可控透光裝置的透光區(qū)域 的開(kāi)啟或關(guān)閉路線示意圖。 如圖5-1所示，用戶設(shè)定陣列式可控透光裝置220-31中透光可控單元221-31的 透光過(guò)程為逐一掃描式的開(kāi)啟過(guò)程，適用于觀測(cè)觀測(cè)點(diǎn)比較分散，且各具特性的帶探測(cè)物 體。 如圖5-2所示，用戶設(shè)定陣列式可控透光裝置220-32中透光可控單元221-32的 透光過(guò)程為Z字型抽檢式的開(kāi)啟過(guò)程，適用于觀測(cè)觀測(cè)點(diǎn)比較集中，具有共性的帶探測(cè)物 體。 圖6的說(shuō)明 圖6是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀中陣列式可控透光裝置的透光區(qū)域 放大或縮小示意圖。 如圖6-1所示，用戶設(shè)定陣列式可控透光裝置220-41中透光可控單元221-41為 不相鄰單元格多重開(kāi)啟，形成多個(gè)透光區(qū)域224-41便于用戶同時(shí)觀測(cè)具有多個(gè)觀測(cè)點(diǎn)的 帶探測(cè)物體。 如圖6-2所示，用戶設(shè)定陣列式可控透光裝置220-42中透光可控單元221-42為 相鄰單元格多重開(kāi)啟，形成較大透光區(qū)域224-42便于用戶觀具有較大觀測(cè)點(diǎn)的帶探測(cè)物 體。 如圖6-3所示，用戶設(shè)定陣列式可控透光裝置220-43中透光可控單元221-43為 單格縮小開(kāi)啟，形成較小透光區(qū)域224-43便于用戶觀具有較小觀測(cè)點(diǎn)的帶探測(cè)物體。
圖7的說(shuō)明 圖7是本發(fā)明所述的觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀中陣列式可控透光裝置的可控透光 單元的形狀示意圖。 如圖7-1所示，所述陣列式可控透光裝置220-51中的透光可控單元221-51的外
形為正三角形，所述陣列式可控透光裝置220-51由多個(gè)正三角形重復(fù)構(gòu)建而成。 如圖7-2所示，所述陣列式可控透光裝置220-52中的透光可控單元221-52的外
形為正六邊形，所述陣列式可控透光裝置220-52由多個(gè)正六邊形重復(fù)構(gòu)建而成。 如圖7-3所示，所述陣列式可控透光裝置220-53中的透光可控單元221-531的
外形為正十二邊形，透光可控單元221-531的外形為正三角形，所述陣列式可控透光裝置
220-53由多個(gè)正十二邊形及多個(gè)正三角形重復(fù)構(gòu)建而成。 圖2的說(shuō)明
步驟1，設(shè)置待探測(cè)物體于樣品置放板上； 如圖3所示，在所述樣品置放板210-1上放置待探測(cè)物體310-1及待探測(cè)物體 310-2。 步驟2，設(shè)置陣列式可控透光裝置，所述陣列式可控透光裝置所含透光可控單元，
驅(qū)動(dòng)所述陣列式可控透光裝置中透光可控單元的透光度，形成透光區(qū)域； 如圖5所示，可以設(shè)置透光區(qū)域的開(kāi)啟模式為逐一掃描式，或者Z字型抽檢式。 如圖6所示，可以設(shè)置透光區(qū)域的個(gè)數(shù)，透光范圍的大小。 步驟3，通過(guò)所述透光區(qū)域，利用光學(xué)結(jié)構(gòu)觀測(cè)待探測(cè)物體，確定觀測(cè)點(diǎn)； 如圖3所示，用戶在透光區(qū)域224-1中觀測(cè)到了待探測(cè)物體310_1 ，而如圖4所示，
用戶在透光區(qū)域224-2中觀測(cè)到了待探測(cè)物體310-2。 步驟4，通過(guò)感光結(jié)構(gòu)，記錄步驟3中所確定的觀測(cè)點(diǎn)的圖像資料。 以上是對(duì)本發(fā)明的描述而非限定，基于本發(fā)明思想的其它實(shí)施方式，均在本發(fā)明
的保護(hù)范圍之中。
權(quán)利要求
一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于，所述觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀設(shè)置有樣品置放板，它是用以放置待探測(cè)物體的樣品臺(tái)；陣列式可控透光裝置，它由大量的透光可控單元組成，且每一個(gè)透光可控單元，其透光特性均可以得到控制的結(jié)構(gòu)；光學(xué)結(jié)構(gòu)，它是用來(lái)進(jìn)行光學(xué)放大，光學(xué)取像的結(jié)構(gòu)；感光結(jié)構(gòu)，它是和前述的光學(xué)結(jié)構(gòu)相配合，用以對(duì)經(jīng)過(guò)光學(xué)結(jié)構(gòu)處理后的待測(cè)物體圖像進(jìn)行感光記錄的結(jié)構(gòu)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于所述探測(cè)儀設(shè) 置有照明光源，它是用于對(duì)放置在所述樣品置放板上的待探測(cè)物體提供照明的結(jié)構(gòu)；所述 照明光源包括有以底部為角度，用以向待觀測(cè)的物體提供照明的底部照明光源，及以側(cè)部 為角度，用以向待觀測(cè)的物體提供照明的側(cè)部照明光源。
3. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)2所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于所述樣品置放 板為透光板，它是用于讓上述底部照明光源直接穿透，照射待探測(cè)物體的樣品臺(tái)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于所述陣列式可 控透光裝置為液晶矩陣層，它是針對(duì)每一個(gè)透光可控單元，對(duì)應(yīng)設(shè)置有一個(gè)液晶層單元，通 過(guò)電源控制所述液晶層單元的透光性的結(jié)構(gòu)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1或4所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于所述陣列 式可控透光裝置設(shè)置有透光區(qū)域控制模塊，它是用于控制所述透光可控單元形成透光區(qū) 域，透光區(qū)域范圍，并規(guī)劃透光區(qū)域行進(jìn)路線的結(jié)構(gòu)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1或4所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于所述陣列 式可控透光裝置設(shè)置有坐標(biāo)對(duì)應(yīng)模塊，它是用于當(dāng)用戶確定待探測(cè)物體的觀測(cè)點(diǎn)時(shí)，記錄 所述觀測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的透光可控單元的坐標(biāo)位置的結(jié)構(gòu)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1或4所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀，其特征在于所述陣列 式可控透光裝置是由至少一種呈幾何多邊形的透光可控單元組成的結(jié)構(gòu)。
8. —種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作方法，其特征在于，所述觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀 的操作方法包括有步驟l，設(shè)置待探測(cè)物體于樣品置放板上；步驟2，設(shè)置陣列式可控透光裝置，所述陣列式可控透光裝置所含透光可控單元，驅(qū)動(dòng) 所述陣列式可控透光裝置中透光可控單元的透光度，形成透光區(qū)域；步驟3，通過(guò)所述透光區(qū)域，利用光學(xué)結(jié)構(gòu)觀測(cè)待探測(cè)物體，確定觀測(cè)點(diǎn)； 步驟4，通過(guò)感光結(jié)構(gòu)，記錄步驟3中所確定的觀測(cè)點(diǎn)的圖像資料。
9 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)8所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作方法，其特征在于在 步驟1中，所述帶探測(cè)物體是置于具有照明光源照明的樣品置放板上。
10. 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)8所述的一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀的操作方法，其特征在于在 步驟2中，所述透光區(qū)域的開(kāi)啟或者關(guān)閉路線為自行或者預(yù)先設(shè)定的。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觀測(cè)微型對(duì)象的探測(cè)儀及操作方法，屬于電子技術(shù)領(lǐng)域。該設(shè)備的實(shí)現(xiàn)方法包括有步驟1，設(shè)置待探測(cè)物體于樣品置放板上；步驟2，設(shè)置陣列式可控透光裝置，所述陣列式可控透光裝置所含透光可控單元，驅(qū)動(dòng)所述陣列式可控透光裝置中透光可控單元的透光度，形成透光區(qū)域；步驟3，通過(guò)所述透光區(qū)域，利用光學(xué)結(jié)構(gòu)觀測(cè)待探測(cè)物體，確定觀測(cè)點(diǎn)；步驟4，通過(guò)感光結(jié)構(gòu)，記錄步驟3中所確定的觀測(cè)點(diǎn)的圖像資料。利用本發(fā)明中的陣列式可控透光裝置，在檢測(cè)對(duì)待探測(cè)物體時(shí)，可以實(shí)現(xiàn)逐一探測(cè)，多點(diǎn)比較觀測(cè)，觀測(cè)點(diǎn)定位的功能，且可以防止重復(fù)觀測(cè)，節(jié)省用戶的觀測(cè)時(shí)間，提供觀測(cè)效率。
文檔編號(hào)G02B23/00GK101770070SQ20091020214
公開(kāi)日2010年7月7日 申請(qǐng)日期2009年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月31日
發(fā)明者馬宇塵 申請(qǐng)人:上海杰遠(yuǎn)環(huán)?？萍加邢薰?br>