顯示裝置及其測試線路修復方法
【專利摘要】本發(fā)明實施例公開了一種顯示裝置及其測試線路修復方法，所述方法包括：A、通過激光切斷方式斷開第一連接和第二連接，其中，所述第一連接為所述顯示裝置的第一薄膜晶體管的第一輸入端與測試信號輸入線之間的連接，所述第二連接為所述第一薄膜晶體管的第一輸出端與測試信號輸出線之間連接；B、通過激光焊接方式將所述顯示裝置中的第一備用線與所述測試信號輸出線相連，其中，所述顯示裝置中的第二薄膜晶體管的第二輸入端與所述測試信號輸入線相連，所述第二薄膜晶體管的第二輸出端與所述第一備用線相連。本發(fā)明實施例能夠使得顯示裝置的寬長比不會發(fā)生改變，從而不會在點燈檢測時發(fā)生顯示異常。
【專利說明】顯示裝置及其測試線路修復方法
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明涉及平板顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種顯示裝置及其測試線路修復方法?！尽颈尘凹夹g(shù)】】
[0002]傳統(tǒng)的顯示面板檢測技術(shù)一般為:
[0003]如圖1所示，使用一薄膜晶體管(TFT, Thin Film Transistor) 100來作為開關(guān)。其中，該薄膜晶體管100的漏極(Drain) 102與檢測信號源連接，該薄膜晶體管100的源極(Source) 103與顯示面板內(nèi)的柵極線(Gate Line) /數(shù)據(jù)線(Data Line)連接,而該薄膜晶體管100的柵極(Gate) 101則與控制信號源連接。
[0004]在檢測/測試過程中，該控制信號源向該柵極101輸出高電平信號(高電位信號)，從而打開該開關(guān)100，即，使得該源極103和該漏極102導通。在檢測/測試結(jié)束后，該控制信號源向該柵極101輸出低電平信號(低電位信號)，從而關(guān)閉該開關(guān)100，即，切斷該測試信號源與該柵極線/數(shù)據(jù)線之間的連接。
[0005]在制程中，由于顆粒(Particle)的存在，上述薄膜晶體管100的源極103和漏極102之間可能發(fā)生短路，例如，如圖2所示，在區(qū)域104處發(fā)生短路。對于上述技術(shù)方案，在發(fā)生短路的情況下，傳統(tǒng)的修 復方案為:
[0006]使用激光在切斷部105處切斷。
[0007]在實踐中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題:
[0008]一、如果不對上述發(fā)生短路的線路(Circuit)進行修復，或者采用傳統(tǒng)的方式來對上述發(fā)生短路的線路進行修復，則會使得該薄膜晶體管100的寬長比(W/L，Width/Length)發(fā)生改變，在對顯示面板進行點燈檢測時可能會由于線路阻抗的差異造成畫面異常，或者會在出現(xiàn)線不良(Line Defect)的現(xiàn)象，從而導致誤判，造成不必要的報廢損失。
[0009]二、對諸如 PSVA (Polymer Stabilized Vertical Alignment,聚合物穩(wěn)定化垂直配向)模式的顯示面板進行固化(Curing)的過程中，如果上述薄膜晶體管100的源極103和漏極102之間出現(xiàn)上述短路的情況，在不修復或者使用上述傳統(tǒng)的方式進行修復時，可能會造成顯示面板永久性的線不良。
[0010]故，有必要提出一種新的技術(shù)方案，以解決上述技術(shù)問題。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0011]本發(fā)明的目的在于提供一種顯示裝置及其測試線路修復方法，其能使得顯示裝置的寬長比不會發(fā)生改變，從而不會在點燈檢測時發(fā)生顯示異常率。
[0012]為解決上述問題，本發(fā)明實施例的技術(shù)方案如下:
[0013]一種顯示裝置，包括:一顯示面板；所述顯示面板包括:一第一薄膜晶體管陣列，所述第一薄膜晶體管陣列包括至少一第一薄膜晶體管；一第二薄膜晶體管陣列，所述第二薄膜晶體管陣列包括至少一第二薄膜晶體管；以及至少一第一備用線；其中，所述第一薄膜晶體管與所述第二薄膜晶體管相鄰，所述第二薄膜晶體管與測試信號輸入線和所述第一備用線相連；在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第一薄膜晶體管的第一輸入端用于通過激光切斷方式斷開與所述測試信號輸入線之間的第一連接，所述第一薄膜晶體管的第一輸出端用于通過所述激光切斷方式斷開與測試信號輸出線之間的第二連接，所述第一備用線用于通過激光焊接方式與所述測試信號輸出線相連。
[0014]在上述顯示裝置中，所述顯示面板還包括:一控制信號線陣列，所述控制信號線陣列包括至少一控制信號線；所述第一薄膜晶體管的第一控制端和所述第二薄膜晶體管的第二控制端均與所述控制信號線連接，在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第二控制端用于通過所述控制信號線接收控制信號。
[0015]在上述顯示裝置中，所述第二薄膜晶體管的第二輸入端與所述測試信號輸入線相連，所述第二薄膜晶體管的第二輸出端與所述第一備用線相連。
[0016]在上述顯示裝置中，所述第一備用線包括第一分段、第二分段和第三分段；所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之間，所述第二分段與所述第二輸出端相連；在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第二分段用于通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸出線相連，所述第一分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第二分段之間的第三連接，所述第三分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第二分段之間的第四連接。
[0017]在上述顯示裝置中，所述第一備用線包括第一末端和第二末端，所述第一末端與所述第二輸出端相連，所述第二末端設(shè)置于所述測試信號輸出線相對所述第一末端的另一偵h在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第一備用線通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸出線相連。
[0018]在上述顯示裝置中，所述顯示面板還包括:至少一第二備用線，所述第二備用線包括第四分段、第五分段和第六分段；所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之間，所述第五分段與所述第二輸入端相連；在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第五分段用于通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸入線相連，所述第四分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第五分段之間的第五連接，所述第六分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第五分段之間的第六連接。
[0019]一種顯示裝置的測試線路修復方法，包括:A、通過激光切斷方式斷開第一連接和第二連接，其中，所述第一連接為所述顯示裝置的第一薄膜晶體管的第一輸入端與測試信號輸入線之間的連接，所述第二連接為所述第一薄膜晶體管的第一輸出端與測試信號輸出線之間連接；B、通過激光焊接方式將所述顯示裝置中的第一備用線與所述測試信號輸出線相連，其中，所述顯示裝置中的第二薄膜晶體管的第二輸入端與所述測試信號輸入線相連，所述第二薄膜晶體管的第二輸出端與所述第一備用線相連。
[0020]在上述顯示裝置的測試線路修復方法中，所述步驟B包括:B1、通過所述激光焊接方式將所述第一備用線的第二分段與所述測試信號輸出線相連；所述方法還包括:C、通過所述激光切斷方式斷開第三連接和第四連接，其中，所述第三連接為所述第一備用線的第一分段和所述第二分段之間的連接，所述第四連接為所述第一備用線的第三分段和所述第二分段之間的連接；其中，所述第二輸出端與所述第二分段相連，所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之間。
[0021]在上述顯示裝置的測試線路修復方法中，所述方法還包括:D、通過所述激光焊接方式將所述第一備用線與所述測試信號輸出線相連；其中，所述第一備用線包括第一末端和第二末端，所述第一末端與所述第二輸出端相連，所述第二末端設(shè)置于所述測試信號輸出線相對所述第一末端的另一側(cè)。
[0022]在上述顯示裝置的測試線路修復方法中，所述方法還包括:E、通過所述激光切斷方式斷開第五連接和第六連接，其中，所述第五連接為所述顯示裝置的第二備用線的第四分段與第五分段之間的連接，所述第六連接為所述顯示裝置的第二備用線的第六分段與所述第五分段之間的連接；F、通過所述激光焊接方式將所述第五分段與所述測試信號輸入線相連；其中，所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之間，所述第五分段與所述第二輸入端相連。
[0023]相對現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實施例能夠使得顯示裝置的寬長比不會發(fā)生改變，從而不會在點燈檢測時發(fā)生顯示異常，不會發(fā)生誤判，同時能夠減少在顯示面板固化的過程中出現(xiàn)線不良的現(xiàn)象，即，有利于提高顯示面板的良率。
[0024]為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉優(yōu)選實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下:
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0025]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中對顯示面板進行檢測的技術(shù)方案的示意圖；
[0026]圖2為圖1中的薄膜晶體管在發(fā)生短路時的修復方案的示意圖；
[0027]圖3A為本發(fā)明的顯示裝置的第一實施例的示意圖；
[0028]圖3B為圖3A中修復方式的示意圖；
[0029]圖4A為本發(fā)明的顯示裝置的第二實施例的示意圖；
[0030]圖4B為圖4A中修復方式的示意圖；
[0031]圖5A為本發(fā)明的顯示裝置的第三實施例的示意圖；
[0032]圖5B為圖5A中修復方式的示意圖。
【【具體實施方式】】
[0033]以下各實施例的說明是參考附加的圖式，用以例示本發(fā)明可用以實施的特定實施例。
[0034]本說明書所使用的詞語“實施例”意指用作實例、示例或例證。全文描述為“實施例”任意方面或設(shè)計不必被解釋為比其他方面或設(shè)計更有利。相反，詞語“實施例”的使用旨在以具體方式提出概念。本說明書和所附權(quán)利要求中所使用的冠詞“一” 一般地可以被解釋為意指“一個或多個”，除非另外指定或從上下文清楚導向單數(shù)形式。
[0035]參考圖3A和圖3B，圖3A為本發(fā)明的顯示裝置的第一實施例的示意圖，圖3B為圖3A中修復方式的示意圖。圖3B中圓點“籲”對應(yīng)的是激光焊接的位置，而交叉“X”對應(yīng)的是激光切斷的位置。
`[0036]本實施例的顯示裝置包括顯示面板300，其中，所述顯示面板300包括第一薄膜晶體管陣列、第二薄膜晶體管陣列以及至少一第一備用線(Dummy Line)306。所述第一薄膜晶體管陣列包括至少一第一薄膜晶體管303，所述第二薄膜晶體管陣列包括至少一第二薄膜晶體管304。所述第二薄膜晶體管304是所述第一薄膜晶體管303的備用薄膜晶體管(DummyThin Film Transistor),所述第二薄膜晶體管304用于在所述第一薄膜晶體管303出現(xiàn)短路的情況下對顯示裝置/顯示面板300進行修復。
[0037]其中，所述第一薄膜晶體管303與所述第二薄膜晶體管304相鄰，所述第二薄膜晶體管304與測試信號輸入線301和所述第一備用線306相連。
[0038]在所述第一薄膜晶體管303發(fā)生短路的情況下，所述第一薄膜晶體管303的第一輸入端用于通過激光切斷方式斷開與所述測試信號輸入線301之間的第一連接，所述第一薄膜晶體管303的第一輸出端用于通過所述激光切斷方式斷開與測試信號輸出線307之間的第二連接，所述第一備用線306用于通過激光焊接方式與所述測試信號輸出線307相連。其中，所述第一輸入端為所述第一薄膜晶體管303的源極/漏極，相對應(yīng)地，所述第一輸出端為所述第一薄膜晶體管303的漏極/源極。
[0039]所述顯示面板300還包括控制信號線陣列，所述控制信號線陣列包括至少一控制信號線302。
[0040]所述第一薄膜晶體管303的第一控制端和所述第二薄膜晶體管304的第二控制端均與所述控制信號線302連接，在所述第一薄膜晶體管303發(fā)生短路的情況下，所述第二控制端用于通過所述控制信號線302接收控制信號，以根據(jù)所述控制信號打開或關(guān)閉第二薄膜晶體管304所對應(yīng)的開關(guān)。所述第二薄膜晶體管304的第二輸入端與所述測試信號輸入線301相連，所述第二薄膜晶體管304的第二輸出端與所述第一備用線306相連。
[0041]在本實施例中，所述第一備用線306包括第一分段3061、第二分段3062和第三分段3063。其中，所述第二分段3062位于所述第一分段3061和所述第三分段3063之間，所述第二分段3062與所述第二輸出端相連。
[0042]在所述第一薄膜晶體管303發(fā)生短路的情況下，所述第二分段3062用于通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸出線307相連，所述第一分段3061用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第二分段3062之間的第三連接，所述第三分段3063用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第二分段3062之間的第四連接。
[0043]在本實施例中，對顯示裝置進行修復的方式是:切斷出現(xiàn)問題的薄膜晶體管(例如，發(fā)生短路的第一薄膜晶體管303)與測試信號線301以及數(shù)據(jù)線/柵極線(對應(yīng)測試信號輸出線307)的連接(第一連接和第二連接)，讓測試信號線301中的測試信號經(jīng)過備用的薄膜晶體管(第二薄膜晶體管304)進入顯示面板300內(nèi)部的顯示區(qū)，最后將第一備用線306切斷。經(jīng)過修復后，測試信號導通的路徑如圖3B中箭頭所示。
[0044]本實施例對顯示裝置進行修復的方式總共需要進行四次激光切斷和一次激光焊接。
[0045]參考圖4A和圖4B，圖4A為本發(fā)明的顯示裝置的第二實施例的示意圖，圖4B為圖4A中修復方式的不意圖。本實施例與上述第一實施例相似，不同之處在于:
[0046]在本實施例中，所述第一備用線306包括第一末端和第二末端,所述第一末端與所述第二輸出端相連，所述第二末端設(shè)置于所述測試信號輸出線307相對所述第一末端的另一側(cè)。
[0047]在所述第一薄膜晶體管303發(fā)生短路的情況下，所述第一備用線306通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸出線307相連。
[0048]本實施例對顯示裝置進行修復的方式總共需要進行兩次激光切斷和一次激光焊接。
[0049]參考圖5A和圖5B，圖5A為本發(fā)明的顯示裝置的第三實施例的示意圖，圖5B為圖5A中修復方式的不意圖。本實施例與上述第一或第二實施例相似，不同之處在于:
[0050]在本實施例中，所述顯示面板300還包括至少一第二備用線305，所述第二備用線305包括第四分段3051、第五分段3052和第六分段3053。其中，所述第五分段3052位于所述第四分段3051和所述第六分段3053之間，所述第五分段3052與所述第二輸入端相連。
[0051]在所述第一薄膜晶體管303發(fā)生短路的情況下，所述第五分段3052用于通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸入線301相連，所述第四分段3051用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第五分段3052之間的第五連接，所述第六分段3053用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第五分段3052之間的第六連接。
[0052]本實施例對顯示裝置進行修復的方式總共需要進行六次激光切斷和兩次激光焊接。
[0053]在上述第一至第三實施例中的任意一個實施例中，優(yōu)選地，所述第二薄膜晶體管304與所述第一薄膜晶體管303完全相同，即所述第二薄膜晶體管304與所述第一薄膜晶體管303在尺寸、屬性等方面均相同或大致相似。因此，在使用上述技術(shù)方案對顯示裝置進行修復后，顯示裝置的整個線路的阻抗不會發(fā)生變化。
[0054]在上述任意一個實施例中，由于使用所述第二薄膜晶體管304 (備用的薄膜晶體管)來對顯示裝置進行修復，因此能夠使得顯示裝置的寬長比不會發(fā)生改變，從而不會在點燈檢測時發(fā)生顯示異常，不會發(fā)生誤判，同時減少了在顯示面板300固化的過程中出現(xiàn)線不良的現(xiàn)象，即，有利于提聞顯不面板300的良率。
[0055]參考圖3A和圖3B，圖3A和圖3B為本發(fā)明的顯示裝置的修復方法的第一實施例的示意圖。圖3B中圓點“.”對應(yīng)的是激光焊接的位置，而交叉“X”對應(yīng)的是激光切斷的位置。本實施例的顯示裝置的測試線路修復方法包括:
[0056]A、通過激光切斷方式斷開第一連接和第二連接，其中，所述第一連接為所述顯示裝置的第一薄膜晶體管303的第一輸入端與測試信號輸入線301之間的連接，所述第二連接為所述第一薄膜晶體管303的第一輸出端與測試信號輸出線307之間連接。
[0057]B、通過激光焊接方式將所述顯示裝置中的第一備用線306與所述測試信號輸出線307相連，其中，所述顯示裝置中的第二薄膜晶體管304的第二輸入端與所述測試信號輸入線301相連，所述第二薄膜晶體管304的第二輸出端與所述第一備用線306相連。
[0058]在本實施例中，所述步驟B包括:
[0059]B1、通過所述激光焊接方式將所述第一備用線306的第二分段3062與所述測試信號輸出線307相連。
[0060]在本實施例中，所述方法還包括:
[0061]C、通過所述激光切斷方式斷開第三連接和第四連接，其中，所述第三連接為所述第一備用線306的第一分段3061和所述第二分段3062之間的連接，所述第四連接為所述第一備用線306的第三分段3063和所述第二分段3062之間的連接。
[0062]其中，所述第二輸出端與所述第二分段3062相連，所述第二分段3062位于所述第一分段3061和所述第三分段3063之間。所述第二薄膜晶體管304的第二輸入端與所述測試信號輸入線301相連，所述第二薄膜晶體管304的第二輸出端通過所述第二分段3062與所述第一備用線306相連。所述第一輸入端為所述第一薄膜晶體管303的源極/漏極，相對應(yīng)地，所述第一輸出端為所述第一薄膜晶體管303的漏極/源極。
[0063]在本實施例中，在所述第一薄膜晶體管303發(fā)生短路的情況下，所述第二薄膜晶體管304的第二控制端通過所述顯示裝置中的控制信號線302接收控制信號，以根據(jù)所述控制信號打開或關(guān)閉第二薄膜晶體管304所對應(yīng)的開關(guān)。
[0064]在本實施例中，所述第二薄膜晶體管304是作為所述第一薄膜晶體管303的備用薄膜晶體管，所述第二薄膜晶體管304用于在所述第一薄膜晶體管303出現(xiàn)短路的情況下對顯示裝置/顯示面板300進行修復。
[0065]在本實施例中，對顯示裝置進行修復的方式是:切斷出現(xiàn)問題的薄膜晶體管(例如，發(fā)生短路的第一薄膜晶體管303)與測試信號線301以及數(shù)據(jù)線/柵極線(對應(yīng)測試信號輸出線307)的連接(第一連接和第二連接)，讓測試信號線301中的測試信號經(jīng)過備用的薄膜晶體管(第二薄膜晶體管304)進入顯示面板300內(nèi)部的顯示區(qū)，最后將第一備用線306切斷。經(jīng)過修復后，測試信號導通的路徑如圖3B中箭頭所示。
[0066]本實施例對顯示裝置進行修復的方式總共需要進行四次激光切斷和一次激光焊接。
[0067]在本實施例中，各步驟的執(zhí)行不區(qū)分先后次序，S卩，各步驟可以按照任意次序來執(zhí)行。
[0068]參考圖4A和圖4B，圖4A和圖4B為本發(fā)明的顯示裝置的修復方法的第二實施例的示意圖。本實施例與上述第一實施例相似，不同之處在于:
[0069]在本實施例中，所述方法還包括:
[0070]D、通過所述激光焊接方式將所述第一備用線306與所述測試信號輸出線307相連。
[0071]其中，所述第一備用線306包括第一末端和第二末端，所述第一末端與所述第二輸出端相連，所述第二末端設(shè)置于所述測試信號輸出線307相對所述第一末端的另一側(cè)。
[0072]本實施例對顯示裝置進行修復的方式總共需要進行兩次激光切斷和一次激光焊接。
[0073]在本實施例中，各步驟的執(zhí)行不區(qū)分先后次序，S卩，各步驟可以按照任意次序來執(zhí)行。
[0074]參考圖5A和圖5B，圖5A和圖5B為本發(fā)明的顯示裝置的修復方法的第三實施例的示意圖。本實施例與上述第一或第二實施例相似，不同之處在于:
[0075]在本實施例中，所述方法還包括:
[0076]E、通過所述激光切斷方式斷開第五連接和第六連接，其中，所述第五連接為所述顯示裝置的第二備用線305的第四分段3051與第五分段3052之間的連接，所述第六連接為所述顯示裝置的第二備用線305的第六分段3053與所述第五分段3052之間的連接。
[0077]F、通過所述激光焊接方式將所述第五分段3052與所述測試信號輸入線301相連。
[0078]其中，所述第五分段3052位于所述第四分段3051和所述第六分段3053之間，所述第五分段3052與所述第二輸入端相連。
[0079]本實施例對顯示裝置進行修復的方式總共需要進行六次激光切斷和兩次激光焊接。[0080]在本實施例中，各步驟的執(zhí)行不區(qū)分先后次序，S卩，各步驟可以按照任意次序來執(zhí)行。
[0081]在上述第一至第三實施例中的任意一個實施例中，優(yōu)選地，所述第二薄膜晶體管304與所述第一薄膜晶體管303完全相同，即所述第二薄膜晶體管304與所述第一薄膜晶體管303在尺寸、屬性等方面均相同或大致相似。因此，在使用上述技術(shù)方案對顯示裝置進行修復后，顯示裝置的整個線路的阻抗不會發(fā)生變化。
[0082]在上述任意一個實施例中，由于使用所述第二薄膜晶體管304 (備用的薄膜晶體管)來對顯示裝置進行修復，因此能夠使得顯示裝置的寬長比不會發(fā)生改變，從而不會在點燈檢測時發(fā)生顯示異常，不會發(fā)生誤判，同時減少了在顯示面板300固化的過程中出現(xiàn)線不良的現(xiàn)象，即，有利于提聞顯不面板300的良率。
[0083]盡管已經(jīng)相對于一個或多個實現(xiàn)方式示出并描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員基于對本說明書和附圖的閱讀和理解將會想到等價變型和修改。本發(fā)明包括所有這樣的修改和變型，并且僅由所附權(quán)利要求的范圍限制。此外，盡管本說明書的特定特征已經(jīng)相對于若干實現(xiàn)方式中的僅一個被公開，但是這種特征可以與如可以對給定或特定應(yīng)用而言是期望和有利的其他實現(xiàn)方式的一個或多個其他特征組合。而且，就術(shù)語“包括”、“具有”、“含有”或其變形被用在【具體實施方式】或權(quán)利要求中而言，這樣的術(shù)語旨在以與術(shù)語“包含”相似的方式包括。
[0084]綜上所述，雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實施例揭露如上，但上述優(yōu)選實施例并非用以限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍以權(quán)利要求界定的范圍為準。
【權(quán)利要求】
1.一種顯示裝置，包括: 一顯不面板； 其特征在于，所述顯示面板包括: 一第一薄膜晶體管陣列，所述第一薄膜晶體管陣列包括至少一第一薄膜晶體管； 一第二薄膜晶體管陣列，所述第二薄膜晶體管陣列包括至少一第二薄膜晶體管；以及 至少一第一備用線； 其中，所述第一薄膜晶體管與所述第二薄膜晶體管相鄰，所述第二薄膜晶體管與測試信號輸入線和所述第一備用線相連； 在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第一薄膜晶體管的第一輸入端用于通過激光切斷方式斷開與所述測試信號輸入線之間的第一連接，所述第一薄膜晶體管的第一輸出端用于通過所述激光切斷方式斷開與測試信號輸出線之間的第二連接，所述第一備用線用于通過激光焊接方式與所述測試信號輸出線相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述顯示面板還包括: 一控制信號線陣列，所述控制信號線陣列包括至少一控制信號線； 所述第一薄膜晶體管的第一控制端和所述第二薄膜晶體管的第二控制端均與所述控制信號線連接，在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第二控制端用于通過所述控制信號線接收控制信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，所述第二薄膜晶體管的第二輸入端與所述測試信號輸入線相連，所述第二薄膜晶體管的第二輸出端與所述第一備用線相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，所述第一備用線包括第一分段、第二分段和第三分段； 所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之間，所述第二分段與所述第二輸出端相連； 在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第二分段用于通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸出線相連，所述第一分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第二分段之間的第三連接，所述第三分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第二分段之間的第四連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，所述第一備用線包括第一末端和第二末端，所述第一末端與所述第二輸出端相連，所述第二末端設(shè)置于所述測試信號輸出線相對所述第一末端的另一側(cè)； 在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第一備用線通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸出線相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，所述顯示面板還包括: 至少一第二備用線，所述第二備用線包括第四分段、第五分段和第六分段； 所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之間，所述第五分段與所述第二輸入端相連； 在所述第一薄膜晶體管發(fā)生短路的情況下，所述第五分段用于通過所述激光焊接方式與所述測試信號輸入線相連，所述第四分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第五分段之間的第五連接，所述第六分段用于通過所述激光切斷方式斷開與所述第五分段之間的第六連接。
7.—種如權(quán)利要求1所述的顯示裝置的測試線路修復方法，其特征在于，包括: A、通過激光切斷方式斷開第一連接和第二連接，其中，所述第一連接為所述顯示裝置的第一薄膜晶體管的第一輸入端與測試信號輸入線之間的連接，所述第二連接為所述第一薄膜晶體管的第一輸出端與測試信號輸出線之間連接； B、通過激光焊接方式將所述顯示裝置中的第一備用線與所述測試信號輸出線相連，其中，所述顯示裝置中的第二薄膜晶體管的第二輸入端與所述測試信號輸入線相連，所述第二薄膜晶體管的第二輸出端與所述第一備用線相連。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置的測試線路修復方法，其特征在于，所述步驟B包括: B1、通過所述激光焊接方式將所述第一備用線的第二分段與所述測試信號輸出線相連； 所述方法還包括: C、通過所述激光切斷方式斷開第三連接和第四連接，其中，所述第三連接為所述第一備用線的第一分段和所述第二分段之間的連接，所述第四連接為所述第一備用線的第三分段和所述第二分段之間的連接； 其中，所述第二輸出端與所述第二分段相連，所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置的測試線路修復方法，其特征在于，所述方法還包括: D、通過所述激光焊接方式將所述第一備用線與所述測試信號輸出線相連； 其中，所述第一備用線包括第一末端和第二末端，所述第一末端與所述第二輸出端相連，所述第二末端設(shè)置于所述測試信號輸出線相對所述第一末端的另一側(cè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置的測試線路修復方法，其特征在于，所述方法還包括: E、通過所述激光切斷方式斷開第五連接和第六連接，其中，所述第五連接為所述顯示裝置的第二備用線的第四分段與第五分段之間的連接，所述第六連接為所述顯示裝置的第二備用線的第六分段與所述第五分段之間的連接； F、通過所述激光焊接方式將所述第五分段與所述測試信號輸入線相連； 其中，所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之間，所述第五分段與所述第二輸入端相連。
【文檔編號】G09G3/20GK103680370SQ201310693323
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月17日
【發(fā)明者】杜鵬, 施明宏 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司