專利名稱：面板測試結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種利用薄膜探針的特性所制成的面板測試結(jié)構(gòu)，特別涉及 一種可測試面板彩度的面板測試結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
不論是何種顯示器，于現(xiàn)今信息社會中已是一個不可或缺的配備，其用以呈 現(xiàn)畫面與文字信號的輸出裝置，在顯示器中一個影像的輸出由許多具不同顏色及明
亮度的像素(pixel)所構(gòu)成，且每一像素中包括有紅(R)、綠(G)及藍(lán)(B)三 個子像素(sub-pixel )，而相鄰二子像素之間的最短距離即所謂的間距(pitch ), 當(dāng)間距越小時，顯示器的畫面將越為清晰。
每一個像素中的每一子像素分別受一條信號掃描線(common)及一條數(shù)據(jù)信 號線(segment)連接，且每一信號掃描線并受一信號掃描線驅(qū)動電路供應(yīng)掃描信 號，而每一數(shù)據(jù)信號線則受一數(shù)據(jù)信號線驅(qū)動電路供應(yīng)影像數(shù)據(jù)，并使數(shù)據(jù)信號線 及信號掃瞄線分別與設(shè)置于面板邊緣的驅(qū)動電路連接，以藉由驅(qū)動電路來控制驅(qū)動 信號快速且反復(fù)的掃瞄過各子像素，進(jìn)而控制每一子像素的亮與暗，以經(jīng)由三原色 依比例調(diào)和而顯示出全彩模式的色彩。
已知在對顯示器面板進(jìn)行點(diǎn)燈測試時，即是針對每一像素中的子像素進(jìn)行測 試，乃在安裝前述的驅(qū)動電路以及完成面板接合之后，先以點(diǎn)燈測試機(jī)臺對此面板 進(jìn)行測試，以確保產(chǎn)品妥善。然，于高顯示度的顯示面板其電極終端區(qū)的輸入電極 排線相當(dāng)密集，以致于利用傳統(tǒng)探針方式來進(jìn)行點(diǎn)測試時遇到很大的困難，且此種 利用點(diǎn)燈測試機(jī)臺進(jìn)行測試的方式使用有所限制，亦無法分別單獨(dú)測試各原色子像 素。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的一目的是提供一種面板測試結(jié)構(gòu)，其利用不同導(dǎo)電結(jié)構(gòu)上的導(dǎo) 電凸塊分別與任一相同原色子像素形成電性接觸，且將待側(cè)面板上的相同原色子像素全都連接至同 一測試點(diǎn)，以藉此進(jìn)行面板像素測試。
本實(shí)用新型的另一目的是提供一種面板點(diǎn)燈測試結(jié)構(gòu)，其可針對三原色，紅
綠藍(lán)(RGB)，分別單獨(dú)測試其彩度，應(yīng)用更為廣泛。
本實(shí)用新型的再一目的是提供一種面板測試結(jié)構(gòu)，其使用單面的測試薄膜探 針即可進(jìn)行點(diǎn)燈測試，故易于制造及維修。
本實(shí)用新型的又一 目的是提供一種可降低成本的面板測試結(jié)構(gòu)。
為達(dá)到上述的目的，本實(shí)用新型的一實(shí)施例提出一種面板測試結(jié)構(gòu)將導(dǎo)電結(jié) 構(gòu)布設(shè)于薄膜或軟性片上而形成薄膜探針。其用以測試一面板上的多個像素，且每 一像素含有多個子像素；以及一薄膜探針設(shè)有多個導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。其中導(dǎo)電結(jié)構(gòu)具有多 個導(dǎo)電凸塊凸設(shè)于薄膜上的導(dǎo)電線表面，且任一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電凸塊分別與任一相 同顏色子像素形成電性連接。此外，導(dǎo)電凸塊利用至少一導(dǎo)電線路連接至一對外接 點(diǎn)，因此可藉由對外接點(diǎn)做面板測試。
以下藉由具體實(shí)施例配合所附的附圖詳加說明，當(dāng)更容易了解本實(shí)用新型的 目的、技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)及其所達(dá)成的功效。


圖1為依據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的待測面板的示意圖。
圖2a為依據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的薄膜或軟性片上電線的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2b為圖2a的局部側(cè)視示意圖。
圖3為依據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的進(jìn)行面板測試的結(jié)構(gòu)俯視圖。 圖4為依據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的進(jìn)行面板測試的結(jié)構(gòu)側(cè)視圖。 圖5為依據(jù)本實(shí)用新型的又一實(shí)施例的進(jìn)行面板測試的結(jié)構(gòu)俯視圖。
主要元件符號說明
100面板
110像素
112、114、116子像素
200薄膜探針
210、220、230導(dǎo)電結(jié)構(gòu)
212、222、232導(dǎo)電凸塊
214、224、234導(dǎo)電線路Cl、 C2、 C3…
Sll、 S12、 S13、
216、 226、 236
240、 250
對外接點(diǎn) 控制線路 信號掃描線 數(shù)據(jù)傳輸線
S21、 S22、 S23…
具體實(shí)施方式
其詳細(xì)說明如下，所述較佳實(shí)施例僅做一說明非用以限定本實(shí)用新型。
首先，請先參考圖1，圖1繪示本實(shí)用新型的一實(shí)施例所使用的待測面板示意 圖。如圖所示， 一面板100具有成矩陣排列的多個像素110，且每一個像素110分 為多個子像素，于一實(shí)施例中，子像素可區(qū)分為三原色子像素，分別為紅色(R) 子像素112、綠色(G)子像素114及藍(lán)色(B)子像素116等三原色。其中多個信 號掃瞄線(Common line)(如C1、 C2、 C3…)設(shè)置于面板的一側(cè)邊，且任一信號掃 瞄線電性連接面板100上任一橫向排列的像素110;而多個數(shù)據(jù)傳輸線(Segment line)(如Sll、 S12、 S13…)設(shè)置于面板100的另 一側(cè)邊，且任一數(shù)據(jù)傳輸線電性 連接面板100上任一縱向排列的子像素(112、 114或116)以方便面板100進(jìn)行測試、 電性導(dǎo)通與數(shù)據(jù)傳輸用。
接著，請參考圖2a及圖2b，圖2a繪示本實(shí)用新型的一實(shí)施例的薄膜或軟性 片上電線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2b為圖2a的局部側(cè)視示意圖。請先參考圖2a, —薄 膜探針200,例如由薄膜或不導(dǎo)電的可撓式材質(zhì)所構(gòu)成，其上含有多個導(dǎo)電結(jié)構(gòu)， 于一實(shí)施例中，導(dǎo)電結(jié)構(gòu)可由異方向性導(dǎo)電膠或是鎳合金的金屬導(dǎo)線所構(gòu)成。且任 一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中，含有多個導(dǎo)電凸塊(如212、 222或232)凸出于薄膜探針200表面， 且任一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電凸塊(212、 222或232)利用至少一導(dǎo)電線路(如214、 224 或234)連接至一對外接點(diǎn)(如216、 226或236)。其中導(dǎo)電凸塊212、 222、 232經(jīng) 由導(dǎo)電線路(圖中僅顯示導(dǎo)電線路234)連接并凸出薄膜探針的示意圖可參考圖2b。
接續(xù)上述，于一實(shí)施例中，薄膜探針200具有三組導(dǎo)電結(jié)構(gòu)，其為一紅色子 像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、 一綠色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)及一藍(lán)色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)，分別用以測試不 同原色的子像素。于又一實(shí)施例中，紅色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)210由多個導(dǎo)電凸塊212、 至少一導(dǎo)電線路214及一對外接點(diǎn)216組成；綠色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)220由多個導(dǎo)電凸塊222、至少一導(dǎo)電線路224及一對外接點(diǎn)226組成；以及藍(lán)色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu) 230由多個導(dǎo)電凸塊232、至少一導(dǎo)電線路234及一對外接點(diǎn)236組成。如圖2a 所示，于此實(shí)施例中，薄膜探針200上紅色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)210的多個導(dǎo)電凸塊 212凸出于薄膜探針200表面，且利用導(dǎo)電線路214連接至對外接點(diǎn)216。同理， 綠色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)220的導(dǎo)電凸塊222亦凸出于薄膜探針200表面，且利用導(dǎo)電 線路224連接至對外接點(diǎn)226;以及藍(lán)色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)230的導(dǎo)電凸塊232凸設(shè) 于薄膜探針200表面，且利用導(dǎo)電線路234連接至對外接點(diǎn)236。其中三組導(dǎo)電結(jié) 構(gòu)分別經(jīng)由對外接點(diǎn)216、 226、 236連接外部測試信號(如測試機(jī)臺信號產(chǎn)生品)， 即可將待側(cè)信號轉(zhuǎn)接出去，進(jìn)行面板100 (如圖1所示)的點(diǎn)燈測試。
再來，使用如圖2a所示的薄膜探針200對如圖1所示的待測面板100進(jìn)行測 試時，請同時參閱圖3及圖4，圖3及圖4繪示本實(shí)用新型的一實(shí)施例的進(jìn)行面板 測試的結(jié)構(gòu)俯視圖及其結(jié)構(gòu)側(cè)視圖。如圖所示，將薄膜探針200設(shè)置于面板100 上，且利用薄膜探針200上的導(dǎo)電凸塊與面板100電性接觸。于此實(shí)施例中，例如 紅色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)210上的任一導(dǎo)電凸塊212與面板100上任一紅色子像素112 的數(shù)據(jù)傳輸線電性接觸，再經(jīng)由導(dǎo)電線路214連接至對外接點(diǎn)216,藉由對外接點(diǎn) 216對面板100中紅色子像素112做點(diǎn)燈測試；而綠色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)220上的任 一導(dǎo)電凸塊222與面板100上任一綠色子像素114的數(shù)據(jù)傳輸線電性導(dǎo)通，再經(jīng)由 導(dǎo)電線路224連接至對外接點(diǎn)226,藉由對外接點(diǎn)226對綠色子像素114做點(diǎn)燈測 試；同理，藍(lán)色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)230上的任一導(dǎo)電凸塊232與面板100上任一藍(lán)色 子像素116的數(shù)據(jù)傳輸線電性連接，再經(jīng)由導(dǎo)電線路234連接至對外接點(diǎn)236,藉 由對外接點(diǎn)236對藍(lán)色子像素116做點(diǎn)燈測試。此外，對外接點(diǎn)216、 226及236 可受一開關(guān)線路(圖中未示)控制以分別進(jìn)行個別單色點(diǎn)亮及全點(diǎn)亮的面板測試。圖 4繪示其結(jié)構(gòu)側(cè)視圖，薄膜探針200上的導(dǎo)電凸塊212、 222與232分別與面板100 上的數(shù)據(jù)傳輸線(Sll、 S12、 S13、 S21、 S22、 S23…)電性接觸以測試面板100在各
別亮與全點(diǎn)亮狀態(tài)下的彩度。
接續(xù)上述說明，于又一實(shí)施例中，如圖5所示，薄膜探針200上更可含有一 控制線路(240或250)，其上亦具有凸出薄膜探針200表面的導(dǎo)電凸塊(242或252) 可與面板100上任一列的信號掃瞄線電性接觸。如圖所示，于此實(shí)施例中，兩控制 線路240與250可分別與奇數(shù)列與偶數(shù)列的各組信號掃瞄線電性連接以控制面板 IOO在半點(diǎn)亮狀況下檢查其像素是否正常。但，可以理解的是，圖中所繪式的薄膜 探針200與面板100的樣式僅為一實(shí)施例，并不限制本實(shí)用新型的范疇。根據(jù)上述，本實(shí)用新型提供一種面板測試結(jié)構(gòu)，利用薄膜探針上導(dǎo)電凸塊即 可分別測試面板像素全點(diǎn)亮、半點(diǎn)亮及各別點(diǎn)亮的面板測試而達(dá)到面板全功能的斷
路/短路(open/short)測試。其可應(yīng)用于小型顯示面板與大型顯示面板，應(yīng)用相當(dāng) 廣泛。另，導(dǎo)電凸塊設(shè)計(jì)可使測試薄膜探針與面板線路接觸性更為良好。
綜合上述，本實(shí)用新型的一實(shí)施例所提出的面板測試結(jié)構(gòu)，利用三組導(dǎo)電結(jié) 構(gòu)上的多個導(dǎo)電凸塊，藉由導(dǎo)電凸塊電性接觸待測面板上任一相同原色子像素的數(shù) 據(jù)傳輸線并電性連接至一對外接點(diǎn)，故可針對三原色，例如紅綠藍(lán)(RGB)，分別 單獨(dú)測試其彩度。再者，使用單面薄膜探針即可進(jìn)行點(diǎn)燈測試，且因薄膜探針上的 接點(diǎn)間距較大，故易于制造及維修，成本亦可相對降低。
以上所述藉由實(shí)施例說明本實(shí)用新型的特點(diǎn)，其目的在使熟習(xí)該技術(shù)者能了 解本實(shí)用新型的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，而非限定本實(shí)用新型的專利范圍，故，凡其他未 脫離本實(shí)用新型所揭示的精神所完成的等效修飾或修改，仍應(yīng)包含在以下所述的權(quán)
利要求書中。
權(quán)利要求1.一種面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括一面板，包含多個像素，且任一該些像素具有多個子像素；以及一薄膜探針，設(shè)有多個導(dǎo)電結(jié)構(gòu)，其中任一該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)包含多個導(dǎo)電凸塊凸設(shè)于該薄膜探針表面；任一該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的該些導(dǎo)電凸塊分別與相同顏色的任一該些子像素形成電性連接，且該些導(dǎo)電凸塊利用至少一導(dǎo)電線路連接至一對外接點(diǎn)。
2. 如權(quán)利要求1所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該薄膜探針為不導(dǎo)電的 撓性材質(zhì)所構(gòu)成。
3. 如權(quán)利要求1所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該些導(dǎo)電凸塊為異方向 性導(dǎo)電膠或鎳合金所構(gòu)成。
4. 如權(quán)利要求1所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該些子像素為三原色子 像素。
5. 如權(quán)利要求4所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該些導(dǎo)電結(jié)構(gòu)為一紅色 子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、 一綠色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)及一藍(lán)色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。
6. 如權(quán)利要求5所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該紅色子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu) 的該些導(dǎo)電凸塊與該面板上的任一該紅色子像素形成電性接觸；該綠色子像素導(dǎo)電 結(jié)構(gòu)上的該些導(dǎo)電凸塊與該面板上的任一該綠色子像素形成電性接觸；以及該藍(lán)色 子像素導(dǎo)電結(jié)構(gòu)上的該些導(dǎo)電凸塊與該面板上的任一該藍(lán)色子像素形成電性接觸。
7. 如權(quán)利要求1所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該面板更含有多個信號 掃瞄線于該面板的一側(cè)邊，且任一該些信號掃瞄線電性連接該面板上任一橫向排列 的該些像素。
8. 如權(quán)利要求7所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，更包含至少一控制線路設(shè)置于該薄膜探針上與至少一該些信號掃瞄線電性連接。
9. 如權(quán)利要求8所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，更包含多個導(dǎo)電凸塊凸 出該控制線路并與至少 一該些信號掃瞄線電性接觸。
10. 如權(quán)利要求1所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該面板更含有多個數(shù)據(jù)傳輸線于該面板的另 一側(cè)邊，且任一該些數(shù)據(jù)傳輸線電性連接該面板上任一縱向排 列的該些子像素。
11. 如權(quán)利要求10所述的面板測試結(jié)構(gòu)，其特征在于，該薄膜探針上的該些導(dǎo)電凸塊與該些數(shù)據(jù)傳輸線電性接觸。
專利摘要一種面板測試結(jié)構(gòu)，其利用含有多個導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的一薄膜或軟性片與一面板電性接觸來作像素測試，其中任一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)具有多個導(dǎo)電凸塊凸設(shè)于薄膜探針或軟性片的表面，且任一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電凸塊分別與任一相同原色子像素形成電性接觸并導(dǎo)通至一對外接點(diǎn)，以進(jìn)行點(diǎn)燈測試而達(dá)到面板全功能的斷路/短路(open/short)測試。利用不同導(dǎo)電結(jié)構(gòu)上的導(dǎo)電凸塊可分別或同時測試各原色的彩度，且使用單片薄膜或軟性片即可進(jìn)行測試，故易于制造及維修。
文檔編號G09G3/00GK201138366SQ20082000123
公開日2008年10月22日 申請日期2008年1月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月10日
發(fā)明者鄭秋雄, 鄭至均 申請人:環(huán)國科技股份有限公司