專利名稱：平面顯示裝置及其工作電位調(diào)整方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，且特別是有關(guān)于一種平面顯示裝置的結(jié)構(gòu)以及其工作 電位調(diào)整方法。
背景技術(shù)：
目前，平面顯示裝置例如薄膜晶體管液晶顯示裝置因具有高畫質(zhì)、體積小、重量輕 及應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點而被廣泛應(yīng)用于移動電話、筆記型電腦、桌上型顯示裝置以及電視等 消費性電子產(chǎn)品，并已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)的陰極射線管(CRT)顯示裝置而成為顯示裝置的主 流。然而，由于平面顯示裝置中的薄膜晶體管在不同溫度、濕度、產(chǎn)品生命期等使用狀 態(tài)，薄膜晶體管內(nèi)的膜質(zhì)、缺陷、載流子移動率等電性皆隨之改變，這些改變會導(dǎo)致像素電 容充電不足或電壓泄漏的問題，故使得顯示畫面品質(zhì)產(chǎn)生變化?，F(xiàn)有的改善有通過提高載流子移動率、降低薄膜晶體管漏電流及提升薄膜晶體管 可靠度等方式，但改善幅度有限，且于不同溫度、濕度、使用周期下，顯示畫面品質(zhì)無法保持 即時最佳狀態(tài)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供一種平面顯示裝置的工作電位調(diào)整方法，解決面板可 靠度導(dǎo)致的顯示畫面品質(zhì)問題，以使顯示裝置于不同溫度、濕度、產(chǎn)品生命期等狀態(tài)下即時 提供最佳顯示畫面品質(zhì)。本發(fā)明的再一目的在于提供一種平面顯示裝置的結(jié)構(gòu)，在不同溫度、濕度、產(chǎn)品生 命期等狀態(tài)下可即時提供最佳顯示畫面品質(zhì)。具體地，本發(fā)明實施例提出的一種平面顯示裝置的工作電位調(diào)整方法適用于包括 至少一第一測試像素的平面顯示裝置上。本實施例中，工作電位調(diào)整方法包括提供多個測 試工作電位；逐一使用這些測試工作電位使第一測試像素進(jìn)行操作以使第一測試像素被第 一特定數(shù)據(jù)進(jìn)行充電；取得第一測試像素在這些測試工作電位下被充電后所儲存的多個第 一數(shù)據(jù)電位；以及根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定平面顯示裝置的工作 電位。在本發(fā)明實施例中，上述的工作電位可為平面顯示裝置的掃描線的最低電位；上 述的根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定平面顯示裝置的工作電位可包括 步驟取得這些第一數(shù)據(jù)電位與預(yù)設(shè)電位間的差值隨時間變化的斜率，取得這些斜率的最 大絕對值，以及將使用這些測試工作電位所對應(yīng)取得的這些斜率的最大絕對值中的最小者 所對應(yīng)的測試工作電位設(shè)定為上述的工作電位；又或者，上述的根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在 特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定平面顯示裝置的工作電位可包括步驟取得這些第一數(shù)據(jù)電位與 相對應(yīng)的多個第二數(shù)據(jù)電位之間的多個數(shù)據(jù)差值，取得這些數(shù)據(jù)差值的最大絕對值，以及 以使用這些測試工作電位所對應(yīng)取得的這些數(shù)據(jù)差值的最大絕對值中的最小者所對應(yīng)的測試工作電位為上述的工作電位，其中這些第二數(shù)據(jù)電位由第二測試像素使用與第一測試 像素不同時序的掃描線驅(qū)動電壓信號，并使用與第一測試像素相同的這些測試工作電位進(jìn) 行操作并被第一特定數(shù)據(jù)進(jìn)行充電后所儲存的結(jié)果而得。在本發(fā)明實施例中，上述的工作電位可為平面顯示裝置的掃描線的最高電位；而 上述的根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定平面顯示裝置的工作電位可包 括步驟比較這些第一數(shù)據(jù)電位與預(yù)設(shè)電位以得比較結(jié)果，以及在依照這些測試工作電位 從小到大排列時將使用這些測試工作電位而相對應(yīng)取得的這些比較結(jié)果發(fā)生變化時的測 試工作電位設(shè)定為上述的工作電位。在本發(fā)明實施例中，上述的工作電位調(diào)整方法更包括步驟提供多個測試共用電 位，逐一使用這些測試共用電位與第一測試像素協(xié)同操作以使第一測試像素被第二特定數(shù) 據(jù)進(jìn)行充電，取得第一測試像素與這些測試共用電位協(xié)同操作下被充電后所儲存的多個第 二數(shù)據(jù)電位，取得這些第二數(shù)據(jù)電位與相對應(yīng)的這些測試共用電位間差值的積分結(jié)果，以 及選擇使積分結(jié)果接近預(yù)設(shè)電位的測試共用電位為平面顯示裝置的共用電位。本發(fā)明實施例提出的一種平面顯示裝置，包括多條數(shù)據(jù)線、多條掃描線、顯示區(qū)、 測試區(qū)、存儲器、檢測電路以及電源供應(yīng)電路。具體地，數(shù)據(jù)線用于提供顯示數(shù)據(jù)；顯示區(qū) 包括多個像素，分別電性耦接于這些數(shù)據(jù)線之一與這些掃描線之一，根據(jù)這些掃描線的控 制以決定是否接收顯示數(shù)據(jù)。測試區(qū)包括第一測試像素，而第一測試像素電性耦接至這些 數(shù)據(jù)線之一與這些掃描線之一。存儲器儲存多個測試工作電位。檢測電路電性耦接至存儲 器及第一測試像素，檢測電路取得第一測試像素被充電后所儲存的第一數(shù)據(jù)電位，并根據(jù) 第一數(shù)據(jù)電位的狀態(tài)以從存儲器的這些測試工作電位中擇一為工作電位，并將此工作電位 儲存至存儲器中。電源供應(yīng)電路電性耦接至存儲器以取得上述的工作電位，并在第一時段 內(nèi)提供具備此工作電位的電源至平面顯示裝置以供平面顯示裝置中的電子元件進(jìn)行操作， 在第二時段內(nèi)分次提供具備這些測試工作電位的電源至平面顯示裝置以供平面顯示裝置 中的電子元件進(jìn)行操作。在此，平面顯示裝置中的電子元件可包括提供信號至這些掃描線 的掃描線驅(qū)動電路模塊，或者是包括提供共用電壓信號至這些像素的共用電位驅(qū)動電路模 塊。在本發(fā)明一實施例中，上述的平面顯示裝置中的檢測電路包括微分單元、整流單 元、峰值檢測單元以及處理單元。其中，微分單元包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至 第一測試像素以接收第一數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至預(yù)設(shè)電位；整流單元的輸入端 電性耦接至微分單元的輸出端；峰值檢測單元的輸入端電性耦接至整流單元的輸出端，而 峰值檢測單元的輸出端輸出最大絕對值；處理單元電性耦接至峰值檢測單元以接收最大絕 對值，并將多次分別接收的最大絕對值中的最小者所對應(yīng)的測試工作電位輸出為上述的工 作電位。在本發(fā)明一實施例中，上述的平面顯示裝置中的測試區(qū)更包括第二測試像素，第 二測試像素與第一測試像素電性耦接至這些掃描線中的不同者；檢測電路包括減法單 元、整流單元、峰值檢測單元以及處理單元；減法單元包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦 接至第一測試像素以接收第一數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至第二測試像素以接收第二 測試像素被充電后所儲存的第二數(shù)據(jù)電位；整流單元的輸入端電性耦接至減法單元的輸出 端；峰值檢測單元的輸入端電性耦接至整流單元的輸出端，而峰值檢測單元的輸出端輸出最大絕對值；處理單元電性耦接至峰值檢測單元以接收最大絕對值，并將多次分別接收的 最大絕對值中的最小者所對應(yīng)的測試工作電位輸出為上述的工作電位。在本發(fā)明一實施例中，上述的平面顯示裝置中的檢測電路包括分壓單元、比較單 元以及峰值檢測單元；其中，分壓單元電性耦接至與第一測試像素相電性耦接的這些數(shù)據(jù) 線之一，借此對此數(shù)據(jù)線所提供的電位進(jìn)行分壓操作并輸出分壓操作所得的結(jié)果；比較單 元包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至第一測試像素以接收第一數(shù)據(jù)電位，另一輸入 端電性耦接至分壓單元以接收分壓操作所得的結(jié)果；峰值檢測單元的輸入端電性耦接至比 較單元的輸出端，而峰值檢測單元的輸出端輸出最大絕對值；處理單元電性耦接至峰值檢 測單元以接收最大絕對值，并在多次分別接收最大絕對值之后，將所使用的數(shù)值相鄰且造 成不同的最大絕對值的兩個測試工作電位中的較大者或較小者設(shè)定為上述的工作電位。在本發(fā)明一實施例中，上述的平面顯示裝置中的這些像素包括開關(guān)單元、顯示電 容及儲存電容，顯示電容的一端電性耦接至開關(guān)單元，另一端電性耦接至第一共用電極；儲 存電容的一端電性耦接至開關(guān)單元，另一端電性耦接至第二共用電極；檢測電路包括減 法單元、積分單元以及處理單元；減法單元包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至第一測 試像素以接收第一數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至第二共用電極；積分單元的輸入端電 性耦接至減法單元的輸出端，且積分單元的輸出端輸出積分結(jié)果；處理單元電性耦接至峰 值檢測單元以接收積分結(jié)果，并在多次分別接收積分結(jié)果之后，將提供至第二共用電極上 的數(shù)值相鄰且造成不同的積分結(jié)果的兩個電位中的較大者或較小者設(shè)定為上述的工作電 位。再者，檢測電路更可包括電壓限制單元，電性耦接于積分單元與處理單元之間，借此限 制由積分單元提供至處理單元的積分結(jié)果的電位最大與最小值。概述之，本發(fā)明實施例通過平面顯示裝置工作電位自動調(diào)整方式來改善顯示畫面 品質(zhì)，主要利用檢測電路計算測試像素電性變化，反饋給掃描線驅(qū)動電路模塊及/或共用 電位驅(qū)動電路模塊提供合適的工作電位，使得平面顯示裝置于不同使用溫度、濕度、產(chǎn)品生 命期等使用狀態(tài)下將對顯示畫面品質(zhì)的影響降至最低，而皆有良好顯示畫面品質(zhì)。為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例， 并配合所附附圖，作詳細(xì)說明如下。


圖1繪示為本發(fā)明實施例的一種平面顯示裝置的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖；圖2A及圖2B繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的測試區(qū)的測試像素的排列以及連接關(guān) 系；圖3繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試掃描線驅(qū)動電源電壓信號 的低邏輯工作電位Vgl的實施型態(tài)；圖4繪示出相關(guān)圖3所示檢測電路中各個電連接點的電壓時序變化；圖5繪示出圖3中的輸出電壓V3與相對應(yīng)的測試工作電位的關(guān)系曲線；圖6繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試掃描線驅(qū)動電源電壓信號 的低邏輯工作電位Vgl的另一實施型態(tài)；圖7繪示出相關(guān)圖6所示檢測電路中各個電連接點的電壓時序變化；圖8繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試掃描線驅(qū)動電源電壓信號的高邏輯工作電位Vgh的實施型態(tài)；
圖9繪示出相關(guān)圖8所示檢測電路中各個電連接點的電壓時序變化；
圖lo繪示出圖8中的輸出電壓V3與相對應(yīng)的測試工作電位的關(guān)系曲線；
圖11繪示出相關(guān)于圖l所示平面顯示裝置所采用的工作電位調(diào)整方法的流程 圖12繪示為本發(fā)明實施例的另一種平面顯示裝置的系統(tǒng)架構(gòu)示意 圖13繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試共用電位VC。m的實施型態(tài)；
圖14繪示出相關(guān)圖13所示檢測電路中各個電連接點的電壓時序變化；
圖15繪示出圖13中的輸出電壓V3與相對應(yīng)的測試工作電位的關(guān)系曲線；
圖16繪示出相關(guān)于圖12所示平面顯示裝置所采用的工作電位調(diào)整方法的流程圖。
其中，附圖標(biāo)記
lo150平面顯示裝置1115l時序控制器
12152主動式顯示面板13153掃描線驅(qū)動電路模塊
14154數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路模塊1512513555檢測電路
16156存儲器17157掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器
12l152l顯示區(qū)1231523測試區(qū)
Cd顯示電容CSt儲存電容
GL(1)，GL(2)，．．．，GL(m)掃描線DL(1)，DL(2)，．．．，DL(n)數(shù)據(jù)線
VC0m共用電位Vgh1Vgl工作電位
Vfb數(shù)據(jù)電位58共用電位驅(qū)動電路模塊
Vg掃描線驅(qū)動電壓信號Vdata顯示數(shù)據(jù)電壓信號
Sl1Sla1S1b1S2開關(guān)元件Vo1Voa1VOt，1Vl1V21V3電壓
15l微分單元1531253整流單元
15512551355峰值檢測單元157125713571557處理單元
Min(V3)V3最小值25l155l減法單元
353比較單元58共用電位驅(qū)動電路模塊
553積分單元555電壓限制單元
SlOO一$600步驟具體實施方式
請參閱圖l，繪示為本發(fā)明實施例的一種平面顯示裝置的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖。如圖l所示，平面顯示裝置lo包括時序控制器111主動式顯示面板121掃描線驅(qū)動電路模塊131數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路模塊141檢測電路151存儲器16以及掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器17。其中，時序控制器11用于控制掃描線驅(qū)動電路模塊131數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路模塊14及檢測電路15的時序；掃描線驅(qū)動電路模塊13電性耦接至主動式顯示面板12上的多條掃描線GL(1)，GL(2)，00．，GL(m)以提供掃描線驅(qū)動電壓信號至這些掃描線；數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路模塊14電性耦接至主動 式顯示面板12上的多條數(shù)據(jù)線DL (1)，DU2)，. . .，DL (η)以提供顯示數(shù)據(jù)信號至這些數(shù)據(jù) 線；這些掃描線GL (1)，GL (2)，· · ·，GL (m)與數(shù)據(jù)線DL (1)，DL (2)，...，DL (η)交叉設(shè)置。本 實施例中，主動式顯示面板12可為液晶顯示面板，但本發(fā)明并不以此為限。承上述，主動式顯示面板12包括顯示區(qū)121及測試區(qū)123 ；顯示區(qū)121包括多個 像素P，各個像素P分別電性耦接至掃描線GL(I)，GL⑵，…，GL(m)之一與數(shù)據(jù)線DL(I)， DL (2), ...，DL (η)之一，并根據(jù)這些掃描線的控制以決定是否接收顯示數(shù)據(jù)。各個像素P 通常皆包括像素晶體管、顯示電容Cd例如液晶電容、及儲存電容Cst，儲存電容Cst與顯 示電容Cd的一端電性耦接至像素晶體管以接收顯示數(shù)據(jù)，顯示電容Cd的另一端電性耦接 至第一共用電極以接收共用電位Vcom，而儲存電容Cst的另一端電性耦接至第二共用電極 以接收共用電位Vcom。測試區(qū)123包括多個測試像素TP排列成一行且皆電性耦接至數(shù)據(jù) 線DL(η)并分別電性耦接至掃描線GL(I)，GL⑵，· · ·，GL(m)。在此需要說明的是，測試區(qū) 123亦可僅包括單個測試像素TP。此外，測試像素TP也可以是像素P中的一部分，也就是 說，在畫面顯示時段內(nèi)，這些測試像素TP也可以用來顯示影像。請再參閱圖1，存儲器16儲存多個測試工作電位，例如多個不同的掃描線驅(qū)動電 源電壓的最高工作電位Vgh及/或多個不同的掃描線驅(qū)動電源電壓的最低工作電位Vgl。 掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器17電性耦接至存儲器16以在測試時段內(nèi)逐一取用這些測試工作電 位，進(jìn)而分次提供具備這些測試工作電位的電源至掃描線驅(qū)動電路模塊13進(jìn)行操作。檢測 電路15電性耦接至存儲器16及測試區(qū)123中的各個測試像素TP，以取得測試像素TP被充 電后所儲存的數(shù)據(jù)電位Vfb，并根據(jù)數(shù)據(jù)電位Vfb的狀態(tài)從存儲器16的這些測試工作電位 中擇一為工作電位，并將此工作電位儲存至存儲器16中；之后，由掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器 17從存儲器16中取得此工作電位，并在主動式顯示面板12的畫面顯示時段內(nèi)提供具備此 工作電位的電源至掃描線驅(qū)動電路模塊13進(jìn)行操作。請參閱圖2A及圖2B，為不影響測試像素TP本身的電壓與顯示裝置顯示畫面品質(zhì)， 使用測試像素TP并聯(lián)連接至檢測電路15以提供數(shù)據(jù)電位Vfb，這些測試像素TP可由單列 測試像素(如圖2A)、單行測試像素(如圖2B)、或測試像素矩陣并聯(lián)連接，其目的在于夠大 的電容量可避免電壓受到檢測電路15所牽引，增加量測精確度。在圖2A中，測試像素TP 排列于同一列且皆電性耦接至掃描線GL(m)及數(shù)據(jù)線DL(I)來提供數(shù)據(jù)電位Vfb，而各個像 素P則分別電性耦接至掃描線GL(I)，GL (2)，...,GL(Hi-I)中的相應(yīng)者。在圖2B中，測試 像素TP排列于同一行且皆電性耦接至掃描線GL(I)及數(shù)據(jù)線DL(n)來提供數(shù)據(jù)電位Vfb， 而各個像素P則分別電性耦接至數(shù)據(jù)線DL(I)，DL⑵，…，DL(n-l)中的相應(yīng)者。請一并參閱圖3及圖4，其中圖3繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試 掃描線驅(qū)動電壓信號的最低工作電位Vgl的實施型態(tài)，圖4繪示出相關(guān)圖3所示檢測電路 中各個電連接點的電壓時序變化。具體地，在圖3中，TP代表單個測試像素或者并聯(lián)連接的 多個測試像素，本實施例中以單個測試像素作為舉例說明。當(dāng)測試像素TP中的像素晶體管 (開關(guān)元件)的柵極因施加有掃描線驅(qū)動電壓信號Vg而開啟且像素晶體管的源/漏極施加 有顯示數(shù)據(jù)電壓信號Vdata后，像素晶體管的漏/源極輸出數(shù)據(jù)電位Vfb。當(dāng)檢測電路15 的電性耦接至測試像素TP的開關(guān)元件Sl開啟，數(shù)據(jù)電位Vfb作為檢測電路15的輸入電壓 V0。在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg開啟(ON)時，數(shù)據(jù)電位Vfb被充飽至接近顯示數(shù)據(jù)電壓信號Vdata，在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg關(guān)閉(OFF)時，數(shù)據(jù)電位Vfb被漏電流所牽引而改變。檢測電路15的第一級由開關(guān)元件Sl與微分單元151所構(gòu)成，微分單元151包括 兩輸入端，其中一輸入端通過開關(guān)元件Sl電性耦接至測試像素TP，另一輸入端電性耦接至 預(yù)設(shè)電位例如接地電位；掃描線驅(qū)動電壓信號Vg開啟時，開關(guān)元件Sl斷開而使檢測電路 15斷路；掃描線驅(qū)動電壓信號Vg關(guān)閉時，開關(guān)元件Sl開啟而使得測試像素TP接至檢測 電路15的輸入端，此輸入電壓VO (如圖4(a)所示)經(jīng)微分單元151作用后，其輸出電壓 Vl ε dVO/dt，亦即作斜率運算(如圖4(b)所示)，此斜率隨時間變化。檢測電路15的第二級為整流單元153例如全波整流器，而整流單元153的輸入端 電性耦接至微分單元151的輸出端；微分單元151的輸出電壓Vl經(jīng)整流單元153作用后， 輸出電壓V2 = |V11，亦即做絕對值運算(如圖4(c)所示)。檢測電路15的第三級為峰值檢測單元155，其輸入端電性耦接至整流單元153 的輸出端；整流單元153的輸出電壓V2經(jīng)峰值檢測單元155作用后，其輸出電壓V3 = Max(V2)，亦即做最大值運算(如圖4(d)所示)。檢測電路15的第四級由開關(guān)元件S2與處理單元157所構(gòu)成，開關(guān)單元S2與第一 級中的Sl同步開啟，處理單元157通過開關(guān)元件S2電性耦接至峰值檢測單元155以接收 其輸出電壓V3。本實施例中，通過提供多個測試工作電位Vgl (例如每一個畫面幀(frame) 變換一次測試工作電位)可獲得多個輸出電壓V3。之后，由處理單元157可將多次分別接 收的V3中的最小值Min(V3)(如圖5所示，其繪示出V3與相對應(yīng)的測試工作電位的關(guān)系曲 線)所對應(yīng)測試工作電位(亦即Vgl最佳值)輸出為畫面顯示時段內(nèi)的工作電位，達(dá)成調(diào) 整掃描線驅(qū)動電壓的最低工作電位Vgl的目的。請一并參閱圖6及圖7，其中圖6繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試 掃描線驅(qū)動電壓信號的最低工作電位Vgl的另一實施型態(tài)，圖7繪示出相關(guān)圖6所示檢測 電路中各個電連接點的電壓時序變化。具體地，在圖6中，TPl及TP2分別代表電性耦接至 不同掃描線的單個測試像素或者電性耦接至不同掃描線且并聯(lián)連接的多個測試像素，本實 施例中以電性耦接至不同掃描線的單個測試像素作為舉例說明。當(dāng)測試像素TPl及TP2中 的像素晶體管(開關(guān)元件)的柵極因施加有相同掃描線驅(qū)動電壓信號Vg而開啟且像素晶 體管的源/漏極施加有相同顯示數(shù)據(jù)電壓信號Vdata后，像素晶體管的漏/源極分別輸出 數(shù)據(jù)電位Vfbl及Vfb2。當(dāng)檢測電路25的電性耦接至測試像素TPl及TP2的開關(guān)元件Sla 及Slb開啟，數(shù)據(jù)電位Vfbl及Vfb2分別作為檢測電路25的輸入電壓VOa及VOb。在掃描 線驅(qū)動電壓信號Vg開啟(ON)時，數(shù)據(jù)電位Vfbl及Vft2被充飽至接近顯示數(shù)據(jù)電壓信號 Vdata，在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg關(guān)閉(OFF)時，數(shù)據(jù)電位Vfbl及Vft2被漏電流所牽引而 改變。檢測電路25的第一級由開關(guān)元件Sla及Slb與減法單元251所構(gòu)成，減法單元 251包括兩輸入端，分別通過開關(guān)元件Sla及Slb電性耦接至測試像素TPl及TP2 ；掃描線 驅(qū)動電壓信號Vg開啟時，開關(guān)元件Sla及Slb斷開而使檢測電路25斷路；掃描線驅(qū)動電壓 信號Vg關(guān)閉時，開關(guān)元件Sla及Slb開啟而使得測試像素TPl及TP2分別接至檢測電路25 的兩輸入端，輸入電壓VOa及VOb (如圖7 (a)所示)經(jīng)減法單元251作用后，其輸出電壓Vl =(VOb-VOa)，亦即作減法運算而得數(shù)據(jù)電位之間的數(shù)據(jù)差值(如圖7(b)所示)。檢測電路25的第二級為整流單元253例如全波整流器，而整流單元253的輸入端電性耦接至減法單元251的輸出端；減法單元251的輸出電壓Vl經(jīng)整流單元253作用后， 輸出電壓V2= |V1|，亦即做絕對值運算(如圖7(c)所示)。檢測電路25的第三級為峰值檢測單元255，其輸入端電性耦接至整流單元253 的輸出端；整流單元253的輸出電壓V2經(jīng)峰值檢測單元255作用后，其輸出電壓V3 = Max(V2)，亦即做最大值運算(如圖7(d)所示)。檢測電路25的第四級由開關(guān)元件S2與處理單元257所構(gòu)成，開關(guān)單元S2與第一 級中的Sla及Slb同步開啟，處理單元257通過開關(guān)元件S2電性耦接至峰值檢測單元255 以接收其輸出電壓V3。本實施例中，通過提供多個測試工作電位Vgl (例如每一個畫面幀變 換一次測試工作電位)可獲得多個輸出電壓V3。之后，由處理單元257可將多次分別接收 的V3中的最小值Min(V3)(可參閱圖5)所對應(yīng)測試工作電位(亦即Vgl最佳值)輸出為 畫面顯示時段內(nèi)的工作電位，達(dá)成調(diào)整工作電位Vgl的目的。請一并參閱圖8及圖9，其中圖8繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作測試 掃描線驅(qū)動電壓信號的最高工作電位Vgh的實施型態(tài)，圖9繪示出相關(guān)圖8所示檢測電路 中各個電連接點的電壓時序變化。具體地，在圖8中，TP代表單個測試像素或者并聯(lián)連接 的多個測試像素，本實施例中以單個測試像素作為舉例說明。當(dāng)測試像素TP中的像素晶體 管(開關(guān)元件)的柵極因施加有掃描線驅(qū)動電壓信號Vg而開啟且像素晶體管的源/漏極 施加有顯示數(shù)據(jù)電壓信號Vdata后，像素晶體管的漏/源極輸出數(shù)據(jù)電位Vfb。當(dāng)檢測電路 35的電性耦接至測試像素TP的開關(guān)元件Sl開啟，數(shù)據(jù)電位Vfb作為檢測電路35的輸入電 壓V0。在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg開啟(ON)時，數(shù)據(jù)電位Vfb被充飽至接近顯示數(shù)據(jù)電壓 Vdata，在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg關(guān)閉(OFF)時，數(shù)據(jù)電位Vfb被漏電流所牽引而改變。檢測電路35的第一級由開關(guān)元件Sl與分壓單元351所構(gòu)成，分壓單元351電性 耦接至與測試像素TP相同數(shù)據(jù)電壓信號的數(shù)據(jù)線，借此對此數(shù)據(jù)線所提供的顯示數(shù)據(jù)電 壓信號Vdata進(jìn)行分壓操作；掃描線驅(qū)動電壓信號Vg關(guān)閉時，開關(guān)元件Sl斷開而使檢測電 路35斷路；掃描線驅(qū)動電壓信號Vg開啟時，開關(guān)元件Sl開啟而使得測試像素TP接至檢測 電路35的輸入端而提供輸入電壓VO (如圖9 (a)所示)。接入檢測電路35的顯示數(shù)據(jù)電壓 信號Vdata經(jīng)分壓單元351的分壓作用后，輸出電壓Vl = KXVdata(如圖9 (b)所示)，目 的在于提供比較測試像素TP是否充飽的比較準(zhǔn)位。檢測電路35的第二級為比較單元353，其輸入電壓VO及Vl經(jīng)比較單元353作用 后，如果VO > Vl，其輸出電壓V2 = +V (sat)(電壓正飽和值)，否則如果VO < Vl，其輸出電 壓V2 =-V(sat)(如圖9(c)所示)；其中+V(sat)為電壓正飽和值，_V(sat)為電壓負(fù)飽和值。檢測電路35的第三級為峰值檢測單元355，其輸入端電性耦接至比較單元353 的輸出端；比較單元353的輸出電壓V2經(jīng)峰值檢測單元355作用后，其輸出電壓V3 = Max(V2)，亦即做最大值運算(如圖9(d)所示)。檢測電路35的第四級由開關(guān)元件S2與處理單元357所構(gòu)成，開關(guān)單元S2與第一 級中的Sl同步開啟，處理單元357通過開關(guān)元件S2電性耦接至峰值檢測單元355以接收 其輸出電壓V3。本實施例中，通過提供多個測試工作電位Vgh (例如每一個畫面幀變換一次 測試工作電位)可獲得多個輸出電壓V3。之后，由處理單元357在依照各個測試工作電位 從小到大排列時將使用這些測試工作電位而相對取得的V3發(fā)生變化(對應(yīng)圖10中V3跳躍值，圖10繪示出V3與相對應(yīng)的測試工作電位的關(guān)系曲線)時的測試工作電位(Vgh最佳 值)輸出為畫面顯示時段內(nèi)的工作電位，達(dá)成調(diào)整工作電位Vgh的目的。簡述之，上述相關(guān)于圖1所示平面顯示裝置10的實施例中所采用的演算方法可參 閱圖11，平面顯示裝置10啟動工作電位調(diào)整(S100)后，逐一從存儲器16中取用不同的測 試工作電位Vgh及/或Vgl并分別儲存檢測電路15、25、35的輸出電壓V3與Vgh及/或 Vgl的關(guān)系至存儲器16中(S200)，再由掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器17從存儲器16內(nèi)尋找最佳 的Vgh及/或Vgl在畫面顯示時段內(nèi)使用(S300)。請參閱圖12，繪示出本發(fā)明實施例的另一種平面顯示裝置的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖。如 圖12所示，平面顯示裝置50包括時序控制器51、主動式顯示面板52、掃描線驅(qū)動電路模塊 53、數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路模塊M、檢測電路55、存儲器56、掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器57以及共用 電位驅(qū)動電路模塊58。其中，時序控制器51用于控制掃描線驅(qū)動電路模塊53、數(shù)據(jù)線驅(qū)動 電路模塊M及檢測電路陽的時序；掃描線驅(qū)動電路模塊53電性耦接至主動式顯示面板 52上的多條掃描線GL(I)，GU2)，...，GL(m)以提供掃描線驅(qū)動電壓信號至這些掃描線；數(shù) 據(jù)線驅(qū)動電路模塊M電性耦接至主動式顯示面板52上的多條數(shù)據(jù)線DL(I), DL(2),
DL (η)以提供顯示數(shù)據(jù)信號至這些數(shù)據(jù)線；這些掃描線GL(I)，GL (2)，...，GL (m)與數(shù)據(jù)線 DL(I), DL(2), ... , DL (η)交叉設(shè)置。本實施例中，主動式顯示面板52可為液晶顯示面板， 但本發(fā)明并不以此為限。承上述，主動式顯示面板52包括顯示區(qū)521及測試區(qū)523 ；顯示區(qū)521包括多個 像素P，各個像素P分別電性耦接至掃描線GL(I)，GL⑵，…，GL(m)之一與數(shù)據(jù)線DL(I)， DL(2),...,DL(n)之一并根據(jù)這些掃描線的控制以決定是否接收顯示數(shù)據(jù)。各個像素P通 常皆包括像素晶體管、顯示電容Cd例如液晶電容、以及儲存電容Cst，顯示電容Cd與儲存 電容Cst的一端電性耦接至像素晶體管以接收顯示數(shù)據(jù)，顯示電容Cd的另一端電性耦接至 第一共用電極以接收共用電位Vcom，儲存電容Cst的另一端電性耦接至共用電極以接收共 用電位Vcom。測試區(qū)523包括多個測試像素TP排列成一行且皆電性耦接至數(shù)據(jù)線DL (η) 并分別電性耦接至掃描線GL(I)，GL⑵，· · ·，GL(m)。在此需要說明的是，測試區(qū)523亦可 僅包括單個測試像素ΤΡ，又或者是包括多個測試像素TP排列成一行或一列并電性耦接至 不同的掃描線或者同一掃描線。此外，測試像素TP也可以是像素P中的一部分，也就是說， 在畫面顯示時段內(nèi)，這些測試像素TP也可以用來顯示影像。再者，共用電位驅(qū)動電路模塊 58電性耦接至主動式顯示面板52，以向其的顯示區(qū)521提供畫面顯示時段內(nèi)所需的共用電 位Vcom以及向其的測試區(qū)523分次提供測試時段內(nèi)所需的多個測試共用電位Vcom。請再參閱圖12，存儲器56儲存多個測試工作電位，例如多個不同的掃描線驅(qū)動電 壓信號的最高工作電位Vgh、多個不同的掃描線驅(qū)動電壓信號的最低工作電位Vgl、及/或 多個不同的測試共用電位Vcom。掃描線驅(qū)動電壓發(fā)生器57電性耦接至存儲器56以在掃描 線驅(qū)動電壓信號的最高工作電位及/最低工作電位測試時段內(nèi)逐一取用這些測試工作電 位Vgh及/或Vgl，進(jìn)而分次提供具備這些測試工作電位的電源至掃描線驅(qū)動電路模塊53 進(jìn)行操作；共用電位驅(qū)動電路模塊58也電性耦接至存儲器56以在共用電位測試時段內(nèi)逐 一取用這些測試共用電位Vcom，進(jìn)而分次提供具備這些測試共用電位的電源至共用電位驅(qū) 動電路模塊58進(jìn)行操作。檢測電路55電性耦接至存儲器56及測試區(qū)523中的測試像素 TP,以取得測試像素TP被充電后所儲存的數(shù)據(jù)電位Vfb以及測試共用電位Vcom。
請一并參閱圖13及圖14，其中圖13繪示出相關(guān)于本發(fā)明實施例的檢測電路用作 測試共用電位的實施型態(tài)，圖14繪示出相關(guān)圖13所示檢測電路中各個電連接點的電壓時 序變化。具體地，在圖13中，TP代表單個測試像素或者并聯(lián)連接的多個測試像素，本實施例 中以單個測試像素作為舉例說明。當(dāng)測試像素TP中的像素晶體管(開關(guān)元件)的柵極因 施加有掃描線驅(qū)動電壓信號Vg而開啟且像素晶體管的源/漏極施加有顯示數(shù)據(jù)電壓Vdata 后，像素晶體管的漏/源極輸出數(shù)據(jù)電位Vfb、且測試像素TP中的儲存電容與共用電極相電 性耦接的一端輸出測試共用電位Vcom。當(dāng)檢測電路55的電性耦接至測試像素TP的開關(guān)元 件Sla及Slb開啟，數(shù)據(jù)電位Vfb經(jīng)開關(guān)元件Sla輸入作為檢測電路55的輸入電壓VOa、且 測試共用電位Vcom經(jīng)開關(guān)元件Slb輸入至檢測電路55。在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg開啟 (ON)時，數(shù)據(jù)電位Vfb被充飽至接近顯示數(shù)據(jù)電壓信號Vdata，在掃描線驅(qū)動電壓信號Vg 關(guān)閉(OFF)時，數(shù)據(jù)電位Vfb被漏電流所牽引而改變。檢測電路55的第一級由開關(guān)元件Sla及Slb與減法單元551所構(gòu)成，減法單元 551包括兩輸入端，分別通過開關(guān)元件Sla及Slb電性耦接至測試像素TP的顯示電容的兩 端(亦即，像素電極與第二共用電極(在此也可為第一共用電極))以接收數(shù)據(jù)電位Vfb及 測試共用電位Vcom;輸入電壓VO及Vcom(如圖14(a)所示)經(jīng)減法單元551作用后，其輸 出電壓Vl = (VO-Vcom)(等同于顯示電容之壓差)，亦即作減法運算而得數(shù)據(jù)電位與相對應(yīng) 的測試共用電位之間的差值(如圖14(b)所示)。檢測電路55的第二級為積分單元553，而積分單元553的輸入端電性耦接至減法 單元的輸出端；減法單元的輸出電壓Vl經(jīng)積分單元553作時間上的積分，若電壓 Vl于正負(fù)半周不對稱，則其輸出電壓V2(積分結(jié)果)將隨時間變大或變小(如圖14(c)所 示)；因此，檢測電路55可用于儲存電壓正負(fù)半周是否對稱。檢測電路55的第三級為電壓限制單元555，其輸入端電性耦接至積分單元553 的輸出端；積分單元553的輸出電壓V2經(jīng)電壓限制單元555作用后，其輸出電壓V3如圖 14(d)所示。本實施例中，電壓限制單元555用于限制輸出電壓V2的最大與最小值，其可根 據(jù)實際需要而決定是否采用之。檢測電路55的第四級由開關(guān)元件S2與處理單元557所構(gòu)成，開關(guān)單元S2與第一 級中的Sla及Slb同步開啟，處理單元557通過開關(guān)元件S2電性耦接至電壓限制單元255 以接收其輸出電壓V3，并將多次分別接收積分結(jié)果之后，將提供至測試像素TP的共用電極 上的數(shù)值相鄰且造成不同的積分結(jié)果的兩個測試共用電位中的較大者或較小者設(shè)定為該 畫面顯示時段的共用電位。本實施例中，通過提供不同的測試共用電壓Vcom(例如每一個畫面幀變換一次測 試共用電位)可獲得多個輸出電壓V3。如圖15所示，當(dāng)測試共用電壓Vcom較小時，正半周 的Vl大于負(fù)半周的Vl，由于積分單元553與電壓限制單元555的作用，輸出電壓V3對應(yīng)至 負(fù)飽和值(-V(sat))；反之，當(dāng)測試共用電壓Vcom較大時，正半周的Vl小于負(fù)半周的VI，由 于積分單元553與電壓限制單元555的作用，輸出電壓V3對應(yīng)至正飽和值(+V(sat))；則 當(dāng)輸出電壓V3跳躍時，即為最佳的測試共用電位(例如圖15中所示的對應(yīng)O電位的測試 共用電位Vcom取值)。此最佳的測試共用電位可由共用電位驅(qū)動電路模塊58從存儲器56 中取出作為平面顯示裝置50的畫面顯示時段內(nèi)的共用電位，達(dá)成調(diào)整共用電位Vcom的目 的。
簡述之，上述相關(guān)于圖12所示平面顯示裝置50的實施例中所采用的演算方法可 參閱圖16，在平面顯示裝置50執(zhí)行步驟SlOO S300以尋找出最佳的Vgh及/或Vgl之后， 則可逐一從存儲器56中取用不同的測試共用電位Vcom(S400)并儲存檢測電路55的輸出 電壓V3與Vcom的關(guān)系至存儲器56中(S500)，再由共用電位驅(qū)動電路模塊58從存儲器56 內(nèi)尋找最佳的Vcom在畫面顯示時段內(nèi)使用(S600)，以降低人眼閃爍感。上述步驟SlOO S600可重復(fù)進(jìn)行，以尋找出最佳的Vgh及/或Vgl、及/或Vcom。綜上所述，本發(fā)明實施例通過顯示裝置工作電位自動調(diào)整方式來改善顯示畫面品 質(zhì)，主要利用檢測電路計算測試像素電性變化，反饋給掃描線驅(qū)動電路模塊及/或共用電 位驅(qū)動電路模塊提供合適的工作電位，使得顯示裝置于不同使用溫度、濕度、產(chǎn)品生命期等 使用狀態(tài)下將對顯示畫面品質(zhì)的影響降至最低，而皆有良好顯示畫面品質(zhì)。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟 悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變 形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示裝置的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，適用于包括至少一第一測試 像素的一平面顯示裝置上，該工作電位調(diào)整方法包括提供多個測試工作電位；逐一使用這些測試工作電位使該第一測試像素進(jìn)行操作以使該第一測試像素被一第 一特定數(shù)據(jù)進(jìn)行充電；取得該第一測試像素在這些測試工作電位下被充電后所儲存的多個第一數(shù)據(jù)電位；以及根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在一特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定該平面顯示裝置的一工作電位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，該工作電位為該平面顯示 裝置的掃描線的最低電位。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在 該特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定該平面顯示裝置的該工作電位，包括取得這些第一數(shù)據(jù)電位與一預(yù)設(shè)電位間的差值隨時間變化的一斜率；取得該斜率的最大絕對值；以及將使用這些測試工作電位所對應(yīng)取得的這些斜率的最大絕對值中的最小者所對應(yīng)的 該測試工作電位設(shè)定為該工作電位。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在 該特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定該平面顯示裝置的該工作電位，包括取得這些第一數(shù)據(jù)電位與相對應(yīng)的多個第二數(shù)據(jù)電位之間的多個數(shù)據(jù)差值；取得這些數(shù)據(jù)差值的最大絕對值；以及以使用這些測試工作電位所對應(yīng)取得的這些數(shù)據(jù)差值的最大絕對值中的最小者所對 應(yīng)的該測試工作電位為該工作電位，其中，這些第二數(shù)據(jù)電位由一第二測試像素使用與該第一測試像素不同時序的掃描線 驅(qū)動電壓信號，并使用與該第一測試像素相同的這些測試工作電位進(jìn)行操作，并被該第一 特定數(shù)據(jù)進(jìn)行充電后所儲存的結(jié)果而得。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，該工作電位為該平面顯示 裝置的掃描線的最高電位。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在 該特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定該平面顯示裝置的該工作電位，包括比較這些第一數(shù)據(jù)電位與一預(yù)設(shè)電位以得一比較結(jié)果；以及在依照這些測試工作電位從小到大排列時，將使用這些測試工作電位而相對應(yīng)取得的 這些比較結(jié)果發(fā)生變化時的該測試工作電位設(shè)定為該工作電位。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工作電位調(diào)整方法，其特征在于，更包括提供多個測試共用電位；逐一使用這些測試共用電位與該第一測試像素協(xié)同操作，以使該第一測試像素被一第 二特定數(shù)據(jù)進(jìn)行充電；取得該第一測試像素與這些測試共用電位協(xié)同操作下被充電后所儲存的多個第二數(shù) 據(jù)電位；取得這些第二數(shù)據(jù)電位與相對應(yīng)的這些測試共用電位間差值的一積分結(jié)果；選擇使該積分結(jié)果接近一預(yù)設(shè)電位的測試共用電位為該平面顯示裝置的共用電位。
8.一種平面顯示裝置，其特征在于，包括 多條數(shù)據(jù)線，提供顯示數(shù)據(jù)；多條掃描線；一顯示區(qū)，包括多個像素，分別電性耦接于這些數(shù)據(jù)線之一與這些掃描線之一，根據(jù)這 些掃描線的控制以決定是否接收顯示數(shù)據(jù)；一測試區(qū)，包括一第一測試像素，該第一測試像素電性耦接至這些數(shù)據(jù)線之一與這些 掃描線之一；一存儲器，儲存多個測試工作電位；一檢測電路，電性耦接至該存儲器及該第一測試像素，該檢測電路取得該第一測試像 素被充電后所儲存的第一數(shù)據(jù)電位，并根據(jù)該第一數(shù)據(jù)電位的狀態(tài)以從該存儲器的這些測 試工作電位中擇一為一工作電位，并將該工作電位儲存至該存儲器中；以及一電源供應(yīng)電路，電性耦接至該存儲器以取得該工作電位，并在一第一時段內(nèi)提供具 備該工作電位的電源至該平面顯示裝置以供該平面顯示裝置中的一電子元件進(jìn)行操作，在 一第二時段內(nèi)分次提供具備這些測試工作電位的電源至該平面顯示裝置以供該平面顯示 裝置中的該電子元件進(jìn)行操作。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示裝置，其特征在于，該檢測電路包括一微分單元，包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至該第一測試像素以接收該第一 數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至一預(yù)設(shè)電位；一整流單元，該整流單元的輸入端電性耦接至該微分單元的輸出端； 一峰值檢測單元，該峰值檢測單元的輸入端電性耦接至該整流單元的輸出端，該峰值 檢測單元的輸出端輸出一最大絕對值；以及一處理單元，電性耦接至該峰值檢測單元以接收該最大絕對值，并將多次分別接收的 該最大絕對值中的最小者所對應(yīng)的該測試工作電位輸出為該工作電位。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示裝置，其特征在于，該測試區(qū)更包括一第二測試像 素，該第二測試像素與該第一測試像素電性耦接至這些掃描線中的不同者，且該第二測試 像素與該第一測試像素電性耦接至相同顯示數(shù)據(jù)信號，該檢測電路包括一減法單元，包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至該第一測試像素以接收該第一 數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至該第二測試像素以接收該第二測試像素被充電后所儲存 的一第二數(shù)據(jù)電位；一整流單元，該整流單元的輸入端電性耦接至該減法單元的輸出端； 一峰值檢測單元，該峰值檢測單元的輸入端電性耦接至該整流單元的輸出端，該峰值 檢測單元的輸出端輸出一最大絕對值；以及一處理單元，電性耦接至該峰值檢測單元以接收該最大絕對值，并將多次分別接收的 該最大絕對值中的最小者所對應(yīng)的該測試工作電位輸出為該工作電位。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示裝置，其特征在于，該檢測電路包括一分壓單元，電性耦接至與該第一測試像素相電性耦接的這些數(shù)據(jù)線之一，借此對該 數(shù)據(jù)線所提供的電位進(jìn)行分壓操作并輸出分壓操作所得的結(jié)果；一比較單元，包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至該第一測試像素以接收該第一數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至該分壓單元以接收分壓操作所得的結(jié)果；以及一峰值檢測單元，該峰值檢測單元的輸入端電性耦接至該比較單元的輸出端，該峰值 檢測單元的輸出端輸出一最大絕對值；以及一處理單元，電性耦接至該峰值檢測單元以接收該最大絕對值，并在多次分別接收該 最大絕對值之后，將所使用的數(shù)值相鄰且造成不同的該最大絕對值的兩個測試工作電位中 的較大者或較小者設(shè)定為該工作電位。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示裝置，其特征在于，每一這些像素分別包括一開關(guān) 單元、一顯示電容及一儲存電容，該顯示電容的一端電性耦接至該開關(guān)單元，該顯示電容的 另一端電性耦接至一第一共用電極，該儲存電容的一端電性耦接至該開關(guān)單元，該儲存電 容的另一端電性耦接至一第二共用電極，該檢測電路包括一減法單元，包括兩輸入端，其中一輸入端電性耦接至該第一測試像素以接收該第一 數(shù)據(jù)電位，另一輸入端電性耦接至該第一或第二共用電極；一積分單元，該積分單元的輸入端電性耦接至該減法單元的輸出端，且該積分單元的 輸出端輸出一積分結(jié)果；以及一處理單元，電性耦接至該峰值檢測單元以接收該積分結(jié)果，并在多次分別接收該積 分結(jié)果之后，將提供至該第二共用電極上的數(shù)值相鄰且造成不同的該積分結(jié)果的兩個電位 中的較大者或較小者設(shè)定為該工作電位。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的平面顯示裝置，其特征在于，該檢測電路更包括一電壓限制單元，電性耦接于該積分單元與該處理單元之間，借此限制由該積分單元 提供至該處理單元的該積分結(jié)果的電位最大與最小值。
14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示裝置，其特征在于，該電子元件包括提供信號至這 些掃描線的掃描線驅(qū)動電路模塊。
15.根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示裝置，其特征在于，該電子元件包括提供共用電壓 信號至這些像素的共用電位驅(qū)動電路模塊。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種平面顯示裝置及其工作電位調(diào)整方法，適用于包括至少一第一測試像素的平面顯示裝置上，其包括提供多個測試工作電位；逐一使用這些測試工作電位使第一測試像素進(jìn)行操作以使第一測試像素被第一特定數(shù)據(jù)進(jìn)行充電；取得第一測試像素在這些測試工作電位下被充電后所儲存的多個第一數(shù)據(jù)電位；以及根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)電位在特定時間內(nèi)的狀態(tài)以決定平面顯示裝置的工作電位。
文檔編號G09G3/00GK102142218SQ20111010361
公開日2011年8月3日 申請日期2011年4月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月28日
發(fā)明者劉品妙, 廖培鈞, 林松輝 申請人:友達(dá)光電股份有限公司