專利名稱：陣列基板的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種液晶顯示設備，尤其涉及一種TFT陣列基板。
技術背景液晶顯示器(LCD)是利用施加在液晶分子上電場強度的變化，改變液晶分 子的取向控制透過光的強弱來顯示圖像。 一般來講， 一塊完整的液晶顯示面板必 須有背光模塊、偏光片、TFT (薄膜晶體管)下基板和CF (彩色濾光板)上基板 以及由兩塊基板組成的盒中填充的液晶分子層構成。TFT基板上有大量的像素電 極，像素電極上的電壓大小及通斷由與橫向掃描信號線相連接的柵極、與縱向驅 動信號線連接的源極信號控制。CF上基板上的ITO公共電極與下基板上的ITO像 素電極之間的電場強度變化控制著液晶分子的取向。TFT基板上與掃描信號線平 行并處于同一層的存儲電容公共線和ITO像素電極之間形成的存儲電容用來維持 下一個信號來臨前液晶分子的狀態(tài)。在TFT基板的制造過程中，工藝上的任何稍微偏差都可能對顯示面板造成缺 陷，或者是膜厚的均勻性、或者是像素TFT特性上的變異，影響液晶顯示的畫面 質量，當出現(xiàn)問題的時候往往需要對各項信號進行測量，特別對于TFT特性來說， 因為在面板上顯示區(qū)分布，各部分特性由于膜厚偏差可能有所差別，需要對其進 行各位置的測量來協(xié)助判斷問題發(fā)生的原因。同時，對面板作分析判斷時，還要 保證面板完好無損，故對TFT特性的測量不能建立在破壞面板的基礎上，并且要 可以借由測量信號判斷各種不同位置或同一位置不同面板的TFT特性，并以此判 斷面板設計的部分特性?，F(xiàn)有的面板通常對TFT特性測量需要對面板進行解析處理，即拆開面板的一 部分來進行，并將面板切開來測量，工序較為繁雜，測量結果由于缺失了液晶盒 以及合適的背光源照射而不夠準確，并且容易造成液晶污染，測量完畢后的面板 也不能再進行組裝使用，只能廢棄，從而增加了工廠方面的耗損率，增加了成本。實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種具有特別的周邊附加像素設計的 液晶顯示用TFT陣列基板，可以不需要拆解面板就能完成對TFT特性的測量，而不影響陣列基板的內部完整性。
為解決上述技術問題本實用新型的陣列基板包括掃描線、數(shù)據(jù)線、絕緣層、 像素電極以及封框膠。
在陣列基板顯示區(qū)的四個角各設置有一個附加像素電極，并且在顯示區(qū)域四
周邊緣分別設置有與之相對應連接的兩根附加(Du腿y)掃描線和兩根附加(Du國y) 數(shù)據(jù)線，在附加像素電極的一側，在數(shù)據(jù)線層與數(shù)據(jù)線相平行地設置有另外兩根 附加測量配線，所述的附加像素電極向附加測量配線的一側設置有連接凸塊，該 連接凸塊部分與所述附加測量配線重疊；所有六根附加配線(包括上述兩根附加 掃描線、兩根附加數(shù)據(jù)線、兩根附加測量配線)都設置有與之電連接的伸出于封 框膠之外的ITO測量塊。
所述的附加測量配線最好設置于附加像素電極的外側。
所述的ITO測量塊為像素電極層的導電片，其內端通過接觸孔與附加配線電 連接，其外端伸出封框膠外形成裸露的測量端。
另一方式可以為所述的附加配線延伸到封框膠之外的區(qū)域，在封框膠之外 的區(qū)域像素電極層設置有ITO測量塊，ITO測量塊與附加配線電連接。
進一步的所述的附加配線封框膠之外區(qū)域上層的絕緣層刻蝕有測量塊缺口， 缺口內設置有與附加配線直接電連接的IT O測量塊。
基于上述結構的具有特別的周邊附加像素設計的陣列基板，可以在不拆解面板， 在不損壞面板和封框膠的前提下，直接用探針通過與附加配線電接觸的IT0測量塊直 接對面板顯示區(qū)四角的附加像素的TFT特性進行測量，可以給與合適的背光源照射并 保留液晶盒的存在從而提高測量結果的可信度，而且這樣的設計不會影響到面板的電 路特性或者生產過程中對位檢查等工序。


為讓本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，
以下結合附圖對本 實用新型的具體實施方式
作詳細說明，其中
圖1是本實用新型陣列基板附加像素設計的結構示意圖2是附加像素電極與附加測量配線搭接在一起的示意圖3是IT0測量塊與附加配線直接電接觸的結構示意圖(一)；
圖4是ITO測量塊與附加配線直接電接觸的結構示意圖(二)，即圖3中A-A剖面圖。圖中l(wèi).掃描線 2.數(shù)據(jù)線 3.像素電極4.封框膠 5.顯示區(qū) 6. ITO測量塊7.絕緣層、鈍化層 100.附加配線的外延端塊101.附加掃描線 102.附加數(shù)據(jù)線103.附加像素電極 202.附加測量配線601.測量端 1032.連接凸塊具體實施方式
圖1示出了本實用新型的易于測量TFT特性的陣列基板，包括掃描線1、數(shù) 據(jù)線2、絕緣層、像素電極3以及封框膠4，在陣列基板顯示區(qū)5的四個角各設置 有一個附加像素電極103，并且在顯示區(qū)域四周邊緣分別設置有與之相對應連接的 兩根附加掃描線]01和兩根附加數(shù)據(jù)線102。在附加像素電極103的外側，在數(shù)據(jù)線層與數(shù)據(jù)線2相平行地設置有另外兩 根附加測量配線202，即左側的附加測量配線202設置于附加數(shù)據(jù)線102的左側， 右側的附加測量配線202設置于附加像素電極103的右側，所述的附加像素電極 103向附加測量配線的一側設置有連接凸塊1032，該連接凸塊1032部分與所述附 加測量配線202重疊。所有6根附加配線都設置有與之電連接的伸出于封框膠4之外的ITO測量塊 6，所述的ITO測量塊為設置ITO像素電極層時設置的ITO導電片，其內端通過 接觸孔與附加配線電連接，其外端伸出封框膠4之外形成lmmXlmm的裸露測量 端601。同樣如圖3、 4所示作為另外一種實施方式，所述的附加配線可以設置成延伸 到封框膠之外的區(qū)域，形成附加配線的外延端塊100，同時在封框膠4之外的區(qū)域， 配線層上層的絕緣層、鈍化層7刻蝕有l(wèi)mmXlmm測量塊缺口，缺口內設置有與 附加配線直接電連接的ITO測量塊6。測量時，用激光將測量的附加像素的像素電極103與附加測量配線熔接在一 起(如圖2所示)，然后輕輕刮去相應的ITO測量塊6的測量端601表面的配向 膜，用探針壓在測量端601上測量讀數(shù)。附加像素電極103通過附加掃描線101 和附加數(shù)據(jù)線102給其充電，通過附加測量配線202和測量塊6導通信號完成對 TFT的特性測量。
權利要求1. 一種陣列基板，包括掃描線、數(shù)據(jù)線、絕緣層、像素電極以及封框膠，其特征 在于在陣列基板顯示區(qū)的四個角各設置有一個附加像素電極，并且在顯示區(qū)域 四周邊緣分別設置有與之相對應連接的兩根附加掃描線和兩根附加數(shù)據(jù)線，在附加像素電極的一側，在數(shù)據(jù)線層與數(shù)據(jù)線相平行地設置有另外兩根附 加測量配線，所述的附加像素電極向附加測量配線的一側設置有連接凸塊，該 連接凸塊部分與所述附加測量配線重疊；所有六根附加配線都設置有與之電連接的伸出于封框膠之外的ITO測量塊。
2. 根據(jù)權利要求1所述的陣列基板，其特征在于所述的附加測量配線設置于附 加像素電極的外側。
3. 根據(jù)權利要求1所述的陣列基板，其特征在于所述的ITO測量塊為像素電極 層的導電片，其內端通過接觸孔與附加配線電連接，其外端伸出封框膠外形成 裸露的測量端。
4. 根據(jù)權利要求1所述的陣列基板，其特征在于所述的附加配線延伸到封框膠之外的區(qū)域，在封框膠之外的區(qū)域像素電極層設置有ITO測量塊，ITO測量塊與附加配線電連接。
5. 根據(jù)權利要求4所述的陣列基板，其特征在于所述的附加配線封框膠之外區(qū)域上層的絕緣層刻蝕有測量塊缺u，缺口內設置有與附加配線直接電連接的ITO測量塊。
專利摘要本實用新型公開了一種陣列基板，該陣列基板更易于測量TFT的特性，包括掃描線、數(shù)據(jù)線、絕緣層、像素電極以及封框膠，在陣列基板顯示區(qū)的四個角各設置有一個附加像素電極，并且分別設置有與之相對應連接的兩根附加掃描線和兩根附加數(shù)據(jù)線，在像素電極的一側還設置有附加測量配線，附加像素電極向附加測量配線的一側設置有連接凸塊，該連接凸塊部分與所述附加測量配線重疊；所有6根附加配線都設置有與之電連接的伸出于封框膠之外的測量塊。使用該陣列基板可以在不拆解面板的前提下，直接用探針通過與附加配線電接觸的ITO測量塊直接對面板顯示區(qū)四角的附加像素的TFT特性進行測量，可以給與合適的背光源照射并保留液晶盒的存在從而提高測量結果的可信度。
文檔編號G02F1/13GK201156138SQ20082005571
公開日2008年11月26日 申請日期2008年2月26日 優(yōu)先權日2008年2月26日
發(fā)明者吳賓賓, 楊海鵬 申請人:上海廣電光電子有限公司