專利名稱：部件表面凸起的檢測方法、檢測裝置及部件的生產(chǎn)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于檢測存在于構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置的帶狀及輥筒形狀的各個部件表面的凸起狀態(tài)的檢測方法及其裝置。
背景技術(shù)：
靜電照相圖像形成裝置上使用帶狀或輥筒形狀的各種部件。隨著近年來對靜電照相圖像形成裝置的全彩色圖像化及包括所述全彩色圖像的高品質(zhì)圖像化的要求日益高漲，對其部件的品質(zhì)要求也越來越高。
帶狀部件(以下稱帶狀體)為具有撓曲性、無接頭的圓筒型部件，其實用的部件有構(gòu)成感光體的金屬制導(dǎo)電性基體，載有潛像、至少具有感光層的感光體帶，主要用于全彩色圖像形成的樹脂制轉(zhuǎn)印帶及其傳送帶等。又，最近有人開發(fā)了一種具有將轉(zhuǎn)印的色調(diào)劑圖像定影至復(fù)印紙上的功能、樹脂制或金屬性的帶狀定影帶等。還有人研究了將上述金屬制導(dǎo)電性基體應(yīng)用于傳送帶或定影帶上去的方法。
感光體帶包括至少在上述金屬制基體上設(shè)置感光層的基體帶和，在形成了感光層的樹脂薄膜的導(dǎo)電層上至少設(shè)置感光層，形成感光體薄膜，其二端由超聲波接合而得到的感光體(稱膜感光體)。
又，輥筒形狀的部件(以下簡稱為輥狀體)，為剛性的圓柱體或圓筒型體。其實用的部件有導(dǎo)電性金屬管，至少在其表面設(shè)置感光層的感光鼓及在導(dǎo)電性金屬軸芯表面被覆(半)導(dǎo)電性彈性體層而形成的帶電輥筒及顯影輥筒等。作為形成感光鼓的感光層的材料，可以使用有機(jī)半導(dǎo)體、硒、不定形硅等。
上述部件所共同要求的品質(zhì)有表面平滑性，但損傷表面平滑性的凸起等的“凸起狀態(tài)”的存在也導(dǎo)致其被作為劣質(zhì)部件處理。其理由在于，上述“凸起狀態(tài)”的存在往往直接或間接地對由使用該部件制得的靜電照相圖像形成裝置所得到的圖像品質(zhì)產(chǎn)生惡劣影響。因此，檢測上述“凸起狀態(tài)”，如果具有所述“凸起狀態(tài)”的部件處于靜電照相圖像圖像形成裝置的規(guī)格之外，則有必要在制造工序中將該部件除外。
下面，舉例說明上述“凸起狀態(tài)”。
導(dǎo)電性帶狀基體為主要由鎳或不銹鋼等形成的基體。
鎳制帶狀基體通?？捎砂被撬徭囈涸‰姎忤T造法等的電鑄法制造，但在電鍍液中有異物或發(fā)生結(jié)晶的異常析出，則以此為原因，最終會在得到的鎳膜表面析出凸起狀態(tài)。
以如此得到的具有凸起的鎳帶為基體，涂布感光層的形成液，則在帶體的上述凸起部上的感光層部上產(chǎn)生涂布缺陷，因此，使用載有上述感光體帶的圖像形成裝置，由靜電照相法得到的圖像也是有缺陷的。
只要是在鎳制感光體帶表面具有所述特殊凸?fàn)顮顟B(tài)的帶，則不論是浸漬涂布、噴鍍涂布或噴嘴涂布等的任一涂布方法，程度雖然由說不同，都會發(fā)生涂布缺陷。
作為可用于感光體帶之一的上述薄膜感光體上的樹脂薄膜，在使用例如雙軸拉伸的聚對苯二甲酸乙二醇酯的場合，由不均勻延伸形成的松弛、或由薄膜二端的接合所發(fā)生的波折狀態(tài)，最終給予感光體功能以惡劣影響。
又，轉(zhuǎn)印帶、傳送帶或定影帶等上所使用的、聚酰亞胺等的樹脂制帶狀體如由擠壓加工成型法制造，則有時會導(dǎo)致厚度不勻及松弛；如由離心成型法制造，則有時由凸起或松弛等，將上述部件用于具有如此缺陷的各個帶狀圖像形成裝置的部件時，結(jié)果對制造得到的圖像產(chǎn)生惡劣影響。
再有，輥狀體在制造過程中，其表面形成有各種各樣的“凸起狀態(tài)”。
在由浸漬涂布法形成有機(jī)感光層制造感光體鼓時，有時在感光層端部形成發(fā)泡狀態(tài)或凸起。
又，在導(dǎo)電性金屬軸芯表面上被覆(半)導(dǎo)電性的無接頭(縫)管制造的帶電輥筒或顯影輥筒等上，有時發(fā)生覆膜起皺或摻入空氣、異物等現(xiàn)象。
以往，作為檢測構(gòu)成上述靜電照相圖像形成裝置的部件表面上存在的各種“凸起狀態(tài)”的檢測方法，有人提出各種方案，其中不乏實用的方案。
例如，日本專利公開特開平5-18728號公報提出了這樣的方案將帶狀體作為被檢測物，對其表面作均勻光照射，檢測圖像，從另一方向投影一定的圖案，檢測圖案有否變形。然而，該方法的缺點是檢測裝置須使用鏡頭及CCD等的光學(xué)系統(tǒng)及圖像處理裝置，用于判斷缺陷的軟件要求高。
日本專利公開特開昭62-189477號公報提出了這樣的方案對非晶形硅感光體，一旦在其上形成圖像，即使其圖像缺陷明顯化，由此，檢測存在于感光體上的球狀凸起。根據(jù)該方法，須組裝用于載持該感光體的圖像形成裝置，形成圖像后再進(jìn)行檢測，費時，麻煩。另外，所得到的圖像的缺陷和感光體的凸起之間的因果關(guān)系不確定，其檢測精度存在問題。
又，日本專利公開特開2000-214100號公報提出了這樣的裝置使其他輥筒抵壓于作為檢測對象的輥狀體表面，使該輥狀體的軸線和所述其他輥筒的軸線平行，相對地掃描該其他輥筒表面，由輥筒的變位量檢測凸起。然而，按該方法，對于具有質(zhì)量的輥筒，凸起無法使其移動則無法進(jìn)行檢測，因此，其存在問題是存在凸起微小時檢測困難。又，按所述方法，當(dāng)作為檢測對象或者其他輥筒上粘附微小的塵埃時，該塵埃使其他輥筒發(fā)生位置變異，這會被誤認(rèn)為是檢測對象的凸起。因此，在使用該方法時，須完全除去塵埃，從而，又導(dǎo)致裝置體積過大。
關(guān)于凸起檢測方法，也有人在與靜電照相相關(guān)的制造技術(shù)領(lǐng)域以外的領(lǐng)域提出了種種方案，但都存在這樣的問題或是裝置過大，或是檢測精度不夠。以下介紹其例。
日本專利公開特開2000-258354號公報涉及一種印刷品。該方法系從不同的三個方向?qū)z測對象照射以不同色的光進(jìn)行檢測。但由于該方法很難一次對檢測對象全面照射以均勻的光，因此，其檢測部位成為小點。因此，須對所述檢測點作全面掃描，費時麻煩。另外，對平緩的凸起無法進(jìn)行充分的檢測。
日本專利公開特開平8-35939號公報及日本專利公開特開平9-33449號各公報提出了這樣的方案用CCD對織布等的薄膜表面的凸起進(jìn)行檢測。然而，問題是該裝置需要照明系統(tǒng)和CCD，導(dǎo)致其裝置體積過大，其對微小凸起檢測有效，但對平緩的凸起檢測精度低。
又，日本專利公開特開平8-5575號公報提出了這樣的異物凸起檢測方法及其裝置所述異物凸起檢測方法及其裝置可將彩色濾器的異物凸起與粘附異物作光學(xué)區(qū)別檢測，可將超過被檢測的異物凸起許可高度的凸起檢測出來。但該異物凸起檢測方法及其裝置需要復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)裝置和可移動搭載彩色濾器11的XY平臺，導(dǎo)致其裝置復(fù)雜，對平緩的凸起檢測精度低。又，按所述方法，當(dāng)檢測對象上粘附微小的塵埃時，容易對該塵埃作誤檢測。因此，存在這樣的問題在檢測之前，須完全除去塵埃，則同樣導(dǎo)致裝置體積過大。
又，日本專利公開特開平10-10277號公報提出了檢查圓筒狀檢測體里面凸起的例子，但由于無法對測定件的整個內(nèi)里面進(jìn)行掃描、檢查，所以，其存在的問題是檢查費時。
如上所述，在構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置的部件帶狀體和輥狀體表面頻繁形成各種“凸起狀態(tài)”，所述“凸起狀態(tài)”起因于與圖像品質(zhì)低下直接或間接有關(guān)的、各種部件的制造方法。通常，須對所述“凸起狀態(tài)”進(jìn)行檢測，如該部件規(guī)格落于規(guī)格之外，則予以除外。
然而，作為“凸起狀態(tài)”的檢測方法，以往使用、或者提出的技術(shù)雖有多種多樣，但這些方法仍存在這樣的問題，即；容易對塵?；蚶髡`檢測；難以對“凸起狀態(tài)”中特別是呈平緩曲線弧狀的隆起狀突出部、或微小的凸起部分進(jìn)行高精度的檢測；且費時麻煩；裝置復(fù)雜，大型化，成本高等。至今未有較好的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的課題在于提供一種檢測方法及檢測裝置，所述檢測方法及檢測裝置可以低成本、且簡便地對存在于帶狀體和輥狀體內(nèi)外表面上的“凸起狀態(tài)”進(jìn)行高精度的檢測。
本發(fā)明的其他課題在于提供一種檢測方法及檢測裝置，所述檢測方法及檢測裝置可以低成本、且簡便地對存在于構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置的各個部件中、帶狀體和輥狀體內(nèi)外表面上的“凸起狀態(tài)”進(jìn)行高精度的檢測；特別是，對所述“凸起狀態(tài)”中特別是呈平緩曲線弧狀的隆起狀突出部、或微小的凸起部分進(jìn)行高精度的檢測。
本發(fā)明的課題還在于提供一種上述帶狀體和輥狀體的生產(chǎn)系統(tǒng)，所述生產(chǎn)系統(tǒng)含有上述的檢測方法。
即，上述課題由本發(fā)明下述方法完成(1)一種檢測方法，用于檢測存在于靜電照相圖像形成裝置用的部件表面上的凸起狀態(tài)，所述檢測方法系將構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀體或輥狀體作為檢測對象，使板狀抵接部件與其表面抵接，并作相對摩擦運動，籍此，檢測發(fā)生于該板狀抵接部件的振動及/或板狀抵接部件所受壓力變化，檢測存在于靜電照相圖像形成裝置用部件表面上的凸起狀態(tài)。
(2)如上述第1項所述的檢測方法，其特征在于，由至少一個輥筒從帶狀體內(nèi)側(cè)支承，并使該輥筒回轉(zhuǎn)進(jìn)行相對的摩擦，或者，使輥狀體回轉(zhuǎn)進(jìn)行所述相對摩擦。
(3)如上述第1或第2項所述的檢測方法，其特征在于，使檢測對象物和板狀抵接部件的抵接角度為30℃-80℃之間。
(4)如上述第1-第3項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，使檢測對象物和板狀抵接部件的移動相對速度為5-100mm/秒。
(5)如上述第1-第4項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，所述板狀抵接部件抵接檢測對象物表面的壓力對整個抵接部寬度以每1cm為0.00075N-0.0025N進(jìn)行。
(6)如上述第1-第5項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，用聲音檢測所述振動。
(7)如上述第1-第5項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，在所述板狀抵接部件上安裝傳感器，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測。
(8)如上述第7項所述的檢測方法，其特征在于，使用安裝傳感器的所述板狀抵接部件，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，變換為電氣信號之后，將上述信號與籍由峰值保持器處理得到的最大強(qiáng)度值、閾值進(jìn)行對照處理。
(9)如上述第7項所述的檢測方法，其特征在于，使用安裝傳感器的所述板狀抵接部件，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，變換為電氣信號之后，將上述信號與籍由演算處理得到的頻率分布、閾值進(jìn)行對照處理。
(10)如上述第7項所述的檢測方法，其特征在于，使用安裝傳感器的所述板狀抵接部件，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，變換為電氣信號之后，將由上述信號通過多分辨率解析的運算處理得到的值與閾值進(jìn)行對照處理。
(11)如上述第10項所述的檢測方法，其特征在于，所述多分辨率解析方法為選自下述(a)、(b)、(c)及(d)的方法之一(a)短時傅里葉變換法(b)小波變換法
(c)韋格納分布求算法(d)使用帶通濾波器法。
(12)如上述第7-11項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，由所述傳感器按順向擦動對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測之后，在其檢測位置近旁，進(jìn)行逆向擦動，檢測振動及/或壓力變化，視需要，反復(fù)進(jìn)行順向的擦動檢測作業(yè)和逆向擦動的檢測作業(yè)，多次收入從該傳感器發(fā)出的信號。
(13)如上述第7-12項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，將多個傳感器安裝于板狀抵接部件的不同位置處，對該傳感器的檢測時間差及/或強(qiáng)度差進(jìn)行運算，求得凸起的位置及/或大小。
(14)如上述第7-13項之任一項所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測對象物為由電鑄法制造的金屬帶狀體。
又，上述課題可由本發(fā)明的(15)解決(15)一種用于靜電照相圖像形成裝置的部件的帶狀體或輥狀體的制造方法，其特征在于，在按上述第1-14項之任一項所述的檢測方法進(jìn)行凸起狀態(tài)的檢測之后，根據(jù)規(guī)定的基準(zhǔn)，判斷上述具有凸起狀態(tài)的部件是否為規(guī)格之外的產(chǎn)品。
又，上述課題可由本發(fā)明的(16)-(20)解決(16)一種檢測裝置，用于檢測對象物表面存在的凸起狀態(tài)，所述檢測裝置系將構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀體或輥狀體作為檢測對象，其特征在于該檢測裝置包括板狀抵接部件；驅(qū)動檢測對象物的機(jī)構(gòu)；用于使該板狀抵接部件抵接、離開檢測對象物的機(jī)構(gòu)；使板狀抵接部件與檢測對象物表面抵接，并作相對摩擦運動，檢測由此在該板狀抵接部件上發(fā)生的振動及/或板狀抵接部件所受壓力之變化，檢測存在于檢測對象物表面上的凸起狀態(tài)。
(17)如上述第16項所述的檢測裝置，其特征在于，所述板狀抵接部件安裝至少一個傳感器。
(18)如上述第17項所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置設(shè)有峰值保持處理機(jī)構(gòu)及對照處理機(jī)構(gòu)，由上述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，將檢測所得信號進(jìn)行變換而得電氣信號，上述峰值保持處理機(jī)構(gòu)對該電氣信號實行峰值保持處理，上述對照處理機(jī)構(gòu)將經(jīng)峰值保持處理所得的最大強(qiáng)度值與閾值進(jìn)行對照比較處理。
(19)如上述第17項所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置設(shè)有運算處理機(jī)構(gòu)及對照處理機(jī)構(gòu)，由上述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，將檢測所得信號進(jìn)行變換而得電氣信號，上述運算處理機(jī)構(gòu)對該電氣信號實行多分辨率解析處理，上述對照處理機(jī)構(gòu)將經(jīng)運算處理所得的結(jié)果與閾值進(jìn)行對照比較處理。
(20)如上述第17-19之任一項所述的檢測裝置，其特征在于，所述板狀抵接部件的至少與檢測對象物抵接的抵接部的硬度在JIS K 7202標(biāo)準(zhǔn)所定的洛氏硬度65以上、140以下。
又，上述課題可由本發(fā)明的(21)解決(21)一種用于靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀體或輥狀體的生產(chǎn)系統(tǒng)，其特征在于，所述生產(chǎn)系統(tǒng)含有上述第16-20之任一項所述的檢測裝置。
(22)如21所述的生產(chǎn)系統(tǒng)，其特征在于，所述生產(chǎn)系統(tǒng)設(shè)置有顯示裝置。
(23)一種設(shè)置于如上述17-22中所述的檢測裝置中的板狀抵接部件，其特征在于，所述板狀抵接部件安裝有傳感器。
本發(fā)明的特征在于，使板狀抵接部件與帶狀體或輥狀體的靜電照相圖像形成裝置用部件的表面抵接，并作相對摩擦運動，檢測由此使發(fā)生于該板狀部件的、特別是發(fā)生于抵接部的振動及/或板狀抵接部件所受壓力之變化，由此檢測存在于靜電照相圖像形成裝置用的部件表面上的“凸起狀態(tài)”的有無，檢測檢測對象物表面的平滑狀體。
上述使用于本發(fā)明的檢測方法的檢測裝置，其至少由下述部件構(gòu)成板狀抵接部件，用于使上述板狀抵接部件與檢測對象物抵接或離開的機(jī)構(gòu)，其特征在于，用于使上述板狀抵接部件與檢測對象物抵接或離開的機(jī)構(gòu)，在其與該板狀抵接部件的與檢測對象物抵接的部分相反的一側(cè)設(shè)有保持部，驅(qū)動接合于該保持部的鉸鏈，使板狀抵接部件進(jìn)行抵接和脫離。
所述帶狀體或輥狀體為靜電照相圖像形成裝置用部件，如前所述，前者只要是具有撓曲性、無接縫的筒形體，后者為剛性的圓柱或圓筒型體即可，并無特別的限制。
例如，帶狀體可以舉出構(gòu)成感光體的金屬導(dǎo)電性基體、載持潛像、至少具有感光層的感光體帶，主要用于全彩色圖像形成的樹脂制轉(zhuǎn)印帶及其傳送帶、定影帶等。作為輥狀體，可以舉出感光鼓及帶電輥筒、顯影輥等。
又，所謂“凸起狀態(tài)”，系在帶狀體或輥狀體的主要是制造過程中形成的一種表面狀態(tài)，意指構(gòu)成帶狀體或輥狀體的表面一部分，以與表面一體、或點狀的特殊形式存在的細(xì)小的凸?fàn)盍Ⅲw形狀。雖并無特別的限制，如前所述，所述“凸起狀態(tài)”可以包含例如，突起物、松弛、波伏狀態(tài)、厚度不勻、皺紋、泡沫狀態(tài)、空氣或異物混入形成的膨脹等各種狀體。另外，形成平緩的圓弧曲線的隆起狀或堆砌、微小凸起等也屬于“凸起狀態(tài)”。
所述“凸起狀態(tài)”的種類、數(shù)目、形狀及其大小等以及存在位置有各種，范圍大，根據(jù)部件或其制造方法而不同。
例如，當(dāng)所述“凸起狀態(tài)”形為突起物的場合，該突起物有其突起物直徑為數(shù)μm，其高度為μm的細(xì)微突起物，或其直徑為數(shù)mm，其高度為數(shù)十μm的大隆起狀突起物。
這里，抵接部上的相對移動可以是使該帶狀體或輥狀體移動，也可以是使抵接于該帶狀體或輥狀體的板狀抵接部件移動。
在使所述帶狀體或輥狀體移動時，對于所述帶狀體，通常是由輥筒從圓筒型的帶狀體內(nèi)側(cè)支承，使其回轉(zhuǎn)，對于所述輥狀體，則由于其本身具有剛性，通常是使其自身回轉(zhuǎn)。
在本發(fā)明中，籍由使板狀抵接部件與檢查對象物表面抵接，并作相對摩擦運動，使存在于所述表面的“凸起狀態(tài)”和該前端部振動及發(fā)生壓力變化，由此，檢測“凸起狀態(tài)”的存在。板狀抵接部件與檢查對象物表面抵接的部分，以下稱為板狀抵接部件的抵接部。
即，須不使其衰減地傳達(dá)發(fā)生于板狀抵接部件的抵接部的振動及壓力變化。反之，板狀抵接部件的結(jié)構(gòu)并無特別限制，只要是板狀抵接部件的至少抵接部可以檢測所發(fā)生的振動及壓力變化即可。
然而，作為板狀抵接部件的至少抵接部的較好的條件是為充分檢測所發(fā)生的振動及壓力變化，所述抵接部硬度越大越好，但須不損傷檢查對象物。為此，較好的是，按JIS K 7202標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的洛氏硬度為65-140，更好的是在100-135。
又，板狀抵接部件的厚度以70μm以上，300μm以下為宜。更好的是，在100μm以上，200μm以下。也可以是，使板狀抵接部件的厚度從其根部，即，其彼此部至其前端為同一厚度，也可以使所述抵接部厚度小于保持部。
通常，須使板狀抵接部件的抵接部的寬度與檢查對象物表面的幅寬相同或大于其表面幅寬。然而，例如，對于感光體基體的寬度來說，感光層涂敷部分狹窄，因此，在檢查對象物的有效使用部分窄于檢查對象物的幅寬時，可以將所述有效部分使用的幅寬作成抵接部的幅寬。
另外，圖3中A的長度，即，板狀抵接部件的保持部和抵接部之間的長度可以在5mm以上，但從裝置的大小、檢測靈敏度考慮，以10mm以上、50mm以下為宜，更好的是在15mm以上、50mm以下為宜。
作為板狀抵接部件的至少構(gòu)成抵接部的材料，只要是不影響檢查對象物的材料即可，并無特別的限制。例如，可以使用對苯二甲酸乙二醇酯、對苯二甲酸丁酯、聚氯乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乙烯、超高分子量聚乙烯，如聚甲基丙烯酸甲酯的各種丙烯酸樹脂，聚碳酸酯、各種含氟樹脂，聚氨酯、苯酚樹脂、尿樹脂、三聚氰胺甲醛樹脂、環(huán)氧樹脂等的塑料材料。金屬可使用鋁、銅、不銹鋼、磷青銅等。金屬也可使用作了塑料涂層的材料。
這里，板狀抵接部件即可單獨使用一種材料，也可以在板狀抵接部件的抵接部和保持部改變使用材料及厚度。當(dāng)所述板狀抵接部件由多種材料組成的場合，也可采用熱熔融粘結(jié)法、或用粘結(jié)劑粘結(jié)的方法。
使板狀抵接部件與檢查對象物表面抵接時的抵接角度如圖3B所示，可以是任意值，根據(jù)凸起狀態(tài)的檢測精度來決定。但較好的是30°-80°，更好的是30°-60°。
又，使板狀抵接部件抵接于檢查對象物表面的抵接壓力須具有一定程度，以充分檢測凸起狀態(tài)，且不對檢查對象物造成損傷。據(jù)此，抵接力取決于板狀抵接部件和檢查對象物的部件材料的種類、材料或尺寸等，并無特別限定。例如，在抵接部的幅寬為40cm的場合，則針對其全幅寬為0.03N-1N為宜，即，對每1cm幅寬寬度為0.00075N-0.025N。特別好的是，針對其全幅寬為0.05N-0.3N為宜，即，對每1cm幅寬寬度為0.00125N-0.025N為宜。
抵接時的壓力分布，以在板狀抵接部件的全幅寬上恒定為宜，為此，較好的是，板狀抵接部件的抵接邊為直線。但根據(jù)檢查對象物狀體的不同，抵接邊也可以不是直線，也可以是矩形，或形成曲面，作成平緩的圓弧狀，幅寬方向的抵接壓力也可以變化。
有必要使板狀抵接部件可相對凸起檢查對象面作機(jī)械抵接，或可脫離。其驅(qū)動方法可由各種機(jī)械方法進(jìn)行，可以使用電磁、汽缸、電動機(jī)、凸輪等的方法。
帶狀體作成由保持部件的輥筒從內(nèi)側(cè)予以支承的狀態(tài)，在此狀態(tài)下回轉(zhuǎn)時，可使帶狀體跨接于多個輥筒上，或者包覆一根輥筒，或者被覆直徑可放大的圓筒狀體上，由放大圓筒型帶狀體的直徑進(jìn)行保持。
在將帶狀體掛于輥筒上時，所使用的輥筒直徑宜由裝置大小等因素而適當(dāng)決定，并無特別的限制，但須使張掛于輥筒上的帶狀體具有不會極端曲折于輥筒上的直徑，通常，較好的是，其直徑在20mm以上。
張緊帶狀體的多個輥筒通常使用金屬制輥筒，但從提高無接縫帶狀體的摩擦力或者得到氣墊效果等的角度來說，所述多輥筒中至少使用一根其表面設(shè)置有由合成樹脂或彈性材料等形成的表面層的輥筒。
上述輥筒的表面層有時也摻用設(shè)置于芯體材料(通常為由不銹鋼、鋁的金屬形成的輥筒)表面上、在其構(gòu)成表面層的合成樹脂等中再配合碳黑等導(dǎo)電性材料的半導(dǎo)電層。
這里所使用的合成樹脂，可以舉出如，聚氨酯、天然橡膠、丁基橡膠、丁腈橡膠、聚異丁烯橡膠、聚丁二烯橡膠、硅氧烷橡膠、苯乙烯-丁二烯橡膠、乙烯-丙烯橡膠、三聚乙丙橡膠、氯丁二烯橡膠、丙烯酸類橡膠等的橡膠狀材料及其化合物等代表性材料。上述橡膠材料通常可以添加硫化劑、硫化助劑、軟化劑及其它添加劑。又，輥筒表面層可以使用發(fā)泡體。表面層也控制上述心材料表面由注射成型、擠壓成型、加壓成型等任意方法形成。
在將表面層自身作為半導(dǎo)體層時，在基體樹脂上使用配合了樹脂被覆碳黑的半導(dǎo)體性樹脂組合物。作為表面層的電阻值，可以是接近帶狀體電阻值的電阻值。通常，作為平均值，將其調(diào)節(jié)為從帶狀體電阻值的10倍至1/1000的程度。從穩(wěn)定帶狀體的電阻值來說，輥筒表面層的電阻值較好的是平均低于帶狀體的電阻值(導(dǎo)電性大)。作為平均值，以1/1-1/1000左右為宜，較好的是平均值在1/10-1/100左右。
檢查對象物表面和板狀抵接部件的相對摩擦速度以5mm/秒以上、100mm/秒以下為宜，更好的是，在20mm/秒以上、50mm/秒以下。此時摩擦移動速度以恒定為佳，但±30％的速度變動也不會對檢測精度產(chǎn)生大的影響。又，以一定速度摩擦運動時，由此檢測振動時，在其檢測場所以不同的速度進(jìn)行摩擦，對于提高檢測精度也是有效的。
根據(jù)使用如上所述的板狀抵接部件的本發(fā)明的方法，可以對所述“凸起狀態(tài)”中特別是呈平緩曲線弧狀的隆起狀突出部或者微小的凸起部分進(jìn)行高精度檢測。即，手動或機(jī)械性地使檢查對象物和板狀抵接部件作摩擦移動，聽取籍由檢查對象物表面和板狀抵接部件的接觸而發(fā)生的聲音，由此，可以檢測“凸起狀態(tài)”存在與否。本發(fā)明者發(fā)現(xiàn)，上述方法具有充分的實用性。
然而，本發(fā)明者們研究了電氣檢測所發(fā)生的振動等的檢測方法，所述方法比起上述手動或機(jī)械性地使檢查對象物和板狀抵接部件作摩擦移動，聽取籍由檢查對象物表面和板狀抵接部件的接觸而發(fā)生的聲音的方法來，不費時，且作業(yè)效率更高。
作為上述方法之一，可以使用峰值保持處理方法。使用在板狀抵接部件上至少安裝了一個傳感器的部件，由振動傳感器或壓力傳感器檢測出板狀抵接部件的振動及壓力變化，進(jìn)行檢測信號進(jìn)行峰值保持處理，由峰值大小進(jìn)行判斷。
這里，作為可使用的振動傳感器或壓力傳感器，可以使用各種傳感器，例如可以使用使用了鈦酸鋇、鈦酸鋯等壓電陶瓷的壓電元件、電容式傳聲器、半導(dǎo)體壓力傳感器等。
通常，壓電元件具有輸出電壓范圍在10-100mV/G、應(yīng)答頻率范圍在2Hz-2KHz的特性。該范圍的壓電元件可以充分使用，只要注意電路，也可使用其例外的壓電元件。
壓電元件從其結(jié)構(gòu)來說有單壓電晶片(unimorph)和雙壓電晶片(bimorph)型，二者皆可使用。在安裝壓電元件時，為高靈敏度檢測振動，可使振動方向和壓電元件的檢測方向一致。
又，在本發(fā)明中，可以使用安裝有多個其頻率特性或靈敏度特性二者中一個不同的傳感器的板狀抵接部件，可以提高檢測精度及加大可檢測的范圍，因此有效使用。
例如，如上所述，存在于檢查對象物上的“凸起狀態(tài)”為一突起物，該突起物有直徑數(shù)μm、高數(shù)μm的細(xì)微突起物和直徑數(shù)mm、高數(shù)十μm的大隆起狀突起物的場合，如果具備可以檢測微小凸起傳感器和可以檢測大的隆起狀凸起的傳感器，則可同時進(jìn)行二者的檢測。
由此，即使在產(chǎn)生的突起物及表面變異的種類、形狀、大小范圍較大，一種傳感器及檢測電路無法進(jìn)行完全檢測的場合，也可籍由多個傳感器的安裝，進(jìn)行檢測。
又，板狀抵接部件無須一枚狀的，考慮到檢測靈敏度的低下，也可使多枚板狀抵接部件抵接于檢查對象物表面。
此時，板狀抵接部件的厚度、尺寸及材料即抵接壓可根據(jù)不同的板狀抵接部件變化。
再有，安裝于板狀抵接部件上的傳感器的種類也可變化，在檢查對象物幅寬方向可能出現(xiàn)不同的“凸起狀態(tài)”時，稱為最佳檢測方法。
例如，在靜電照相感光體的圖像領(lǐng)域所發(fā)生的突起物即使是數(shù)μm的大小，也會很大地影響圖像質(zhì)量，但發(fā)生于圖像形成區(qū)域外的端部的突起物在數(shù)μm高度完全不成為問題。如此，根據(jù)檢測部位的不同，檢測對象也不同，籍由上述方法，可以進(jìn)行精度高的凸起及表面變異的檢測。
上述由傳感器檢測的振動及/或壓力變化變換為電氣信號之后，該信號進(jìn)行峰值保持處理，其后將經(jīng)所述峰值保持處理得到的最大強(qiáng)度值和閾值進(jìn)行對照處理。
進(jìn)行所述峰值保持處理時，使用具有至少安裝一個傳感器的板狀抵接部件、對由上述傳感器變換振動及壓力變化得到的電氣信號，進(jìn)行峰值保持處理的機(jī)構(gòu)及將上述由峰值保持處理得到的最大強(qiáng)度值和閾值進(jìn)行對照處理的機(jī)構(gòu)。
為了反映上述對照處理的結(jié)果，作為其后進(jìn)行的作業(yè)內(nèi)容，有1〕除去顯示于紙上或顯示機(jī)構(gòu)的圖面上的、規(guī)格以外的東西，或者2〕在組裝有上述檢測裝置的生產(chǎn)系統(tǒng)中，如果對照處理的結(jié)果，部件為規(guī)格以外的部件，則(1)使收納了可去除該部件的計算機(jī)連動，并作自動操作；或者，(2)點亮警示燈，人為去除等，并無特別的限制。
對照處理及其后的作業(yè)場所無須接近，也可以遠(yuǎn)距離相隔。
又，峰值保持處理也可通過電氣電路，由軟件進(jìn)行。
在使用振動傳感器或壓力傳感器場合，得到的信號包括各種頻率信號，因此，求出該頻率分布對于提高檢測精度是有效的。作為求出頻率分布的方法，可以使用各種方法，可以通過電氣電路，也可以由軟件進(jìn)行所謂的傅里葉變換運算。
再有，本發(fā)明者對進(jìn)一步提高檢測靈敏度和檢測精度的方法進(jìn)行了研究，著眼于發(fā)生于板狀抵接部件抵接部上的振動等為非連續(xù)性的單發(fā)信號這一事實，確認(rèn)作為其信號的分析方法，多分辨率分析是有效的。
在本發(fā)明中，將從安裝于板狀抵接部件上的振動傳感器或壓力傳感器得到的電氣信號經(jīng)A/D變換數(shù)字化，對該數(shù)字信號進(jìn)行多分辨率的演算處理，可以確認(rèn)振動或壓力變化的狀況。
多分辨率分析為一在頻率領(lǐng)域變進(jìn)行光譜分析的同時，分析變動的時間推移的方法。在本發(fā)明中，作為其方法，可以使用短時傅里葉變換(Short Time FourierTransform)、小波變換(Wavelet Transform)、韋格納分布(Wigner)等方法及帶通濾波器(Band-Pass Filter)的方法。
因此，適用于由多分辨率分析進(jìn)行的運算處理場合所使用的檢測裝置，具備至少安裝有一個傳感器的板狀抵接部件、對由上述傳感器變換振動及壓力變化得到的電氣信號進(jìn)行峰值保持處理的機(jī)構(gòu)、及將上述由峰值保持處理得到的最大強(qiáng)度值和閾值進(jìn)行對照處理的機(jī)構(gòu)。
為反映由多分辨率分析進(jìn)行的運算處理的結(jié)果而在其后進(jìn)行的作業(yè)內(nèi)容，如同上述峰值保持處理對照方法的對照處理場合。
多分辨率分析的上述4個方法，如下述四篇非專利文獻(xiàn)1、2、3、4所述，為已知技術(shù)。
非專利文獻(xiàn)1《小波分析》(蘆野隆一，山本鎮(zhèn)男著，共立出版社，1997年6月發(fā)行)；非專利文獻(xiàn)2《小波介紹》(Charles K.Chui著，Academic出版社出版，1992年)；非專利文獻(xiàn)3《小波函數(shù)十論文》(Daubechies著，SIAM出版社，1992年版)；非專利文獻(xiàn)4《時間頻率分布》(L.Cohen著，A Review.Proceedings ofthe IEEE，77(7)P941-980，1989)。
多分辨率分析的運算處理結(jié)果，因各個方法而有不同及優(yōu)點，因此，在本發(fā)明中，相應(yīng)于因檢查對象物種類不同而設(shè)定的“凸起狀態(tài)”，最好選用不同的方法。
例如，凸起狀態(tài)的形狀、大小一定的場合，適用短時傅里葉變換方法及韋格納分布，而在凸起狀態(tài)的形狀、大小混合的場合，適用小波變換方法。
又，使用帶通濾波器的方法，因為可以就非模擬信號也作模擬信號處理，所以具有在模擬信號的場合可以作高速處理的優(yōu)點。
在本發(fā)明中，上述短時傅里葉變換、小波變換、韋格納分布計算及帶通濾波器處理的各個方法所得到的結(jié)果，與預(yù)先測定的正常物或不正常物的結(jié)果進(jìn)行對照比較，可以籍此進(jìn)行判斷。
根據(jù)本發(fā)明者等的分析，傳聲器使用索尼公司制的電子傳聲器，將其用Burr-Brown公司制A/D轉(zhuǎn)換器作A/D轉(zhuǎn)換，組裝于IBM公司制的個人電腦中。
A/D變換的取樣速度為44100Hz，分解能力為10比特。測得的信號數(shù)據(jù)的處理及其多分辨率分析、韋格納分布的計算等由C語言作成的軟件進(jìn)行。
其次，就本發(fā)明的檢測方法中的提高精度的其他方法作一說明。
該方法使板狀抵接部件和檢查對象物相對的摩擦運動在籍由例如檢查對象物的回轉(zhuǎn)而進(jìn)行時，使其以一個方向(順向)回轉(zhuǎn)，檢測凸起狀態(tài)，或者，使其逆轉(zhuǎn)方向(逆向)回轉(zhuǎn)，在其順向檢測位置或其近旁，再次進(jìn)行檢測作業(yè)。
籍由上述順向和逆向的摩擦運動的檢測作業(yè)，即使是板狀抵接部件上不安裝傳感器的部件也可進(jìn)行，但安裝傳感器的板狀抵接部件可自動進(jìn)行，對凸起狀態(tài)進(jìn)行檢測，得到高精度的檢測結(jié)果。
為進(jìn)一步提高檢測精度，順向和逆向的摩擦運動不限于一次，可以視需要進(jìn)行多次，例如，可作成順向2次，逆向一次；也可變化摩擦速度，或者組合使用該二種方法。
再有，首先由順向摩擦確認(rèn)凸起狀態(tài)存在時，籍由上述順向和逆向的摩擦運動，視需要變換摩擦速度，反復(fù)進(jìn)行檢測作業(yè)，可以得到更精確或者詳細(xì)的凸起狀態(tài)信息，例如，可以得知大小、形狀或數(shù)值等。此時，設(shè)置建議切換順向和逆向的摩擦運動的切換的控制機(jī)構(gòu)，則可以得到更大的效率。
又，由順向摩擦捕捉不到的聲音或信號弱，則籍由順向和逆向的摩擦反復(fù)進(jìn)行，可以精確且詳細(xì)地檢測凸起狀態(tài)內(nèi)容，提高檢測精度。
再有，由順向摩擦首先確認(rèn)凸起狀態(tài)的存在，其次，視需要，變化順向和逆向的摩擦，反復(fù)進(jìn)行，藉此，可以檢測凸起狀態(tài)的精確、詳細(xì)的內(nèi)容，提高檢測精度。
上述方法也可用于確認(rèn)由順向的摩擦捕捉的凸起狀態(tài)是否由粘附于檢查對象物上的垃圾雜質(zhì)(特小的垃圾雜質(zhì)或塵埃)所導(dǎo)致。
當(dāng)確認(rèn)垃圾雜質(zhì)等的存在時，反復(fù)進(jìn)行逆向摩擦，或反復(fù)進(jìn)行順向和逆向的摩擦，可期待由板狀抵接部件去除垃圾雜質(zhì)等。
下面說明本發(fā)明效果。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種靜電照相感光體基體表面的檢測裝置、制造方法及一種靜電照相感光體，所述檢測裝置及制造方法系一種檢測基體表面的凸起狀態(tài)的靜電照相感光體表面的檢測裝置及制造方法，所述檢測裝置及制造方法系在例如，電鍍法及電氣鑄造法中，籍由使所定的刮板與成為陰極的無接峰的環(huán)狀基體表面接觸，由此，可以檢測基體表面的缺陷。
特別是，根據(jù)本發(fā)明，即使由光學(xué)方法或與輥筒接觸的方法作誤判斷時，粘附原因的灰塵或垃圾雜質(zhì)，也不會將其誤接觸為凸起。
又，對由傳感器得到的轉(zhuǎn)動或壓力變化信號進(jìn)行小波變換等多分辨率分析，進(jìn)行評價，從由傳感器得到的轉(zhuǎn)動或壓力變化信號，可以提出應(yīng)重視的頻率區(qū)域信號進(jìn)行判斷，因此，可以正確檢測出靈敏度高的凸起或表面變異。


圖1為本發(fā)明的檢測裝置的剖視圖。
圖2為實施形態(tài)1的結(jié)構(gòu)舉例圖。
圖3為使板狀體抵接的狀態(tài)圖。
圖4為實施形態(tài)2的結(jié)構(gòu)舉例圖。
圖5為實施形態(tài)3的結(jié)構(gòu)舉例圖。
圖6為實施形態(tài)4的結(jié)構(gòu)舉例圖。
圖7為板狀抵接部件舉例的概念圖。
圖8為峰值保持機(jī)構(gòu)的線路9為具有頻率濾波器的峰值保持機(jī)構(gòu)的線路圖。
圖10為進(jìn)行短時傅里葉變換的線路圖。
圖11為進(jìn)行FFT計算的線路圖。
圖12為進(jìn)行小波變換的線路圖。
圖13為進(jìn)行帶通濾波器處理的線路圖。
圖14為進(jìn)行韋格納分布的線路圖。
圖15為電鑄裝置的結(jié)構(gòu)圖。
圖16為檢測鎳制帶子(3)的凸起的原信號圖。
圖17為鎳制帶子(3)的凸起信號的小波變換結(jié)果圖。
圖中，1為基體保持部，1a為保持部件的底板，2為刮片保持部，2a為鉸鏈部，3為油壓汽缸，4為保形裝置，5為刮板，6為回轉(zhuǎn)裝置，6a為軸承，7為螺孔，7為螺桿，8為基體，11為評價對象的輥筒或張掛帶體的輥筒，12為使評價對象的輥筒或張掛帶體的輥筒回轉(zhuǎn)的軸，13為板狀體，14為使板狀體回轉(zhuǎn)的鉸鏈，15為振動傳感器或壓力變異傳感器，16為傳遞傳感器信號的的電纜，17為處理來自傳感器的信號的裝置，18為張掛帶子的輥筒，19為張掛帶子的輥筒，21為金屬模，22為電鑄槽，23為電鑄液，24為陰極2盒體，25為陽極鎳，26為循環(huán)泵，27為電鑄液過濾器，28為電鑄液循環(huán)管道，29為整流器，30為電鑄用直流電流的流經(jīng)配線，31為電鑄用直流電流的流經(jīng)配線。
具體實施例方式
以下，就本發(fā)明的靜電照相圖像形成裝置用部件表面的“凸起狀態(tài)”的檢測裝置，參照附圖，作一說明。
圖1為本發(fā)明的檢測裝置的一個實施例的剖視圖。
該例是將帶狀體靜電照相感光體用的無接頭金屬基體(8)作為檢查對象物，對其表面的突起物那樣的凸起狀態(tài)進(jìn)行檢測的例子。上述裝置具有可從金屬基體(8)的內(nèi)側(cè)作可脫卸保持的部件(簡稱保持部件1)、板狀抵接部件(5)、及用于支承該板狀抵接部件的板狀支承部(2)。
基體(8)在保持于輥狀體的保持部件(1)的狀態(tài)下，驅(qū)動支承板狀抵接部件的板狀支承部(2)，使板狀抵接部件(5)與基體(8)抵接后，轉(zhuǎn)動基體(8)，進(jìn)行摩擦轉(zhuǎn)動。此時，如在基體(8)的表面存在突起物等的凸起狀態(tài)，則由于其存在，使板狀抵接部件(5)的抵接部發(fā)生振動，或同時發(fā)生異常音響，操作者可籍此感知、檢測凸起狀態(tài)。
如圖1所示的檢測裝置，在基體保持部件(1)上設(shè)置有作為回轉(zhuǎn)設(shè)備的滾輪(6)，又在滾輪(6)上設(shè)置有刻有圖中未示的鍵槽的軸承孔，鍵槽內(nèi)插入鍵銷，由此與基體保持部件(1)的轉(zhuǎn)軸連接。轉(zhuǎn)軸的一端為軸承(6a)所支承，另一端為圖中未示的U型軸承所支承。圖中，符號(6b)為腔部(6c)中所設(shè)的軸承。
作為回轉(zhuǎn)設(shè)備，不限于滾輪(6)，也可使用電動機(jī)。
圖2為顯示本發(fā)明的上述轉(zhuǎn)軸的概念舉例的第一結(jié)構(gòu)圖。
在圖2中，(11)為作為檢查對象物的輥狀體或其內(nèi)側(cè)由輥筒支承的帶狀體，(12)為其軸，可沿箭頭方向回轉(zhuǎn)，(13)為板狀抵接部件，(14)為保持板狀抵接部件，使其進(jìn)行抵接和脫離檢查對象物的鉸鏈。該例中的板狀抵接部件(13)為厚100μm、寬25mm、長450mm的聚酯薄膜。
根據(jù)圖2所示的裝置，靜電照相圖像形成裝置用部件(11)的薄膜上抵接板狀抵接部件(13)的狀態(tài)下，進(jìn)行摩擦運動，則板狀抵接部件(13)與靜電照相圖像形成裝置用部件(11)的薄膜“凸起狀態(tài)”接觸，發(fā)出振動聲響，籍此，可以簡便地檢測“凸起狀態(tài)”的存在。
圖3為顯示本發(fā)明的上述轉(zhuǎn)軸的概念舉例的第2結(jié)構(gòu)圖。
在圖3中，(11)為作為檢查對象物的靜電照相圖像形成裝置用部件，(13)為板狀抵接部件，(14)為在其安裝部可回轉(zhuǎn)的鉸鏈，A為板狀抵接部件的幅寬，B為板狀抵接部件的抵接角度。
角度B可籍由檢查對象物的薄膜的“凸起狀態(tài)”和傳感器的檢測特性，作適當(dāng)設(shè)定。根據(jù)檢查對象物的形狀和傳感器的11安裝部件的抵接角度，由安裝傳感器的部件的動作方向，對檢測力產(chǎn)生很大的差。此時，該評價對象和該傳感器在該位置反復(fù)抵接動作，多次取入來自傳感器的信號，可以切實地進(jìn)行檢測。
在檢查對象物表面粘附、或未粘附如垃圾雜質(zhì)、塵埃等物的場合，在本發(fā)明中，如圖3所示，使板狀抵接部件以一定角度加壓、抵接檢查對象物，所以，摩擦?xí)r，在板狀抵接部件的抵接部的粘附物被剝離，驅(qū)動垃圾雜質(zhì)等產(chǎn)生振動等的功能，其結(jié)果，在板狀抵接部件的抵接部上由于不發(fā)生雜質(zhì)等的振動，不會誤將雜質(zhì)等檢測為凸起狀態(tài)。
另一方面，以往有人提出的、使用激光的光學(xué)方法，或如特開2000-214100號公報記載的、使輥筒接觸的檢測方法，則容易誤將檢查對象物表面上的垃圾雜質(zhì)等檢測為凸起狀態(tài)，為此，檢測前必須經(jīng)由強(qiáng)力的吹風(fēng)等去除垃圾雜質(zhì)的雜質(zhì)去除工序。
在本發(fā)明中，由于具有如上所述的功能，并不一定需要如以往方法中的去除垃圾雜質(zhì)的工序，因此，檢測方法整體簡便易行，這一點是本發(fā)明的一大特征。然而，在本發(fā)明的檢測方法中，預(yù)先去除雜質(zhì)則可進(jìn)一步提高檢測精度是不言而喻的。
圖4為將傳感器安裝于板形狀體上的裝置的結(jié)構(gòu)圖。
(11)為作為檢查對象物的輥狀體或其內(nèi)側(cè)由輥筒支承的帶狀體，(12)為其軸，檢查對象物可沿箭頭方向回轉(zhuǎn)，(13)為板狀抵接部件，(14)為在其安裝部可回轉(zhuǎn)的鉸鏈，(15)為振動傳感器或壓力傳感器，(16)為用于傳遞來自該傳感器的信號的電纜，(17)為用于處理來自傳感器的信號的機(jī)構(gòu)。
圖5為將傳感器安裝于板狀抵接部件上的裝置的結(jié)構(gòu)圖。
將檢查對象物為帶狀體，其內(nèi)側(cè)由二輥筒支承，將帶狀體張掛于二輥筒之間，進(jìn)行檢測。(11a)為檢測對象的帶狀體，(18)、(19)為張掛帶狀體的輥筒，(12)為其軸，(13)為板狀抵接部件，(14)為在其安裝部可回轉(zhuǎn)的鉸鏈，(15)為振動傳感器或壓力傳感器，(16)為用于傳遞來自該傳感器的信號的電纜，(17)為用于處理來自傳感器的信號的機(jī)構(gòu)。
圖6為將傳感器安裝于板狀抵接部件上的裝置的其他結(jié)構(gòu)圖。
(11)為作為檢查對象物的輥狀體或其內(nèi)側(cè)由輥筒支承的帶狀體，(12)為其軸，檢查對象物可沿箭頭方向回轉(zhuǎn)，(13)為板狀抵接部件，(15)為振動傳感器或壓力傳感器，(16)為用于傳遞來自該傳感器的信號的電纜，(17)為用于處理來自傳感器的信號的機(jī)構(gòu)。
此時，設(shè)置安裝有傳感器的板狀抵接部件3有2個，分別安裝于板狀抵接部件上的傳感器設(shè)置三個，處理來自傳感器的信號的機(jī)構(gòu)設(shè)置二個。
從一個傳感器檢測出一個“凸起狀態(tài)”之后，再由其他傳感器進(jìn)行檢測。
由此，發(fā)生的凸起狀態(tài)的種類、形狀、大小處于一個很大的范圍，即使是以一種傳感器及檢測電路無法檢測的整體，籍由多個傳感器、安裝部件及檢測電路(以下稱為傳感器單元)的安裝，將其組合對照檢測缺陷，作成個別最佳化，也可以進(jìn)行檢測。
例如，在凸起狀態(tài)為數(shù)mm的大隆起狀、數(shù)μm的細(xì)微突起物的場合，籍由配備用于檢測大的隆起的傳感器單元和用于檢測細(xì)微凸起狀態(tài)的傳感器單元，可以檢測出二者狀態(tài)。
圖7所示為用于本發(fā)明的板狀抵接部件的形狀舉例的概念圖。檢測對象的抵接部位位于上側(cè)。為檢測凸起狀態(tài)，最好使用其前端銳利的部件。
例如，(a)為板狀抵接部件，(b)為具有二塊板狀抵接部件型，(c)為三角形狀的板狀抵接部件，(d)為其前端為曲面的板狀抵接部件， (e)為傾斜的板狀抵接部件。
圖8所示為由硬件實現(xiàn)圖4或圖5所示裝置的信號處理機(jī)構(gòu)的信號處理流程的內(nèi)容圖。
測定前，來自復(fù)位信號發(fā)生電路的信號進(jìn)入峰值保持電路，峰值保持電路復(fù)位。
復(fù)位處理之后，來自傳感器的信號由放大電路放大，進(jìn)入峰值保持電路。峰值保持電路為用于記錄進(jìn)入其電路的最大信號強(qiáng)度的電路，其一時記錄的最大強(qiáng)度常常，或者，根據(jù)沒有圖示的所輸入的要求信號而輸出，與另外輸入的閾值比較，與規(guī)格對照，顯示其結(jié)果。該處理的所有或者一部分可容易地由軟件進(jìn)行。
在本發(fā)明中，由傳感器檢測出的振動或壓力變化的信號，籍由通過頻率濾波器，去除不需要的頻率成分，可高精度地檢測突起物或表面變異。
圖9所示為上述處理的流程圖，來自傳感器信號通過頻率濾波器和放大電路之后，進(jìn)入峰值保持電路。
這里，測定前，來自復(fù)位信號發(fā)生電路的信號進(jìn)入峰值保持電路，峰值保持電路復(fù)位。所求得的峰值與另外輸入的閾值比較，與規(guī)格對照，顯示其結(jié)果。該處理的所有或者一部分可容易地由軟件進(jìn)行。
圖10所示為求得來自傳感器的信號的頻率分布的流程圖，來自傳感器的信號通過放大電路之后，籍由觸發(fā)器電路指令，進(jìn)行頻率分布的計算。
在圖10中，F(xiàn)FT運算機(jī)構(gòu)顯示為進(jìn)行頻率分布計算的機(jī)構(gòu)，可由傅里葉變換等進(jìn)行計算。由FFT運算機(jī)構(gòu)求得的頻率分布與另外輸入的閾值進(jìn)行比較，與規(guī)格對照，顯示其結(jié)果。
圖11所示為由短時傅里葉變換對來自傳感器的信號進(jìn)行處理的一例流程圖。
圖中，STFT運算機(jī)構(gòu)顯示進(jìn)行短時傅里葉變換的機(jī)構(gòu)。該機(jī)構(gòu)進(jìn)行短時傅里葉變換，進(jìn)行振動或壓力變化的時間-頻率分析及光譜計算。這里，短時傅里葉變換也可以使用運算時間高速化算法的短時高速傅里葉變換。其處理一部分可由軟件實施。
圖12所示為由小波變換對來自傳感器的信號進(jìn)行處理的一例流程圖。
圖中的運算機(jī)構(gòu)顯示進(jìn)行小波變換計算的機(jī)構(gòu)。該機(jī)構(gòu)進(jìn)行小波變換，對振動或壓力變化進(jìn)行多分辨率解析。其處理一部分可由軟件實施。
圖13所示為由帶通濾波器對來自傳感器的信號進(jìn)行處理的一例流程圖。
圖中的運算機(jī)構(gòu)顯示進(jìn)行帶通濾波器處理的計算。該機(jī)構(gòu)進(jìn)行帶通濾波器計算。對振動或壓力變化的多分辨率進(jìn)行分析計算。其處理一部分可由軟件實施。
圖14所示為由韋格納分布對來自傳感器的信號進(jìn)行處理的一例流程圖。
圖中的運算機(jī)構(gòu)顯示韋格納分布計算的機(jī)構(gòu)。該機(jī)構(gòu)進(jìn)行韋格納分布計算，對振動或壓力變化的多分辨率進(jìn)行分析計算。其處理一部分可由軟件實施。
圖8-圖14所記載的顯示機(jī)構(gòu)為表示凸起狀態(tài)的評價結(jié)果，該機(jī)構(gòu)可使用燈、發(fā)光二極管、CRT、液晶等顯示裝置。也可取代這些顯示裝置，將凸起狀態(tài)的評價結(jié)果用電氣、光學(xué)方式傳遞至其他裝置上。
上述顯示裝置在本發(fā)明中，可由各種適用方法，顯示檢測的凸起狀態(tài)或測得的凸起狀態(tài)的位置和大小，并顯示對照處理得到的結(jié)果，所述裝置可在帶狀或輥筒狀體的制造線上與本發(fā)明的檢測裝置組合，鄰接或隔開較大距離設(shè)置，以構(gòu)成生產(chǎn)系統(tǒng)。
例如，在由電鑄法制作鎳制環(huán)行帶，檢測該鎳制環(huán)行帶表面上是否存在凸起狀態(tài)時，在看到顯示結(jié)果，在同樣有電鑄模制得的鎳制帶上連續(xù)發(fā)生凸起狀態(tài)時，可以類推該電鑄裝置即金屬鑄模和電鑄液之間發(fā)生了問題。
連續(xù)在同一位置上檢測出凸起狀態(tài)時，可以得知金屬模上何處發(fā)生了問題。
即，在鎳電鑄液中產(chǎn)生雜質(zhì)突起物時，其發(fā)生位置是隨機(jī)的，但在金屬模上發(fā)生問題時產(chǎn)生突起物時，由于其發(fā)生凸起的位置常在同一處，因而可作上述判斷。
因此，籍由上述凸起狀態(tài)的檢測裝置的使用，可以得知電鑄模的狀態(tài)，可以降低不良產(chǎn)品的發(fā)生。
圖15所示為獲得本發(fā)明處理的帶狀體的一個、鎳制帶體的電熔鑄造裝置的一例的概念圖。
在圖15所示的電熔鑄造裝置例中，作為陰極的金屬模(21)，浸漬于收納有作為電熔鑄造液(23)的磺酸胺浴液的電鑄槽(22)內(nèi)，并被陰極盒體24所圍繞，所示陰極盒體24具有用于阻止成為氣體發(fā)生原因的陰離子通過的陰極縫隙。
又，鎳陽極(25)與金屬模(21)對應(yīng)地配置于電鑄槽(22)中，在陽極(25)和金屬模(21)的陰極之間，通過配線(30)、(31)外加有來自整流器(29)的電鑄用直流電流。
金屬模(21)的配置可籍由圖中未示的回轉(zhuǎn)裝置進(jìn)行回轉(zhuǎn)，又，電鑄槽(22)上配置有循環(huán)至電鑄槽(22)的電鑄液循環(huán)用管道(28)，以將疲勞的電鑄液(23)從電鑄槽(22)導(dǎo)出再生。電鑄液循環(huán)用管道(28)上設(shè)置有電鑄液過濾器(27)及循環(huán)泵(26)。
本發(fā)明的檢測方法如前所述，可對用于靜電照相圖像形成裝置的各自部件，檢測其表面上所有的“凸起狀態(tài)”，特別是可以檢測原本以往很難作為“凸起狀態(tài)”檢測的、形成平緩弧線的隆起或撓曲，或者，可以檢測微小的突起物等，再有，本發(fā)明的檢測方法也適用于所述部件的回收使用的檢測。
又，本發(fā)明的特征在于使用板狀體或安裝有傳感器的板狀體的“凸起狀態(tài)”的檢測方法不僅可使用于檢查對象物外周表面的檢測，也可用于帶狀體的內(nèi)側(cè)、例如，在金屬帶狀體內(nèi)面由噴鍍形成涂膜的帶狀體的涂膜表面的檢測。
再有，根據(jù)本發(fā)明的檢測方法，當(dāng)明確有“凸起狀態(tài)”存在的部件不符合于靜電照相圖像形成裝置中所使用的規(guī)格制品時，可以作為次品提出予以排除。因此，將本發(fā)明的檢測方法組合于部件的制造工序內(nèi)，可以形成高效率的生產(chǎn)系統(tǒng)。此時，可以設(shè)置上述的顯示裝置。
實施例以下，用實施例更具體地說明本發(fā)明，但本發(fā)明并不限于這些實施例。
首先，就作為檢查對象物的帶狀體之一的鎳制帶狀體的制作作一說明。
電鑄液的制作對氨基磺酸鎳液(日本化學(xué)產(chǎn)業(yè)株式會社制)350-600g/L添加鹵化鎳(氯化鎳或溴化鎳)5-30g/L、硼酸20-40g/L、冰晶石S(日本化學(xué)產(chǎn)業(yè)株式會社制)3適量，2-乙基硫酸鈉1-20g/L，作為添加劑，進(jìn)行配合，制得電鑄液400L。
電鑄條件使用圖5所示的裝置，陰極側(cè)使用不銹鋼制金屬模，陽極側(cè)使用鎳S顆粒(志村化工株式會社制)。通電時間為125A×30分鐘，金屬模轉(zhuǎn)速為6rpm，電鑄液溫度為50℃。
又，金屬模使用由SUS304制的配管用鋼管制作的的金屬模。該金屬模的上端部長約25mm。直徑細(xì)為1mm，該部分可用作析出的鎳膜的上端切落部。另外，下端部長約25mm。直徑細(xì)為1mm，該部分可用作下端切落部。其間部分為用于鎳制帶的析出部，其表面粗糙度約為0.5。
在上述電鑄條件下，制得50根直徑168mm、寬466mm、厚30μm的鎳制無接縫帶狀體。其次，切斷該鎳制帶狀體的二端，作成寬度420mm的帶狀體。從其中選擇凸起發(fā)生程度不一的鎳制帶狀體10根，作為評價的帶狀體。如此，準(zhǔn)備的帶狀體編號為帶1-帶10。
實施例1本實施例為使板狀抵接部件和帶狀體接觸，由接觸時發(fā)生的音響檢測凸起狀態(tài)的例子。
將如上所制得的10根鎳制帶狀體分別、順次安裝于如圖1及圖2所示的裝置上。在圖2中，使板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使安裝了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，辯聽來自板狀抵接部件(3)的聲音，調(diào)查聲音狀態(tài)。這里，作為板狀抵接部件，使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件的抵接角度設(shè)定于如圖3所示的B的角度45℃。鎳制帶子安裝的輥筒以25-35rpm轉(zhuǎn)速回轉(zhuǎn)。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價，結(jié)果如下。
確認(rèn)帶1和帶4分別發(fā)生一次音響，帶7發(fā)生二次音響。
在光學(xué)顯微鏡下觀察，檢測出帶1有高約45μm、直徑約50μm的凸起狀態(tài)，帶4有高約45μm、直徑約60μm的凸起狀態(tài)。
同樣，檢測出帶7有高約30μm、直徑約40μm的凸起狀態(tài)和高約25μm、直徑約50μm的凸起狀態(tài)，其間存在12mm的間隔。
關(guān)于其他帶子，幾乎沒有摩擦音，不能確認(rèn)由明確的凸起狀態(tài)所導(dǎo)致的聲音發(fā)生。結(jié)論，在實施例1中，可判斷帶1及帶4上各存在一個凸起狀態(tài)，帶7上存在2個凸起狀態(tài)，其他帶上不存在凸起狀態(tài)。
其結(jié)果示于表2。
實施例2本實施例為使帶有傳感器的板狀抵接部件檢測的信號，由峰值保持處理檢測凸起狀態(tài)的例子。
將如上所制得的10根鎳制帶狀體分別、順次安裝于如圖5所示的裝置上，使安裝了具有壓電元件的振動傳感器的板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使支承了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，用使用了壓電元件的振動傳感器檢測發(fā)生于板狀抵接部件(3)上的振動。
信號處理使用如圖9所示的處理流程。此處，板狀抵接部件使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件的抵接角度設(shè)定于如圖3所示的B的角度45℃。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價，結(jié)果如下。
對帶1、帶4及帶9分別檢測出一次凸起狀態(tài)，帶7檢測出二次凸起狀態(tài)。
這里，帶9檢測出的凸起狀態(tài)信號較帶1、帶4弱。在光學(xué)顯微鏡下觀察帶9的檢測信號，為高約25μm、直徑約30μm的凸起狀態(tài)，較帶1、帶4小。
又，帶1、帶4及帶7分別檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例1中檢測的凸起狀態(tài)。有高約45μm、直徑約60μm的凸起狀態(tài)。
結(jié)論，可判斷帶1、帶4及帶9上各存在一個凸起狀態(tài)，帶7上存在2個凸起狀態(tài)，其他帶上不存在凸起狀態(tài)。
其結(jié)果示于表2。
實施例3本實施例為從帶有傳感器的板狀抵接部件檢測信號，將由運算處理求得頻率分布和閾值進(jìn)行對照處理，檢測凸起狀態(tài)的例子。
將如上所制得的10根鎳制帶狀體分別、順次安裝于如圖5所示的裝置上，用安裝了帶壓電元件的振動傳感器的板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使安裝了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，檢測發(fā)生于板狀抵接部件(3)上的振動。
此處，板狀抵接部件使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件(3)的抵接角度設(shè)定于如圖3所示的B的角度30℃。
信號處理基于如圖10所示的處理流程。進(jìn)行傅里葉變換求得頻率分布。如此進(jìn)行凸起狀態(tài)的評價。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價，結(jié)果如下。
對帶1、帶4及帶9分別檢測出一次凸起狀態(tài)，帶7檢測出二次凸起狀態(tài)。
這里，帶9檢測出的凸起狀態(tài)信號較帶1、帶4弱。在光學(xué)顯微鏡下觀察帶9的檢測信號，為高約25μm、直徑約30μm的凸起狀態(tài)，較帶1、帶4小。
又，帶1、帶4及帶7、帶9分別檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例2中檢測的凸起狀態(tài)。
結(jié)論，在實施例3中，可判斷帶1、帶4及帶9上各存在一個凸起狀態(tài)，帶7上存在2個凸起狀態(tài)，其他帶上不存在凸起狀態(tài)。
其結(jié)果示于表2。
實施例4將如上所制得的10根鎳制帶狀體分別、順次安裝于如圖4所示的裝置上，用安裝了帶壓電元件的振動傳感器的板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使安裝了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，檢測發(fā)生于板狀抵接部件(3)上的振動。
信號處理使用如圖11所示的處理流程。進(jìn)行短時、高速傅里葉變換。又，短時、高速傅里葉變換為傅里葉變換處理時使用高速傅里葉變換處理的方法，可判斷，可以得到如同通常的短時傅里葉變換的結(jié)果。
此處，板狀抵接部件(3)使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件(3)的抵接角度設(shè)定于如圖3所示的B的角度45℃。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價，結(jié)果如下。
對帶1、帶4及帶9分別檢測出一次凸起狀態(tài)，帶7檢測出二次凸起狀態(tài)。
這里，帶9檢測出的凸起狀態(tài)信號較帶1、帶4弱。在光學(xué)顯微鏡下觀察帶9的檢測信號，為高約25μm、直徑約30μm的凸起狀態(tài)，較帶1、帶4小。
又，帶1、帶4及帶7、帶9分別檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例2中檢測的凸起狀態(tài)。
結(jié)論，在實施例3中，可判斷帶1、帶4及帶9上各存在一個凸起狀態(tài)，帶7上存在2個凸起狀態(tài)，其他帶上不存在凸起狀態(tài)。
其結(jié)果示于表2。
實施例5將如上所制得的10根鎳制帶狀體分別、順次安裝于如圖4所示的裝置上，使板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使安裝了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，用索尼公司制的電子電容式傳聲器檢測發(fā)生于板狀抵接部件(3)上的振動。
信號處理使用如圖12所示的處理流程。進(jìn)行小波變換。小波變換時的小波函數(shù)使用了8次的Daubechies函數(shù)。
此處，板狀抵接部件(3)使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件(3)的抵接角度設(shè)定于如圖3所示的B的角度45℃。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價，結(jié)果如下。
對帶1、帶3、帶4及帶9分別檢測出一次凸起狀態(tài)，帶7檢測出二次凸起狀態(tài)。這里，帶3、帶9檢測出的凸起狀態(tài)信號較帶1、帶4弱。在光學(xué)顯微鏡下觀察帶9的檢測信號，為高約40μm、直徑約150μm的平緩?fù)蛊馉顟B(tài)。
又，帶1、帶4及帶7、帶9分別檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例2中檢測的凸起狀態(tài)。
結(jié)果可以判斷，在帶1、帶3、帶4及帶9上各存在一個凸起狀態(tài)，帶7上存在2個凸起狀態(tài)，其他帶上不存在凸起狀態(tài)。
在本實施例中，首次檢測出在帶3上存在平緩形狀的凸起狀態(tài)，這是因為使用了小波變換作為多分辨率分析的信號處理方法，由此檢測出在帶3上存在平緩形狀的凸起狀態(tài)。
再有，除了將板狀抵接部件的抵接角度從30°變換為45°及80°之外，其他相同，反復(fù)進(jìn)行該實施例的內(nèi)容，其結(jié)果，在帶1、帶3、帶4及帶9上檢測出凸起狀態(tài)。結(jié)論，可以判斷當(dāng)板狀抵接部件的抵接角度在30°-80°之間時，凸起狀態(tài)的檢測能力沒有大的差別。
上述10根帶狀體的檢測結(jié)果示于表2。
在本實施例中，將檢查帶狀體(3)時傳聲器檢測的信號一例示于圖16。又，該信號的小波變換的結(jié)果示于圖17。
在圖16及圖17中，為判明來自凸起狀態(tài)檢測前的信號的變換狀況，顯示了檢測凸起狀態(tài)之前約12m秒的信號的變化。
圖16所示的檢測原信號在檢測凸起狀態(tài)后有較大的振幅，其后，基線大幅下降。對該信號進(jìn)行多分辨率分析的結(jié)果，圖17將原信號分為9個頻率，顯示其時間性的變化。
再看圖17，11-22KHz、5.5-11KHz、2.8-5.5KHz、1.4-2.8KHz的四個頻率段存在振動。又，取確認(rèn)，在43-86KHz的低頻率段也存在振動。然而，在86-1400Hz區(qū)域段不存在振動。如此，進(jìn)行多分辨率分析，可以不失去由傳感器得到的信號的時間信息，知道頻率分布的傾向。
因此，在凸起狀態(tài)的檢測和評價中，明確成為問題的頻率區(qū)域，對由傳感器所得到的振動信號進(jìn)行多分辨率分析，進(jìn)行成為問題的頻率的評價，即可以高精度地進(jìn)行評價。
例如，在圖16的舉例中，難以進(jìn)行優(yōu)良與否的判斷，但對此進(jìn)行多分辨率分析，則可得到圖17所示結(jié)果，僅對其1.4KHz以上的頻率區(qū)域判斷，可以排除圖16所示的低頻成分的影響，獲得更為正確的判斷。
此處，在對配合隆起的凸起狀態(tài)進(jìn)行檢測時，傳感器使用壓力變異傳感器，將由該傳感器所得到的信號如圖17所示地，進(jìn)行多分辨率分析，如了由低頻區(qū)域的信號變化進(jìn)行判斷，則可正確檢測。
實施例6本實施例為籍由將帶通濾波器處理作為多分辨率分析方法，檢測凸起狀態(tài)的例子。
將如上所制得的10根鎳制帶狀體安裝于如圖3所示的裝置上，使其內(nèi)側(cè)由輥筒支承，使板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使安裝了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，用索尼公司制的電子電容式傳聲器檢測發(fā)生于板狀抵接部件(3)上的振動。
信號處理使用如圖13所示的處理流程。由帶通濾波器進(jìn)行多分辨率分析。
此處，板狀抵接部件(3)使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件(3)的抵接角度設(shè)定于如圖3所示的B的角度45℃。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價，結(jié)果對帶1、帶3、帶4及帶9分別檢測出一次凸起狀態(tài)，帶7檢測出二次凸起狀態(tài)。上述檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例5中檢測的凸起狀態(tài)。
評價結(jié)果示于表2。
實施例7本實施例為籍由韋格納分布作為多分辨率分析方法，檢測凸起狀態(tài)的例子。將如上所制得的10根鎳制帶狀體安裝于如圖3所示的裝置上，使其內(nèi)側(cè)由輥筒支承，使板狀抵接部件(3)與其抵接，同時，使安裝了鎳制帶狀體的輥筒回轉(zhuǎn)，用索尼公司制的電子電容式傳聲器檢測發(fā)生于板狀抵接部件(3)上的振動。
信號處理使用如圖14所示的處理流程。求得韋格納分布。
此處，板狀抵接部件(3)使用雙軸延伸法制得的厚100μm、寬40mm、長420mm的聚酯薄膜。
又，板狀抵接部件(3)的抵接角度設(shè)定于如圖2所示的B的角度45℃。
對10根的鎳制帶子反復(fù)進(jìn)行上述操作，進(jìn)行凸起狀態(tài)評價的結(jié)果為；對帶1、帶3、帶4及帶9分別檢測出一次凸起狀態(tài)，帶7檢測出二次凸起狀態(tài)。這里，帶3、帶9檢測出的凸起狀態(tài)的韋格納分布較帶1、帶4低，可以推斷凸起狀態(tài)的大小低。又，這些檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例5中檢測的凸起狀態(tài)。
其結(jié)果示于表2。
比較例1本實施例為由以往使用的手觸法檢測凸起狀態(tài)的例子。
將鎳制帶狀體安裝于如圖1所示的裝置上，轉(zhuǎn)動鉸鏈(4)，使板狀抵接部件(3)不與其抵接。
其次，戴上30μm厚的聚酯手套，再在其上戴上凈室用聚酯纖維制的手套，轉(zhuǎn)動輥筒(1)，檢測其上凸起的有無。
其結(jié)果，確認(rèn)帶4及帶7存在凸起狀態(tài)，但未檢測出如實施例1-7可共同確認(rèn)的帶1的突起物，也無法檢測出在帶3、帶9上已確認(rèn)的凸起狀態(tài)。
如此進(jìn)行評價，其結(jié)果示于表2。
可以明白，由于該方法是在聚乙烯制手套上再設(shè)置聚乙烯纖維制手套，因此不適宜于檢測細(xì)微的凸起狀態(tài)。
在該方法中，可以考慮不使用聚乙烯制手套而僅使用聚乙烯纖維制手套，但用該方法如有手掌上的油脂粘附于被檢測面上的話，會成為發(fā)生不良的原因。另外，僅使用聚乙烯制手套也使觸摸體積變大，不適宜于檢測細(xì)微凸起狀態(tài)。可以考慮使用薄的橡膠制手套，但此時橡膠制手套與摩擦對象表面摩擦系數(shù)增大，難以用手套摩擦被檢測面進(jìn)行檢測。
比較例2本例為以往方法使用激光檢測凸起狀態(tài)的例子。
將鎳制帶狀體安裝于如圖1所示的裝置上，轉(zhuǎn)動鉸鏈(4)，使板狀抵接部件(3)不與其抵接。
其次，對評價對象的輥筒(1)照射激光，調(diào)查其散射情況。此處，激光1使用將波長780μm的激光收于光點徑60μm的激光。
該方法在帶1、4及帶8各檢測出一個凸起狀態(tài)，帶7檢測出二個凸起狀態(tài)。這里，帶1上檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例1-7檢測出的凸起狀態(tài)。
然而，帶4上檢測出的凸起狀態(tài)位于不同于實施例1-7檢測出的凸起狀態(tài)位置。
調(diào)查檢測的凸起狀態(tài)，為大小約20μm的不定形塵埃。
又，帶8在實施例1-7中未檢測出凸起狀態(tài)，但在本比較例中檢測出凸起狀態(tài)。進(jìn)一步調(diào)查，為粗約10μm、長約為70μm的纖維狀物。可見，本方法不僅檢測能力不充分，且將表面粘附的塵埃誤認(rèn)為凸起狀態(tài)。
如此進(jìn)行評價，其結(jié)果示于表2。
比較例3本實施例為如專利文獻(xiàn)3所公開的、使用其他輥筒抵接檢測對象物表面、檢測凸起狀態(tài)的例子。
將鎳制帶狀體安裝于作為其他輥筒的、具有外徑為15mm，寬420mm的輥筒。
該方法在帶2、7及帶8各檢測出一個凸起狀態(tài)。這里，帶1上檢測出的凸起狀態(tài)如同實施例1-7檢測出的凸起狀態(tài)。
然而，帶7上檢測出的凸起狀態(tài)在實施例1-7中檢測出2個，在本比較例中僅檢測出一個。則可以認(rèn)為是，帶7上的2個凸起狀態(tài)排列較近，由輥筒檢測時，只能檢測出一個的緣故。
又，帶8在實施例1-7中未檢測出凸起狀態(tài)，但在本比較例中檢測出凸起狀態(tài)。進(jìn)一步調(diào)查，為粗約10μm、長約為70μm的纖維狀物。其結(jié)果示于表2?？梢姡痉椒ú粌H檢測能力不充分，且將表面粘附的塵埃誤認(rèn)為凸起狀態(tài)。
上述評價結(jié)果示于表2。
靜電照相感光體的制成以下，將上述鎳制帶狀體為基體的靜電照相感光體按下述順序制成。
1.底涂層的形成在鎳制帶狀體基體面上由浸漬法涂布由下述組份組成的樹脂涂料，然后，在150℃下加熱10分鐘，使之硬化，在基體面上形成厚5μm的底涂層。
二氧化鈦 20重量份醇酸樹脂 10重量份三聚氰胺樹脂 10重量份甲乙酮 60重量份此處，醇酸樹脂使用大日本印墨化學(xué)工業(yè)公司制的Bekkosol 1307-60-EL產(chǎn)品，三聚氰胺樹脂使用大日本印墨化學(xué)工業(yè)公司制的Super Bekkamin G-821-60-產(chǎn)品，2.電荷發(fā)生層的形成其次，為在該底涂層上層積形成電荷發(fā)生層，配制由下述組份組成的樹脂涂料，同樣由浸漬法在所述基體上涂布該樹脂涂料。100℃下干燥10分鐘，使之在底涂層上層積形成電荷發(fā)生層。這里，丁縮醛樹脂為聯(lián)合碳化物公司制的XYHL產(chǎn)品。
丁縮醛樹脂 1重量份二重氮顏料(下式1)9重量份環(huán)己酮 30重量份四氫呋喃(THF)30重量份 3.電荷輸送層的形成其次，為在電荷發(fā)生層上層積形成電荷輸送層，配制由下述組份組成的樹脂涂料(涂布樹脂液)，同樣由浸漬法在所述基體上涂布該樹脂涂料。在120℃下干燥15分鐘，使之在電荷發(fā)生層上層積形成電荷輸送層。
聚碳酸酯樹脂10重量份電荷移動劑(下式2) 10重量份 二氯甲烷80重量份又，聚碳酸酯樹脂使用帝人公司制的Panlite K-1300產(chǎn)品。
如上所述，制得以鎳制帶狀體為基體的靜電照相感光體。此處，將由帶狀體〔1〕制得的靜電照相感光體編號為感光體(1)，將由帶狀體〔2〕制得的靜電照相感光體編號為感光體(2)。
圖像評價將如上制得的10根靜電照相感光體安裝于理光公司制全彩色激光打印機(jī)上，進(jìn)行圖像評價。
該激光打印機(jī)的激光波長為780nm，光束直徑為76μm，分辨率為600dpi。使用該全彩色打印機(jī)，輸出硬色調(diào)圖像，調(diào)查其中有無圖像缺陷，其結(jié)果示于表1。
表1

表2

從表1所示的圖像評價可以明白，感光體1、3、4、7、9上確認(rèn)存在點缺陷。這里，感光體3和感光體9的點缺陷極小，近于許可的范圍。
在實施例1中，可以充分檢測存在于帶子(1)、(4)、(7)上的凸起狀態(tài)。
在實施例2、3、4中，可以檢測出存在于帶子(9)上的凸起狀態(tài)，且檢測精度較高。在實施例2、3、4中，可以檢測出存在于帶子(9)上的凸起狀態(tài)，且檢測精度較高。
在實施例5、6、7中，可以檢測出存在于帶子(3)上的凸起狀態(tài)，且檢測精度充分地高。
權(quán)利要求
1.一種檢測方法，用于檢測存在于靜電照相圖像形成裝置用的部件表面上的凸起狀態(tài)，所述檢測方法系將構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀體或輥狀體作為檢測對象，使板狀抵接部件與其表面抵接，并作相對摩擦運動，籍此，檢測發(fā)生于該板狀抵接部件的振動及/或板狀抵接部件所受壓力變化，檢測存在于靜電照相圖像形成裝置用部件表面上的凸起狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，由至少一個輥筒從帶狀體內(nèi)側(cè)支承，并使該輥筒回轉(zhuǎn)進(jìn)行相對的摩擦，或者，使輥狀體回轉(zhuǎn)進(jìn)行所述相對摩擦運動。
3.如權(quán)利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，使檢測對象物和板狀抵接部件的抵接角度為30℃-80℃之間。
4.如權(quán)利要求1-3之任一項所述的檢測方法，其特征在于，使檢測對象物和板狀抵接部件的移動相對速度為5-100mm/秒。
5.如權(quán)利要求1-4之任一項所述的檢測方法，其特征在于，所述板狀抵接部件抵接檢測對象物表面的壓力為對整個抵接部寬度每1cm的0.00075N-0.0025N進(jìn)行。
6.如權(quán)利要求1-5之任一項所述的檢測方法，其特征在于，用聲音檢測所述振動。
7.如權(quán)利要求1-5之任一項所述的檢測方法，其特征在于，在所述板狀抵接部件上安裝傳感器，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測方法，其特征在于，使用安裝傳感器的所述板狀抵接部件，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，變換為電氣信號之后，將上述信號與由峰值保持器處理得到的最大強(qiáng)度值、閾值進(jìn)行對照處理。
9.如權(quán)利要求7所述的檢測方法，其特征在于，使用安裝傳感器的所述板狀抵接部件，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，變換為電氣信號之后，將上述信號與由演算處理得到的頻率分布、閾值進(jìn)行對照處理。
10.如權(quán)利要求7所述的檢測方法，其特征在于，使用安裝傳感器的所述板狀抵接部件，由所述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，變換為電氣信號之后，將由上述信號通過多分辨率分析的演算處理得到的值與閾值進(jìn)行對照處理。
11.如權(quán)利要求10項所述的檢測方法，其特征在于，所述多分辨率分析方法為選自下述(a)、(b)、(c)及(d)的方法之一(a)短時傅里葉變換法(b)小波變換法(c)韋格納分布求算法(d)使用帶通濾波器法。
12.如權(quán)利要求7-11之任一項所述的檢測方法，其特征在于，由所述傳感器按順向擦動對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測之后，在其檢測位置近旁，進(jìn)行逆向擦動，檢測振動及/或壓力變化，視需要，反復(fù)進(jìn)行順向的擦動檢測作業(yè)和逆向擦動的檢測作業(yè)，多次取入從該傳感器發(fā)出的信號。
13.如權(quán)利要求7-12之任一項所述的檢測方法，其特征在于，將多個傳感器安裝于板狀抵接部件的不同位置處，對該傳感器的檢測時間差及/或強(qiáng)度差進(jìn)行運算，求得凸起狀態(tài)的位置及/或大小。
14.如權(quán)利要求7-13之任一項所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測對象物為由電鑄法制造的金屬帶狀體。
15.一種用于靜電照相圖像形成裝置的部件的帶狀體或輥狀體的制造方法，其特征在于，在按上述第1-14項之任一項所述的檢測方法進(jìn)行凸起狀態(tài)的檢測之后，根據(jù)規(guī)定的基準(zhǔn)，判斷上述具有凸起狀態(tài)的部件是否為規(guī)格之外的產(chǎn)品。
16.一種檢測裝置，用于檢測對象物表面存在的凸起狀態(tài)，所述檢測裝置系將構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀體或輥狀體作為檢測對象，其特征在于該檢測裝置包括板狀抵接部件；驅(qū)動檢測對象物的機(jī)構(gòu)；用于使該板狀抵接部件抵接、離開檢測對象物的機(jī)構(gòu)；使板狀抵接部件與檢測對象物表面抵接，并作相對摩擦運動，檢測由此在該板狀抵接部件上發(fā)生的振動及/或板狀抵接部件所受壓力之變化，檢測存在于檢測對象物表面上的凸起狀態(tài)。
17.如權(quán)利要求16所述的檢測裝置，其特征在于，所述板狀抵接部件安裝至少一個傳感器。
18.如權(quán)利要求17所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置設(shè)有峰值保持處理機(jī)構(gòu)及對照處理機(jī)構(gòu)，由上述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，將檢測所得信號進(jìn)行變換而得電氣信號，上述峰值保持處理機(jī)構(gòu)對該電氣信號實行峰值保持處理，上述對照處理機(jī)構(gòu)將經(jīng)峰值保持處理所得的最大強(qiáng)度值與閾值進(jìn)行對照比較處理。
19.如權(quán)利要求17所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置設(shè)有運算處理機(jī)構(gòu)及對照處理機(jī)構(gòu)，由上述傳感器對上述振動及/或壓力變化進(jìn)行檢測，將檢測所得信號進(jìn)行變換而得電氣信號，上述運算處理機(jī)構(gòu)對該電氣信號實行多分辨率解析處理，上述對照處理機(jī)構(gòu)將經(jīng)運算處理所得的結(jié)果與閾值進(jìn)行對照比較處理。
20.如權(quán)利要求17-19之任一項所述的檢測裝置，其特征在于，所述板狀抵接部件的至少與檢測對象物抵接的抵接部的硬度在JIS K 7202標(biāo)準(zhǔn)所定的洛氏硬度65以上、140以下。
21.一種用于靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀體或輥狀體的生產(chǎn)系統(tǒng)，其特征在于，所述生產(chǎn)系統(tǒng)含有上述第16-20之任一項所述的檢測裝置。
22.如權(quán)利要求21所述的生產(chǎn)系統(tǒng)，其特征在于，所述生產(chǎn)系統(tǒng)設(shè)置有顯示裝置。
23.一種用于如權(quán)利要求17-22中所述的檢測裝置中的板狀抵接部件，其特征在于，所述板狀抵接部件安裝有傳感器。
全文摘要
本發(fā)明提供一種低成本、簡便檢測存在于帶狀及輥狀體內(nèi)外表面的“凸起狀態(tài)”的高精度檢測方法及裝置。本發(fā)明又提供一種檢測方法及檢測裝置，所述檢測方法及裝置可以低成本、簡便地對存在于構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置各部件中、帶狀體和輥狀體內(nèi)外表面上的“凸起狀態(tài)”進(jìn)行高精度檢測；特別是，對呈平緩曲線弧狀的隆起狀突出部、或微小凸起部分進(jìn)行高精度檢測。本發(fā)明又提供一種含有上述檢測方法的上述帶狀體和輥狀體的生產(chǎn)系統(tǒng)。所述方法系將構(gòu)成靜電照相圖像形成裝置用部件的帶狀或輥狀體作為檢測對象，使板狀抵接部件與其表面抵接，并作相對摩擦運動，籍此，檢測發(fā)生于該板狀抵接部件的振動及/或板狀抵接部件所受壓力變化，檢測存在于各部件表面上的凸起狀態(tài)。
文檔編號G03G21/00GK1405635SQ0214278
公開日2003年3月26日 申請日期2002年9月19日 優(yōu)先權(quán)日2001年9月19日
發(fā)明者鈴木一矢, 山崎純一 申請人:株式會社理光