一種方便調(diào)整的邁克爾遜干涉儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種方便調(diào)整的邁克爾遜干涉儀，包括分光板、補(bǔ)償板、第一平面反光鏡、第二平面反光鏡、觀察屏，還包括倒“L”形支架和支架底座，倒“L”形支架包括相互垂直的第一支架壁和第二支架壁，第一平面反光鏡與第二平面反光鏡分別吸附在第一支架壁與第二支架壁的表面。本發(fā)明可替代傳統(tǒng)邁克爾遜干涉儀用于干涉現(xiàn)象的觀察及測量，大大方便邁克爾遜干涉儀的調(diào)整，有效提高實(shí)驗(yàn)效率。
【專利說明】一種方便調(diào)整的邁克爾遜干涉儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于物理實(shí)驗(yàn)儀器領(lǐng)域，涉及一種光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器，具體為一種方便調(diào)整的邁克爾遜干涉儀。

【背景技術(shù)】
[0002]邁克爾遜干涉儀是常用的光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。邁克爾遜干涉儀包括兩塊分別獨(dú)立設(shè)置的平面反射鏡，兩塊平行放置的分光板與補(bǔ)償板，以及用于承接干涉花樣的觀察屏。分光板、補(bǔ)償板分別與兩塊平面反射鏡成45度角。分光板將入射光分成兩束分別射向兩塊平面反射鏡并經(jīng)平面反射鏡反射后產(chǎn)生干涉，補(bǔ)償板起補(bǔ)償光路光程的作用，用于使兩束相干光在玻璃介質(zhì)中的光程相等。邁克爾遜干涉儀調(diào)整的難點(diǎn)，是要將兩塊相互獨(dú)立設(shè)置的平面反射鏡調(diào)整至完全垂直狀態(tài)，此時(shí)方可觀察到同心圓環(huán)狀的等傾干涉花樣。實(shí)驗(yàn)中，兩平面反射鏡若稍不垂直，就可能造成干涉條紋變形甚至完全看不到干涉條紋，從而無法進(jìn)行后繼的光波波長測量等實(shí)驗(yàn)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的，是克服上述邁克爾遜干涉儀的不足，開發(fā)一種方便調(diào)整的邁克爾遜干涉儀。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:包括分光板、補(bǔ)償板、第一平面反光鏡、第二平面反光鏡、觀察屏，還包括倒“L”形支架和支架底座，所述倒“L”形支架包括第一支架壁、第二支架壁，第一支架壁與第二支架壁均為鐵質(zhì)光滑平面，第一支架壁與第二支架壁相互垂直構(gòu)成倒“L”形，倒“L”形支架固定在支架底座上可隨支架底座一起沿垂直第一支架壁的方向前后移動；第一平面反光鏡、第二平面反光鏡的背面均帶有磁性，第一平面反光鏡吸附在第一支架壁表面，第二平面反光鏡吸附在第二支架壁表面。
[0005]本發(fā)明的有益效果是:通過倒“L”形支架將第一平面反光鏡和第二平面反光鏡聯(lián)系在一起，由于倒“L”形支架的第一支架壁與第二支架壁相互垂直，可確保分別吸附在第一支架壁與第二支架壁表面的第一平面反光鏡與第二平面反光鏡的相互垂直，徹底解決邁克爾遜干涉儀中平面反光鏡調(diào)整的困難。本發(fā)明可替代傳統(tǒng)邁克爾遜干涉儀用于干涉現(xiàn)象的觀察及測量，大大方便邁克爾遜干涉儀的調(diào)整，有效提高實(shí)驗(yàn)效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0007]圖1是本發(fā)明的構(gòu)成示意圖。
[0008]圖2是本發(fā)明產(chǎn)生的干涉條紋圖。
[0009]圖中:1.光源,2.分光板,3.補(bǔ)償板,4.第一平面反光鏡,5.第二平面反光鏡，6.觀察屏，7.倒“L”形支架，71.第一支架壁，72.第二支架壁，73.支架底座，74.微調(diào)旋鈕。

【具體實(shí)施方式】
[0010]如圖1所示，本發(fā)明包括分光板2、補(bǔ)償板3、第一平面反光鏡4、第二平面反光鏡5、觀察屏6，還包括倒“L”形支架7和支架底座73，倒“L”形支架7包括第一支架壁71、第二支架壁72，第一支架壁71與第二支架壁72均為鐵質(zhì)光滑平面，第一支架壁71與第二支架壁72相互垂直構(gòu)成倒“L”形，倒“L”形支架7固定在支架底座73上可隨支架底座73 —起沿垂直第一支架壁71的方向前后移動以改變光路的光程差；第一平面反光鏡4、第二平面反光鏡5的背面均帶有磁性，第一平面反光鏡4吸附在第一支架壁71表面，第二平面反光鏡5吸附在第二支架壁72表面。
[0011]實(shí)驗(yàn)光路如圖1中虛線所示，光源I發(fā)出的光射到分光板2時(shí)分成兩束，分別垂直射向第一平面反光鏡4、第二平面反光鏡5，并經(jīng)第一平面反光鏡4、第二平面反光鏡5反射后在觀察屏6上呈現(xiàn)干涉花樣。如圖2所示，干涉條紋為一組內(nèi)疏、外密的同心圓環(huán)。為便于觀察到更多類型的干涉花樣，垂直第二支架壁72穿設(shè)微調(diào)旋鈕74，用于微調(diào)第二平面反光鏡5的傾斜度。
【權(quán)利要求】
1.一種方便調(diào)整的邁克爾遜干涉儀，包括分光板(2)、補(bǔ)償板(3)、第一平面反光鏡(4)、第二平面反光鏡(5)、觀察屏(6)，其特征在于:還包括倒“L”形支架(7)和支架底座(73)，倒“L”形支架(7)包括第一支架壁(71)、第二支架壁(72)，第一支架壁(71)與第二支架壁(72)均為鐵質(zhì)光滑平面，第一支架壁(71)與第二支架壁(72)相互垂直構(gòu)成倒“L”形，倒“L”形支架(7)固定在支架底座(73)上可隨支架底座(73) —起沿垂直第一支架壁(71)的方向前后移動；第一平面反光鏡(4)、第二平面反光鏡(5)的背面均帶有磁性，第一平面反光鏡(4)吸附在第一支架壁(71)表面，第二平面反光鏡(5)吸附在第二支架壁(72)表面。
【文檔編號】G09B23/22GK104318839SQ201410655819
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年11月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月17日
【發(fā)明者】陳健, 朱純, 朱云 申請人:江南大學(xué)