專(zhuān)利名稱(chēng)：一種顯示器面板測(cè)試方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，特別涉及一種顯示器面板測(cè)試方法及裝置。
背景技術(shù)：
GOA(Gate Driver on Array,陣列基板行驅(qū)動(dòng)技術(shù))，是直接將柵極驅(qū)動(dòng)電路(Gate driver IC)制作在陣列(Array)基板上,來(lái)代替由外接娃片制作的驅(qū)動(dòng)芯片的一種工藝技術(shù)。該技術(shù)的應(yīng)用可減少生產(chǎn)工藝程序，降低產(chǎn)品工藝成本，提高TFT-IXD (薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管液晶顯示器)面板的高集成度。近年來(lái)GOA技術(shù)得到了全面的發(fā)展和較廣泛的應(yīng)用。GOA面板從GOA分布上可分為單邊GOA面板(將柵極驅(qū)動(dòng)電路制作到陣列基板的左側(cè))和雙邊GOA面板(在陣列基板左右兩側(cè)都制作柵極驅(qū)動(dòng)電路，從兩側(cè)同時(shí)進(jìn)行驅(qū)動(dòng))，從時(shí)序控制方面和單元TFT設(shè)計(jì)方面又可分為9T/13T (其中T代表TFT結(jié)構(gòu)，9T即每個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路單元由九個(gè)TFT構(gòu)成，13T即每個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路單元由13個(gè)TFT構(gòu)成)結(jié)構(gòu)、電容式(指柵極驅(qū)動(dòng)電路單元中含有電容)結(jié)構(gòu)等。但目前的GOA面板相對(duì)于某些傳統(tǒng)面板還存在很多不足之處。例如，在進(jìn)行面板的V-T(電壓-透射率)特性的測(cè)試中，傳統(tǒng)方法是通過(guò)對(duì)柵極焊盤(pán)區(qū)域涂覆銀膠，將焊盤(pán)區(qū)短路后接入柵極測(cè)試信號(hào)，對(duì)面板特定區(qū)域進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)V-T特性的測(cè)試。但由于GOA面板將柵極驅(qū)動(dòng)電路制作在陣列基板上，且隱藏于對(duì)盒內(nèi)部(對(duì)盒是指液晶面板上下兩層玻璃基板利用封框膠進(jìn)行貼合所形成的中間填充液晶的盒裝結(jié)構(gòu))，沒(méi)有柵極焊盤(pán)露在外面，從而導(dǎo)致無(wú)法通過(guò)焊盤(pán)將測(cè)試信號(hào)與像素電路的柵極相連接，即無(wú)法直接驅(qū)動(dòng)像素電路的柵極，從而無(wú)法在與PCB (印刷電路板)綁定之前測(cè)試GOA面板的各項(xiàng)性能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示器面板測(cè)試方法及裝置，用于實(shí)現(xiàn)對(duì)GOA面板的測(cè)試，從而及時(shí)獲知GOA面板的性能。一種顯示器面板測(cè)試裝置，包括焊盤(pán)和驅(qū)動(dòng)電路；其中所述焊盤(pán)用于接收測(cè)試信號(hào)；所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端與所述焊盤(pán)相連，用于將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。一種顯示器面板測(cè)試方法，包括以下步驟焊盤(pán)接收測(cè)試信號(hào)；與所述焊盤(pán)相連的驅(qū)動(dòng)電路將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例中焊盤(pán)接收測(cè)試信號(hào)；與所述焊盤(pán)相連的驅(qū)動(dòng)電路將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。通過(guò)增加焊盤(pán)模塊，為測(cè)試信號(hào)的引入提供了接口，焊盤(pán)與驅(qū)動(dòng)電路的輸入端相連，驅(qū)動(dòng)電路的輸出端直接與像素電路陣列的柵極相連，從而使測(cè)試信號(hào)通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路直接驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，以完成各類(lèi)測(cè)試，從而在與PCB綁定之前可以測(cè)試GOA面板的各項(xiàng)性能，以鑒定GOA面板的性能優(yōu)良程度，及GOA面板是否可用等等，更便于實(shí)際利用，提高GOA面板的利用率。


圖I為本發(fā)明實(shí)施例中顯示器面板測(cè)試裝置的主要結(jié)構(gòu)圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例中QGSD模式下GOA面板示意圖； 圖3為本發(fā)明實(shí)施例中顯示器面板測(cè)試裝置功能實(shí)現(xiàn)的簡(jiǎn)單示意圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例中顯示器面板測(cè)試方法的主要流程圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明實(shí)施例中焊盤(pán)接收測(cè)試信號(hào)；與所述焊盤(pán)相連的驅(qū)動(dòng)電路將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。通過(guò)增加焊盤(pán)模塊，為測(cè)試信號(hào)的引入提供了接口，焊盤(pán)與驅(qū)動(dòng)電路的輸入端相連，驅(qū)動(dòng)電路的輸出端直接與像素電路陣列的柵極相連，從而使測(cè)試信號(hào)通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路直接驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，以完成各類(lèi)測(cè)試，從而在與PCB綁定之前可以測(cè)試GOA面板的各項(xiàng)性能，以鑒定GOA面板的性能優(yōu)良程度，及GOA面板是否可用等等。更便于實(shí)際利用，提高GOA面板的利用率。參見(jiàn)圖1，本發(fā)明實(shí)施例中顯示器面板測(cè)試裝置包括焊盤(pán)101及驅(qū)動(dòng)電路102。測(cè)試信號(hào)輸入端可連接焊盤(pán)1，焊盤(pán)101與驅(qū)動(dòng)電路102的輸入端相連，驅(qū)動(dòng)電路102的輸出端與GOA面板上的像素電路陣列的柵極相連。本發(fā)明實(shí)施例以QGSD(quadruple gatesignal driving method,四重柵極信號(hào)驅(qū)動(dòng)法)為例來(lái)介紹顯示器面板測(cè)試裝置。其中，本發(fā)明實(shí)施例以單邊GOA面板為例進(jìn)行說(shuō)明。焊盤(pán)101用于接收測(cè)試信號(hào)。所述裝置中可以包括多個(gè)焊盤(pán)101，其中，焊盤(pán)是指PCB板和元器件引腳相互焊接的部份，由銅箔和孔組成，要露出銅箔，不能有阻焊膜覆蓋。所述裝置中所包括的焊盤(pán)101的數(shù)目可根據(jù)需要確定。例如，如果驅(qū)動(dòng)電路102中包含兩根連接線(xiàn)，則所述焊盤(pán)101的數(shù)目可以為2。焊盤(pán)101數(shù)目盡可能比連接線(xiàn)的數(shù)目要多，以便進(jìn)行擴(kuò)展應(yīng)用。測(cè)試信號(hào)的輸入端可以與焊盤(pán)101相連，從而通過(guò)焊盤(pán)101輸入測(cè)試信號(hào)。焊盤(pán)101可以位于GOA面板的頂部，即與GOA面板原有的數(shù)據(jù)焊盤(pán)位于GOA面板同側(cè)，較佳的，位于GOA面板的左上角，因柵極驅(qū)動(dòng)電路制作在GOA面板的左側(cè)，將焊盤(pán)101制作在GOA面板左上角，使之便于通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路102與像素電路陣列的柵極相連。其中，像素電路陣列的柵極是指像素電路陣列中一行TFT的柵極。同時(shí)，焊盤(pán)101位于GOA面板的頂部是為了不占用GOA面板中部的資源，避免引線(xiàn)混亂。通過(guò)一個(gè)焊盤(pán)101可輸入一路測(cè)試信號(hào)，即當(dāng)所述裝置中包括多個(gè)焊盤(pán)101時(shí)，通過(guò)不同的焊盤(pán)101可輸入相同的測(cè)試信號(hào)，也可輸入不同的測(cè)試信號(hào)。驅(qū)動(dòng)電路102的輸入端與所述焊盤(pán)相連，用于將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路，從而進(jìn)行特性測(cè)試。驅(qū)動(dòng)電路102的輸入端連接焊盤(pán)101，輸出端連接像素電路陣列的柵極。具體的，驅(qū)動(dòng)電路102包括多根連接線(xiàn)及多根引線(xiàn)。其中，為合理利用資源，避免因引線(xiàn)混亂而導(dǎo)致信號(hào)串?dāng)_，每根連接線(xiàn)的輸入端可以連接一個(gè)焊盤(pán)101。每根連接線(xiàn)上可傳輸從焊盤(pán)101接收的一路測(cè)試信號(hào)，而不同的焊盤(pán)101可接收不同的測(cè)試信號(hào)，即當(dāng)驅(qū)動(dòng)電路102包括多根連接線(xiàn)時(shí)，不同的連接線(xiàn)可以傳輸相同的測(cè)試信號(hào)，也可以傳輸不同的測(cè)試信號(hào)。
驅(qū)動(dòng)電路102中引線(xiàn)的輸入端與連接線(xiàn)的輸出端相連，所述引線(xiàn)的輸出端與像素電路陣列的柵極相連。驅(qū)動(dòng)電路102中引線(xiàn)的數(shù)目可以根據(jù)需要確定，例如，如果需要對(duì)整個(gè)像素電路陣列進(jìn)行測(cè)試，則所述引線(xiàn)的數(shù)目可以與像素電路陣列的行數(shù)相同，如果只需測(cè)試像素電路陣列的部分區(qū)域，即只需將待測(cè)區(qū)域中每行TFT分別與對(duì)應(yīng)的引線(xiàn)相連，則引線(xiàn)的數(shù)目可以與待測(cè)區(qū)域的行數(shù)相同。驅(qū)動(dòng)電路102中連接線(xiàn)與引線(xiàn)的連接方式也可以根據(jù)需要確定，例如，可以用一根連接線(xiàn)連接所有引線(xiàn)，則表示用一個(gè)測(cè)試信號(hào)驅(qū)動(dòng)待測(cè)區(qū)域，即對(duì)待測(cè)區(qū)域進(jìn)行同一種特性的測(cè)試，或者不同連接線(xiàn)連接不同引線(xiàn)，例如可以一根連接線(xiàn)連接一根引線(xiàn)，或者可以一根連接線(xiàn)連接若干根引線(xiàn)，這樣可以通過(guò)連接線(xiàn)輸入不同的測(cè)試信號(hào)，可以對(duì)待測(cè)區(qū)域的不同區(qū)域進(jìn)行不同的測(cè)試過(guò)程。每根連接線(xiàn)分別控制與之相連的引線(xiàn)，對(duì)相應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行測(cè)試，連接線(xiàn)與引線(xiàn)的數(shù)目都可根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行任意調(diào)整。但需要考慮面板上布線(xiàn)位置的限制，如果每一根連接線(xiàn)都只連接一根引線(xiàn)，將會(huì)占用很大的空間，增加布線(xiàn)的難度，且容易引起干擾，對(duì)實(shí)際測(cè)試來(lái)說(shuō)也沒(méi)有太大意義。較佳的，所述驅(qū)動(dòng)電路102中還可以包括晶體管。晶體管用于隔離驅(qū)動(dòng)電路102中的引線(xiàn)。具體的，所述晶體管可以是TFT。TFT的柵極與源極相連作為輸入端，所述輸入端與一根連接線(xiàn)的輸出端相連，TFT漏極作為輸出端，所述輸出端與連接到所述連接線(xiàn)的一根引線(xiàn)的輸入端相連。參見(jiàn)圖2所示的QGSD模式的GOA面板示意圖。測(cè)試信號(hào)從面板頂部的data pad(數(shù)據(jù)焊盤(pán))區(qū)輸入到面板左側(cè)，經(jīng)GOA結(jié)構(gòu)單元向右側(cè)像素電路輸入，其中，圖中的所有GOA結(jié)構(gòu)單元不屬于本發(fā)明實(shí)施例中的驅(qū)動(dòng)電路102，因在GOA面板圖中無(wú)法將其具體分開(kāi)，故在圖中將GOA結(jié)構(gòu)單元與驅(qū)動(dòng)電路102劃分在一起。GOA結(jié)構(gòu)單元1、3、5、7為一組，每?jī)蓚€(gè)上下相連，且該四個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元連接一根連接線(xiàn)，GOA結(jié)構(gòu)單元2、4、6、8為一組，每?jī)蓚€(gè)上下相連，且該四個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元連接另一根連接線(xiàn)。GOA結(jié)構(gòu)單元分組是由四重柵極驅(qū)動(dòng)方式所決定的。一個(gè)顯示器面板上所有的GOA結(jié)構(gòu)單元即構(gòu)成了柵極驅(qū)動(dòng)電路。每?jī)蓚€(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元上下相連是為實(shí)現(xiàn)移位寄存的功能，每?jī)蓚€(gè)上下相連的GOA結(jié)構(gòu)單元中，上一個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元的輸出信號(hào)除了向像素電路陣列提供柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)，另外還與下一個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元連接作為下一個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元的觸發(fā)信號(hào)，而下一個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元在上一個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元的觸發(fā)作用下產(chǎn)生輸出信號(hào)，除了為像素電路陣列提供柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)，同時(shí)與上一 GOA結(jié)構(gòu)單元相連接作為上一 GOA結(jié)構(gòu)單元的截止信號(hào)，以此類(lèi)推，從而實(shí)現(xiàn)移位寄存器的作用，實(shí)現(xiàn)逐行掃描。另外，每個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元均與時(shí)鐘信號(hào)CLK相連，柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)可以不必同時(shí)輸出，可以由CLK控制，分時(shí)輸出。其中，G1-G8表不像素電路陣列的第一行至第八行的TFT的柵極。較佳的,與一組GOA結(jié)構(gòu)單元中的每個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元相連的各引線(xiàn)可以連接同一根連接線(xiàn)。每個(gè)GOA結(jié)構(gòu)單元與像素電路陣列的柵極相連的一端同時(shí)連接驅(qū)動(dòng)電路102中的一根引線(xiàn)。當(dāng)晶體管接收到連接線(xiàn)傳輸?shù)臏y(cè)試信號(hào)時(shí)，因TFT的柵極與源極相連且與連接線(xiàn)的輸出端相連，TFT導(dǎo)通，測(cè)試信號(hào)從TFT的源極流向漏極，經(jīng)漏極送入驅(qū)動(dòng)電路102。如果驅(qū)動(dòng)電路102中部分引線(xiàn)連接同一根連接線(xiàn)，則連接到同一根連接線(xiàn)的各引線(xiàn)相當(dāng)于彼此相連，在正常工作中各引線(xiàn)的信號(hào)可能會(huì)相互 干擾。加入晶體管后，限制信號(hào)的單向輸入。如圖3所示，測(cè)試信號(hào)只能從左端向右端輸入，而柵極的工作信號(hào)無(wú)法從右向左傳輸，即晶體管對(duì)連接到同一根連接線(xiàn)的各引線(xiàn)進(jìn)行隔離，從而保證了像素電路陣列的正常工作，避免了各引線(xiàn)相互影響而帶來(lái)的干擾。如果驅(qū)動(dòng)電路102中的每根連接線(xiàn)只連接一根引線(xiàn)，則無(wú)需晶體管。晶體管的數(shù)目可以與驅(qū)動(dòng)電路102中引線(xiàn)的數(shù)目相同。同時(shí)，加入晶體管后會(huì)存在像素電路陣列的柵極電壓輕微下降的問(wèn)題。具體的，一是指顯示區(qū)域(即像素電路陣列)工作時(shí)柵極測(cè)試信號(hào)的電壓下降，是因?yàn)門(mén)FT自身的局限性決定，雖然TFT處于截止?fàn)顟B(tài)，但TFT中仍會(huì)存在微量的漏電流，此TFT自身的缺陷可以通過(guò)外加負(fù)載的方式解決，即在TFT截止時(shí)向測(cè)試信號(hào)輸入端輸入負(fù)電壓，確保TFT完全關(guān)閉，防止漏電流的產(chǎn)生。另一方面，是指測(cè)試信號(hào)電壓的微量變化，原因是TFT器件自身的消耗，測(cè)試信號(hào)電壓同時(shí)作為T(mén)FT的柵極電壓和源極電壓，會(huì)有微小的消耗，導(dǎo)致最終輸入到漏極電壓值相比源極電壓值有微小的下降，但在對(duì)面板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，對(duì)像素電路陣列柵極電壓的要求不高，該輕微的電壓下降在可接受的范圍內(nèi)。以下介紹顯示器面板測(cè)試的方法。參見(jiàn)圖4，本發(fā)明實(shí)施例中顯示器面板測(cè)試的主要方法流程如下步驟401 :焊盤(pán)101接收測(cè)試信號(hào)。步驟402 :與所述焊盤(pán)101相連的驅(qū)動(dòng)電路102將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例中面板測(cè)試的詳細(xì)方法流程如下焊盤(pán)101接收測(cè)試信號(hào)，所述測(cè)試信號(hào)經(jīng)驅(qū)動(dòng)電路102中的連接線(xiàn)傳輸至晶體管的柵極，使晶體管導(dǎo)通，所述測(cè)試信號(hào)由TFT的源極流向漏極，并經(jīng)由TFT的漏極傳輸至驅(qū)動(dòng)電路102中引線(xiàn)的輸入端，所述引線(xiàn)的輸出端與像素電路陣列的柵極相連，將所述測(cè)試信號(hào)送入像素電路陣列的柵極，從而驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，以對(duì)顯示器面板進(jìn)行各類(lèi)特性測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例中焊盤(pán)101接收測(cè)試信號(hào)；與所述焊盤(pán)101相連的驅(qū)動(dòng)電路102將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。通過(guò)增加焊盤(pán)101，為測(cè)試信號(hào)的引入提供了接口，焊盤(pán)101與驅(qū)動(dòng)電路102的輸入端相連，驅(qū)動(dòng)電路102的輸出端直接與像素電路陣列一行TFT的柵極相連，從而使測(cè)試信號(hào)通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路102的傳輸直接驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，以完成對(duì)GOA面板的各類(lèi)測(cè)試，從而在與PCB綁定之前可以測(cè)試GOA面板的各項(xiàng)性能，以鑒定GOA面板的性能優(yōu)良程度、GOA面板是否可用及根據(jù)GOA面板的性能對(duì)其進(jìn)行合理利用等等。更便于實(shí)際利用，提高GOA面板的利用率。驅(qū)動(dòng)電路102中連接線(xiàn)的數(shù)目及引線(xiàn)的數(shù)目都可以根據(jù)需要進(jìn)行選擇，實(shí)現(xiàn)較為靈活，可以合理利用資源。并且，在連接線(xiàn)及引線(xiàn)之間增加晶體管，用于對(duì)驅(qū)動(dòng)電路102中連接到同一根連接線(xiàn)的各引線(xiàn)進(jìn)行隔離，防止各引線(xiàn)之間的信號(hào)相互干擾，保證像素電路陣列正常工作。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種顯示器面板測(cè)試裝置，其特征在于，包括焊盤(pán)和驅(qū)動(dòng)電路；其中 所述焊盤(pán)用于接收測(cè)試信號(hào)； 所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端與所述焊盤(pán)相連，用于將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。
2.如權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述焊盤(pán)位于顯示器面板頂部。
3.如權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)電路包括連接線(xiàn)，每根連接線(xiàn)與一個(gè)焊盤(pán)相連。
4.如權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)電路包括引線(xiàn)，一根引線(xiàn)的一端與一根連接線(xiàn)相連，或多根引線(xiàn)的一端與一根連接線(xiàn)相連，一根引線(xiàn)的另一端與像素電路陣列的一行薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極相連。
5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)電路還包括晶體管，所述晶體管的柵極和源極相連作為輸入端，且所述輸入端與所述連接線(xiàn)的輸出端相連，所述晶體管的漏極作為輸出端，且所述輸出端與所述引線(xiàn)的輸入端相連，用于隔離連接到同一根連接線(xiàn)的各引線(xiàn)。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述晶體管為薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管。
7.如權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述顯示器面板為陣列基板行驅(qū)動(dòng)技術(shù)GOA面板。
8.—種顯示器面板，其特征在于，包括權(quán)利要求1-7所述的任一裝置。
9.一種顯示器面板測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟 焊盤(pán)接收測(cè)試信號(hào)； 與所述焊盤(pán)相連的驅(qū)動(dòng)電路將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，焊盤(pán)接收測(cè)試信號(hào)的步驟包括當(dāng)包括多個(gè)焊盤(pán)時(shí)，通過(guò)每個(gè)焊盤(pán)接收相同或不同的測(cè)試信號(hào)。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)電路還包括晶體管，每個(gè)晶體管的柵極與源極相連，且每個(gè)晶體管的柵極與源極與所述驅(qū)動(dòng)模塊的輸入端相連，每個(gè)晶體管的漏極與所述驅(qū)動(dòng)電路的輸出端相連； 驅(qū)動(dòng)電路將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試的步驟包括通過(guò)焊盤(pán)將所述測(cè)試信號(hào)送入所述晶體管的源極與柵極，所述測(cè)試信號(hào)通過(guò)所述晶體管的漏極傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)電路包括引線(xiàn)，一根引線(xiàn)的一端與一根連接線(xiàn)相連，或多根引線(xiàn)的一端與一根連接線(xiàn)相連，一根引線(xiàn)的另一端與像素電路陣列的一行薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極相連；當(dāng)沒(méi)有測(cè)試信號(hào)輸入時(shí)，所述晶體管截止，連接到同一根連接線(xiàn)的各引線(xiàn)互不連通。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種顯示器面板測(cè)試裝置，用于實(shí)現(xiàn)對(duì)GOA面板的測(cè)試，從而及時(shí)獲知GOA面板的性能。所述裝置包括焊盤(pán)和驅(qū)動(dòng)電路；其中所述焊盤(pán)用于接收測(cè)試信號(hào)；所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端與所述焊盤(pán)相連，用于將接收的測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出端傳輸至顯示器面板中的像素電路陣列的柵極，驅(qū)動(dòng)像素電路陣列，從而進(jìn)行特性測(cè)試。本發(fā)明還公開(kāi)了用所述裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)像素單元的方法。
文檔編號(hào)G09G3/00GK102629440SQ20111011673
公開(kāi)日2012年8月8日 申請(qǐng)日期2011年5月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月6日
發(fā)明者封賓, 王崢 申請(qǐng)人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司