專利名稱：探針組件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種探針組件，尤指一種利用蝕刻方式簡化一字型探針 組裝工序的探針組件。
背景技術(shù)：
液晶電視、筆記型計(jì)算機(jī)及臺(tái)式計(jì)算機(jī)的影像顯示裝置己經(jīng)普遍使用液
晶顯示器(LCD)， 一般液晶顯示器在其面板側(cè)邊上設(shè)有高密度排列的接觸 端子，用于傳送影像及色相等信號(hào)，因此LCD在安裝到產(chǎn)品之前會(huì)進(jìn)行信號(hào) 的測試，檢査面板有無不良反應(yīng)。
目前LCD的信號(hào)檢查裝置為探針裝置，其上設(shè)有探針卡，如圖1所示， 探針卡包括有一主支架90，該主支架90下方設(shè)有基板支架91及探針片支架 92，該探針片支架92下方組設(shè)有探針組件，而該基板支架91下方設(shè)有電路 基板95，該電路基板95電性連接該探針組件，該探針組件包含有一導(dǎo)引板 93及多個(gè)探針片94，該導(dǎo)引板93上布設(shè)有組接部，提供該些探針片94插組， 該導(dǎo)引板93是由兩個(gè)芯片通過粘合劑上下接合而成,而粘合劑在接合過程中， 粘合劑會(huì)滲入組接部內(nèi)，導(dǎo)致插組于該導(dǎo)引板93上的探針片94不能穩(wěn)固地 插入固定，并因粘合劑使探針片94產(chǎn)生流動(dòng)性，使探針組件的不合格比率提 高，而無法進(jìn)行探測檢查的作業(yè)。
另外，探針組件中的探針片94沒有往外突出，所以在探針裝置測試的程 序中，無法輕易判斷及辨別探針片94的接觸端是否在正確的位置并接觸面板， 所以探針片94的缺陷判斷上需要花費(fèi)較長的時(shí)間，加上探針組件的制造程序 復(fù)雜，還提高了制造成本，且制造過程中又容易產(chǎn)生不合格品，從而降低了 檢査液晶面板的效率。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種探針組件，用于解決現(xiàn)有的探針卡 的不合格比率及制造成本較高的缺點(diǎn)。
為達(dá)成上述目的，本實(shí)用新型提供一種探針組件，包括
一芯片，所述芯片形成有多個(gè)組接部，所述組接部按間隔排列；以及
多個(gè)探針片，分別組設(shè)于所述些組接部中，且所述探針片前端外顯于所
述芯片o
所述探針片包括有多個(gè)第一探針片及多個(gè)第二探針片，而第一、第二探 針片間隔設(shè)置于所述芯片的多個(gè)組接部中。
所述的第一及第二探針片于其兩側(cè)端分別設(shè)有一面板接觸部及電路接觸 部，所述面板接觸部具有一向下尖端，所述電路接觸部具有一向上尖端，且 所述片體底緣凸設(shè)有固定部。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)-
本實(shí)用新型提供的探針組件，通過由單一芯片進(jìn)行蝕刻所形成的組接部 來組設(shè)探針片，不但簡化了探針組件的制造工藝，還降低制造成本，并且在 制造過程中不需要利用粘合劑進(jìn)行固定，所以探針片不會(huì)受到粘合劑的影響 而產(chǎn)生移動(dòng)，可降低探針組件產(chǎn)品的不合格比率。此外，該探針片的前端外 顯于該芯片，因?yàn)楸緦?shí)用新型探針組件的探針片屬于開放式結(jié)構(gòu)，因此探針 組件在對(duì)液晶面板進(jìn)行測試時(shí)，操作員更容易對(duì)觀測的每一探針片與液晶面 板的接觸情形并對(duì)此進(jìn)行調(diào)整，從而大大節(jié)省對(duì)位所花費(fèi)的時(shí)間，也提高探 針組件的檢測效率。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的探針卡的側(cè)視剖面示意圖2為本實(shí)用新型探針組件的第一探針片的一較佳實(shí)施例的立體示意
圖3為本實(shí)用新型探針組件的第二探針片的一較佳實(shí)施例的立體示意
圖4為本實(shí)用新型探針組件的一較佳實(shí)施例的立體示意圖5為本實(shí)用新型探針組件的一較佳實(shí)施例的側(cè)視剖面示意圖6A為本實(shí)用新型探針組件的第一實(shí)施狀態(tài)的測試及局部示意圖;
圖6B為本實(shí)用新型探針組件的第一實(shí)施狀態(tài)的立體示意圖7A為本實(shí)用新型探針組件的第二實(shí)施狀態(tài)的測試及局部示意圖;
圖7B為本實(shí)用新型探針組件的第二實(shí)施狀態(tài)的立體示意圖。
主要元件符號(hào)說明如下
10心片11組接部
20第一探針片22面板接觸部
23電路接觸部24朝下尖端
25朝上尖端26固定部
30第二探針片32面板接觸部
33電路接觸部34朝下尖端
35朝上尖端36固定部
40探針卡41主支架
42固定件43薄膜
44驅(qū)動(dòng)集成電路45探針固定件
46軟性電路板90主支架
91基板支架92探針片支架
93導(dǎo)引板94探針片
95電路基板
具體實(shí)施方式
如圖4、圖5所示，均為本實(shí)用新型探針組件的一較佳實(shí)施例，其包括有 一芯片IO及多個(gè)探針片。
該芯片10上布設(shè)有多個(gè)相互平行排列的組接部11，該組接部11利用兩 次蝕刻加工技術(shù)成形，且該組接部11蝕刻出的形狀對(duì)應(yīng)于該些探針片。
該探針片組設(shè)于該芯片10的組接部11中，并且其前端外顯于該芯片10。 在本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例中，該探針片包括有兩種形態(tài)第一探針片20(如
圖2所示)及第二探針片30 (如圖3所示)，該第一、第二探針片20、 30都 屬于一字型探針片，且第一、第二探針片20、 30是間隔排列地組設(shè)該芯片10 的組接部11中，其中，該探針片的材質(zhì)可以為鈹銅合金(Be-Cu)或鈹鎳合 金(Be-Ni)。
圖2為本實(shí)用新型探針組件的第一探針片的一較佳實(shí)施例的立體示意圖， 該第一探針片20的兩端分別設(shè)有一面板接觸部22及一電路接觸部23，該面 板接觸部22及該電路接觸部23近似垂直于該第一探針片20，且該面板接觸 部22具有一朝下尖端24，該電路接觸部23具有一朝上尖端25，并且該第一 探針片20底緣往下凸設(shè)有二固定部26，可伸入組接部11并固定于該芯片10 中，且組設(shè)后，該朝上尖端25凸出于該芯片10的上表面，且位于該芯片10 的后半部，而該朝下尖端24伸出該芯片10的下表面，并可接觸待測液晶面 板的表面。
圖3為本實(shí)用新型探針組件的第二探針片的一較佳實(shí)施例的立體示意圖， 該第二探針片30形態(tài)近似于該第一探針片20,該第二探針片30 —端向下延 伸一面板接觸部32，另一端向上延伸一電路接觸部33，該面板接觸部32具 有一朝下尖端34，該電路接觸部33具有一朝上尖端35，而該第二探針片30 下方設(shè)有固定部36，該第二探針片30可伸入該芯片10的組接部11中，并且 通過該固定部36固定于該芯片10中，組設(shè)后，該第二探針片30的朝下尖端 34凸伸出該芯片10底面，另朝上尖端35凸伸出該芯片10頂面。
如圖6A與6B所示，為本實(shí)用新型探針組件使用于以覆晶玻璃 (chip-on-glass， COG)法所制成的探針卡40上的示意圖，其包括有一主支 架41，該主支架41下方設(shè)有一用于固定驅(qū)動(dòng)集成電路44的固定件42，該固 定件42下方設(shè)有已連接驅(qū)動(dòng)集成電路44的薄膜43 (Pattern Film)，該薄膜 43 —側(cè)連接凸出于該探針組件的朝上尖端25、35，另一側(cè)連接軟性電路板46。
如圖7A、 7B所示，圖7A、 7B分別為探針組件的另一實(shí)施例，采用薄膜 覆晶(chip-on-film， COF)法制成并且組設(shè)于探針卡40上。該探針卡40具 有一主支架41，該主支架41下方設(shè)有一固定件42，該固定件42下方組設(shè)有 已連接驅(qū)動(dòng)集成電路44的薄膜43，該薄膜43兩相對(duì)側(cè)邊分別連接該探針組
件的朝上尖端25、 35及一軟性電路板46。
上述探針卡上都設(shè)有探針固定件45，并可搭配該主支架41來固定該探針 組件及該薄膜43，便可將多個(gè)探針卡40組設(shè)于探針裝置上，探針組件上的朝 下尖端24、 34接觸于待測液晶面板的表面，由于探針組件中的探針片屬于開 放式的結(jié)構(gòu)，所以操作者可以觀測每一朝下尖端24、 34與液晶面板的接觸情 形，確認(rèn)接觸情形良好后，再進(jìn)行信號(hào)測試。
綜上所述，本實(shí)用新型探針組件是由單一芯片IO進(jìn)行蝕刻加工形成組接 部ll，進(jìn)而提供第一、第二探針片20、 30開放性地組設(shè)其中，制造過程中， 不需使用粘合劑進(jìn)行固定，探針片不會(huì)受到粘合劑的影響而產(chǎn)生移動(dòng)，所以 探針片可以穩(wěn)固的設(shè)置在正確的位置上，加上是采用單一芯片10，從而只要 將探針片正確的插入即可，所以在制造工序上較為簡便及精密，進(jìn)而降低制 造成本。此外，由于探針片采用開放式結(jié)構(gòu)，因此操作員可以在檢測液晶面 板前，輕易的檢査探針片與該液晶面板的接觸情形，若有探針片與液晶面板 接觸的情形出現(xiàn)時(shí)，即表示探針片損壞，則需要更換探針卡40再進(jìn)行通電測 試，因此在本實(shí)用新型探針組件可以節(jié)省制造組裝的時(shí)程，并在使用過程中， 提高測試液晶面板的效率，因此更具有實(shí)用性及市場性。
以上公開的僅為本實(shí)用新型的幾個(gè)具體實(shí)施例，但是，本實(shí)用新型并非 局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù) 范圍。
權(quán)利要求1、一種探針組件，其特征在于，包括一芯片，所述芯片形成有多個(gè)組接部，所述組接部按間隔排列；以及多個(gè)探針片，分別組設(shè)于所述些組接部中，且所述探針片前端外顯于所述芯片。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針組件，其特征在于，所述探針片包括有多 個(gè)第一探針片及多個(gè)第二探針片，而第一、第二探針片間隔設(shè)置于所述芯片 的多個(gè)組接部中。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的探針組件，其特征在于，所述的第一及第二探 針片于其兩側(cè)端分別設(shè)有一面板接觸部及電路接觸部，所述面板接觸部具有 一向下尖端，所述電路接觸部具有一向上尖端，且所述片體底緣凸設(shè)有固定 部。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種探針組件，包括有一芯片及多個(gè)探針片，該芯片上設(shè)有蝕刻加工而成的組接部，該些探針片依序組設(shè)于組接部中，且其前端外顯于該芯片，本實(shí)用新型探針組件在制造工序上較為簡便，并且通過由單一芯片蝕刻即可讓探針片組設(shè)，減少兩個(gè)芯片相互粘合的步驟，所以制造簡便，還降低了制造成本，由于本實(shí)用新型沒有使用粘合劑進(jìn)行固定，還避免了因?yàn)檎澈蟿┮缌鞫绊懱结樒€(wěn)定性的情況發(fā)生，因此降低產(chǎn)品不良率，而該些探針片的前端屬于開放式，所以操作員可以輕易的檢查探針片與液晶面板的接觸情形，確保探針組件的檢查效率。
文檔編號(hào)G02F1/13GK201203631SQ200820114830
公開日2009年3月4日 申請(qǐng)日期2008年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月21日
發(fā)明者安玧泰 申請(qǐng)人:安玧泰