專利名稱：檢測信號(hào)線缺陷的驅(qū)動(dòng)電路及使用該驅(qū)動(dòng)電路的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種可檢測一基板上信號(hào)線缺陷的驅(qū)動(dòng)電路及使用該驅(qū)動(dòng) 電路的檢測方法，尤其涉及一種可檢測基板上信號(hào)線短路缺陷的驅(qū)動(dòng)電路及 使用該驅(qū)動(dòng)電路的檢測方法。
背景技術(shù)：
薄月莫晶{本管液晶顯示器(thin film transistor liquid crystal display, TFT-LCD)常應(yīng)用在電視或平面顯示器(flat panel display)中。薄膜晶體管液 晶顯示器的每一像素包含一設(shè)于兩基板之間的液晶層，可通過施加電壓于兩 基板來控制液晶層。薄膜晶體管液晶顯示器包含多條數(shù)據(jù)線和多條柵極線， 數(shù)據(jù)線和柵極線互相垂直且于交會(huì)處形成一像素陣列(pixel matrix)。兩基 板中的一基板上的像素陣列內(nèi)設(shè)有多個(gè)晶體管，每一晶體管的柵極耦接于相 對(duì)應(yīng)的柵極線，每一晶體管的漏極/源極則耦接于相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線。每一像素 可依據(jù)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線傳來的數(shù)據(jù)信號(hào)以及相對(duì)應(yīng)的柵極線傳來的柵極信 號(hào)來顯示圖像。
隨著顯示技術(shù)不斷精進(jìn)，薄膜晶體管液晶顯示器上像素?cái)?shù)目和密度也大 幅增加。為了在一預(yù)定面積內(nèi)設(shè)置較多像素以提高解析度，數(shù)據(jù)線和柵極線 之間的間距也越來越窄。因此，在制造過程中可能會(huì)出現(xiàn)兩種數(shù)據(jù)線短路缺 陷(line short defect):兩相鄰數(shù)據(jù)線或兩相鄰柵極線之間形成的短路缺陷， 以及數(shù)據(jù)線和柵極線交會(huì)處所形成的短路缺陷。
另一方面，為了降低生產(chǎn)成本，部分驅(qū)動(dòng)電路可直接設(shè)置于基板上，且 在像素陣列的晶體管的生產(chǎn)過程中可同時(shí)制作移位暫存器(shiftregister)等
元件。請(qǐng)參考圖1，圖1為一采用GOA(gate-on-array)技術(shù)的TFT-LCD顯示
基板中驅(qū)動(dòng)電路的部分示意圖。移位暫存器101 103是在像素陣列的晶體 管的生產(chǎn)過程中同時(shí)形成，并且以例如第一移位暫存器101的輸出端口 Q耦 接于第二移位暫存器102的輸入端口 S的級(jí)串形式電性耦接。
4目前進(jìn)行測試時(shí)，利用產(chǎn)生器提供時(shí)鐘脈沖信號(hào)CK和XCK至移位暫 存器101 103，第一移位暫存器101的輸出端口 Ql依據(jù)一輸入信號(hào)VST 來提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)OUT1至像素陣列(又稱顯示區(qū)域)以及第二移位暫存器 102的輸入端口S，且由一產(chǎn)生器來提供時(shí)鐘脈沖信號(hào)CK和XCK。接著于 第二移位暫存器102的輸出端口 Q提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)OUT2至顯示區(qū)域。由于 GOA技術(shù)依序輸出的限制，移位暫存器101 103并無法利用一般測試機(jī)臺(tái) (army tester)檢測信號(hào)線短路缺陷的而導(dǎo)致誤判或過篩，造成測試合格率降 低，同時(shí)也會(huì)浪費(fèi)生產(chǎn)成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問題而提供一種檢測顯示基板上信號(hào)線缺 陷的驅(qū)動(dòng)電路，包含多個(gè)移位暫存器，每一移位暫存器包含一輸出端口，用 來依序輸出一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；多個(gè)二極管模塊，分別耦接于多個(gè)移位暫存器的輸 出端口；以及至少一電源供應(yīng)器，耦接于多個(gè)二極管模塊，在進(jìn)行檢測信號(hào) 線缺陷周期時(shí)，電源供應(yīng)器在周期的一時(shí)間區(qū)間內(nèi)提供一偏壓至二極管模塊 以旁路多個(gè)移位暫存器。
本發(fā)明還提供一種檢測顯示基板上信號(hào)線缺陷的方法，包含檢測顯示基 板上是否有信號(hào)線缺陷；當(dāng)顯示基板上有信號(hào)線缺陷時(shí)，提供一偏壓至二極 管模塊以旁路移位暫存器；以及檢測信號(hào)線缺陷的位置。
本發(fā)明還提供一種檢測顯示基板上信號(hào)線缺陷的方法，包含確認(rèn)顯示基 板上是否有信號(hào)線缺陷，當(dāng)檢測到信號(hào)線缺陷時(shí)；提供一偏壓至奇數(shù)組二極 管模塊和/或偶數(shù)組二極管模塊，以旁路奇數(shù)組移位暫存器和/或偶數(shù)組移位 暫存器；以及檢測信號(hào)線缺陷的位置。
本發(fā)明能克服GOA技術(shù)中依序輸出的限制，提供一種能檢測顯示基板 上信號(hào)線缺陷的驅(qū)動(dòng)電路和方法。通過有效及快速地檢測信號(hào)線缺陷，本發(fā) 明能提升生產(chǎn)合格率，同時(shí)有效減少生產(chǎn)資源的浪費(fèi)。
圖1為現(xiàn)有技術(shù)中一顯示基板驅(qū)動(dòng)電路的示意圖。
圖2為本發(fā)明一實(shí)施例中一顯示基板驅(qū)動(dòng)電路的示意圖。圖3為本發(fā)明一實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)電路在檢測信號(hào)線缺陷時(shí)的時(shí)序圖。 圖4為本發(fā)明一實(shí)施例中檢測信號(hào)線缺陷方法的流程圖。
圖5為本發(fā)明另一實(shí)施例中一顯示基板驅(qū)動(dòng)電路的示意圖。
圖6為本發(fā)明另一實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)電路在檢測信號(hào)線缺陷時(shí)的時(shí)序圖。
圖7為本發(fā)明另一實(shí)施例中檢測信號(hào)線缺陷方法的流程圖。
其中，附圖標(biāo)記說明如下-
10、 20、 30驅(qū)動(dòng)電路
D21 D23、 D31 D33二極管模塊
204、 204a、 204b電源供應(yīng)器
101 103、 201 203、 301 303移位暫存器
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參考圖2，圖2為本發(fā)明一實(shí)施例中一可檢測顯示基板信號(hào)線缺陷的 驅(qū)動(dòng)電路20的示意圖。驅(qū)動(dòng)電路20包含移位暫存器201 203、 二極管模塊 D21 D23，以及一電源供應(yīng)器204。移位暫存器201 203在與像素陣列的 晶體管同時(shí)形成，且以級(jí)串方式電性耦接，例如第一移位暫存器201的輸出 端口 Ql耦接于第二移位暫存器202的輸入端Sl，依此類推。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，產(chǎn)生器(圖未示)提供時(shí)鐘脈沖信號(hào)CK和XCK 于移位暫存器201 203。第一移位暫存器201的輸出端口 Ql依據(jù)一輸入信 號(hào)VST、時(shí)鐘脈沖信號(hào)CK和XCK提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)OUT1至像素陣列(又 稱顯示區(qū)域)；第二移位暫存器202的輸出端口 Q2依據(jù)第一移位暫存器201 的驅(qū)動(dòng)信號(hào)0UT1、時(shí)鐘脈沖信號(hào)CK和XCK提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)OUT2至顯示 區(qū)域。二極管模塊D21 D23分別耦接于電源供應(yīng)器204與移位暫存器201 203的輸出端口 Q1 Q3之間，電源供應(yīng)器204可提供二極管模塊D21 D23 所需的偏壓VD，使二極管模塊D21 D23導(dǎo)通，以旁路移位暫存器201 203。 在此實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)電路20還包含開關(guān)S21和電阻R21，開關(guān)S21和電阻 R21也可與像素陣列的晶體管同時(shí)形成。開關(guān)S21 (例如晶體管開關(guān))耦接 于電源供應(yīng)器204和二極管模塊D21 D23之間，用來依據(jù)控制信號(hào)VG來 傳送偏壓VD至二極管模塊D21 D23。每一二極管模塊可包含多個(gè)串接的 二極管或多個(gè)串接的二極管耦合晶體管(diode-coupled transistor)。當(dāng)然，
6二極管模塊D21 D23也可以僅包含一個(gè)二極管或二極管耦合晶體管，發(fā)明 人可以依實(shí)際使用的需求自行調(diào)整。端點(diǎn)N21耦接于開關(guān)S21和二極管模塊 D21 D23之間，電阻R21耦接于端點(diǎn)N21和接地電位之間，用來平衡端點(diǎn) N21的電位。在一般操作下，控制信號(hào)VG例如是提供低電位以確保開關(guān)S21 保持在關(guān)閉的狀態(tài)，此時(shí)電源供應(yīng)器204與二極管模塊D21 D23之間被視 為開路，而且不影響正常操作。當(dāng)進(jìn)行檢測信號(hào)線缺陷時(shí)，特別是信號(hào)線短 路缺陷，控制信號(hào)VG例如是提供高電位以開啟開關(guān)S21，此時(shí)電源供應(yīng)器 204會(huì)通過開關(guān)S21將正向偏壓VD傳送至二極管模塊D21 D23，以旁路 (bypass)移位暫存器201 203。
請(qǐng)參考圖3，圖3為本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路20在檢測信號(hào)線缺陷時(shí)的時(shí)序圖。 一開始使用陣列測試機(jī)來進(jìn)行測試時(shí)，驅(qū)動(dòng)信號(hào)OUTl OUT3根據(jù)輸入信 號(hào)VS、時(shí)鐘脈沖信號(hào)CK和XCK以及前一級(jí)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，依序提供高電位 VSS至顯示區(qū)域中，特別是顯示區(qū)域中的柵極線。電源供應(yīng)器204提供高電 位的正向偏壓VD，但是此時(shí)控制信號(hào)VG為低電位，電源供應(yīng)器204與二 極管模塊D21 D23之間被視為開路而不影響正常操作。當(dāng)顯示基板上存在 信號(hào)線缺陷，控制信號(hào)VG在時(shí)間點(diǎn)tl會(huì)從低電位變?yōu)楦唠娢唬M(jìn)而開啟開 關(guān)S21并將電源供應(yīng)器204的正向偏壓VD傳送至二極管模塊D21 D23。 此時(shí)，二極管模塊D21 D23被視為短路，并且同時(shí)旁路(bypass)移位暫 存器201 203。由于顯示區(qū)域上有一信號(hào)線缺陷，特別是指信號(hào)線短路缺陷， 端點(diǎn)N21的電壓電平會(huì)低于移位暫存器201 203 —開始所提供的驅(qū)動(dòng)信號(hào) VSS。因此，陣列測試機(jī)能依此檢測信號(hào)線短路缺陷的位置，例如是檢測顯 示區(qū)域上具最大壓降的位置，最后再將檢測結(jié)果回傳至陣列測試機(jī)。
在此實(shí)施例中，電源供應(yīng)器204提供一固定電位的電壓(正向偏壓VD)， 因此需搭配開關(guān)S21來控制二極管模塊D21 D23導(dǎo)通的時(shí)間。若電源供應(yīng) 器204是一可調(diào)變電源供應(yīng)器，可根據(jù)需求導(dǎo)通/截止二極管模塊D21 D23， 則開關(guān)S21為則可適當(dāng)?shù)厥÷浴?br>
請(qǐng)參考圖4，圖4的流程圖說明了本發(fā)明一實(shí)施例用來檢測信號(hào)線缺陷 的方法40:
步驟400:檢查顯示基板上是否有信號(hào)線缺陷；
步驟420:當(dāng)顯示基板上有信號(hào)線缺陷時(shí)，提供一正向偏壓導(dǎo)通二極管模塊D21 D23且以旁路移位暫存器201 203; 步驟440:檢測信號(hào)線缺陷的位置；
步驟460:將檢測到的信號(hào)線缺陷位置回傳至陣列測試機(jī)。
在方法40中，步驟440和460所說的信號(hào)線缺陷，特別是指信號(hào)線短 路缺陷，于步驟400中，在進(jìn)行檢測信號(hào)線缺陷周期時(shí)，若基板上存在此種 信號(hào)線缺陷，當(dāng)控制信號(hào)VG開啟開關(guān)S21，并于步驟420中，電源供應(yīng)器 在該周期的一時(shí)間區(qū)間內(nèi)將正向偏壓VD傳送至二極管模塊D21 D23以導(dǎo) 通二極管模塊D21 D23。接著于步驟440中，陣列測試機(jī)可以依序確認(rèn)顯 示區(qū)域的壓降變化量，檢測出信號(hào)線缺陷的位置(一般是指具最大壓降之處)。
舉例來說，若柵極線和像素電極短路(或柵極線和數(shù)據(jù)線短路，或是柵極 線同時(shí)和像素電極與數(shù)據(jù)線短路)，在短路的位置上，其電位會(huì)因?yàn)轱@示區(qū)域 的像素電極或數(shù)據(jù)線而被拉低。此時(shí)，陣列測試機(jī)會(huì)檢測到一異常信號(hào)。接 著，電源供應(yīng)器204提供一正向偏壓至二極管模塊D21 D23，以旁路移位 暫存器201 203來增強(qiáng)基板上的電壓改變量。陣列測試機(jī)再針對(duì)顯示基板 上每一像素逐一檢測以找出信號(hào)線缺陷的位置，也即檢測具最大壓降處。最 后，再將檢測結(jié)果(信號(hào)線缺陷的坐標(biāo))回傳至陣列測試機(jī)。
請(qǐng)參考圖5，圖5為本發(fā)明另一實(shí)施例中一可檢測顯示基板上信號(hào)線缺 陷的驅(qū)動(dòng)電路30的示意圖。驅(qū)動(dòng)電路30包含移位暫存器301 303、 二極管 模塊D31 D33，以及兩電源供應(yīng)器204a和204b。本實(shí)施例與圖2的驅(qū)動(dòng) 電路20主要差異在于移位暫存器301 303可區(qū)分為奇數(shù)組移位暫存器301 、 303和偶數(shù)組移位暫存器302， 二極管模塊D31 D33也可區(qū)分為奇數(shù)組二 極管模塊D31、 D33和一偶數(shù)組二極管模塊D32。
電源供應(yīng)器204a和204b分別耦接于奇數(shù)組二極管模塊D31 、 D33和偶 數(shù)組二極管模塊D32，并分別提供正向偏壓VDE和VDO至奇數(shù)組二極管模 塊D31、 D33和偶數(shù)組二極管模塊D32。在此實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)電路30還包 含開關(guān)S31和S32以及電阻R31和R32，開關(guān)S31、 S32和電阻R31、 R32 與像素陣列的晶體管同時(shí)形成于基板上。開關(guān)S31 (例如一晶體管開關(guān))耦 接于電源供應(yīng)器204a和奇數(shù)組二極管模塊D31、 D33之間，用來依據(jù)一控制 信號(hào)VGO傳送電源供應(yīng)器204a所提供的正向偏壓VDO至奇數(shù)組二極管模 塊D31、D33。電阻R31耦接于端點(diǎn)N31和接地電位之間，端點(diǎn)N31耦接于開關(guān)S31和奇數(shù)組二極管模塊D31、 D33之間。開關(guān)S32 (例如一晶體管開 關(guān))耦接于電源供應(yīng)器204b和偶數(shù)組二極管模塊D32之間，用來依據(jù)一控 制信號(hào)VGE來傳送電源供應(yīng)器204b提供的正向偏壓VDE至偶數(shù)組二極管 模塊D32。電阻R32耦接于端點(diǎn)N32和接地電位之間，端點(diǎn)N32耦接于開 關(guān)S32和偶數(shù)組二極管模塊D32之間。在一般操作情況下，在接收到低電位 的控制信號(hào)VGO和VGE時(shí)，開關(guān)S31和S32為關(guān)閉，此時(shí)二極管模塊D31 D33被視為開路。
當(dāng)應(yīng)用于檢測信號(hào)線短路缺陷，特別是兩相鄰柵極線之間的信號(hào)線短路 缺陷時(shí)，控制信號(hào)VGO或VGE其中之一具高電位，進(jìn)而開啟開關(guān)S31或 S32，此時(shí)電源供應(yīng)器204a會(huì)通過開關(guān)S31將正向偏壓VDO傳送至奇數(shù)組 二極管模塊D31和D33 ，或是電源供應(yīng)器204b通過開關(guān)S32將正向偏壓VDE 傳送至偶數(shù)組二極管模塊D32。
請(qǐng)參考圖6，圖6為本發(fā)明另一實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)電路30在檢測信號(hào)線缺陷 時(shí)的時(shí)序圖。在此實(shí)施例中，奇數(shù)組移位暫存器301和303提供高電位的驅(qū) 動(dòng)信號(hào)0UT1和0UT3 (例如VSSO)至顯示區(qū)域，而偶數(shù)組移位暫存器302 提供低電位的驅(qū)動(dòng)信號(hào)OUT2 (例如VSSE)至顯示區(qū)域。電源供應(yīng)器204a 和204b提供高電位的正向偏壓VDO和VDE，當(dāng)一開始使用陣列測試機(jī)來 檢測信號(hào)線缺陷時(shí)，控制信號(hào)VGE和VGO均為低電位，此時(shí)，二極管模塊 D31 D33均可被視為開路。當(dāng)檢測到基板上有信號(hào)線缺陷，控制信號(hào)VGO 在時(shí)間點(diǎn)tl時(shí)會(huì)從低電位變?yōu)楦唠娢唬M(jìn)而以將正向偏壓VDO通過開啟的 開關(guān)S31傳送至奇數(shù)組二極管模塊D31和D33以導(dǎo)通奇數(shù)組二極管模塊D31 和D33。此時(shí)，奇數(shù)組二極管模塊D31和D33被視為短路，并且旁路移位 暫存器3(M和303。因?yàn)?，控制信?hào)VGE仍為低電位，偶數(shù)組二極管模塊 D32依然被視為開路。由于顯示區(qū)域上有一信號(hào)線短路缺陷，更精確地說， 顯示區(qū)域上存在一兩相鄰信號(hào)線之間的信號(hào)線短路缺陷，端點(diǎn)N31的電壓電 平會(huì)低于移位暫存器301和303 —開始所提供的驅(qū)動(dòng)信號(hào)VSSO。因此，陣 列測試機(jī)能依此檢測信號(hào)線短路缺陷的位置，例如檢測顯示區(qū)域上具有最大 壓降的位置。
如同圖2的驅(qū)動(dòng)電路20，若本實(shí)施例的電源供應(yīng)器204a和204b為可調(diào) 變電源供應(yīng)器，則開關(guān)S31和S32可適當(dāng)?shù)厥÷浴?br>
9請(qǐng)參考圖7，圖7的流程圖說明了本發(fā)明另一實(shí)施例用來檢測信號(hào)線短
路缺陷時(shí)的方法70。方法70包含下列步驟
步驟700:檢査顯示基板上是否有信號(hào)線缺陷；
步驟720:提供一正向偏壓以開啟奇數(shù)組二極管模塊或偶數(shù)組二極管模 塊，進(jìn)而旁路奇數(shù)組移位暫存器或偶數(shù)組移位暫存器； 步驟740:檢測信號(hào)線缺陷的位置；
步驟760:將檢測到的信號(hào)線缺陷位置回傳至陣列測試機(jī)。 在步驟700中，在進(jìn)行檢測信號(hào)線缺陷周期時(shí)，若基板上存在著信號(hào)線 缺陷，特別是兩相鄰信號(hào)線短路缺陷，控制信號(hào)VGE和VGO其中之一會(huì)具 高電位，在步驟720中，電源供應(yīng)器204a或204b在該周期的一時(shí)間區(qū)間內(nèi) 將會(huì)將一正向偏壓會(huì)通過一開啟的開關(guān)傳送至奇數(shù)組二極管模塊或偶數(shù)組 二極管模塊。接著于步驟740中，陣列測試機(jī)能檢測信號(hào)線缺陷的位置(例 如顯示區(qū)域上具最大壓降的位置)，再于步驟760中將檢測到的信號(hào)線缺陷 位置回傳至陣列測試機(jī)。
舉例來說，若一柵極線和一相鄰的柵極線短路，其電位會(huì)因?yàn)轱@示區(qū)域 的相鄰柵極線而被影響。首先，陣列測試機(jī)在基板上檢測一信號(hào)線缺陷，也 即檢測到基板上具有不正常的電位。接著，電源供應(yīng)器204a提供一正向偏 壓VDO至奇數(shù)組二極管模塊D31和D33以導(dǎo)通二極管模塊D31和D33，進(jìn) 而旁路移位暫存器301和303使基板上壓降變化量變得劇烈。陣列測試機(jī)逐 一檢測基板上的壓降變化量以找出信號(hào)線短路缺陷的位置，也即檢測具最大 壓降的地點(diǎn)。最后，再將檢測結(jié)果，例如是信號(hào)線缺陷的坐標(biāo)，回傳至陣列 測試機(jī)。
在本發(fā)明第二實(shí)施例中，移位暫存器301 303和二極管模塊D31 D33 各分為奇數(shù)組和偶數(shù)組，然而本領(lǐng)域普通技術(shù)人員均明白，組別數(shù)目并不限 定本發(fā)明的范疇。
前述實(shí)施例中的元件(例如移位暫存器、二極管模塊和開關(guān))數(shù)目僅為 說明本發(fā)明的實(shí)施方式，并不限定本發(fā)明的范疇。
本發(fā)明能克服GOA技術(shù)中依序輸出的限制，提供一種能檢測顯示基板 上信號(hào)線缺陷的驅(qū)動(dòng)電路和方法。通過有效及快速地檢測信號(hào)線缺陷，本發(fā) 明能提升生產(chǎn)合格率，同時(shí)有效減少生產(chǎn)資源的浪費(fèi)。
10以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做的均 等變化與修飾，均應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1. 一種檢測包含一像素陣列的一顯示基板上信號(hào)線缺陷的驅(qū)動(dòng)電路，包含多個(gè)移位暫存器，每一移位暫存器包含一輸出端口，用來依序輸出一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；多個(gè)二極管模塊，分別耦接于所述多個(gè)移位暫存器的輸出端口；以及至少一電源供應(yīng)器，耦接于所述多個(gè)二極管模塊，其中在檢測信號(hào)線缺陷的一周期內(nèi)，該電源供應(yīng)器在該周期的一部分時(shí)間內(nèi)提供一正向偏壓以旁路所述多個(gè)移位暫存器。
2. 如權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)電路，其中每一二極管模塊包含多個(gè)串接的 二極管或多個(gè)串接的二極管耦合晶體管。
3. 如權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)電路，還包含至少一開關(guān)，該開關(guān)耦接于至 少一電源供應(yīng)器和所述多個(gè)二極管模塊之間。
4. 如權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)電路，其中所述多個(gè)移位暫存器包含一奇數(shù) 組移位暫存器和一偶數(shù)組移位暫存器，所述多個(gè)二極管模塊包含一奇數(shù)組二 極管模塊和一偶數(shù)組二極管模塊，其中該奇數(shù)組二極管模塊中每一二極管模 塊耦接于該奇數(shù)組移位暫存器的一輸出端口 ，該偶數(shù)組二極管模塊中每一二 極管模塊耦接于該偶數(shù)組移位暫存器的一輸出端口 ，且該至少一電源供應(yīng)器 包含兩電源供應(yīng)器，分別耦接于該奇數(shù)組二極管模塊和該偶數(shù)組二極管模 塊。
5. 如權(quán)利要求4所述的驅(qū)動(dòng)電路，其還包含兩開關(guān)，分別耦接其中之一 于該兩電源供應(yīng)器和該奇數(shù)組二極管模塊之間以及耦接于另一于該兩電源 供應(yīng)器和該偶數(shù)組二極管模塊之間。
6. —種使用如權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)電路來檢測一顯示基板上信號(hào)線缺 陷的方法，包含檢査該顯示基板上是否有信號(hào)線缺陷；當(dāng)該顯示基板上有信號(hào)線缺陷時(shí)，提供一正向偏壓至所述多個(gè)二極管模 塊以旁路所述多個(gè)移位暫存器；以及 檢測該信號(hào)線缺陷的位置。
7. 如權(quán)利要求6所述的方法，還包含在檢測該信號(hào)線缺陷的位置后，回傳該信號(hào)線缺陷的位置。
8. —種使用如權(quán)利要求5所述的驅(qū)動(dòng)電路來檢測一顯示基板上信號(hào)線缺陷的方法，包含檢查該顯示基板上是否有信號(hào)線缺陷；提供一正向偏壓至該奇數(shù)組二極管模塊中或該偶數(shù)組二極管模塊中一二極管模塊，進(jìn)而旁路該奇數(shù)組移位暫存器或與該偶數(shù)組移位暫存器；以及檢測該信號(hào)線缺陷的位置。
9. 如權(quán)利要求8所述的方法，還包含在檢測到該信號(hào)線缺陷后，回傳該信號(hào)線缺陷的位置。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種檢測基板上信號(hào)線缺陷的驅(qū)動(dòng)電路及使用該驅(qū)動(dòng)電路的檢測方法，其中該驅(qū)動(dòng)電路包含多個(gè)移位暫存器、多個(gè)二極管模塊，以及至少一電源供應(yīng)器。每一移位暫存器包含一輸出端口，用來依序輸出一驅(qū)動(dòng)信號(hào)。多個(gè)二極管模塊分別耦接于對(duì)應(yīng)的移位暫存器的輸出端口。電源供應(yīng)器耦接于二極管模塊，其中在檢測信號(hào)線缺陷的一周期內(nèi)，電源供應(yīng)器在一時(shí)間區(qū)間內(nèi)提供一偏壓以旁路移位暫存器。該方法包含檢測基板上是否有信號(hào)線缺陷；提供一偏壓至二極管模塊以旁路該移位暫存器；以及檢測該信號(hào)線缺陷的位置。本發(fā)明能提升生產(chǎn)合格率，同時(shí)有效減少生產(chǎn)資源的浪費(fèi)。
文檔編號(hào)G09G3/20GK101488310SQ20081019035
公開日2009年7月22日 申請(qǐng)日期2008年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月24日
發(fā)明者陳治平 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司