專利名稱：顯示面板及其檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種顯示面板及其檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示裝置(LiquidCrystal Display, LCD)及有機(jī)發(fā)光二極管(Organiclight emitting diode, OLED)顯示裝置因具有外型輕薄、省電以及無(wú)福射等優(yōu)點(diǎn)，目前已被普遍地應(yīng)用于多媒體播放器、行動(dòng)電話、個(gè)人數(shù)位助理(PDA)、電腦顯示器(monitor)、或平面電視等電子產(chǎn)品上。為了降低制造成本及提升面板合格率，通常廠商在顯示器出貨前會(huì)先實(shí)施檢測(cè)步驟，例如檢測(cè)面板像素中是否存在亮點(diǎn)及暗點(diǎn)的缺陷。然而，就現(xiàn)有的面板檢測(cè)方法而言，若面板中電性連接于像素的相鄰數(shù)據(jù)線之間有短路的情形，本來(lái)無(wú)法正常根據(jù)信號(hào)工作的故障像素亦有可能透過(guò)短路的方式而發(fā)亮，而無(wú)法完全檢測(cè)出全部的故障像素，導(dǎo)致產(chǎn)品的合格率難以改善。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一是提供一種顯示面板及其檢測(cè)方法，可以完全檢測(cè)出全部故障像素，提聞廣品的合格率。為達(dá)上述目的，本發(fā)明的一實(shí)施例關(guān)于一種顯示面板，包括第一基板、多個(gè)像素單元、多條第一信號(hào)線、第一測(cè)試線及第二測(cè)試線。該第一基板具有顯示區(qū)與周邊區(qū)，該些像素單元陣列排列設(shè)于該顯示區(qū)上，該些第一信號(hào)線設(shè)置于該周邊區(qū)上且分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第一信號(hào)線包括多個(gè)第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線，該些第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線交替排列，每一該些第一組子信號(hào)線及每一該些第二組子信號(hào)線分別具有第一子信號(hào)線與第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層，該第一測(cè)試線電性連接于該第一組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線，該第二測(cè)試線電性連接于該第二組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線。上述的顯示面板，其中該些第一子信號(hào)線與該些第二子信號(hào)線交替排列。上述的顯示面板，其中該些第一子信號(hào)線由一第一導(dǎo)電層構(gòu)成，該些第二子信號(hào)線由一第二導(dǎo)電層構(gòu)成。上述的顯示面板，其中該些第一子信號(hào)線分別經(jīng)由一第一穿孔對(duì)應(yīng)地電性連接至該些像素單元，且該些第二子信號(hào)線直接對(duì)應(yīng)地電性連接至該些像素單元。上述的顯示面板，其中還包括一第一介電層，形成于該第一基板上，該第一介電層形成于該些第一子信號(hào)線與該些第二子信號(hào)線之間。上述的顯不面板,其中還包括一第二介電層，形成于該第一基板上，該第二介電層覆蓋該些第二子信號(hào)線與該第一介電層。上述的顯示面板，其中還包括一第二基板與一顯示介質(zhì)層，該顯示介質(zhì)層形成于該第一基板與該第二基板之間。
上述的顯示面板，其中還包括一第一測(cè)試墊與一第二測(cè)試墊，分別電性連接該第一測(cè)試線與該第二測(cè)試線。上述的顯示面板，其中各該第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線更包括一第三子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線、該第二子信號(hào)線與該第三子信號(hào)線為相異層。上述的顯示面板，其中該些第三子信號(hào)線由一第三導(dǎo)電層構(gòu)成。上述的顯示面板，其中還包括:多條第二信號(hào)線，設(shè)置于該周邊區(qū)上，分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第二信號(hào)線至少包括一第四組子信號(hào)線及一第五組子信號(hào)線，該第四組子信號(hào)線及該第五組子信號(hào)線交替排列，且各該第四組子信號(hào)線及該些第五組子信號(hào)線分別具有一第四子信號(hào)線與一第五子信號(hào)線，且該第四子信號(hào)線與該第五子信號(hào)線于該周邊區(qū)形成于相異層；一第四測(cè)試線，電性連接于該第四組子信號(hào)線的該第四子信號(hào)線與該第五子信號(hào)線；以及一第五測(cè)試線，電性連接于該第五組子信號(hào)線的該第四子信號(hào)線與該第五子信號(hào)線。上述的顯示面板，其中該些第一信號(hào)線為多條數(shù)據(jù)線，對(duì)應(yīng)地電性連接該些像素單元，且該些第二信號(hào)線為多條掃描線，對(duì)應(yīng)地電性連接該些像素單元。上述的顯示面板，其中該些第四子信號(hào)線與該些第五子信號(hào)線交替排列。上述的顯示面板，其中該些第四子信號(hào)線由一第一導(dǎo)電層構(gòu)成，該些第五子信號(hào)線由一第二導(dǎo)電層構(gòu)成。上述的顯示面板，其中各該第四組子信號(hào)線及該些第五組子信號(hào)線更包括一第六子信號(hào)線。為達(dá)上述目的，本發(fā)明的另一實(shí)施例關(guān)于一種顯示面板的檢測(cè)方法，該顯示面板包括第一基板、多個(gè)像素單元、多條第一信號(hào)線、第一測(cè)試線及第二測(cè)試線，該第一基板具有顯示區(qū)與周邊區(qū)，該些像素單元陣列排列設(shè)于該顯示區(qū)上，該些第一信號(hào)線設(shè)置于該周邊區(qū)上且分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第一信號(hào)線包括多個(gè)第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線，該些第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線交替排列，每一該些第一組子信號(hào)線及每一該些第二組子信號(hào)線分別具有第一子信號(hào)線與第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層，該第一測(cè)試線電性連接于該第一組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線，該第二測(cè)試線電性連接于該第二組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線，該方法包括點(diǎn)亮該第一組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元以檢測(cè)第一組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元是否有缺陷，以及點(diǎn)亮該第二組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元以檢測(cè)第二組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元是否有缺陷。上述的檢測(cè)方法，其中點(diǎn)亮該第一組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元，包括輸入一第一組測(cè)試信號(hào)至該第一測(cè)試線與該第二測(cè)試線。上述的檢測(cè)方法，其中點(diǎn)亮該第二組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元，包括輸入一第二組測(cè)試信號(hào)至該第一測(cè)試線與該第二測(cè)試線。為達(dá)上述目的，本發(fā)明的另一實(shí)施例關(guān)于一種顯示面板，包括第一基板、多個(gè)像素單元、多條第一信號(hào)線、驅(qū)動(dòng)元件、第一測(cè)試線、第二測(cè)試線及切割溝槽。該第一基板具有顯示區(qū)與周邊區(qū)，該些像素單元陣列排列設(shè)于該顯示區(qū)上。該多條第一信號(hào)線設(shè)置于該周邊區(qū)上，分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元。該些第一信號(hào)線包括多個(gè)第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線，該第一組子信號(hào)線及該第二組子信號(hào)線交替排列，各該第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線分別具有第一子信號(hào)線與第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層。該驅(qū)動(dòng)元件設(shè)置于該些第一信號(hào)線上且電性連接于該些第一信號(hào)線。該第一測(cè)試線相對(duì)于該第一組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線設(shè)置，且該第二測(cè)試線相對(duì)于該第二組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線。該切割溝槽設(shè)置于該第一測(cè)試線與該第一組子信號(hào)線之間，以及該第二測(cè)試線與該第二組子信號(hào)線之間，使該第一測(cè)試線與該第一組子信號(hào)線電性隔離，且該第二測(cè)試線與該第二組子信號(hào)線電性隔離。上述的顯示面板，其中該驅(qū)動(dòng)元件包括一集成電路芯片。上述的顯示面板，其中該些第一信號(hào)線更包括多個(gè)連接墊，用于電性連接該驅(qū)動(dòng)元件。透過(guò)本發(fā)明實(shí)施例中，將相鄰的第一子信號(hào)線與第二子信號(hào)線為相異層，可使相鄰的子信號(hào)線之間不會(huì)短路，因此在檢測(cè)顯示面板是否存在故障像素時(shí)，故障像素可被完全地檢測(cè)出，因而提升顯示面板的合格率。


圖1A為本發(fā)明第一實(shí)施例顯示面板的示意圖；圖1B為沿圖1A中剖面線的剖面示意圖；圖2為圖1A顯示面板的架構(gòu)示意圖；圖3為對(duì)圖1A或圖2顯示面板進(jìn)行檢測(cè)的流程圖；圖4為對(duì)圖1A的顯示面板設(shè)置切割溝槽的示意圖；圖5為對(duì)圖1A的顯示面板設(shè)置驅(qū)動(dòng)元件的示意圖；圖6為本發(fā)明第二實(shí)施例顯示面板的示意圖；圖7為本發(fā)明第三實(shí)施例顯示面板的示意圖；圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例顯示面板的示意圖。其中，附圖標(biāo)記:20 基板22 下基板24 上基板26 液晶層30 像素單元40 第一信號(hào)線50 第二信號(hào)線90 顯示單元100、600、700、800 顯示面板110 顯示區(qū)120 周邊區(qū)152、154 步驟300 驅(qū)動(dòng)元件320 連接墊330 集成電路芯片350 切割溝槽R紅色子像素G綠色子像素B藍(lán)色子像素SI第一組子信號(hào)線S2 第二組子信號(hào)線S4第四組子信號(hào)線S5 第五組子信號(hào)線S11、S21第一子信號(hào)線S12、S22 第二子信號(hào)線 S13、S23第三子信號(hào)線S4US51 第四子信號(hào)線S42、S52第五子信號(hào)線
S43、S53 第六子信號(hào)線F1、F2 測(cè)試信號(hào)Ml 第一導(dǎo)電層M2第二導(dǎo)電層LI 第一介電層L2第二介電層CA 像素控制線DA數(shù)據(jù)線GA 柵極線D1、D2、D4、D5 測(cè)試墊T1、T2、T4、T5 測(cè)試線 V1、V2穿孔A-A’ 剖面線
具體實(shí)施例方式在說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求書(shū)當(dāng)中使用了某些詞匯來(lái)指稱特定的元件。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可理解，制造商可能會(huì)用不同的名詞來(lái)稱呼同樣的元件。本說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求書(shū)并不以名稱的差異來(lái)作為區(qū)別元件的方式，而是以元件在功能上的差異來(lái)作為區(qū)別的基準(zhǔn)。在通篇說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求書(shū)當(dāng)中所提及的“包括”為開(kāi)放式的用語(yǔ)，故應(yīng)解釋成“包括但不限定于”。此外，“電性連接”在此包括任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置電性連接于第二裝置，則代表該第一裝置可直接連接于該第二裝置，或透過(guò)其他裝置或連接手段間接地連接至該第二裝置。下文依本發(fā)明特舉實(shí)施例配合所附附圖作詳細(xì)說(shuō)明，但所提供的實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明所涵蓋的范圍，而方法流程步驟編號(hào)更非用以限制其執(zhí)行先后次序，任何由方法步驟重新組合的執(zhí)行流程，所產(chǎn)生具有均等功效的方法，皆為本發(fā)明所涵蓋的范圍。請(qǐng)參考圖1A，圖1A為本發(fā)明第一實(shí)施例顯示面板100的示意圖。如圖1A所示，顯示面板100包括第一基板20、多個(gè)顯示單元90、多條第一信號(hào)線40、測(cè)試線Tl及T2。每一顯示單元90包含多個(gè)像素單元30。第一基板20具有顯示區(qū)110與周邊區(qū)120，周邊區(qū)120可環(huán)繞顯示區(qū)100,顯示區(qū)110可為顯示面板100用以顯示影像的部分,而周邊區(qū)120可為顯示面板100中顯示區(qū)110以外的部分，例如顯示面板100的邊框內(nèi)的周邊區(qū)120用以設(shè)置電路的部分，并分別對(duì)應(yīng)地電性連接多個(gè)像素單元30。多個(gè)像素單元30陣列排列設(shè)于顯示區(qū)110的第一基板20上，多條像素控制線CA例如是多條數(shù)據(jù)線DA及多條柵極線GA設(shè)置于顯示區(qū)110內(nèi)，并像素單元30電性連接于多條像素控制線CA。每一像素單元30可為一子像素，例如分別是紅(R)、綠(G)、藍(lán)(B)三色子像素，但是并不限于此，亦可以是其他顏色的子像素，例如靚藍(lán)色子像素、黃色子像素、洋紅色子像素、白色子像素等，同一列的子像素可為相同顏色的子像素并電性連接至同一條柵極線，且同一行的子像素電性連接至同一條信號(hào)線。例如，相鄰的紅(R)、綠(G)、藍(lán)(B)三色子像素可構(gòu)成一顯示單元。請(qǐng)參考圖1B,圖1B為沿圖1A中首I]面線A-A’的首I]面不意圖。請(qǐng)同時(shí)參考圖1A與圖1B，多條第一信號(hào)線40電性連接于對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素單元30，且多條第一信號(hào)線40包括多個(gè)第一組子信號(hào)線SI及多個(gè)第二組子信號(hào)線S2，第一組子信號(hào)線SI及第二組子信號(hào)S2線交替排列。每一第一組子信號(hào)線SI皆具有第一子信號(hào)線Sll與第二子信號(hào)線S12，第一子信號(hào)線Sll與第二子信號(hào)線S12形成于周邊區(qū)120內(nèi)，且第一子信號(hào)線Sll與第二子信號(hào)線S12為相異層(different layer)，亦即第一子信號(hào)線Sll與第二子信號(hào)線S12由不同層的導(dǎo)電層所構(gòu)成，例如第一子信號(hào)線Sll由第一導(dǎo)電層Ml所構(gòu)成，第二子信號(hào)線S12由第二導(dǎo)電層M2所構(gòu)成。此外，每一第二組子信號(hào)線S2亦分別具有第一子信號(hào)線S21與第二子信號(hào)線S22,且第一子信號(hào)線Sll與第二子信號(hào)線S12為相異層。第一介電層LI形成于第一基板20上,并形成于第一導(dǎo)電層Ml與第二導(dǎo)電層M2之間,例如第一介電層LI覆蓋第一導(dǎo)電層Ml中的第一子信號(hào)線Sll、S21，且第二導(dǎo)電層M2中的第二子信號(hào)線S21、S22形成于第一介電層上LI。第二介電層L2覆蓋第二導(dǎo)電層M2中的第二子信號(hào)線S21、S22。測(cè)試線Tl電性連接于第一組子信號(hào)線SI的第一子信號(hào)線Sll與第二子信號(hào)線S12，測(cè)試線T2電性連接于第二組子信號(hào)線S2的第一子信號(hào)線S21與第二子信號(hào)線S22，且測(cè)試線Tl、測(cè)試線T2分別電性連接于測(cè)試墊Dl與測(cè)試墊D2，用以對(duì)像素單元30提供測(cè)試墊Dl、D2傳來(lái)的測(cè)試信號(hào)。在顯示面板100中，第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12、第一子信號(hào)線S21、第二子信號(hào)線S22可依序排列。請(qǐng)參考圖2,圖2為圖1A顯示面板100的架構(gòu)示意圖。如圖2所示,顯示面板100可為液晶顯示面板(IXD)、有機(jī)發(fā)光二極管顯示面板(OLED)、發(fā)光二極管顯示面板(LED)、電泳顯示面板(Electrophoretic display)、電濕潤(rùn)(Electro-wetting)顯示面板、場(chǎng)發(fā)射顯示面板等，但并不限于此。顯示面板100除了包括第一基板20外，更可包括第二基板22以及顯不介質(zhì)24。以液晶顯不面板(IXD)為例，液晶顯不面板的第一基板20內(nèi)表面上可設(shè)置前述的像素單元30與第一信號(hào)線40等構(gòu)成主動(dòng)元件陣列基板，第二基板22內(nèi)表面上可設(shè)置彩色濾光層與黑色矩陣構(gòu)成彩色濾光基板，顯示介質(zhì)24可為各種液晶層，以組成所需的液晶顯示面板。至于更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知，可輕易地作等效的變更。請(qǐng)參考圖3，圖3為對(duì)圖1A或圖2顯示面板100進(jìn)行檢測(cè)的流程圖，說(shuō)明如下:步驟152:點(diǎn)亮第一組子信號(hào)線SI電性連接的像素單元30，以檢測(cè)第一組子信號(hào)線SI連接的像素單元30是否有缺陷；步驟154:點(diǎn)亮第二組子信號(hào)線S2電性連接的像素單元30，以檢測(cè)第二組子信號(hào)線S2連接的像素單元30是否有缺陷。在步驟152、154中，點(diǎn)亮第一組子信號(hào)線SI電性連接的像素單元30時(shí)，第二組子信號(hào)線S2電性連接的像素單元30可以不點(diǎn)亮，或者是低灰階點(diǎn)亮，以利用灰階亮度差異來(lái)檢測(cè)第一組子信號(hào)線SI電性連接的像素單元30是否有缺陷，例如是否有暗點(diǎn)或是異常的亮點(diǎn)。舉例來(lái)說(shuō)，可在測(cè)試墊Dl與D2分別令輸入的測(cè)試信號(hào)Fl且F2為無(wú)信號(hào)，可使第二組子信號(hào)線S2電性連接的像素單元30不點(diǎn)亮，或者令測(cè)試信號(hào)Fl與F2為不同的信號(hào)，可以使兩組像素單元分別呈現(xiàn)不同的亮度。同樣地，步驟154中可以輸入不同的測(cè)試信號(hào)Fl與F2，點(diǎn)亮第二組子信號(hào)線S2電性連接的像素單元30，以檢測(cè)第二組子信號(hào)線S2連接的像素單元30是否有缺陷，例如有暗點(diǎn)或是異常的亮點(diǎn)。此外，顯示面板100進(jìn)行完前述的檢測(cè)步驟之后，檢測(cè)品質(zhì)優(yōu)良沒(méi)有缺陷的顯示面板100可進(jìn)行后續(xù)的驅(qū)動(dòng)電路組裝步驟。請(qǐng)參考圖4與圖5,圖4為對(duì)圖1A的顯不面板100設(shè)置切割溝槽350的示意圖，圖5為對(duì)圖1A的顯示面板100設(shè)置驅(qū)動(dòng)元件300的示意圖。如圖4所示，切割溝槽350設(shè)置于第一測(cè)試線Tl與第一組子信號(hào)線SI之間，以及第二測(cè)試線T2與第二組子信號(hào)線S2之間，使第一測(cè)試線Tl與第一組子信號(hào)線SI電性隔離，且第二測(cè)試線T2與第二組子信號(hào)線S2電性隔離。切割溝槽350 —般可利用雷射切割技術(shù)，將第一組子信號(hào)線SI與第二組子信號(hào)線S2切斷，切斷處鄰近于第一測(cè)試線Tl與第二測(cè)試線T2，如圖4中所示。
請(qǐng)參考圖5，將第一測(cè)試線Tl與第二測(cè)試線T2電性隔離之后，將驅(qū)動(dòng)元件300電性連接于多個(gè)第一信號(hào)線40，用于驅(qū)動(dòng)像素單元30。驅(qū)動(dòng)元件300例如是集成電路芯片330設(shè)置于該些第一信號(hào)線40上且電性連接于該些第一信號(hào)線40。驅(qū)動(dòng)元件300亦可以是玻璃覆晶 C0G(Chip on Glass)、薄膜覆晶 COF(Chip on Film)、電路板覆晶 COB (Chip onBoard)、帶狀軟件自動(dòng)封裝體TAB (Tape Automatic Carrier Bonding)、軟性印刷電路板FPC (Flexible printed circuit)等。此外，可在第一信號(hào)線40設(shè)置多個(gè)連接墊320,每一條第一信號(hào)線40可設(shè)置至少一個(gè)連接墊320，如圖4所示，使驅(qū)動(dòng)元件300更容易設(shè)置在第一信號(hào)線40上，借此增進(jìn)連接效果。透過(guò)第一實(shí)施例中的設(shè)計(jì)，當(dāng)同一層導(dǎo)電層(例如是第一導(dǎo)電層Ml)相鄰的兩條第一子信號(hào)線Sll與S21等，因?yàn)轱@影缺陷或者是導(dǎo)電微粒(conductive particle)而電性連接在一起，由于第一子信號(hào)線Sll與S21分別連接不同的測(cè)試線Tl與T2，在檢測(cè)時(shí)于測(cè)試線Tl與T2分別輸入一亮一暗的測(cè)試信號(hào)，此時(shí)第一子信號(hào)線Sll與S21電性連接的像素單元30均會(huì)因?yàn)槎搪范c(diǎn)亮，因此本發(fā)明可以輕易地檢測(cè)出同層短路缺陷。同樣地，亦可以用于第二導(dǎo)電層M2相鄰的兩條第二子信號(hào)線S21與S22等的同層短路缺陷。相較于傳統(tǒng)同一層導(dǎo)電層的信號(hào)線均連接到同一條測(cè)試線，無(wú)法檢測(cè)出同層短路缺陷。此外，由于第一組子信號(hào)線SI內(nèi)相鄰的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12為相異層，因此第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12并不容易有短路的情況發(fā)生，同樣地第二組子信號(hào)線S2內(nèi)亦不容易有短路的情況發(fā)生。本發(fā)明的第一實(shí)施例設(shè)計(jì)，對(duì)于高解析度使用高密度信號(hào)線的產(chǎn)品，可以更輕易地檢測(cè)出同層短路缺陷，大幅地提高產(chǎn)品的合格率，避免不必要的產(chǎn)品浪費(fèi)，降低制造的成本。請(qǐng)參考圖6，圖6為本發(fā)明第二實(shí)施例顯示面板600的示意圖。顯示面板600與100的差別在于，在顯示面板600中，每一第一組子信號(hào)線S1、第二組子信號(hào)線S2更包括第三子信號(hào)線S13、S23，第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12與第三子信號(hào)線S13于周邊區(qū)120為相異層，且第一子信號(hào)線S21、第二子信號(hào)線S22與第三子信號(hào)線S23于周邊區(qū)120亦形成于相異層。如圖5所示，第三子信號(hào)線S13、S23可由一第三導(dǎo)電層構(gòu)成，或者是相鄰的第一子信號(hào)線S21、第二子信號(hào)線S22與第三子信號(hào)線S23為相異層。第一子信號(hào)線S21、第二子信號(hào)線S22與第三子信號(hào)線S23可經(jīng)由數(shù)據(jù)線DA電性連接到像素單元30。在一實(shí)施例中，數(shù)據(jù)線DA可以跟第一信號(hào)線40的第一子信號(hào)線S21、第二子信號(hào)線S22與第三子信號(hào)線S23等相同采用不同層的設(shè)計(jì)。此外，在另一實(shí)施例中，若數(shù)據(jù)線DA采用同層設(shè)計(jì)，例如均采用第二導(dǎo)電層M2形成，可經(jīng)由穿孔Vl、V2分別電性連接到第一信號(hào)線40不同層的子信號(hào)線。例如第一子信號(hào)線S21使用第一導(dǎo)電層Ml形成，第二子信號(hào)線S22使用第二導(dǎo)電層M2形成，第三子信號(hào)線S23使用第三導(dǎo)電層M3形成，若數(shù)據(jù)線DA采用第二導(dǎo)電層M2形成，可以經(jīng)由第一穿孔Vl電性連接到第一子信號(hào)線S21，同層直接電性連接到第二子信號(hào)線S22，經(jīng)由第二穿孔V2電性連接到第三子信號(hào)線S23。透過(guò)第二實(shí)施例中，將相鄰的第一子信號(hào)線S11、S21與第二子信號(hào)線S12、S22以及第三子信號(hào)線S13、S23于周邊區(qū)120形成于相異層，可使相鄰的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12與第三子信號(hào)線S13之間不會(huì)短路，因?yàn)槊恳幌噜徯凶有盘?hào)線皆電性連接于不同導(dǎo)電層。因此，在檢測(cè)顯示面板600時(shí)，由于電性連接于像素單元30的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12與第三子信號(hào)線S13位于不同導(dǎo)電層，不易發(fā)生短路。此外，同層導(dǎo)電層若發(fā)生短路缺陷，如前面所述，因?yàn)檫B接不同的測(cè)試線Tl與T2，所以信號(hào)線的同層短路缺陷可以輕易地檢測(cè)出，因而提升顯示面板600的合格率。請(qǐng)參考圖7，圖7為本發(fā)明第三實(shí)施例顯示面板700的示意圖。第三實(shí)施例與第一實(shí)施例的差別在于，子像素的排列并不限于前述的紅(R)、綠(G)、藍(lán)(B)三色子像素的順序排列，亦可依照設(shè)計(jì)者的需求調(diào)整，例如可設(shè)計(jì)成紅(R)、紅(R)、綠(G)、綠(G)、藍(lán)(B)、藍(lán)(B)的方式排列，如圖7所示。在另一實(shí)施例中，紅(R)、綠(G)、藍(lán)(B)三色子像素可以轉(zhuǎn)九十度，沿著數(shù)據(jù)線DA的方向排列(未圖示)，此為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知，因此不在贅述。此外，除了測(cè)試墊Dl、D2，顯示面板600更包括多條第二信號(hào)線50、測(cè)試線Τ4、測(cè)試線Τ5以及測(cè)試墊D4、D5，測(cè)試線Τ4、Τ5分別電性連接于測(cè)試墊D4、D5，以對(duì)像素單元30提供測(cè)試墊D4、D5傳來(lái)的測(cè)試信號(hào)。此外，顯示面板700的多個(gè)第二信號(hào)線50包括第四組子信號(hào)線S4及第五組子信號(hào)線S5。第四組子信號(hào)線S4及第五組子信號(hào)線S5交替排列，且每一第四組子信號(hào)線S4及分別具有一第四子信號(hào)線S41與一第五子信號(hào)S42線，每一第五組子信號(hào)線S5及分別具有一第四子信號(hào)線S51與一第五子信號(hào)S52線，第四子信號(hào)線S41、S51與第五子信號(hào)線S42、S52于周邊區(qū)120為相異層。測(cè)試線T4電性連接于第四子信號(hào)線S41與第五子信號(hào)線S42，且測(cè)試線T5電性連接于第四子信號(hào)線S51與第五子信號(hào)線S52。第四子信號(hào)線S41、S51與第五子信號(hào)線S42、S52交替排列，且相似于第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12分別由導(dǎo)電層Ml、M2構(gòu)成，第四子信號(hào)線S41與第五子信號(hào)線S42由二不同的導(dǎo)電層Ml、M2構(gòu)成，第四子信號(hào)線S51與第五子信號(hào)線S52亦然。對(duì)列子像素進(jìn)行測(cè)試的方法可例如第一實(shí)施例中對(duì)行子像素提供測(cè)試信號(hào)F1、F2，故不再贅述。相較于第一實(shí)施例對(duì)行像素進(jìn)行測(cè)試，第三實(shí)施例可額外地對(duì)列像素進(jìn)行測(cè)試，因此在第三實(shí)施例中，將相鄰的第一子信號(hào)線S11、S21與第二子信號(hào)線S12、S22于周邊區(qū)120形成于相異層，可使相鄰的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12之間不會(huì)短路，因?yàn)槊恳幌噜徯凶有盘?hào)線皆電性連接于不同導(dǎo)電層。同理，由于相鄰的第四子信號(hào)線S41、S51與第五子信號(hào)線S42、S52于周邊區(qū)120形成于相異層，可使相鄰的第四子信號(hào)線S11、第五子信號(hào)線S12之間不會(huì)短路。因此，在檢測(cè)顯示面板700時(shí)，由于電性連接于像素單元30的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12位于不同導(dǎo)電層，且第四子信號(hào)線S41、第五子信號(hào)線S52位于不同導(dǎo)電層，不易發(fā)生短路。此外，同層導(dǎo)電層若發(fā)生短路缺陷，如前面所述，因?yàn)檫B接不同的測(cè)試線Tl與T2，所以信號(hào)線的同層短路缺陷可以輕易地檢測(cè)出，因而提升顯示面板700的合格率。請(qǐng)參考圖8，圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例顯示面板800的示意圖。第四實(shí)施例與第二實(shí)施例的差別在于，除了測(cè)試墊Dl、D2，顯示面板700更包括測(cè)試墊D4、D5以及測(cè)試線T4、T5，測(cè)試線T4、T5分別電性連接于測(cè)試墊D4、D5，以對(duì)像素單元30提供測(cè)試墊D4、D5傳來(lái)的測(cè)試信號(hào)。此外，顯示面板700的多個(gè)第二信號(hào)線50包括第四組子信號(hào)線S4及第五組子信號(hào)線S5。第四組子信號(hào)線S4及第五組子信號(hào)線S5交替排列，且每一第四組子信號(hào)線S4及分別具有一第四子信號(hào)線S41、一第五子信號(hào)S42線與一第六子信號(hào)S43線，每一第五組子信號(hào)線S5及分別具有一第四子信號(hào)線S51、一第五子信號(hào)S52線與一第六子信號(hào)S53線，第四子信號(hào)線S41、S51、第五子信號(hào)線S42、S52與第六子信號(hào)線S43、S53設(shè)置于周邊區(qū)120為相異層。測(cè)試線T4電性連接于第四子信號(hào)線S41、第五子信號(hào)線S42與第六子信號(hào)線S43，且測(cè)試線T5電性連接于第四子信號(hào)線S51、第五子信號(hào)線S52與第六子信號(hào)線S53。第四子信號(hào)線S41、S51、第五子信號(hào)線S42、S52與第六子信號(hào)線S43、S53較佳交替排列，且相似于第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12可分別由導(dǎo)電層M1、M2構(gòu)成，第四子信號(hào)線S41與第五子信號(hào)線S42由二不同的導(dǎo)電層構(gòu)成,第四子信號(hào)線S51與第五子信號(hào)線S52亦然。第六子信號(hào)線S43、S53可由一第三導(dǎo)電層構(gòu)成,或者是相鄰的第一子信號(hào)線S41、S51、第二子信號(hào)線S42、S52與第三子信號(hào)線S43、S53為相異層亦可。在另一實(shí)施例中，紅(R)、綠(G)、藍(lán)⑶三色子像素可以轉(zhuǎn)九十度，沿著數(shù)據(jù)線DA的方向排列(未圖示)，此為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知，因此不在贅述。相較于第二實(shí)施例對(duì)行像素進(jìn)行測(cè)試，第四實(shí)施例可額外地對(duì)列像素進(jìn)行測(cè)試，因此在第四實(shí)施例中，將相鄰的第一子信號(hào)線S11、S21與第二子信號(hào)線S12、S22于周邊區(qū)120形成于相異層，可使相鄰的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12之間不會(huì)短路，因?yàn)槊恳幌噜徯凶有盘?hào)線皆電性連接于不同導(dǎo)電層。同理，由于相鄰的第四子信號(hào)線S41及S51、第五子信號(hào)線S42、S52以及第六子信號(hào)線S43、S53于周邊區(qū)120形成于相異層，可使相鄰的第四子信號(hào)線S41、第五子信號(hào)線S42、第六子信號(hào)線S43之間不會(huì)短路。因此，在檢測(cè)顯示面板800時(shí)，由于電性連接于像素單元30的第一子信號(hào)線S11、第二子信號(hào)線S12位于不同導(dǎo)電層，且第四子信號(hào)線S41、第五子信號(hào)線S42、第六子信號(hào)線S43位于不同導(dǎo)電層，不易發(fā)生短路。此外，同層導(dǎo)電層若發(fā)生短路缺陷，如前面所述，因?yàn)檫B接不同的測(cè)試線Tl與T2，所以信號(hào)線的同層短路缺陷可以輕易地檢測(cè)出，因而提升顯示面板800的合格率。本發(fā)明使用上述第一信號(hào)線或第二信號(hào)線的設(shè)計(jì)，可以更精確地檢測(cè)出缺陷，提升顯示面板的合格率。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板，其特征在于，包括: 一第一基板，具有一顯不區(qū)與一周邊區(qū)； 多個(gè)像素單元，陣列排列設(shè)于該顯示區(qū)上； 多條第一信號(hào)線，設(shè)置于該周邊區(qū)上，分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第一信號(hào)線包括多個(gè)第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線，該第一組子信號(hào)線及該第二組子信號(hào)線交替排列，且各該第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線分別具有一第一子信號(hào)線與一第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層； 一第一測(cè)試線，電性連接于該第一組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線；以及 一第二測(cè)試線，電性連接于該第二組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該些第一子信號(hào)線與該些第二子信號(hào)線交替排列。
3.如權(quán)利要求1所述的顯不面板，其特征在于，該些第一子信號(hào)線由一第一導(dǎo)電層構(gòu)成，該些第二子信號(hào)線由一第二導(dǎo)電層構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，該些第一子信號(hào)線分別經(jīng)由一第一穿孔對(duì)應(yīng)地電性連接至該些像素單元，且該些第二子信號(hào)線直接對(duì)應(yīng)地電性連接至該些像素單元。
5.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括一第一介電層，形成于該第一基板上，該第一介電層形成于該些第一子信號(hào)線與該些第二子信號(hào)線之間。`
6.如權(quán)利要求1所述的顯不面板，其特征在于，還包括一第二介電層，形成于該第一基板上，該第二介電層覆蓋該些第二子信號(hào)線與該第一介電層。
7.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括一第二基板與一顯示介質(zhì)層，該顯不介質(zhì)層形成于該第一基板與該第二基板之間。
8.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括一第一測(cè)試墊與一第二測(cè)試墊，分別電性連接該第一測(cè)試線與該第二測(cè)試線。
9.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各該第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線更包括一第三子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線、該第二子信號(hào)線與該第三子信號(hào)線為相異層。
10.如權(quán)利要求9所述的顯示面板，其特征在于，該些第三子信號(hào)線由一第三導(dǎo)電層構(gòu)成。
11.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括: 多條第二信號(hào)線，設(shè)置于該周邊區(qū)上，分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第二信號(hào)線至少包括一第四組子信號(hào)線及一第五組子信號(hào)線，該第四組子信號(hào)線及該第五組子信號(hào)線交替排列，且各該第四組子信號(hào)線及該些第五組子信號(hào)線分別具有一第四子信號(hào)線與一第五子信號(hào)線，且該第四子信號(hào)線與該第五子信號(hào)線于該周邊區(qū)形成于相異層； 一第四測(cè)試線，電性連接于該第四組子信號(hào)線的該第四子信號(hào)線與該第五子信號(hào)線；以及 一第五測(cè)試線，電性連接于該第五組子信號(hào)線的該第四子信號(hào)線與該第五子信號(hào)線。
12.如權(quán)利要求11所述的顯示面板，其特征在于，該些第一信號(hào)線為多條數(shù)據(jù)線，對(duì)應(yīng)地電性連接該些像素單元，且該些第二信號(hào)線為多條掃描線，對(duì)應(yīng)地電性連接該些像素單J Li ο
13.如權(quán)利要求12所述的顯示面板，其特征在于，該些第四子信號(hào)線與該些第五子信號(hào)線交替排列。
14.如權(quán)利要求11所述的顯示面板，其特征在于，該些第四子信號(hào)線由一第一導(dǎo)電層構(gòu)成，該些第五子信號(hào)線由一第二導(dǎo)電層構(gòu)成。
15.如權(quán)利要求11所述的顯示面板，其特征在于，各該第四組子信號(hào)線及該些第五組子信號(hào)線更包括一第六子信號(hào)線。
16.一種顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，該顯示面板包括一第一基板、多個(gè)像素單兀、多條第一信號(hào)線、一第一測(cè)試線及一第二測(cè)試線，該一第一基板具有一顯不區(qū)與一周邊區(qū)，該些像素單元陣列排列設(shè)于該顯示區(qū)上，該些第一信號(hào)線設(shè)置于該周邊區(qū)上且分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第一信號(hào)線包括多個(gè)第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線，該些第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線交替排列，每一該些第一組子信號(hào)線及每一該些第二組子信號(hào)線分別具有一第一子信號(hào)線與一第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層，該第一測(cè)試線電性連接于該第一組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線，該第二測(cè)試線電性連接于該第二組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線，該方法包括: 點(diǎn)亮該第一組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元，檢測(cè)第一組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元是否有缺陷；以及 點(diǎn)亮該第二組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元，檢測(cè)第二組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元是否有缺陷。
17.如請(qǐng)權(quán)利要求16所述的檢測(cè)方法，其特征在于，點(diǎn)亮該第一組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元，包括輸入一第一組測(cè)試信號(hào)至該第一測(cè)試線與該第二測(cè)試線。
18.如請(qǐng)權(quán)利要求16所述的檢測(cè)方法，其特征在于，點(diǎn)亮該第二組子信號(hào)線電性連接的該些像素單元，包括輸入一第二組測(cè)試信號(hào)至該第一測(cè)試線與該第二測(cè)試線。
19.一種顯示面板，其特征在于，包括: 一第一基板，具有一顯不區(qū)與一周邊區(qū)； 多個(gè)像素單元，陣列排列設(shè)于該顯示區(qū)上； 多條第一信號(hào)線，設(shè)置于該周邊區(qū)上，分別對(duì)應(yīng)地電性連接于該些像素單元，該些第一信號(hào)線包括多個(gè)第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線，該第一組子信號(hào)線及該第二組子信號(hào)線交替排列，且各該第一組子信號(hào)線及該些第二組子信號(hào)線分別具有一第一子信號(hào)線與一第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層； 一驅(qū)動(dòng)元件，設(shè)置于該些第一信號(hào)線上且電性連接于該些第一信號(hào)線；一第一測(cè)試線，相對(duì)于該第一組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線設(shè)置；一第二測(cè)試線，相對(duì)于該第二組子信號(hào)線的該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線；以及一切割溝槽，設(shè)置于該第一測(cè)試線與該第一組子信號(hào)線之間，以及該第二測(cè)試線與該第二組子信號(hào)線之間，使該第一測(cè)試線與該第一組子信號(hào)線電性隔離，且該第二測(cè)試線與該第二組子信號(hào)線電性隔離。
20.如權(quán)利要求19所述的顯示面板，其特征在于，該驅(qū)動(dòng)元件包括一集成電路芯片。
21.如權(quán)利要求20所述的顯示面板，其特征在于，該些第一信號(hào)線更包括多個(gè)連接墊，用于電性連接該驅(qū)動(dòng) 元件。
全文摘要
顯示面板包括第一基板、多個(gè)像素單元、多條第一信號(hào)線、第一測(cè)試線及第二測(cè)試線。第一信號(hào)線設(shè)置于周邊區(qū)上且分別對(duì)應(yīng)地電性連接于像素單元，第一信號(hào)線包括多條交替排列的第一組子信號(hào)線及多個(gè)第二組子信號(hào)線。各第一組子信號(hào)線及各第二組子信號(hào)線分別具有一第一子信號(hào)線與一第二子信號(hào)線，且該第一子信號(hào)線與該第二子信號(hào)線為相異層。該第一測(cè)試線電性連接于該第一組子信號(hào)線，該第二測(cè)試線電性連接于該第二組子信號(hào)線。
文檔編號(hào)G09G3/00GK103106858SQ20121059279
公開(kāi)日2013年5月15日 申請(qǐng)日期2012年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月16日
發(fā)明者陳鉑雅, 蔡孟哲 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司