專利名稱：相位延遲值的測量裝置及測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種相位延遲值的測量裝置及測量方法，特別涉及一種利用相位延遲值相互補(bǔ)償?shù)脑韥砹繙y雙折射物質(zhì)相位延遲值的一種相位延遲測量裝置及測量方法。
背景技術(shù)：
在傳統(tǒng)的液晶顯示器液晶涂布的領(lǐng)域之中，具有相當(dāng)重要足以影響顯示質(zhì)量的參數(shù)，包括有液晶分子的扭轉(zhuǎn)角度(twisted angle)以及相位延遲量(retardation)。
由于上述的參數(shù)，具有影響液晶顯示質(zhì)量的重要指針，因此投入相關(guān)研究或者是專利也相當(dāng)?shù)亩?，以下針對現(xiàn)有公開的技術(shù)進(jìn)行說明(a)U.S.Pat.No.6,633,358公開了一種于待測液晶前后各設(shè)置一偏光板，然后以一單色光源通過，借由調(diào)整待測液晶旋轉(zhuǎn)角度檢測光通過該待測液晶至一檢偏板的強(qiáng)度，然后經(jīng)由方程式的運(yùn)算而求得該待測液晶的扭轉(zhuǎn)角度以及相位延遲量。
(b)U.S.Pat.No.6,300,954公開了一種以測光器(photodetector)量測光通過液晶后，再經(jīng)由可旋轉(zhuǎn)特定角度的偏光板以及四分之一波板的強(qiáng)度，然后借由史托克參數(shù)(Stokes parameters)的計(jì)算，可以得知該液晶的厚度以及扭轉(zhuǎn)角度。
(c)U.S.Pat.No.5,825,452公開了一種利用光學(xué)計(jì)算機(jī)計(jì)算系統(tǒng)來量測相位延遲量。該方法為利用結(jié)合兩道相位差90度的線性偏振光通過待測材料，而產(chǎn)生光學(xué)干涉調(diào)紋，利用不同材料具有不同種的條紋圖案，經(jīng)由計(jì)算機(jī)運(yùn)算比對而求得相位延遲量。
(d)U.S.Pat.No.5,400,131公開了一種利用單色光源通過一線性偏光板產(chǎn)生輸入光源，通過待測體，再利用兩次分析通過待測體的輸出光，以該輸出光通過一線性檢偏板(analyzer)而形成代表該待測體應(yīng)力分部的具有相對強(qiáng)度的條紋區(qū)域圖(fringes map)，再利用計(jì)算機(jī)解析出該待測體的延遲參數(shù)。
然而，綜合上述，現(xiàn)有技術(shù)的發(fā)明所公開的方式操作上并不方便，并無法以簡單以及快速的方式得到液晶的參數(shù)值。因此亟需一種相位延遲的測量裝置及量測方法，以解決上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種相位延遲值的測量裝置及測量方法，以達(dá)到量測相位延遲數(shù)據(jù)的目的。
本發(fā)明的次要目的在于提供一種相位延遲值的測量裝置及測量方法，其利用相位延遲相互補(bǔ)償?shù)姆绞?，達(dá)到測量待測體的相位延遲值的目的。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種相位延遲的測量裝置及測量方法，其利用可以調(diào)整相位延遲值的一補(bǔ)償部，使該補(bǔ)償部的相位延遲值與該待測體的相位延遲值相互補(bǔ)償，達(dá)到量測待測體的相位延遲值的目的。
為了達(dá)到上述的目的，本發(fā)明提供一種相位延遲測量裝置，包括一單色光源部、一光偵測部、第一偏光板、第二偏光板以及一補(bǔ)償部。該單色光源部可發(fā)射一連續(xù)光源；該光偵測部設(shè)置于該單色光源部的一側(cè)；該第一偏光板設(shè)置于該單色光源部與該光偵測部之間；該第二偏光板設(shè)置于該第一偏光板與該光偵測部之間；以及，該補(bǔ)償部設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間，該補(bǔ)償部可借由一種調(diào)整方式而改變其相位延遲值。
較佳者，該連續(xù)光源為一激光光源。
較佳者，該第一偏光板的偏光角與該第二偏光板的偏光角度呈一夾角；其中，該夾角為九十度。
較佳者，該第一偏光板的偏光角與該第二偏光板的偏光角度呈一夾角；其中，該夾角為零度。
較佳者，該補(bǔ)償部包括具有第一折射率的第一補(bǔ)償體，其包括第一平面以及第二平面，該第一平面與該第一偏光板相互平行，該第二平面與該第一平面成一角度；以及具有第二折射率的第二補(bǔ)償體，其設(shè)置于該第一補(bǔ)償體與該第二偏光板之間，該第二補(bǔ)償體包括第三平面以及第四平面，該第三平面與該第一平面相互平行，該第四平面與該第三平面成一角度且與該第二平面相鄰靠。前述第一折射率和第二折射率，視所用材料而定，并不具體加以限定。該補(bǔ)償部可選擇一正光學(xué)性材料以及一負(fù)光學(xué)性材料其中之一者。其中該正光學(xué)性材料可選擇石英材料(quartz)以及金紅石材料(rutile)其中之一者。該負(fù)光學(xué)性材料可選擇方解石材料(calcite)、硝酸鈉材料(sodium nitrate)以及電氣石材料(tourmaline)其中之一。上面所述“調(diào)整方式”，是使該第二平面與該第四平面產(chǎn)生相對滑移運(yùn)動(dòng)而改變該第二平面與該第四平面鄰靠區(qū)域的該第一平面與該第三平面間的距離。
所述光偵測部只要是可以偵測光之強(qiáng)度的現(xiàn)有技術(shù)裝置均可用于本發(fā)明，此為熟悉本領(lǐng)域技藝之人可以實(shí)施的。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種相位延遲值的測量方法，包括下列步驟提供一測量相位延遲值的裝置，其包括一單色光源部，可發(fā)射一連續(xù)光源，一光偵測部，設(shè)置于該單色光源部的一側(cè)，第一偏光板，設(shè)置于該單色光源部與該光偵測部之間，第二偏光板，設(shè)置于該第一偏光板與該光偵測部之間；以及一補(bǔ)償部，設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間，該補(bǔ)償部可借由一調(diào)整方式而改變其相位延遲值；將該待測體設(shè)置于該補(bǔ)償部與該第二偏光板之間；將該連續(xù)光源依序經(jīng)由該第一偏光板、該補(bǔ)償部、該待測體以及該第二偏光板而形成一相位補(bǔ)償光；以及以該調(diào)整方式調(diào)整該補(bǔ)償部的相位延遲值使該光偵測部可以偵測出該相位補(bǔ)償光強(qiáng)度的極限值。所述調(diào)整方式是調(diào)整該補(bǔ)償部的厚度，以改變光源的相位差，然后再借由該待測體的相位延遲將光源通過補(bǔ)償部所產(chǎn)生的相位差補(bǔ)償回來。利用光偵測部偵測通過偏光板的強(qiáng)度，直至光偵測部偵測到強(qiáng)度的極限值時(shí)(最大值或者是最小值)為止，此時(shí)補(bǔ)償部的相位延遲量即為該待測體的相位延遲量。


圖1為光源通過具有雙折射率的物質(zhì)的光程示意圖；
圖2為本發(fā)明的相位延遲測量裝置較佳實(shí)施例組合示意圖；圖3A以及圖3B為本發(fā)明的補(bǔ)償部調(diào)整動(dòng)作示意圖；圖4為本發(fā)明的相位延遲量測方法流程圖；圖5為本發(fā)明的相位延遲測量裝置較佳實(shí)施例量測一待測體的組合示意圖；圖6A為本發(fā)明的檢測光源通過該第一偏光板以形成一偏振光示意圖；圖6B為該偏振光通過該補(bǔ)償部而形成一相位延遲光示意圖；圖6C為該非線性偏振光通過該待測體時(shí)而形成一相位補(bǔ)償光示意圖；圖6D為該相位補(bǔ)償光最小極限值示意圖；圖6E為該相位補(bǔ)償光最大極限值示意圖；圖7A為該相位延遲光通過該待測體時(shí)而形成一未完全相位補(bǔ)償光示意圖；圖7B為該未完全相位補(bǔ)償光通過該第二偏光板示意圖。
附圖標(biāo)號說明2相位延遲測量裝置；21單色光源部；22第一偏光板；23補(bǔ)償部；231第一補(bǔ)償體；2311第一平面；2312第二平面；232第二補(bǔ)償體；2321第三平面；2322第四平面；24第二偏光板；25光偵測部；3相位延遲量測方法流程；31～34-步驟；4相位延遲測量裝置；41單色光源部；42第一偏光板；43補(bǔ)償部；431第一補(bǔ)償體；432第二補(bǔ)償體；44待測體；45第二偏光板；46光偵測部；50光源；54尋常光；55非尋常光；6待測體；71連續(xù)光源；72偏振光；73相位延遲光；74、74’-相位補(bǔ)償光；91滑移運(yùn)動(dòng)；92調(diào)整方式；θ-角度；Δλ1、Δλ2-相位差；D、D1、D2、d-厚度；n1-第一折射率；n2-第二折射率。
具體實(shí)施例方式
為能對本發(fā)明的特征、目的及功能有更進(jìn)一步的認(rèn)知與了解，下文特將本發(fā)明的裝置的相關(guān)細(xì)部結(jié)構(gòu)以及設(shè)計(jì)的理念原由進(jìn)行說明，以可以了解本發(fā)明的特點(diǎn)，詳細(xì)說明陳述如下首先，請參閱圖1所示，該圖為光源通過具有雙折射率的物質(zhì)的光程示意圖。以一光源50直射通過具有雙折射率的一待測體6時(shí)(例如液晶)，由于該待測體6的異向性(anisotropic)特質(zhì)，該直射的光源50在該待測體6內(nèi)會(huì)分成兩道速率不一樣的偏極化的光線而造成兩種不同的折射率，其中不折射的光線為一尋常光54(ordinary ray)，另一道折射光為一非尋常光55(extraordinary ray)。為了方便說明，該尋常光的折射率是以no(ordinary indexof fraction)表示，該非尋常光的折射率是以ne(extraordinary index of fraction)表示。
由于雙折射的關(guān)系，尋常光以及非尋常光在該待測體中所行走的光程并不相同，因此該尋常光以及非尋常光彼此會(huì)有一個(gè)相位差，因而產(chǎn)生相位延遲(phase retardation)的現(xiàn)象，亦即為(ne-no)*d，其中d為該待測體的厚度。其中若(ne-no)大于零，則為正光學(xué)性材料，例如層列型液晶(Smectic liquidcrystal)、向列型液晶(Nematic liquid crystal)、石英材料(quartz)或金紅石(rutile)，若(ne-no)小于零則為負(fù)光學(xué)性材料，例如膽固醇液晶(Cholesteric liquid crystal)、方解石材料(calcite)、硝酸鈉材料(sodium nitrate)或電氣石材料(tourmaline)。
請參閱圖2所示，該圖為本發(fā)明的相位延遲測量裝置較佳實(shí)施例組合示意圖。該相位延遲裝置2包括一單色光源部21、一光偵測部25、第一偏光板22、第二偏光板24以及一補(bǔ)償部23。該單色光源部21，其可發(fā)射一連續(xù)光源，該連續(xù)光源為一激光光源。該光偵測部25，設(shè)置于該單色光源部的一側(cè)；該第一偏光板22，設(shè)置于該單色光源部21與該光偵測部25之間；該第二偏光板24，設(shè)置于該第一偏光板22與該光偵測部25之間。該第一偏光板22的偏光角與該第二偏光板24的偏光角度呈一夾角，其中該夾角為九十度或者是零度。該補(bǔ)償部23，設(shè)置于該第一偏光板22與該第二偏光板24之間，該補(bǔ)償部23可借由一調(diào)整方式而改變其相位延遲值。
請參閱圖3A以及圖3B所示，該圖為本發(fā)明的補(bǔ)償部調(diào)整動(dòng)作示意圖。如圖3A所示，在本實(shí)施例中，該補(bǔ)償部23包括第一補(bǔ)償體231以及第二補(bǔ)償體232。該第一補(bǔ)償體231具有第一折射率n1且包括第一平面2311以及第二平面2312，該第一平面2311是與該第一偏光板22相互平行，該第二平面2312與該第一平面2311成一角度θ。該第二補(bǔ)償體232具有第二折射率n2且包括第三平面2321以及第四平面2322，該第三平面2321與該第一平面2311相互平行，該第四平面2322與該第三平面2321成一角度θ且與該第二平面2312相鄰靠，該第一平面2311與該第三平面2321相距一距離D1。如圖3B所示，其中該調(diào)整方式92為將該第二平面2312與該第四平面2322產(chǎn)生相對滑移運(yùn)動(dòng)91而改變該第二平面2312與該第四平面2322鄰靠區(qū)域中的該第一平面2311與該第三平面2321的距離D2。由于該第一補(bǔ)償體231具有該第一折射率n1，該第二補(bǔ)償體232具有該第二折射率n2，因此該補(bǔ)償部23可以視為一具有雙折射性的物體，所以當(dāng)該連續(xù)光源通過該第一偏光板而經(jīng)過該補(bǔ)償部23時(shí)，所通過的光也會(huì)產(chǎn)生相位延遲的現(xiàn)象，該相位延遲值為該第一平面2311與該第三平面2321的距離與該第一折射率n1和該第二折射率n2的差值的乘積。以圖2為例，該相位延遲可以表示為(n1-n2)*D。該補(bǔ)償部可選擇一正光學(xué)性材料以及一負(fù)光學(xué)性材料其中之一者。其中該正光學(xué)性材料可選擇石英材料(quartz)以及金紅石材料(rutile)其中之一者。該負(fù)光學(xué)性材料可選擇方解石材料(calcite)、硝酸鈉材料(sodium nitrate)以及電氣石材料(tourmaline)其中之一。該補(bǔ)償部中的第一補(bǔ)償體和第二補(bǔ)償體，需用有不同折射率的材料制成。
請參閱圖4所示，該圖為本發(fā)明的相位延遲值測量方法流程圖。為了更了解該相位延遲的量測方法，請配合參閱圖5所示，該圖為本發(fā)明的相位延遲測量裝置較佳實(shí)施例測量一待測體的組合示意圖。該相位延遲的測量方法3包括下列步驟步驟31-提供一測量相位延遲值的裝置4，其包括一單色光源部41，其可發(fā)射一連續(xù)光源，一光偵測部46，其設(shè)置于該單色光源部41的一側(cè)，第一偏光板42，其設(shè)置于該單色光源部41與該光偵測部46之間，第二偏光板45，其設(shè)置于該第一偏光板42與該光偵測部46之間；以及一補(bǔ)償部43，其設(shè)置于該第一偏光板42與該第二偏光板45之間，該補(bǔ)償部43可借由一調(diào)整方式而改變其相位延遲值；步驟32-將該待測體44設(shè)置于該補(bǔ)償部43與該第二偏光板45之間，在本實(shí)施例中，該待測體44為一雙折射的正光學(xué)性(ne-no大于零)，例如為向列型液晶材料；步驟33-將該連續(xù)光源依序經(jīng)由該第一偏光板42、該補(bǔ)償部43、該待測體44以及該第二偏光板45而形成一相位補(bǔ)償光，為了達(dá)到相位補(bǔ)償?shù)哪康?，該補(bǔ)償部的材料選擇為一雙折射的負(fù)光學(xué)性(ne-no小于零)材料；以及步驟34-以該調(diào)整方式調(diào)整該補(bǔ)償部43的相位延遲值使該光偵測部46可以偵測出該相位補(bǔ)償光強(qiáng)度的極限值。
其中，如果該待測體為一負(fù)光學(xué)性材料(ne-no小于零)，則選擇該補(bǔ)償部為一正光學(xué)性材料(ne-no大于零)，或者是如果該待測體為一正光學(xué)性材料(ne-no大于零)，則選擇該補(bǔ)償部為一負(fù)光學(xué)性材料(ne-no小于零)。該正光學(xué)性材料可選擇石英材料(quartz)以及金紅石材料(rutile)其中之一者。該負(fù)光學(xué)性材料可選擇方解石材料(calcite)、硝酸鈉材料(sodium nitrate)以及電氣石材料(tourmaline)其中之一者。至于該相位延遲裝置4是如前面所描述的裝置2，在此不多做贅述。
請參閱圖6A所示，該圖為本發(fā)明的檢測光源通過該第一偏光板以形成一偏振光示意圖。圖中該單色光源部41發(fā)射出一連續(xù)光源71，例如為一激光光源，通過該第一偏光板42的時(shí)候，會(huì)形成一偏振光72。該第一偏光板42為一線性偏振光板，在本實(shí)施例中為45度線性偏振光板。該偏振光72在空間中可以被視為具有xy平面分量以及yz平面分量的偏振光。
請參閱圖6B所示，該圖為該偏振光通過該補(bǔ)償部而形成相位延遲光的示意圖。當(dāng)該偏振光72通過該補(bǔ)償部43時(shí)，由于該補(bǔ)償部43可視為一雙折射性物體，因此通過該補(bǔ)償部43的該偏振光72會(huì)產(chǎn)生一相位偏移的現(xiàn)象，如圖中所示，該相位差為Δλ1而形成一相位延遲光73，該相位延遲光73為一非線性偏振光，例如圓形偏振光或者是橢圓形偏振光，至于是圓形還是橢圓形偏振光則視當(dāng)時(shí)的相位差的角度而定，如果Δλ1為四分之一波長的相位差時(shí)，則該非線性偏振光為圓形偏振光。
請參閱圖6C所示，該圖為該非線性偏振光通過該待測體時(shí)形成相位補(bǔ)償光的示意圖。當(dāng)該相位延遲光73通過該待測體44，由于該待測體44具有雙折射的正光學(xué)性(ne-no大于零)特性，因此可以利用光線通過該待測體44會(huì)產(chǎn)生相位延遲的物理現(xiàn)象，使該通過該待測體44產(chǎn)生的相位延遲來補(bǔ)償該相位延遲光73的相位差，而形成一相位補(bǔ)償光74。利用該步驟33的方式，調(diào)整該補(bǔ)償部43的厚度，使該相位差Δλ1可以被該待測體44的相位延遲完全的補(bǔ)償回來。如果該相位差Δλ1被完全補(bǔ)償回來的話，該相位補(bǔ)償光74會(huì)恢復(fù)成線性偏振光。請參閱圖6D所示，該圖為該相位補(bǔ)償光最小極限值示意圖。如果該相位補(bǔ)償光74為線性偏振光，當(dāng)該相位補(bǔ)償光74通過該第二偏光板45時(shí)，在本實(shí)施例中由于該第二偏光板45的偏光角與該第一偏光板的偏光角正交(成九十度)，因此該光偵測部46并無法偵測到該相位補(bǔ)償光74通過了該第二偏光板45，使得該光偵測部46所偵測到的該相位補(bǔ)償光74的強(qiáng)度為最小值。
請參閱圖6E所示，該圖為該相位補(bǔ)償光最大極限值示意圖。如果該相位補(bǔ)償光74為線性偏振光，當(dāng)該相位補(bǔ)償光74通過該第二偏光板45時(shí)，在本實(shí)施例中該第二偏光板45的偏光角與該第一偏光板的偏光角成零度，也因此該光偵測部46可以偵測到通過該第二偏光板45的該相位補(bǔ)償光74，使得該光偵測部46所偵測到該相位補(bǔ)償光74的強(qiáng)度為最大值。
請繼續(xù)參閱圖7A所示，該圖為該相位延遲光通過該待測體時(shí)形成未完全相位補(bǔ)償光的示意圖。如果該步驟33調(diào)整該補(bǔ)償部的厚度使該相位延遲光73通過該待測體44時(shí)，無法借由該待測體44完全補(bǔ)償該相位差Δλ1，如此所形成的相位補(bǔ)償光74’就會(huì)形成如圖7A所示的現(xiàn)象，該相位補(bǔ)償光74’還是會(huì)具有一相位差Δλ2而產(chǎn)生非線性偏振光的現(xiàn)象。請參閱圖7B所示，該圖為該相位補(bǔ)償光為一非線性偏振光時(shí)通過該第二偏光板的示意圖。如圖中所示，由于該相位補(bǔ)償光74’為非線性偏振光，因此該相位補(bǔ)償光74’其電場在空間中將會(huì)呈現(xiàn)順時(shí)針或者是逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的現(xiàn)象(視觀測者的方向而定)，所以當(dāng)該相位補(bǔ)償光74’通過該第二偏光板45時(shí)會(huì)有部分的該相位補(bǔ)償光通過，而使得該光偵測部可以偵測到部分光的強(qiáng)度。該光的強(qiáng)度介于圖6D中的最小值以及圖6E中的最大值之間。
綜上述，本發(fā)明的精神是利用調(diào)整該補(bǔ)償部的厚度改變光源的相位差，然后再借由該待測體的相位延遲將光源通過補(bǔ)償部所產(chǎn)生的相位差補(bǔ)償回來。再利用光偵測部偵測通過偏光板的強(qiáng)度，當(dāng)光偵測部偵測到強(qiáng)度的極限值時(shí)(最大值或者是最小值)，此時(shí)補(bǔ)償部的相位延遲量即為該待測體的相位延遲量。
以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，當(dāng)不能以之限制本發(fā)明范圍。即大凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化及修飾，仍將不失本發(fā)明的要義所在，亦不脫離本發(fā)明的精神和范圍，故都應(yīng)視為本發(fā)明的進(jìn)一步實(shí)施狀況。
綜合上述，本發(fā)明由于具有操作容易、制造簡單特點(diǎn)，所以可以滿足業(yè)界的需求，進(jìn)而提高該產(chǎn)業(yè)的競爭力。
權(quán)利要求
1.一種相位延遲值的測量裝置，其特征在于，包括一單色光源部，其可發(fā)射一連續(xù)光源；一光偵測部，其設(shè)置于該單色光源部的一側(cè)；第一偏光板，其設(shè)置于該單色光源部與該光偵測部之間；第二偏光板，其設(shè)置于該第一偏光板與該光偵測部之間；以及一補(bǔ)償部，其設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間，該補(bǔ)償部可借由一調(diào)整方式而改變其相位延遲值。
2.如權(quán)利要求1所述的相位延遲值測量裝置，其特征在于，該第一偏光板的偏光角與該第二偏光板的偏光角度呈一夾角。
3.如權(quán)利要求2所述的相位延遲值測量裝置，其特征在于，該夾角為九十度以及零度其中之一。
4.如權(quán)利要求1所述的相位延遲值測量裝置，其特征在于，該補(bǔ)償部包括具有第一折射率的第一補(bǔ)償體，其包括第一平面以及第二平面，該第一平面與該第一偏光板相互平行，該第二平面與該第一平面成一角度；以及具有第二折射率的第二補(bǔ)償體，其設(shè)置于該第一補(bǔ)償體與該第二偏光板之間，該第二補(bǔ)償體包括第三平面以及第四平面，該第三平面與該第一平面相互平行，該第四平面與該第三平面成一角度且與該第二平面相鄰靠。
5.如權(quán)利要求4所述的相位延遲值測量裝置，其特征在于，該調(diào)整方式是使該第二平面與該第四平面產(chǎn)生相對滑移運(yùn)動(dòng)而改變該第二平面與該第四平面鄰靠區(qū)域中的該第一平面與該第三平面間的距離。
6.一種相位延遲值測量方法，其可偵測一待測體的相位延遲值，其特征在于，該方法包括以下步驟提供一測量相位延遲的裝置，其包括一單色光源部，可發(fā)射一連續(xù)光源，一光偵測部，設(shè)置于該單色光源部的一側(cè)，第一偏光板，設(shè)置于該單色光源部與該光偵測部之間，第二偏光板，設(shè)置于該第一偏光板與該光偵測部之間，以及一補(bǔ)償部，設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間，該補(bǔ)償部是借由一調(diào)整方式而改變其相位延遲值；將該待測體設(shè)置于該補(bǔ)償部與該第二偏光板之間；將該連續(xù)光源依序經(jīng)由該第一偏光板、該補(bǔ)償部、該待測體以及該第二偏光板而形成一相位補(bǔ)償光；以及以該調(diào)整方式調(diào)整該補(bǔ)償部的相位延遲值使該光偵測部可以偵測出該相位補(bǔ)償光強(qiáng)度的極限值，所述調(diào)整方式是調(diào)整該補(bǔ)償部的厚度，以改變光源的相位差，然后再借由該待測體的相位延遲將光源通過補(bǔ)償部所產(chǎn)生的相位差補(bǔ)償回來；利用光偵測部偵測通過偏光板的強(qiáng)度，直至光偵測部偵測到強(qiáng)度的極限值，即最大值或者是最小值為止，此時(shí)補(bǔ)償部的相位延遲量即為該待測體的相位延遲量。
7.如權(quán)利要求6所述的相位延遲值測量方法，其特征在于，該第一偏光板的偏光角與該第二偏光板的偏光角度呈一夾角。
8.如權(quán)利要求7所述的相位延遲值測量方法，其特征在于，該夾角為九十度以及零度其中之一。
9.如權(quán)利要求6所述的相位延遲值測量方法，其特征在于，該補(bǔ)償部包括具有第一折射率的第一補(bǔ)償體，其包括第一平面以及第二平面，該第一平面與該第一偏光板相互平行，該第二平面與該第一平面成一角度；以及具有第二折射率的第二補(bǔ)償體，其設(shè)置于該第一補(bǔ)償體與該第二偏光板之間，該第二補(bǔ)償體包括第三平面以及第四平面，該第三平面與該第一平面相互平行，該第四平面與該第三平面成一角度且與該第二平面相鄰靠。
10.如權(quán)利要求9所述的相位延遲值測量方法，其特征在于，該調(diào)整方式是使該第二平面與該第四平面產(chǎn)生相對滑移運(yùn)動(dòng)而改變該第二平面與該第四平面鄰靠區(qū)域中的該第一平面與該第三平面間的距離。
全文摘要
一種相位延遲值的測量裝置及測量方法，該測量裝置包括一單色光源部，其可發(fā)射一連續(xù)光源；一光偵測部，設(shè)置于該單色光源部的一側(cè)；第一偏光板，設(shè)置于該單色光源部與該光偵測部之間；第二偏光板，設(shè)置于該第一偏光板與該光偵測部之間；一補(bǔ)償部，設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間。本發(fā)明還提供一種測量方法，包括將一待測體設(shè)置于該補(bǔ)償部與該第二偏光板之間；將該連續(xù)光源依序經(jīng)由該第一偏光板、該補(bǔ)償部、該待測體以及該第二偏光板而形成一相位補(bǔ)償光；調(diào)整該補(bǔ)償部的相位延遲值使該光偵測部可以偵測出該相位補(bǔ)償光強(qiáng)度的極限值。
文檔編號G02F1/13GK1904673SQ20051008736
公開日2007年1月31日 申請日期2005年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月28日
發(fā)明者陳志忠, 王伯萍 申請人:力特光電科技股份有限公司