專利名稱：采用光路變更部件的處理盒的間隔測定方法以及用該測定方法測定的處理盒的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及采用電子照相方式的圖像形成裝置中的處理盒的間隔測定 方法以及使用該間隔測定方法測定的處理盒。更詳細(xì)的是，涉及采用發(fā)光 元件和受光元件測定像載置體和顯影劑載置體之間隔的處理盒的間隔測
定方法，以;s^吏用該間隔測定方法測定的處理盒。
背景技術(shù)：
釆用電子照相方式的圖像形成裝置中，較普遍是在圖像形成裝置中 裝卸自在地內(nèi)藏被稱之為處理盒的單元結(jié)構(gòu)裝置。
這里所說的處理盒，至少是顯影裝置和像載置體構(gòu)成一體的單元， 其中顯影裝置備有顯影劑載置體，也有在其中再加上帶電裝置、清潔裝 置等多個處理手段，并將它們構(gòu)成一體的單元化的處理盒。通過定期交 換處理盒，能夠簡單地更新消耗品，容易地進行圖像形成裝置的維修。
另一方面，近年來，對釆用電子照相方式的圖像形成裝置的圖像質(zhì) 量的要求越來越高，而像載置體與顯影劑載置體的間隔(以下簡稱為間 隔)d s則作為是對圖像濃度等圖像質(zhì)量影響較大的一個要素。也就是
說，若間隔D s太大，則顯影時調(diào)色劑從顯影劑載置體向像載置體的移 動變得困難，導(dǎo)致濃度不均勻。反之，若間隔D s太小，在載體和調(diào)色 劑2成分的顯影劑中則發(fā)生顯影劑堵塞，而在單調(diào)色劑l成分的顯影劑 中則出現(xiàn)從顯影輥泄漏到感光體。
為了將間隔D s的數(shù)值設(shè)定在一定，以往嘗試了種種方法， 一般采 用間隙量器直接測定間隔D s ，或采用光束穿過處理盒上設(shè)有的透明窗 口間接測定間隔D s 。
然而，采用間隙量器測定間隔D s之方法，其中，為了不干涉周圍 部件且不損傷像載置體表面地進行測定的話則存在難度，而采用光束的
方法，其中，窗口的污染或損傷給測定帶來困難，存在一些問題。
針對這些問題，有一種光學(xué)性的測定方法被建議，其中，不在處理 盒上設(shè)窗口，而是使光束穿過一個開放的空間，用該結(jié)構(gòu)來測定處理盒 的像載置體和顯影劑載置體的間隔(例如，請參照專利文獻l)。
圖7是專利文獻1中記載的處理盒100的截面示意圖。處理盒100 中，感光體鼓IO、顯影裝置20、清潔裝置30以及帶電輥40由框體l 0 0 b支撐。顯影裝置20中對著感光體鼓10的位置上配設(shè)有顯影輥24。
圖7所示處理盒100具有的結(jié)構(gòu)，是在能夠從處理盒100的外部， 穿過看到感光體鼓10和顯影輥24這2個圓筒體表面之間隔D s的位置 上，設(shè)開口 3 0 a 、 3 0 b 。
但是，為了在能夠從外部穿過看到間隔D s的位置上設(shè)開口 3 0 a、 3 0 b,有必要確保垂直于連結(jié)面地穿過間隔D s內(nèi)的范圍作為光 束的光路K，上述連結(jié)面是連結(jié)感光體鼓10和顯影輥24之2個旋轉(zhuǎn)軸 中心線的面。也就是說產(chǎn)生一個限制，即在該范圍內(nèi)不能設(shè)置部件而必 須形成空間。該限制對于滿足由于近年圖像形成裝置小型化和多功能化 等出現(xiàn)的多種要求來說，給處理盒以及構(gòu)成其周邊部件的設(shè)計上帶來很 大限制。
專利文獻l:特開平5 - 3 2 3 6 9 3號公報。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于解決上述問題，提供一種測定方法以及處理盒， 其中，能夠用簡單的操作容易地進行間隔D s的測定，且不給處理盒以 及其周邊部件的設(shè)計上帶來過大的限制。
本發(fā)明的目的能夠通過采用下述測定方法以及處理盒達(dá)成。
1. 一種處理盒的間隔測定方法，其中，對于至少備有像載置體和 顯影劑載置體的處理盒，采用發(fā)光元件和受光元件，測定所述像載置體 和所述顯影劑載置體的間隔，處理盒間隔測定方法的特征在于，通過光 路變更部件使所述發(fā)光元件發(fā)出的光改變光路，且使所述光穿過所述像 載置體和所述顯影劑載置體之間，測定所述間隔。2. —種處理盒，其特征在于，用1中記載的處理盒的間隔測定方 法，測定所述像載置體和所述顯影劑載置體的間隔。
通過采用本發(fā)明涉及的測定方法以及由該測定方法測定的處理盒， 能夠提供一種用簡單操作能夠容易地進行測定，且不給處理盒的設(shè)計上 帶來過大制約的測定方法以及處理盒。


圖1:裝有本發(fā)明涉及的處理盒的圖像形成裝置之彩色圖像形成裝 置的整體結(jié)構(gòu)概要示意圖。
圖2:用來對本發(fā)明涉及的處理盒的第1實施方式，說明其結(jié)構(gòu)和 測定間隔D s的測定方法的截面圖。
圖3:用來對本發(fā)明涉及的處理盒的第2實施方式，說明其結(jié)構(gòu)和 測定間隔D s的測定方法的截面圖。
圖4:用來對本發(fā)明涉及的第1、第2實施方式的處理盒中測定感 光體鼓和顯影輥之間隔D s時的測定夾具作說明的概略圖。
圖5:本發(fā)明涉及的第1、第2實施方式的處理盒中測定感光體鼓 和顯影輥之間隔D s的操作順序流程示意圖。
圖6:本發(fā)明涉及的第3實施方式的處理盒中測定感光體鼓和顯影 輥之間隔D s的操作順序流程示意圖。
圖7:專利文獻l中記載的處理盒100的截面示意圖。
符號說明
10感光體鼓(像載置體)
1 3 、 2 0 顯影裝置
15感光體清潔器(清除裝置)
2 4、 13 1 顯影輥(顯影劑載置體)
3 0 清除裝置
1 0 0 處理盒
D s 間隔(像載置體和顯影劑載置體之間隔)
H k 發(fā)光元件
H s 受光元件
J D s測定夾具
K 、 K 1、 K 2 、 K 3 光路
Ml 第l面鏡(第l光路變更部件)
M2 第2面鏡(第2光路變更部件)
具體實施例方式
根據(jù)圖示的實施方式，對本發(fā)明進行說明，但本發(fā)明不局限于所述 實施方式。
圖l是為圖像形成裝置的彩色圖像形成裝置整體結(jié)構(gòu)概要示意圖， 圖像形成裝置中裝有本發(fā)明涉及的處理盒。
圖l所示的彩色圖像形成裝置備有處理盒l(wèi) 0 0 Y、 100M、 1 0 0 C、 1 0 0 B k;作為中間轉(zhuǎn)印體的傳動帶形狀的中間轉(zhuǎn)印帶1 6 ;轉(zhuǎn)印輥17Y、 17 M、 17C、 17Bk;定影裝置7 0 。作為 中間轉(zhuǎn)印體l 6的傳動帶材料， 一般使用聚酰亞胺樹脂。
處理盒10 0Y、 10 0M、 10 0C、 10 0Bk分別備有感光
體鼓10Y、 IOM、 IOC、 1 0 B k ，這些感光體鼓作為能夠向箭 頭所示順時針方向旋轉(zhuǎn)的像載置體。感光體鼓l 0 Y、 1 0M、 1 0 C、
1 0 B k的周圍分別設(shè)置著帶電器1 1 Y、 1 1 M、 1 1 C、 1 1 B k 、
啄光裝置12Y、 12M、 12C、 1 2 B k 。并且，分別設(shè)置著各色
顯影裝置13Y、 13M、 13C、 1 3 B k ，以及作為清潔裝置的感
光體清潔器15Y、 15M、 15C、 15Bk。
4個處理盒10 0Y、 IOOM、 IOOC、 10 0Bk對著中間 轉(zhuǎn)印帶16排列設(shè)置，但也可以按照符合圖像形成方法的順序適當(dāng)設(shè)置， 例如處理盒100Bk、 IOOY、 IOOC、 100 M。
中間轉(zhuǎn)印帶16通過援助輥31和支撐輥32能夠以相同于感光體鼓 IOY、 IOM、 IOC、 1 0 B k的周速在箭頭所示的逆時針方向旋 轉(zhuǎn)。另外，中間轉(zhuǎn)印帶16的援助輥31和支撐輥32中間的一部分分別 與感光體鼓10Y、 1 0M、 IOC、 1 0 B k接觸。傳動帶用清潔裝 置50被設(shè)在與中間轉(zhuǎn)印帶16碰接的位置。支撐輥32起到張力輥的作 用，能夠在中間轉(zhuǎn)印帶16面方向移動，能夠調(diào)節(jié)中間轉(zhuǎn)印帶16的張力。
轉(zhuǎn)印輥17Y、 17M、 17C、 1 7 B k分別被設(shè)置在中間轉(zhuǎn)印 帶16內(nèi)側(cè)的、與中間轉(zhuǎn)印帶16與感光體鼓1 0 Y、 IOM、 IOC、 1 0 B k接觸部分對著的位置上。另外，轉(zhuǎn)印輥l 7 Y、 1 7M、 17 C、 1 7 B k在與感光體鼓1 0 Y、 1 0M、 IOC、 10Bk對著的 位置上形成一次轉(zhuǎn)印部(壓料部)，將調(diào)色像轉(zhuǎn)印到中間轉(zhuǎn)印帶16。
二次轉(zhuǎn)印輥33被設(shè)置在中間轉(zhuǎn)印帶16載置調(diào)色像的表面一側(cè)，介 過中間轉(zhuǎn)印帶16對著援助輥31。援助輥31和二次轉(zhuǎn)印輥33介過中間 轉(zhuǎn)印帶16形成二次轉(zhuǎn)印部(壓料部)。
定影裝置70被設(shè)置成使記錄材P穿過上述二次轉(zhuǎn)印部后能夠搬送。
圖1所示的圖像形成裝置的處理盒l(wèi) 0 0Y中，驅(qū)動感光體鼓IO Y旋轉(zhuǎn)。與此聯(lián)動地驅(qū)動帶電器l 1 Y,使感光體鼓l OY表面均勻帶 電至一定極性/電位。接下去通過曝光裝置l 2Y膝光，表面均勻帶電 的感光體鼓1 0 Y在其表面形成靜電潛像。
接下去上述靜電潛像由黃色顯影裝置1 3Y顯影，在感光體鼓l 0 Y表面形成調(diào)色像。
該調(diào)色像在穿過感光體鼓l 0 Y和中間轉(zhuǎn)印帶16之間的一次轉(zhuǎn)印 部(壓料部)的同時，由于被轉(zhuǎn)印輥l 7Y施加轉(zhuǎn)印偏壓而形成的電場， 而,皮依次一次轉(zhuǎn)印到中間轉(zhuǎn)印帶16的外周面。
之后，殘留在感光體鼓l 0Y上的調(diào)色劑被感光體清潔器l 5Y清
掃除去。然后，感光體鼓l 0Y被提供到下一個轉(zhuǎn)印循環(huán)。
以上轉(zhuǎn)印循環(huán)在處理盒100M、 100C、 100Bk中也同樣 進行，第2色的調(diào)色〗象、第3色的調(diào)色〗象、第4色的調(diào)色l象被依次重合 形成在中間轉(zhuǎn)印帶16上，形成全彩色的調(diào)色像。
轉(zhuǎn)印在中間轉(zhuǎn)印帶16上的全彩色調(diào)色像經(jīng)轉(zhuǎn)印帶16傳動，到達(dá)設(shè) 有援助輥31的二次轉(zhuǎn)印部(壓料部)。
記錄材P以一定時機被送往二次轉(zhuǎn)印部的中間轉(zhuǎn)印帶16和援助輥 31之間。通過援助輥31和二次轉(zhuǎn)印輥33的壓接搬送以及中間轉(zhuǎn)印帶 16的傳動，被上述中間轉(zhuǎn)印帶16載置的調(diào)色像被轉(zhuǎn)印到記錄材P上。
被轉(zhuǎn)印了調(diào)色像的記錄材P被搬送到定影裝置70,經(jīng)加壓/加熱處 理對調(diào)色像進行定影。而轉(zhuǎn)印結(jié)束了的中間轉(zhuǎn)印帶16由設(shè)置在二次轉(zhuǎn) 印部下流的傳動帶用清潔裝置50除去殘留的調(diào)色劑，為下一次轉(zhuǎn)印做 準(zhǔn)備。
本實施方式中，4個處理盒1 0 0 Y、 10 0M、 100C、 10
0 B k分別能夠單獨地裝卸于圖像形成裝置本體。也就是說，通過裝卸 處理盒100Y、 100 M、 100C、 100Bk,感光體鼓1 0 Y 、
1 0M、 IOC、 10Bk、帶電器llY、 IIM、 IIC、 11B k 、曝光裝置12Y、 12M、 12C、 12Bk、顯影裝置1 3 Y 、 1 3M、 1 3 C、 1 3 B k以及感光體清潔器l 5 Y、 1 5 M、 1 5 C、 1 5 B k被同時裝卸。
圖2是用來對本發(fā)明涉及的處理盒的第1實施方式的結(jié)構(gòu)和為了測 定間隔D s的測定方法進行說明的截面圖。第1實施方式中的處理盒 100,其中采用了單l成分的顯影劑。
首先，對第1實施方式中的處理盒IOO的結(jié)構(gòu)作說明。
處理盒100由作為像載置體的感光體鼓10、帶電器11、顯影裝置 13以及感光體清潔器15等構(gòu)成。
處理盒100的骨架由清潔器/鼓框體101和顯影框體102構(gòu)成，其中， 清潔器/鼓框體101兼感光體清潔器15的套罩，顯影框體102是顯影裝
置13的套罩。帶電器ll由清潔器/鼓框體101支撐。
感光體鼓10介過旋轉(zhuǎn)軸1 0 a由清潔器/鼓框體101支撐，旋轉(zhuǎn)自在。
另外，感光體清潔器15的清潔器/鼓框體101上設(shè)有支撐著清掃葉 片151的葉片支撐部件152。
清掃葉片151由具有彈性的氨基甲酸乙酯樹脂等構(gòu)成，被設(shè)置在接 觸感光體鼓10的位置上，用來除去一次轉(zhuǎn)印后殘留在感光體鼓10上的 調(diào)色劑。支撐清掃葉片151的葉片支撐部件152由金屬等材料構(gòu)成，被 設(shè)置在清潔器/鼓框體101上。
清潔器/鼓框體101和顯影框體102的安裝采用例如安裝夾具等，正 確把握位置進行裝配。本實施方式中，清潔器/鼓框體101和顯影框體 102是分開結(jié)構(gòu)，但也可以形成是同一框體的一體結(jié)構(gòu)。
接下去，參照附圖2對顯影裝置13進行說明。顯影裝置13釆用只 有調(diào)色劑構(gòu)成的一成分系顯影劑，是通過向感光體鼓10的表面供給調(diào) 色劑進行顯影的裝置。
顯影裝置13備有作為套罩的顯影框體102、作為顯影劑載置體的顯 影輥131、規(guī)制葉片134、葉片支撐具135、供給輥136以及旋轉(zhuǎn)體137。
顯影輥131由顯影框體102支撐，該顯影輥131由例如導(dǎo)電性的圓 柱基體和用硅橡膠等高硬度物質(zhì)形成在基體外周的彈性層等構(gòu)成。規(guī)制 葉片134被裝在其先端碰觸在顯影輥131上的位置，規(guī)制顯影輥131上 的調(diào)色劑附著量。
設(shè)置在推壓顯影輥131位置上的供給輥136由沒有圖示的馬達(dá)驅(qū) 動，與顯影輥131在同一方向(圖中的逆時針方向)旋轉(zhuǎn)。供給輥136 由導(dǎo)電性圓柱基體和形成在基體外周的氨基曱酸乙酯泡沫等發(fā)泡層等 構(gòu)成。
顯影框體102的內(nèi)部設(shè)有攪拌顯影劑的旋轉(zhuǎn)體137,旋轉(zhuǎn)體137上 裝有薄片狀的搬送翼，旋轉(zhuǎn)體137向箭頭方向旋轉(zhuǎn)搬送顯影劑。由搬送 翼搬送的顯影劑通過設(shè)在將顯影框體102內(nèi)部一隔為2的壁1 0 2 b上的開口部(沒有符號)，被供給到供給輥136。
圖像形成時，顯影輥131被向箭頭方向旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，與此同時供給輥 136旋轉(zhuǎn)，由此顯影劑被供給到顯影輥131上。被供給到顯影輥131上 的顯影劑通過規(guī)制葉片134薄層化后，被搬送到感光體鼓10對面的區(qū) 域，供給感光體鼓10上靜電潛像的顯影。顯影時沒有用上的顯影劑隨 著顯影輥131的旋轉(zhuǎn)，由供給輥136從顯影輥131刮取，被回收。
圖3是用來說明有關(guān)本發(fā)明涉及的處理盒的第2實施方式的結(jié)構(gòu)和 測定間隔D s的測定方法的截面圖。第2實施方式中的處理盒100，其 中采用2成分顯影劑。
第2實施方式中的處理盒100的結(jié)構(gòu)類似于第1實施方式中的處理 盒IOO,對具有相同功能以及結(jié)構(gòu)的部件標(biāo)上相同的符號，省略說明， 在此僅對具有不同結(jié)構(gòu)的部位進行說明。
第2實施方式中的處理盒100與第1實施方式中的處理盒100的結(jié) 構(gòu)上的主要不同點在于，攪拌顯影劑的輥和供給到顯影輥131的輥的結(jié) 構(gòu)不同。也就是說，第1實施方式中是由旋轉(zhuǎn)體137和供給輥136攪拌 和搬送調(diào)色劑，供給到顯影輥131。而第2實施方式中因為是由2個攪 拌輥138、 139攪拌和搬送2成分顯影劑，供給到顯影輥131，所以，攪 拌輥138、 139具有由樹脂或金屬材料形成的螺旋槳形狀。
另外，第l實施方式中，規(guī)制葉片134以一定的壓力與顯影輥131 接觸，而第2實施方式中，規(guī)制葉片134的先端與顯影輥131表面之間 保持一定的間隔。
接下去，對本發(fā)明涉及的處理盒100的第l或第2實施方式中的測 定感光體鼓10和顯影輥的間隔D s的測定方法進行說明。
構(gòu)成以下結(jié)構(gòu)，即通過采用沒有圖示的周知的長孔和螺絲或襯墊 (spacer )和螺絲結(jié)構(gòu)，能夠調(diào)整感光體鼓10和顯影輥131的間隔D s 尺寸。
圖2和圖3中，C F表示連結(jié)感光體鼓10之中心軸1 0 a和顯影 輥131之中心軸1 3 1 a而形成的平面。
作為本發(fā)明中涉及的第1光路變更部件的第1面鏡M1以及本發(fā)明 中涉及的第2光路變更部件的第2面鏡M 2之2個面鏡，本實施方式中 是裝在后述的D s測定夾具上。
光路K1、 K2、 K3是從本發(fā)明涉及的發(fā)光元件Hk發(fā)出的光到 由受光元件H s受光所經(jīng)由的光路。發(fā)光元件H k發(fā)出例如激光等光 束。
調(diào)色劑飛散防止用通道卯內(nèi)部收納著能夠交換的過濾器，該通道 備有沒有圖示的連通口和吸引口。使連結(jié)到?jīng)]有圖示的換氣馬達(dá)的連結(jié) 用通道，連結(jié)到調(diào)色劑飛散防止用通道90的連通口，從吸引口吸引從 顯影裝置13飛散的調(diào)色劑。
第1面鏡M1設(shè)置在發(fā)光元件Hk發(fā)出的光束的光路K l上，反射 光束形成光路K 2 。同樣，第2面鏡M 2設(shè)置在被第1面鏡M1反射而 形成的光路K 2上，反射光束形成光路K 3 。
光路K2與平面CF垂直相交，光路K2被形成在一個平面上，該 平面穿過感光體鼓10和顯影輥之間隔D s的一部分。
光路K 1 、 K 3以光路K 2作為基準(zhǔn)，形成在避開感光體鼓10、顯 影輥131、清潔器/鼓框體101、顯影框體102、葉片支撐具135、帶電器 11以及調(diào)色劑飛散防止用通道90等成為光路障礙之部件的位置上。發(fā) 光元件H k 、受光元件H s以及面鏡M1 、 M 2被設(shè)在與光路K 1、 K 2 、 K 3相對應(yīng)的位置上。
為了適當(dāng)?shù)卮_保間隔D s的測定精度，優(yōu)選使面鏡M1、 M2的面 精度(相對直徑l Omm的面精度)在O. 2 4 pm以下，而為了提高 精度則希望優(yōu)選在O. 1 0 jim以下。另外，由于制造技術(shù)上難以制作 面精度在O. 0 2 nm未滿的面鏡，所以優(yōu)選本發(fā)明中釆用的光路變更 部件的面精度在O. 0 2pm以上、0. 24pm以下。
本實施方式中采用下述器材測定間隔D s 。
1.發(fā)光元件H k以及受光元件H s :高速/高精度數(shù)字尺寸測定器 (*一工7義/>司制造，L E D方式，型式LS- 7030M)
2.面鏡M1、 M2:毫微微(10-15)低分散面鏡('》7"T光機林 式會社制造，產(chǎn)品編號FLM1- 12. 7C05- 800)
本實施方式中是采用面鏡作為光路變更部件，但用棱鏡取代面鏡時 本發(fā)明也能夠適用。
另外，本實施方式中是采用2個光路變更部件之結(jié)構(gòu)，但1個或3 個以上光路變更部件時本發(fā)明也能夠應(yīng)用。
通過釆用本發(fā)明涉及的光路變更部件進行感光體鼓和顯影輥的間 隔Ds的測定，沒有必要使用間隙量器或形成透明的窗口。另外，因為 不需要確保開口部，以便從處理盒外部向里穿過看到感光體鼓和顯影輥 之間隔Ds，所以，處理盒設(shè)計上的自由度高。
圖4是本發(fā)明涉及的第1或第2實施方式的處理盒中，測定感光體 鼓和顯影輥之間隔D s時的D s測定夾具的一個實施方式的結(jié)構(gòu)概略 示意圖。
D s測定夾具J備有發(fā)光元件裝配部J a 、受光元件裝配部J b 、 第1面鏡裝配部J c 、第2面鏡裝配部J d 。發(fā)光元件裝配部J a上安 裝著發(fā)光元件H k ,受光元件裝配部J b上安裝著受光元件H s ，第1 面鏡裝配部J c上安裝著第1面鏡M1 ,第2面鏡裝配部J d上安裝著 第2面鏡M 2 。
間隔D s的測定，是將感光體鼓10和顯影輥131臨時定位后的處 理盒100裝到D s測定夾具J上進行。
本實施方式中是在D s測定夾具J上裝上了發(fā)光元件H k 、受光元 件H s 、第1面鏡M 1 、第2面鏡M 2以及處理盒100，但是，發(fā)光元 件H k 、受光元件H s不裝到D s測定夾具而另行放置也可。
通過采用本發(fā)明涉及的測定夾具，能夠用簡單的操作正確地進行間 隔D s的測定。
圖5是本發(fā)明涉及的第l或第2實施方式的處理盒中，測定感光體 鼓和顯影輥之間隔D s的操作順序流程示意。
以下參照圖4、圖5，對測定間隔D s的操作順序作說明。
首先，對即將進行測定的處理盒100中的感光體鼓10和顯影輥131 的任意至少一方作臨時定位(步驟S 1 )。將臨時定位狀態(tài)的處理盒100 裝到D s測定夾具J上(步驟S 2 )。
接下去，使發(fā)光元件Hk發(fā)光，測定間隔D s (步驟S 3 )。確認(rèn) 測得的間隔D s是否在基準(zhǔn)值范圍(步驟S 4 )。
測得的間隔D s不屬基準(zhǔn)值范圍(步驟S 4否定)時，過渡到步驟 S 7 ，挪動感光體鼓10或顯影輥131的裝配位置進行間隔D s調(diào)整(步 驟S 7 )。接下去返回步驟S 3再次進行間隔D s測定，在測得的間隔 D s不屬基準(zhǔn)值范圍(步驟S 4否定)期間，反復(fù)步驟S 7 、步驟S 3 以及步驟S 4 。
當(dāng)測得的間隔D s在基準(zhǔn)值范圍內(nèi)(步驟S 4肯定)時，進入步驟 S 5 ,對臨時定位狀態(tài)的感光體鼓10或顯影輥131進行正式定位，固 定間隔D s (步驟S 5 )。從D s測定夾具J取下測定結(jié)束的處理盒100 (步驟S 6 )。
本實施方式中，感光體鼓10或顯影輥131的臨時定位作業(yè)、間隔 調(diào)整作業(yè)、以及正式固定作業(yè)都是在間隔D s測定時處理盒100裝在D s測定夾具J上的狀態(tài)下進行的，但是，作業(yè)時作為取下的操作也可以。 即，只在間隔D s測定時將處理盒100裝到D s測定夾具J上，測定結(jié) 束后取下處理盒100，根據(jù)測定結(jié)果調(diào)整間隔D s進行正式固定。
通過釆用本發(fā)明的第l或第2實施方式涉及的處理盒100進行間隔 D s測定作業(yè)，能夠正確且容易地進行間隔D s的調(diào)整。
作為本發(fā)明涉及的處理盒的第3實施方式，是在處理盒內(nèi)直接設(shè)置 光路變更部件的處理盒100。
這種處理盒100的結(jié)構(gòu)類似于圖2、圖3中說明的第1、第2實施 方式中的處理盒100，對具有相同功能以及結(jié)構(gòu)的部件附上相同的符號 省略說明，在此僅對不同的結(jié)構(gòu)作說明。
第3處理盒100與第1或第2處理盒100的不同點在于，圖2、圖
3所示的面鏡M1、 M2是設(shè)置在測定夾具J上的，而第3處理盒100 中是設(shè)置在處理盒100內(nèi)。發(fā)光元件H k以及受光元件H s由沒有圖示 的專用的裝配夾具支撐。其他構(gòu)造與第l、第2的處理盒100相同，省 略說明。
圖6是本發(fā)明涉及的第3實施方式的處理盒中，測定感光體鼓和顯 影輥之間隔D s的操作順序流程示意。
以下參照圖6,對測定間隔D s的操作順序作說明。
首先，對即將進行測定的處理盒100中的感光體鼓10和顯影輥131 的任意至少一方作臨時定位(步驟S 1 1 )。將發(fā)光元件Hk以及受光 元件H s的裝配夾具，裝到臨時定位狀態(tài)的處理盒100中(步驟S 1 2 )。
接下去，使發(fā)光元件H k發(fā)光測定間隔D s (步驟S 1 3 )。確認(rèn) 測得的間隔D s是否在基準(zhǔn)值范圍(步驟S 1 4 )。
測得的間隔D s不屬基準(zhǔn)值范圍(步驟S 1 4否定)時，過渡到步 驟S 1 7 ，挪動感光體鼓IO或顯影輥131的裝配位置進行間隔D s調(diào) 整(步驟S 1 7 )。接下去返回步驟S 1 3再次進行間隔D s測定，在 測得的間隔D s不屬基準(zhǔn)值范圍(步驟S 1 4否定)期間，反復(fù)步驟S 1 4 、步驟S 1 7以及步驟S 1 3 。
當(dāng)測得的間隔D s在基準(zhǔn)值范圍內(nèi)(步驟S 1 4肯定)時，進入步 驟S 1 5 ,對臨時定位狀態(tài)的感光體鼓10或顯影輥131進行正式定位， 固定間隔D s (步驟S 1 5 )。
最后取下發(fā)光元件H k以及受光元件H s的裝配夾具(步驟S 1
6 )。
本實施方式中是測定結(jié)束后光路變更部件就此留在處理盒內(nèi)，但也 可以在測定結(jié)束后取出光路變更部件。
通過采用第3實施方式中涉及的處理盒IOO，不需使用如第l、第2 實施方式所述的內(nèi)藏光路變更部件的復(fù)雜的測定夾具。
權(quán)利要求
1.一種對于至少備有像載置體和顯影劑載置體的處理盒，采用發(fā)光元件和受光元件，測定所述像載置體和所述顯影劑載置體之間間隔的處理盒的間隔測定方法，其特征在于，通過光路變更部件使從所述發(fā)光元件發(fā)出的光的光路改變，且使所述光穿過所述像載置體和所述顯影劑載置體之間，來測定所述間隔。
2. 權(quán)利要求l中記載的處理盒的間隔測定方法，其特征在于，釆 用多個所述光路變更部件測定所述間隔。
3. 權(quán)利要求1或2中記載的處理盒的間隔測定方法，其特征在于， 采用裝有所述處理盒以及所述光路變更部件的測定夾具，來測定所述間 隔。
4. 權(quán)利要求3中記載的處理盒的間隔測定方法，其特征在于，在 裝有所述處理盒以及所述光路變更部件的所述測定夾具上，裝上所述發(fā) 光元件以及所述受光元件，來測定所述間隔。
5. 權(quán)利要求1至4的任何一項中記載的處理盒的間隔測定方法， 其特征在于，所述光路變更部件是面鏡或棱鏡。
6. 權(quán)利要求5中記載的處理盒的間隔測定方法，其特征在于，所 述面鏡或棱鏡具有面精度在O. 0 2nm以上、0. 2 4nm以下的反射面。
7. —種處理盒，其特征在于，用權(quán)利要求1至6的任何一項中記 載的處理盒的間隔測定方法，測定所述像載置體和所述顯影劑載置體之 間的間隔。
8. —種處理盒，其特征在于，內(nèi)藏權(quán)利要求1或2中記載的處理 盒的間隔測定方法中記載的所述光路變更部件。
9. 權(quán)利要求8中記載的處理盒，其特征在于，所述光路變更部件 是面鏡或棱鏡。
10. 權(quán)利要求9中記載的處理盒，其特征在于，所述面鏡或所述棱 鏡具有面精度在O. 0 2jim以上、0. 2 4nm以下的反射面。
全文摘要
提供一種用簡單的操作、不對處理盒的設(shè)計上做出過大制約的、像載置體和顯影劑載置體的間隔Ds測定方法，以及使用該測定方法測定的處理盒。對于至少備有像載置體和顯影劑載置體的處理盒，采用發(fā)光元件和受光元件，測定所述像載置體和所述顯影劑載置體之間間隔的處理盒的間隔測定方法，其特征在于，通過光路變更部件使從所述發(fā)光元件發(fā)出的光的光路改變，且使所述光穿過所述像載置體和所述顯影劑載置體之間，來測定所述間隔。
文檔編號G03G21/18GK101373368SQ200810134750
公開日2009年2月25日 申請日期2008年7月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月24日
發(fā)明者誠 昆, 莿木正史 申請人:柯尼卡美能達(dá)商用科技株式會社