專利名稱：圖像顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種圖像顯示裝置，例如液晶顯示(LCD)裝置和等離子體顯示裝置。更具體地，本發(fā)明涉及一種圖像顯示裝置，具有包括以矩陣陣列排列的像素的顯示部分和其中安裝了驅(qū)動(dòng)器IC(集成電路)或驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置的布線端子部分。將用于安裝驅(qū)動(dòng)器IC的安裝電極和用于測試顯示部分缺陷的測試電極形成在布線端子部分中。
背景技術(shù)：
在最近幾年中，LCD裝置已經(jīng)廣泛地用作高分辨率顯示器或圖像顯示裝置。通常，LCD裝置包括基底(其將被稱為TFT基底)，在所述基底上形成例如薄膜晶體管(TFT)的開關(guān)元件；另一個(gè)基底(其將被稱為CF基底)，在所述另一個(gè)基底上形成濾色器、黑矩陣等；和設(shè)置在TFT基底和CF基底之間的液晶層。液晶分子的定向通過TFT基底上形成的電極和CF基底上形成的電極兩端、或TFT上形成的電極兩端施加的電場來改變，由此控制每一個(gè)像素中透射光的量來顯示圖像。
稱為“顯示部分”的LCD裝置的用于顯示圖像的部分或區(qū)域包括以矩陣陣列排列的多個(gè)像素。在顯示部分中，通常將例如柵電極線(或掃描線)、漏電極線(或信號線)、公共電極線等之類的各種布線形成在TFT基底上。
LCD裝置包括形成在顯示部分外部的“布線端子部分(wiringterminal section)”，所述布線端子部分是用于連接驅(qū)動(dòng)液晶的驅(qū)動(dòng)器IC(即，驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置)的部分或區(qū)域。在布線端子部分中，形成引導(dǎo)線(leading line)以將驅(qū)動(dòng)器IC與設(shè)置在顯示部分中的布線電連接。形成在顯示部分中的布線在下文將被稱為“內(nèi)部布線”。典型的是將配置用于形成帶式封裝(TCP)的驅(qū)動(dòng)器IC通過帶式自動(dòng)接合(TAB)方法與引導(dǎo)線的末端相連。
順便提及，在最近幾年中，其中用于驅(qū)動(dòng)液晶的驅(qū)動(dòng)器IC直接安裝在TFT基底上的玻載芯片(COG)型LCD裝置已經(jīng)研發(fā)并且變得商業(yè)上有用。COG型LCD裝置具有的優(yōu)點(diǎn)在于與其中驅(qū)動(dòng)器IC通過TAB方法安裝在TFT基底上的常規(guī)LCD裝置相比，可以實(shí)現(xiàn)厚度和重量的減小。利用COG型LCD裝置，用于在引導(dǎo)線和驅(qū)動(dòng)器IC之間電連接的多個(gè)安裝電極或焊盤形成在各個(gè)引導(dǎo)線的中點(diǎn)處。此外，用于測試顯示部分缺陷的多個(gè)測試電極形成為與相應(yīng)的安裝電極相鄰。測試電極與相應(yīng)的安裝電極電連接，換句話說，測試電極與安裝電極一一對應(yīng)地形成。
圖2是示出了現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置的布線端子部分的示意結(jié)構(gòu)的局部平面圖。圖1是沿圖2的線I-I得到的局部截面圖。
如圖2所示，現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置包括顯示部分111和布線端子部分112。顯示部分111是用于顯示圖像的部分或區(qū)域并且包括以矩陣陣列排列的多個(gè)像素。設(shè)置在顯示部分111外部的布線端子部分112是其上安裝了驅(qū)動(dòng)液晶的驅(qū)動(dòng)器IC并且與柔性印刷電路(FPC)相連的部分或區(qū)域。
在布線端子部分112中，形成多個(gè)引導(dǎo)線123以將顯示部分111中的布線(即內(nèi)部布線)向外引導(dǎo)到布線端子部分112，以及將內(nèi)部布線電與驅(qū)動(dòng)器IC和FPC(都沒有示出)電連接。如圖2所示，這些引導(dǎo)線123通過在TFT基底120上的布線端子部分112中形成的安裝區(qū)域124延伸到TFT基底120與顯示部分111相對的末端附近。安裝區(qū)域124配置用于安裝驅(qū)動(dòng)器IC。
在圖2中，僅示出了13根引導(dǎo)線123。用于測試顯示部分111缺陷的測試電極或焊盤126配置在各個(gè)引導(dǎo)線123的末端處。用于安裝驅(qū)動(dòng)器IC的安裝電極或焊盤125配置在與相應(yīng)的測試電極126相鄰的各個(gè)引導(dǎo)線123上。配置在相同引導(dǎo)線123上的安裝電極125和測試電極126通過這兩個(gè)電極125和126之間的那部分線123彼此電連接。
在圖2中，將配置在引導(dǎo)線123上的安裝電極125和測試電極126以及配置在相鄰引導(dǎo)線123上的安裝電極125和測試電極126沿它們的延伸方向(即圖2中的垂直方向)移動(dòng)預(yù)定距離，導(dǎo)致整體上的Z字形圖案。引導(dǎo)線123的結(jié)構(gòu)與它們的相應(yīng)安裝和測試電極125和126相同。
安裝電極125用于將引導(dǎo)線123與具有非對稱導(dǎo)電膜(ACF)的驅(qū)動(dòng)器IC的相應(yīng)隆起焊盤(bump)(未示出)電連接，其中將所有的安裝電極125放置在用于驅(qū)動(dòng)器IC的安裝區(qū)域124中。測試電極126用于測試顯示部分111的缺陷，其中將所有的測試電極126放置在安裝區(qū)域124的外部。
引導(dǎo)線123的結(jié)構(gòu)在圖1中示出。線123由形成在TFT基底120的玻璃板121上的窄帶形導(dǎo)電膜123a和形成在玻璃板121上以覆蓋導(dǎo)電膜123a的窄帶形絕緣膜123c構(gòu)成。導(dǎo)電膜123a的一端電顯示部分111中的相應(yīng)內(nèi)部布線(未示出)電連接，其另一端延伸到測試電極126。從而，安裝電極125和測試電極126通過導(dǎo)電膜123a電互連。例如，導(dǎo)電膜123a由具有低電阻率的鉻(Cr)構(gòu)成。
在兩個(gè)位置處選擇性地去除完全覆蓋導(dǎo)電膜123a的絕緣膜123c以形成兩個(gè)開口123cm和123ci。形成安裝電極123以適應(yīng)于位于顯示部分111一側(cè)上的開口123cm。形成測試電極126以適應(yīng)于位于在顯示部分111相對一側(cè)(即布線端子部分112的端部一側(cè))上的開口123ci。每一個(gè)安裝和測試電極125和126形成為具有板形形狀，其中心位置是凹陷的，其中其外圍部分放置在絕緣膜123c上，并且其剩余部分放置在開口123cm或123ci中。電極125和126分別通過開口123cm和123ci與導(dǎo)電膜123a接觸。電極125和126由與導(dǎo)電膜123a相同的材料(例如鉻)構(gòu)成。
覆蓋導(dǎo)體膜127和128分別形成在安裝和測試電極125和126上以覆蓋它們的幾乎全部表面。例如，覆蓋導(dǎo)體膜127和128由為透明導(dǎo)電材料的銦錫氧化物(ITO)構(gòu)成。
作為涉及本發(fā)明的另一個(gè)現(xiàn)有技術(shù)，日本未審專利公開號2005-121976公開了一種圖像顯示裝置，包括以下結(jié)構(gòu)。具體地，該裝置包括內(nèi)部布線(即形成在顯示部分中的布線)和引導(dǎo)線(即形成在外圍部分中的布線)，引導(dǎo)線共同地與內(nèi)部布線之一相連。一些引導(dǎo)線通過第一導(dǎo)電線形成，所述第一導(dǎo)電線由具有相對高耐蝕性和相對高電阻率的材料(例如ITO)構(gòu)成。剩余的引導(dǎo)線通過第二導(dǎo)電線形成，所述第二導(dǎo)電線由具有相對低耐蝕性和相對低電阻率的材料(例如金屬)構(gòu)成。
利用該現(xiàn)有技術(shù)圖像顯示裝置，當(dāng)沒有在引導(dǎo)線中產(chǎn)生腐蝕時(shí)，內(nèi)部布線可以通過具有相對低復(fù)合電阻的引導(dǎo)線(即第一和第二導(dǎo)電線)與驅(qū)動(dòng)器IC(驅(qū)動(dòng)電路)電連接。另一方面，即使當(dāng)引導(dǎo)線中腐蝕增長時(shí)，可以防止所有的第一和第二導(dǎo)電線(即所有的引導(dǎo)線)被擊穿的情況。結(jié)果，至少在初始階段中，高顯示質(zhì)量是可以獲得的。此外，即使在該裝置使用較長時(shí)間后，防止所有的引導(dǎo)線(即第一和第二導(dǎo)電線)免于被擊穿，并且因此，可以將該裝置的顯示質(zhì)量保持在某個(gè)水平或更高(參見圖5和6，段0011至0012、0018、和0026至0028)。
利用圖1和2所示的現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置，用于檢測顯示部分111中的缺陷的測試在安裝驅(qū)動(dòng)器IC前進(jìn)行。在該測試期間，首先，將預(yù)定測試或檢驗(yàn)設(shè)備的探針與測試電極126接觸。其后，將預(yù)定的驅(qū)動(dòng)電壓通過測試電極126施加到顯示部分111中的各個(gè)像素，由此測試每一個(gè)像素是否被正常照明。這時(shí)，由于Cr的低耐蝕性，因此下述問題發(fā)生。
首先，由于附著到測試電極126的灰塵，測試設(shè)備的探針的磨損，外部物質(zhì)附著到探針等，當(dāng)應(yīng)用驅(qū)動(dòng)電極時(shí)，在測試電極126和探針之間的接觸區(qū)域處產(chǎn)生瞬間放電(minute electric discharge)。從而，存在覆蓋導(dǎo)體膜128的顏色改變的可能性，這導(dǎo)致由Cr構(gòu)成的測試電極126的消失。
第二，如果清潔溶液殘留在布線端子部分112中，則當(dāng)驅(qū)動(dòng)電極通過測試設(shè)備的探針應(yīng)用到測試電極126上時(shí)，由于電化學(xué)反應(yīng)，Cr轉(zhuǎn)變成Cr的氧化物從而溶解到清潔溶液中。結(jié)果，存在由Cr構(gòu)成的測試電極126和與其相鄰定位的引導(dǎo)線123消失的可能性。
第三，存在測試電極126和與其相鄰的導(dǎo)電膜123a的布線電阻由于構(gòu)成它們的Cr膜的腐蝕而上升的可能性。
測試電極126和其附近的Cr膜(即測試電極126和導(dǎo)電膜123a)的腐蝕和消失的這些現(xiàn)象將影響通過導(dǎo)電膜123a與測試電極126電連接的安裝電極125，由此引起顯示異常。
此外，利用公開號2005-121976公開的現(xiàn)有技術(shù)圖像顯示裝置，盡管考慮了具有相對低耐蝕性的金屬布線的腐蝕，但是任何其它事物沒有公開。沒有任何涉及圖1和2所示的現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置的測試電極126。此外，當(dāng)然沒有提及在顯示部分111的測試中發(fā)生的上述問題以及解決這些問題的對策。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明通過考慮上述問題而產(chǎn)生。
本發(fā)明的目的是提供一種圖像顯示裝置，所述圖像顯示裝置可以利用簡單結(jié)構(gòu)、當(dāng)測試顯示部分缺陷時(shí)有效地防止由于測試電極和用于引導(dǎo)線的導(dǎo)電膜的腐蝕和/或消失而導(dǎo)致的顯示異常。
本發(fā)明的另一目的是提供一種圖像顯示裝置，所述圖像顯示裝置可以無需改變用于測試電極的材料和用于引導(dǎo)線的導(dǎo)電膜、并且無需任何新工藝而容易地制造。
根據(jù)以下描述，沒有具體地提及的以上和其它目的對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將變得清晰。
根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置包括顯示部分，包括以矩陣陣列排列的像素和內(nèi)部布線；布線端子部分，包括其中安裝驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置的安裝區(qū)域；引導(dǎo)線，形成在布線端子部分中，用于內(nèi)部布線和驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置之間的電互連；每一個(gè)引導(dǎo)線具有用于安裝驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置的安裝電極和用于測試顯示部分缺陷的測試電極；形成每一個(gè)引導(dǎo)線的圖案化第一導(dǎo)電膜，其與測試電極分離地形成，用于將安裝電極與相應(yīng)的一個(gè)內(nèi)部布線電連接；絕緣膜，形成以覆蓋第一導(dǎo)電膜；圖案化的連接導(dǎo)電膜，形成在絕緣膜上以與安裝電極和測試電極接觸，由此將安裝電極與測試電極電連接；以及連接導(dǎo)電膜，由在測試顯示部分缺陷時(shí)的耐蝕性大于用于測試電極的材料耐蝕性的材料構(gòu)成。
如上所述，利用根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置，用于將安裝電極與相應(yīng)的一個(gè)內(nèi)部布線電連接的圖案化第一導(dǎo)電膜與測試電極分離地形成。
這意味著第一導(dǎo)電膜僅與安裝電極電連接并且不與測試電極電連接。因此，在測試顯示部分缺陷時(shí)，抑制了第一導(dǎo)電膜在測試電極附近腐蝕和/或消失的可能性。
此外，利用形成于覆蓋第一導(dǎo)電膜的絕緣膜上的連接導(dǎo)電膜實(shí)現(xiàn)安裝電極和測試電極之間的電連接。此外，連接導(dǎo)電膜由在測試顯示部分缺陷時(shí)的耐蝕性大于用于測試電極的材料的耐蝕性的材料(例如ITO)構(gòu)成。因此，即使在測試中測試電極腐蝕和/或消失，測試電極腐蝕和/或消失通過連接導(dǎo)電膜傳遞到安裝電極或第一導(dǎo)電膜的可能性非常低。
此外，由于根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置具有上述結(jié)構(gòu)或特征是足夠的，因此簡化了裝置的結(jié)構(gòu)。
因此，可以利用簡單結(jié)構(gòu)有效地防止由于在測試顯示部分缺陷時(shí)測試電極和/或第一導(dǎo)電膜腐蝕和/或消失導(dǎo)致的顯示異常的產(chǎn)生。
此外，利用根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置，連接導(dǎo)電膜由在測試顯示部分時(shí)的耐蝕性大于用于測試電極的材料的耐蝕性的材料構(gòu)成。作為這種耐蝕性材料，可以使用測試時(shí)其耐蝕性大于Cr的ITO。ITO用作分別形成在之前所述的現(xiàn)有技術(shù)LCD裝置的測試電極126和安裝電極125上覆蓋導(dǎo)電膜127和128的材料。另一方面，由于第一導(dǎo)電膜與測試電極分離形成是足夠的，因此Cr可以用于第一導(dǎo)電膜。因此，通過改變用于第一導(dǎo)電膜的掩模圖案和用于覆蓋導(dǎo)電膜127和128的掩模圖案可以易于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述特征。
因此，可以無需改變用于測試電極和第一導(dǎo)電膜的材料并且無需添加任何新的工藝就可以易于制造根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置。
在根據(jù)本發(fā)明的裝置的優(yōu)選實(shí)施例中，另外地配置形成每一個(gè)引導(dǎo)線的圖案化第二導(dǎo)電膜，所述圖案化第二導(dǎo)電膜在測試電極的正下方隔離地形成并且用絕緣膜覆蓋；其中，安裝電極通過絕緣膜的第一開口與第一導(dǎo)電膜接觸；以及測試電極通過絕緣膜的第二開口與第二導(dǎo)電膜接觸。
在本實(shí)施例中，由于將圖案化第二導(dǎo)電膜設(shè)置在測試正下面，因此存在測試顯示部分缺陷時(shí)第二導(dǎo)電膜與測試電極腐蝕和/或消失的可能性。然而，第二導(dǎo)電膜是隔離的，并且因此，這種如上所述的腐蝕和/或消失不影響第一導(dǎo)電膜。
另一方面，將第一導(dǎo)電膜配置在安裝電極正下方，并且將第二導(dǎo)電膜配置在測試電極正下方。從而，如果通過對單個(gè)導(dǎo)電膜進(jìn)行構(gòu)圖形成第一和第二導(dǎo)電膜，那么形成絕緣膜形成以覆蓋第一和第二導(dǎo)電膜，并且選擇性地刻蝕所述絕緣膜以形成第一和第二開口，第二開口的深度將等于第一開口的深度。為此，當(dāng)將導(dǎo)電膜形成在絕緣膜上并且對其進(jìn)行選擇性地刻蝕以形成安裝電極和測試電極時(shí)，用于安裝和測試電極的形成條件是相同的。結(jié)果，用于安裝和測試電極的形成條件可以容易地優(yōu)化。
相反，當(dāng)?shù)诙?dǎo)電膜沒有配置在測試電極正下方時(shí)，第二開口的深度將大于第一開口的深度。因此，當(dāng)導(dǎo)電膜形成在絕緣膜上并對其進(jìn)行選擇性地刻蝕以形成安裝和測試電極時(shí)，難以形成安裝和測試電極具有所需形狀。
因此，在本實(shí)施例中，存在的優(yōu)點(diǎn)在于根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置可以更容易地制造。
在根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，第一導(dǎo)電膜由Cr構(gòu)成。在本實(shí)施例中， 因?yàn)镃r具有比ITO更低的電阻率和更低的耐蝕性(即更容易腐蝕)，因此在測試顯示部分時(shí)Cr比ITO更容易腐蝕和/或消失。因此，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是顯著地可獲得的。
在根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，連接導(dǎo)電膜由ITO構(gòu)成。在本實(shí)施例中，由于ITO具有相對高的電阻率和高耐蝕性(即不容易腐蝕)，因此ITO是適合于連接導(dǎo)電膜的材料。此外，通過在圖1和2所示的現(xiàn)有技術(shù)LCD裝置的安裝和測試電極125和126的表面上分別形成覆蓋導(dǎo)體膜127和128的步驟中簡單地改變掩模圖案，可以容易地實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)或特征的附加優(yōu)點(diǎn)是可獲得的。
在根據(jù)本發(fā)明的另外優(yōu)選實(shí)施例中，將附加測試電極形成為與測試電極相鄰，其中，附加測試電極通過連接導(dǎo)電膜與安裝電極和測試電極電連接。在本實(shí)施例中，由于測試電極的數(shù)是二或更多，因此即使測試電極之一在測試顯示部分期間腐蝕和/或消失，剩余的測試電極也可以用于測試。此外，通過根據(jù)測試的種類或類型將探針與不同的測試電極之一接觸，可以減小各個(gè)測試電極的腐蝕和/或消失的可能性。也可以抑制施加到探針的不良影響。因此，存在的優(yōu)點(diǎn)在于可以更有效地防止顯示異常。
在本實(shí)施例中，優(yōu)選地是附加地配置第三導(dǎo)電膜，所述第三導(dǎo)電膜隔離地形成在附加測試電極正下方，并且用絕緣膜覆蓋，其中附加測試電極通過絕緣膜的第三開口與第三導(dǎo)電膜接觸。
在本實(shí)施例中，存在的優(yōu)點(diǎn)在于可以更容易地制造根據(jù)本發(fā)明的圖像顯示裝置。
在根據(jù)本發(fā)明的另外優(yōu)選實(shí)施例中，裝置被配置或構(gòu)造為COG型液晶顯示裝置。在本實(shí)施例中，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)顯著地可獲得的。


為了易于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，現(xiàn)在將參考附圖進(jìn)行描述本發(fā)明。
圖1是沿圖2的線I-I得到的局部截面圖。
圖2是示出了現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置的布線端子部分的示意結(jié)構(gòu)的局部平面圖。
圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的圖像顯示裝置(即COG型LCD裝置)的整個(gè)結(jié)構(gòu)的概念圖。
圖4是示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的圖像顯示裝置(即COG型LCD裝置)的示意結(jié)構(gòu)的側(cè)視圖。
圖5是示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的圖像顯示裝置(即COG型LCD裝置)的布線端子部分的示意結(jié)構(gòu)的局部平面圖。
圖6是沿圖5的線VI-VI得到的放大局部截面圖，示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的圖像顯示裝置(即COG型LCD裝置)的布線端子部分中形成的引導(dǎo)線的示意結(jié)構(gòu)。
圖7是與圖6類似的放大局部截面圖，示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的圖像顯示裝置(即COG型LCD裝置)的布線端子部分中形成的引導(dǎo)線的示意結(jié)構(gòu)。
具體實(shí)施例方式
下面將參考附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
第一實(shí)施例根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的圖像顯示裝置在圖3至6中示出，配置為COG型LCD裝置10。
如圖3所示，根據(jù)第一實(shí)施例的LCD裝置10包括顯示部分11和但形成在與其相鄰的顯示部分11外部的布線端子部分12。顯示部分11是用于顯示圖像的部分或區(qū)域，并且包括以矩陣陣列排列的多個(gè)像素。布線端子部分12是其中安裝驅(qū)動(dòng)液晶的驅(qū)動(dòng)器IC并且連接FPC的部分或區(qū)域。
顯示部分11和布線端子部分12的示意結(jié)構(gòu)在圖4中示出。顯示部分11包括TFT基底20、濾色器(CF)基底30、和排列在這兩個(gè)基底20和30之間的液晶40。TFT基底20包括玻璃板21、和以矩陣陣列排列在玻璃板21的內(nèi)表面上的TFT和像素電極(都未示出)。CF基底30包括玻璃板31、和形成在玻璃板31的內(nèi)表面上的濾色器(CF)32、黑矩陣等。利用密封材料41將液晶40限制在基底20和30之間的空間中。液晶分子的對齊通過在TFT基底20上形成的電極和CF基底30上形成的電極、或在TFT基底20上形成的電極兩端所施加的電場而改變，由此控制每一個(gè)像素中透射光的量以顯示圖像。在TFT基底20上，將諸如柵電極線(掃描線)、漏電極線(信號線)、公共電極線(所有這些均未示出)等之類的多個(gè)布線分別形成為具有柵格形狀。將偏振片51和52分別粘附到玻璃板21和31的外表面上。
在圖4中，內(nèi)部布線22示出為代表在顯示部分11中配置的多個(gè)布線。這些內(nèi)部布線22使用引導(dǎo)線23延伸至布線端子部分12。如圖5所示，引導(dǎo)線23通過用于安裝驅(qū)動(dòng)器IC 60的安裝區(qū)域24延伸至TFT基底20與顯示部分11相對端的附近，其中安裝區(qū)域24形成在TFT基底20上的布線端子部分12中。為了簡化，在圖5中僅示出了13個(gè)引導(dǎo)線23。
如圖5所示，利用LCD裝置10，將用于檢測顯示部分11缺陷的多個(gè)測試電極或焊盤26形成在13個(gè)引導(dǎo)線23的各個(gè)末端處。此外，將用于安裝驅(qū)動(dòng)器IC 60的多個(gè)安裝電極或焊盤25形成為與相應(yīng)的測試電極26相鄰。形成在相同引導(dǎo)線23上的安裝電極25和相應(yīng)的測試電極26通過具有窄帶形的圖案化連接導(dǎo)電膜27彼此電連接。偶數(shù)引導(dǎo)線23和形成在其上的相應(yīng)安裝和測試電極25和26沿引導(dǎo)線23的延伸方向(即圖5中的垂直方向)相對于奇數(shù)引導(dǎo)線23和形成在其上的相應(yīng)安裝和測試電極25和26移動(dòng)預(yù)定距離，導(dǎo)致整體上的Z字形圖案將所有的安裝電極25放置在安裝區(qū)域24中。將用于七個(gè)引導(dǎo)線23的安裝電極25沿與線23垂直的方向(即圖5中的水平方向)對齊在顯示部分11一側(cè)上的安裝區(qū)域24的一個(gè)末端處。用于剩余六個(gè)引導(dǎo)線23的安裝電極25沿與線23垂直的方向?qū)R在安裝區(qū)域24與顯示部分11相對的一個(gè)末端處?？倲?shù)為13的這些安裝電極25分別利用非對稱導(dǎo)電膜(ACF)與驅(qū)動(dòng)器IC 60的相應(yīng)隆起焊盤(未示出)電連接。
將所有的測試電極26放置在安裝區(qū)域24的外部。將用于七個(gè)引導(dǎo)線23的測試電極26沿其縱向方向(即圖5中的水平方向)對齊在安裝區(qū)域24附近。將用于剩余六個(gè)引導(dǎo)線23的測試電極26沿區(qū)域24的縱向方向?qū)R在稍微遠(yuǎn)離安裝區(qū)域24的位置處。
13個(gè)引導(dǎo)線23和它們相應(yīng)的安裝和測試電極25和26的結(jié)構(gòu)相同。因此，位于圖5的右側(cè)末端處的引導(dǎo)線23的結(jié)構(gòu)和配置用于所述線23的安裝和測試電極25和26的結(jié)構(gòu)將在下面參考圖6進(jìn)行解釋。
圖6所示的引導(dǎo)線23通過具有窄帶形的圖案化導(dǎo)電膜23a、具有島形的圖案化導(dǎo)電膜23b和具有窄帶形的圖案化絕緣膜23c形成，其中形成圖案化絕緣膜23c以覆蓋導(dǎo)電膜23a和23b。每一個(gè)導(dǎo)電膜23a和23b由圖案化Cr膜構(gòu)成。將導(dǎo)電膜23a和23b和絕緣膜23c放置在TFT基底20的玻璃板21上。
導(dǎo)電膜23a的末端與相應(yīng)一個(gè)內(nèi)部布線22電連接，其另一端延伸到在安裝電極25正下方的位置。導(dǎo)電膜23b在測試電極26正下方的位置處隔離并與導(dǎo)電膜23a分離。形成兩個(gè)開口23cm和23ci以在分別與安裝電極25和測試電極26重疊的區(qū)域中穿過絕緣膜23c。開口23cm和23ci具有矩形平面形狀。導(dǎo)電膜23a和23b分別從通過開口23cm和23ci的絕緣膜23c中暴露。形成安裝電極25以便適應(yīng)于位于顯示部分11一側(cè)上的開口23cm。形成測試電極26以便適應(yīng)于位于顯示部分11相對側(cè)上的開口23ci。
每一個(gè)安裝和測試電極25和26形成為具有板形，其中心位置是凹陷的，其中將其外圍部分放置在絕緣膜23c上，而將其其剩余部分放置在開口23cm或23ci中。每一個(gè)電極25和26由Cr構(gòu)成。
安裝電極25的底部與開口23cm中的導(dǎo)電膜23a接觸。測試電極26的底部與開口23ci中的導(dǎo)電膜23b接觸。從而，安裝電極25與導(dǎo)電膜23a電連接，并且測試電極26與導(dǎo)電膜23b電連接。
安裝電極25位于導(dǎo)電膜23a的正上方。測試電極26位于導(dǎo)電膜23b的正上方。因此，沒有導(dǎo)電膜23a和23b存在于安裝和測試電極25和26之間的居間區(qū)域中。
由于導(dǎo)電膜23a和23b完全被絕緣膜23c覆蓋，因此絕緣膜23c與安裝和測試電極25和26之間的居間區(qū)域中的玻璃板21接觸。
在安裝和測試電極25和26之間的居間區(qū)域中絕緣膜23c的暴露表面上，將連接導(dǎo)電膜27形成用于電極25和26之間的電互連。如圖5所示，對連接導(dǎo)電膜27進(jìn)行構(gòu)圖為具有窄帶形。將連接導(dǎo)電膜27的一端延伸到安裝電極25的表面，覆蓋所述電極25的幾乎所有表面。這與形成在現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置(參見圖1)的安裝電極125上的覆蓋導(dǎo)體膜127類似。連接導(dǎo)電膜27的另一端延伸到測試電極26的表面，覆蓋所述電極26的幾乎所有表面。這與形成在現(xiàn)有技術(shù)COG型LCD裝置(參見圖1)的測試電極126上的覆蓋導(dǎo)體膜128類似。連接導(dǎo)電膜27由其耐蝕性高于Cr的ITO(其更難腐蝕)構(gòu)成。從而，可以說在本發(fā)明第一實(shí)施例中的連接導(dǎo)電膜27與通過互連和統(tǒng)一現(xiàn)有技術(shù)LCD裝置的用于安裝電極125的覆蓋導(dǎo)電膜127和用于測試電極126的覆蓋導(dǎo)電膜128形成的導(dǎo)電膜相對應(yīng)。
如上所述，利用根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的COG型LCD裝置10，將用于將安裝電極25與相應(yīng)的內(nèi)部布線22電連接的導(dǎo)電膜23a(與圖案化第一導(dǎo)電膜相對應(yīng))形成為與相應(yīng)的測試電極26分離。這意味著導(dǎo)電膜23a僅與相應(yīng)的安裝電極25電連接、而與相應(yīng)的測試電極26電連接。因此，在通過將探針與各個(gè)引導(dǎo)線23的測試電極26接觸來測試顯示部分11的缺陷時(shí)，可以抑制導(dǎo)電膜23a在各個(gè)測試電極26附近腐蝕或消失的可能性。
此外，利用在覆蓋導(dǎo)電膜23a的絕緣膜23c上形成的連接導(dǎo)電膜27實(shí)現(xiàn)用于每一個(gè)引導(dǎo)線23的安裝電極25和測試電極26之間的電互連。此外，連接導(dǎo)電膜27由測試顯示部分11時(shí)其耐蝕性高于測試電極26的材料(例如Cr)的材料(例如ITO)構(gòu)成。因此，即使測試電極26在測試時(shí)腐蝕或消失，將測試電極26的腐蝕和/或消失通過連接導(dǎo)電膜27被傳送到安裝電極25或?qū)щ娔?3a的可能性非常低。
此外，由于根據(jù)第一實(shí)施例的LCD裝置10具有參考圖5和圖6解釋的上述結(jié)構(gòu)，因此簡化了裝置10的結(jié)構(gòu)。
因此，利用簡單結(jié)構(gòu)有效地防止了由于在測試顯示部分中發(fā)生的用于引導(dǎo)線23的測試電極26和/或?qū)щ娔?3a的腐蝕和/或消失而引起的顯示異常的發(fā)生。
此外，利用根據(jù)第一實(shí)施例的LCD裝置10，連接導(dǎo)電膜27由在測試顯示部分11時(shí)具有比測試電極26的材料更大耐蝕性的材料構(gòu)成。作為這種耐蝕性材料，其在測試中的耐蝕性大于Cr的ITO用于第一實(shí)施例。ITO用作分別形成在之前所述的現(xiàn)有技術(shù)LCD裝置的安裝和測試電極125和126上的覆蓋導(dǎo)體膜127和128的材料。
另一方面，由于引導(dǎo)導(dǎo)電膜23a形成為與測試電極26分離是足夠的，因此可以將Cr用作用于引導(dǎo)導(dǎo)電膜23a的材料。因此，可以通過簡單改變用于引導(dǎo)導(dǎo)電膜123a的掩模圖案和用于覆蓋導(dǎo)體膜127和128的掩模圖案容易地實(shí)現(xiàn)第一實(shí)施例的上述特征。
因此，無需改變用于測試電極26和導(dǎo)電膜23a的材料并且也不添加任何新的工藝就可以容易地制造根據(jù)第一實(shí)施例的COG型LCD裝置10。
此外，利用根據(jù)第一實(shí)施例的裝置10，將導(dǎo)電膜23b(與圖案化第二導(dǎo)電膜相對應(yīng))配置在測試電極26的正下方。從而，存在測試顯示部分11的缺陷時(shí)導(dǎo)電膜23b以及測試電極26腐蝕和/或消失的可能性。然而，將導(dǎo)電膜23b隔離，并且因此沒有將這種腐蝕和/或消失的作用應(yīng)用于導(dǎo)電膜23a。
另一方面，將導(dǎo)電膜23a配置在安裝電極25的正下方，并且將導(dǎo)電膜23b配置在測試電極26的正下方。因此，如果通過對單個(gè)導(dǎo)電膜進(jìn)行構(gòu)圖來形成導(dǎo)電膜23a和23b，那么絕緣膜23c形成在該導(dǎo)電膜上并且被選擇性刻蝕以形成開口23cm(與第一開口相對應(yīng))和開口23ci(與第二開口相對應(yīng))，開口23ci的深度將等于開口23cm的深度。為此，在將導(dǎo)電膜形成在絕緣膜23c上面以及選擇性地刻蝕導(dǎo)電膜以形成安裝和測試電極25和26的步驟中，針對電極25和26的形成條件是相同的。結(jié)果，可以容易地優(yōu)化針對電極25和26的形成條件。
相反，當(dāng)沒有導(dǎo)電膜23b配置在測試電極26正下方時(shí)，開口23ci的深度將大于開口23cm的深度。因此，當(dāng)將導(dǎo)電膜形成在絕緣膜23c上面并選擇性刻蝕導(dǎo)電膜以形成安裝和測試電極25和26時(shí)，難以形成具有所需形狀的電極25和26。
因此，利用第一實(shí)施例中，存在的優(yōu)點(diǎn)在于可以更容易地制造LCD裝置10。
由于連接導(dǎo)電膜27由具有高于Cr的耐蝕性的ITO構(gòu)成，因此可以認(rèn)為不存在測試期間由Cr膜的腐蝕和/或消失引起的導(dǎo)電膜27的腐蝕可能性。因此，即使將導(dǎo)電膜27c放置在測試和安裝電極26和25上，也不用擔(dān)心測試期間消除電極26和25之間的電互連。
第二實(shí)施例圖7是與圖6類似的放大局部截面圖，示出了作為根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的圖像顯示裝置的COG型LCD裝置的布線端子部分12中形成的引導(dǎo)線23的示意結(jié)構(gòu)。
第二實(shí)施例中的引導(dǎo)線23具有與上述第一實(shí)施例中的引導(dǎo)線23相同的結(jié)構(gòu)，不同之處在于配置三個(gè)測試電極26-1、26-2和26-3代替用于每一個(gè)安裝電極25的測試電極26。可以說將兩個(gè)附加的測試電極26-2和26-3添加到與第一實(shí)施例中的測試電極26相對應(yīng)的測試電極26-1。下面將主要解釋與第一實(shí)施例不同的部分。
如圖7所示，引導(dǎo)線23包括具有窄帶形的圖案化導(dǎo)電膜23a、具有島形的三個(gè)圖案化導(dǎo)電膜23b-1、23b-2和23b-3、以及具有窄帶形的圖案化絕緣膜23c，形成上述圖案化絕緣膜23c以完全覆蓋這四個(gè)導(dǎo)電膜23a、23b-1、23b-2和23b-3。將導(dǎo)電膜23b-1、23b-2和23b-3對齊為沿引導(dǎo)線23的延伸方向彼此相鄰。導(dǎo)電膜23b-1和23b-2彼此分離預(yù)定的間隔。類似地，導(dǎo)電膜23b-2和23b-3也彼此分離預(yù)定的間隔。將這四個(gè)導(dǎo)電膜23a、23b-1、23b-2和23b-3放置在TFT基底20a的玻璃板21上。
與第一實(shí)施例類似，導(dǎo)電膜23a的一端與相應(yīng)的內(nèi)部布線22電連接，其另一端延伸到安裝電極25正下方的位置并與測試電極26-1、26-2和26-3分離。島形導(dǎo)電膜23b-1、23b-2和23b-3僅分別位于測試電極26-1、26-2和26-3正下方的區(qū)域中。因此，沒有將導(dǎo)電膜23a和導(dǎo)電膜23b-1、23b-2和23b-3中的任一個(gè)配置在安裝電極25和位于其最近區(qū)域處的測試電極26-1之間的居間區(qū)域、測試電極26-1和26-2之間的居間區(qū)域、以及測試電極26-2和26-3之間的居間區(qū)域中。
由于除了下面所述的開口之外，導(dǎo)電膜23a、23b-1、23b-2和23b-3被絕緣膜23c完全覆蓋，因此絕緣膜23c在安裝電極25和測試電極26-1之間的居間區(qū)域、測試電極26-1和26-2之間的居間區(qū)域、以及測試電極26-2和26-3之間的居間區(qū)域中與玻璃板21接觸。導(dǎo)電膜23a、23b-1、23b-2和23b-3的每一個(gè)均由Cr構(gòu)成。
與第一實(shí)施例類似，具有矩形平面形狀的開口23cm形成為在與安裝電極25相對應(yīng)的位置處穿透絕緣膜23c。將導(dǎo)電膜23a從通過開口23cm的絕緣膜23c暴露。此外，每一個(gè)具有矩形平面形狀的三個(gè)開口23ci-1、23ci-2和23ci-3形成以在分別與測試電極26-1、26-2和26-3相對應(yīng)的位置處穿透絕緣膜23c。導(dǎo)電膜23b-1、23b-2和23b-3從分別通過開口23ci-1、23ci-2和23ci-3的絕緣膜23c暴露。
與第一實(shí)施例類似，具有板狀且由Cr構(gòu)成的安裝電極25形成在絕緣膜23c的開口23cm中，其中板狀的中心位置是凹陷的。安裝電極25的底部與開口23cm中的導(dǎo)電膜23a接觸。測試電極26-1、26-2和26-3分別形成在絕緣膜23c的開口23ci-1、23ci-2和23ci-3中。與安裝電極25類似，每一個(gè)測試電極26-1、26-2和26-3均具有板狀形狀，其中心位置是凹陷的，并且由與導(dǎo)電膜23a相同的Cr構(gòu)成。測試電極26-1、26-2和26-3的底部分別與導(dǎo)電膜23b-1、23b-2和23b-3接觸。
在從安裝電極25和測試電極26-1、26-2和26-3暴露的絕緣膜23c的表面上，形成連接導(dǎo)電膜27。與第一實(shí)施例類似，導(dǎo)電膜27的一端延伸到安裝電極25的表面以覆蓋所述電極25的幾乎所有表面。導(dǎo)電膜27的另一端延伸到測試電極26-3的表面以覆蓋測試電極26-1、26-2和26-3的幾乎所有表面。連接導(dǎo)電膜27將安裝電極25與測試電極26-1、26-2和26-3電連接。連接導(dǎo)電膜27由ITO構(gòu)成。因此，連接導(dǎo)電膜27與安裝電極125的覆蓋導(dǎo)體膜127和在上述現(xiàn)有技術(shù)LCD裝置中彼此電連接的測試電極126的覆蓋導(dǎo)體膜128的組合相對應(yīng)。
從圖6和7中可以看出，第二實(shí)施例中的每一個(gè)測試電極26-1、26-2和26-3形成為小于第一實(shí)施例中的測試電極26。這是因?yàn)橛糜诓季€端子部分12中的測試電極26-1、26-2和26-3的空間被限制。為此，由測試電極26-1、26-2和26-3所占用的總空間或區(qū)域被限制到稍微寬于第一實(shí)施例中的測試電極26的空間。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的COG型LCD裝置與通過配置三個(gè)對齊的測試電極26-1、26-2和26-3代替單個(gè)測試電極26、并且通過將測試電極26-1、26-2和26-3與第一實(shí)施例中的安裝電極25電連接而得到的裝置相對應(yīng)。因此，很明顯根據(jù)第二實(shí)施例的LCD裝置具有與上述第一實(shí)施例的LCD裝置相同的優(yōu)點(diǎn)。
此外，利用根據(jù)第二實(shí)施例的LCD裝置配置了三個(gè)測試電極26-1、26-2和26-3。因此，即使測試電極26-1、26-2和26-3之一在測試顯示部分11期間腐蝕和/或消失，可以將剩余的測試電極用于測試，并且同時(shí)可以防止電極26-1、26-2或26-3朝向安裝電極25的腐蝕和/或消失的過程。
此外，通過根據(jù)測試的種類或類型使探針與測試電極26-1、26-2和26-3的不同之一接觸，可以減小測試電極26-1、26-2和26-3的腐蝕和/或消失的可能性本身。也可以抑制對探針的不良影響。
因此，利用根據(jù)第二實(shí)施例的LCD裝置，可以比根據(jù)第一實(shí)施例的LCD裝置10更有效防止顯示異常。
其他實(shí)施例上述第一和第二實(shí)施例是本發(fā)明的具體例子。因此不必說，本發(fā)明不局限于這些實(shí)施例并且任何修改可適合于它們。
例如，盡管圖將像顯示裝置在上述第一和第二實(shí)施例中配置為COG型LCD裝置，但是本發(fā)明不限于該類型的LCD裝置。本發(fā)明可應(yīng)用于諸如等離子體顯示裝置之類的任何其他類型的圖像顯示裝置，如果它包括包含以矩陣陣列排列的像素的顯示部分和包括用于安裝驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置(驅(qū)動(dòng)IC)的安裝區(qū)域的布線端子部分，其中每一個(gè)引導(dǎo)線具有用于安裝驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置的安裝電極和用于測試顯示部分缺陷的測試端子。
此外，盡管在上述第一和第二實(shí)施例中安裝和測試電極以及用于引導(dǎo)線的導(dǎo)電膜由Cr構(gòu)成，但是可以使用任何其他具有與Cr等同可能性的腐蝕和/或消失的金屬來代替Cr。例如，鉭(Ta)，鋁(Al)等可以用于該目的。
盡管已經(jīng)描述了本發(fā)明的優(yōu)選形式，但是可以理解在不偏離本發(fā)明的精神的情況下的修改對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是顯而易見的。因此，本發(fā)明的范圍僅通過所附權(quán)利要求來確定。
權(quán)利要求
1.一種圖像顯示裝置，包括顯示部分，包括以矩陣陣列排列的像素和內(nèi)部布線；布線端子部分，包括安裝驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置的安裝區(qū)域；引導(dǎo)線，形成在布線端子部分中，用于內(nèi)部布線和驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置之間的電互連；每一個(gè)引導(dǎo)線具有用于安裝驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體裝置的安裝電極和用于測試顯示部分缺陷的測試電極；形成每一個(gè)引導(dǎo)線的圖案化第一導(dǎo)電膜，所述圖案化第一導(dǎo)電膜與測試電極分離地形成，用于將安裝電極與相應(yīng)的一個(gè)內(nèi)部布線電連接；絕緣膜，形成以覆蓋第一導(dǎo)電膜；圖案化連接導(dǎo)電膜，形成在絕緣膜上以與安裝電極和測試電極接觸，由此將安裝電極與測試電極電連接；以及該連接導(dǎo)電膜由在測試顯示部分缺陷時(shí)耐蝕性大于用于測試電極的材料的耐蝕性的材料構(gòu)成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置，還包括形成每一個(gè)引導(dǎo)線的圖案化第二導(dǎo)電膜，所述圖案化第二導(dǎo)電膜在測試電極正下方隔離地形成并用絕緣膜覆蓋；其中，安裝電極通過絕緣膜的第一開口與第一導(dǎo)電膜接觸；以及測試電極通過絕緣膜的第二開口與第二導(dǎo)電膜接觸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置，其中，第一導(dǎo)電膜由Cr構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置，其中，連接導(dǎo)電膜由ITO構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置，還包括與測試電極相鄰地形成的附加測試電極其中，附加測試電極通過連接導(dǎo)電膜與安裝電極和測試電極電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的裝置，還包括第三導(dǎo)電膜，所述第三導(dǎo)電膜隔離地形成在附加測試電極正下方并且用絕緣膜覆蓋；其中，附加測試電極通過絕緣膜的第三開口與第三導(dǎo)電膜接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置，其中，所述裝置被配置或構(gòu)造作為COG型液晶顯示裝置。
全文摘要
一種圖像顯示裝置，利用簡單結(jié)構(gòu)防止了由于測試電極和/或用于引導(dǎo)線的導(dǎo)電膜的腐蝕和/或消失而產(chǎn)生的顯示異常。處于布線端子部分中的引導(dǎo)線將內(nèi)部布線與驅(qū)動(dòng)器IC電連接。每一個(gè)引導(dǎo)線具有安裝電極和測試電極。與測試電極分離地形成的第一導(dǎo)電膜將安裝電極電與顯示部分中相應(yīng)的內(nèi)部布線電連接。圖案化連接導(dǎo)電膜形成在絕緣膜上以接觸安裝電極和測試電極，由此實(shí)現(xiàn)安裝和測試電極之間的電互連。連接導(dǎo)電膜由耐蝕性大于用于測試電極的材料(例如Cr)的耐蝕性的材料(例如ITO)構(gòu)成。
文檔編號G02F1/1345GK101082718SQ20071012882
公開日2007年12月5日 申請日期2007年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2006年5月25日
發(fā)明者駒壽學(xué) 申請人:Nec液晶技術(shù)株式會(huì)社