專利名稱：：陣列基板及包含其的顯示面板及顯示裝置及其修補方法
技術領域：
：本發(fā)明涉及一種陣列基板及其修補方法，且特別是涉及一種具有至少兩支線的修補線的陣列基板及其修補方法。
背景技術：
：隨著制造能力的進步及消費者需求量的增加，平面顯示器產業(yè)已經進入大量生產的階段。在大量制造的過程中，難免會有發(fā)生瑕疵的情形發(fā)生。以制造面板中的薄膜晶體管基板為例，需要在面積極小的玻璃基板上形成數(shù)以千計、極微細的信號線。因此在形成過程中經常發(fā)生部分信號線因形成過程發(fā)生瑕疵，而產生斷裂或信號傳輸能力不佳的問題。因此，一種修補線(repairline)便因應這種情況而產生。所謂修補線就是在形成金屬層的過程中，一并形成跨越多條信號線的線型結構。一旦某條信號線發(fā)生瑕疵，則藉由熔穿修補線及絕緣層，使得發(fā)生瑕疵的信號線與相對應的修補線連接，使信號能夠藉由修補線進行傳輸。如此一來，可以簡單修復發(fā)生瑕疵的面板而成為可使用的良品。但是，現(xiàn)有的修補線結構由于跨越許多的信號線，會產生RCloading而降低信號傳輸能力。而且隨著修補線跨越的信號線愈多，信號降低的情形便愈嚴重，使修補線無法發(fā)揮預期的功效。
發(fā)明內容有鑒于此，本發(fā)明的目的就是在提供一種陣列基板及其修補方法，將修補線延伸出至少兩條支線，并使兩條支線分別跨越不同的信號線群，有效降低RC負載所造成的影響。根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種陣列基板，包括基板、多條信號線及至少一修補結構。基板具有有源區(qū)域及鄰接有源區(qū)域的周邊區(qū)域，信號線設置于基板上。修補結構設置于周邊區(qū)域上，且修補結構具有至少一第一修補線及至少一第二修補線。第二修補線具有第一支線及第二支線，第一支線位于第一修補線及第二支線之間。根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種陣列基板之修補方法。陣列基板具有多條信號線與至少一第一修補線及一第二修補線，且第二修補線具有第一支線及第二支線。第一支線跨越信號線的第一組信號線，第二支線跨越信號線的第二組信號線。修補方法包括首先，當?shù)谝唤M信號線中的其中之一信號線發(fā)生缺陷時，電性連接第一支線與信號線；當?shù)诙M信號線中的其中之另一信號線發(fā)生缺陷時，電性連接第二支線與另一信號線。本發(fā)明之另一目的在于提供一種顯示面板，包含前述的陣列基板。本發(fā)明之另一目的在于提供一種顯示裝置，包含前述的陣列基板。為讓本發(fā)明之上述目的、特征、和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉幾個優(yōu)選實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。圖1A繪示本發(fā)明實施例的第一種陣列基板的俯視示意圖；圖1B繪示圖1A中沿剖面線A～A’的剖面示意圖；圖1C繪示本發(fā)明實施例的第二種陣列基板的俯視示意圖；圖1D繪示本發(fā)明之陣列基板進行修補后的示意圖；圖1E繪示本發(fā)明之陣列基板進行修補后的另一示意圖；圖2A繪示本發(fā)明實施例二的第一種陣列基板的俯視示意圖；以及圖2B繪示本發(fā)明實施例二的第二種陣列基板的俯視示意圖。附圖標記說明10薄膜晶體管11電容20、21、22、23切割線100、100a、200、200a陣列基板110、210基板112、212有源區(qū)域114、214周邊區(qū)域120、121、122信號線120a、220a第一組信號線120b、220b第二組信號線120c第三組信號線120d第四組信號線120e、220c掃描線125、126、127接墊125a、225a第一組接墊125b、225b第二組接墊125c第三組接墊125d第四組接墊125e、225c掃描線接墊141、241第一修補線142、242第二修補線142a、142c、242a、242c第一支線142b、242b第二支線143第三修補線144第四修補線144a、144c第三支線144b第四支線具體實施方式實施例一請參照圖1A，繪示本發(fā)明實施例的第一種陣列基板的俯視示意圖。陣列基板100包括基板110、多條信號線120及至少一修補結構140a。陣列基板100可以應用于包括液晶顯示面板、有機電致發(fā)光顯示面板(如有機發(fā)光二極管顯示面板(OLED)、高分子發(fā)光二極管面板(PLED))、或其它的顯示面板?；?10包含透明基板(玻璃、石英、或其它的材料)、可撓性基板(如塑料、聚酯、聚甲基丙酰胺、或其它的材料)，或不透光基板(如硅晶片、陶瓷、或其它的材料)?；?10具有有源區(qū)域112及鄰接有源區(qū)域112的周邊區(qū)域114，信號線120設置于基板110上并分別連接多個接墊125。本實施例中，信號線120包括數(shù)據(jù)線(dataline)及掃描線(scanline)120e，且本發(fā)明的實施例以數(shù)據(jù)線(dataline)為范例說明。其中數(shù)據(jù)線區(qū)分為第一組信號線120a、第二組信號線120b、第三組信號線120c及第四組信號線120d。掃描線120e及數(shù)據(jù)線相互交叉設置于基板110上。接墊125還包括第一組接墊125a、第二組接墊125b、第三組接墊125c、第四組接墊125d及掃描線接墊125e。信號線120可構成多個像素區(qū)(未標號)，如圖1A中的局部放大圖所示，由掃描線120e及第一組信號線120a組成像素區(qū)。每一像素區(qū)內包括薄膜晶體管(thinfilmtransistor，TFT)10及電容11，電容11再耦接至像素電極(未繪示)。薄膜晶體管10的結構是由柵極、介電層、有源層、源/漏極區(qū)、保護層及像素電極所構成，且其型態(tài)包括頂柵型(top-gatetype)、底柵型(bottomgatetype)，包含背信道蝕刻型(backchanneletching，BCE)或蝕刻終止(Etching-stopper)型、或其它型態(tài)的結構。構成TFT的有源層的材料可為非晶硅、多晶硅、微晶硅、單晶硅或上述的組合，且有源層亦可部份摻雜P型或N型的摻雜子。修補結構140a設置于周邊區(qū)域114上，且修補結構140a具有至少一第一修補線141及至少一第二修補線142。第二修補線142具有第一支線142a及第二支線142b，第一支線142a位于第一修補線141及第二支線142b之間。本實施例中，第一組信號線121、第二組信號線122、第三組信號線123及第四組信號線124分別與第一組接墊125a、第二組接墊125b、第三組接墊125c及第四組接墊125d連接，掃描線120e則與掃描線接墊125e連接。陣列基板100還可包括修補結構140b，修補結構140b包括設置于周邊區(qū)域114上的第三修補線143及第四修補線144。第四修補線144具有第三支線144a及第四支線144b，第三支線144a位于第三修補線143及第四支線144b之間。其中，第一修補線141及第一支線142a跨越第一組信號線120a及第二組信號線120b，第二支線僅跨越第二組信號線120b；第三修補線143及第三支線144a跨越第三組信號線120c及第四組信號線120d，第四支線144b僅跨越第四組信號線120d。此外，第一修補線141及第二修補線142，與第三修補線143及第四修補線144分別設置于基板110的相對側上且為對稱結構。另外，請參照圖1B，其繪示圖1A中沿剖面線A～A’之剖面示意圖。本實施例中，以底柵型薄膜晶體管的陣列基板100為范例做說明，修補線與金屬層(包含掃描線、柵極或其它)一并形成。因此第二修補線142設置于基板110上，絕緣層150設置于第二修補線142及信號線120之間。因此，當要使用修補線142時，將絕緣層150熔穿以耦接修補線142及信號線120。請參照圖1C，其繪示本發(fā)明實施例的第二種陣列基板的俯視示意圖。陣列基板100a與陣列基板100的主要不同之處在于，修補結構140c的第一修補線141a及第一支線142c僅跨越第一組信號線120a，修補結構140d的第三修補線143a及第三支線144c僅跨越第三組信號線120c。請參照圖1D，其繪示本發(fā)明的陣列基板進行修補后的示意圖。以陣列基板100為例，當?shù)谝唤M信號線120a其中之一信號線，例如數(shù)據(jù)線121發(fā)生缺陷(defect)時，電性連接第一支線142a與信號線121。連接的方式是將圖1B的修補線與信號線120之間的絕緣層150貫穿，例如直接在接墊126上產生熔接點將第一支線142a與信號線121耦接。而為了避免傳輸信號減弱，一般而言，將第二支線142b與第二修補線142以切割線20切斷；并將第一支線142a于鄰近信號線121之處以切割線21切斷，也就是將第一支線142a切斷于發(fā)生瑕疵的信號線121與下一條信號線之間。優(yōu)選地，切割線20、21以激光切割完成。請參照圖1E，其繪示本發(fā)明的陣列基板進行修補后的另一示意圖。以陣列基板100a為例，當?shù)诙M數(shù)據(jù)線120b其中之一信號線，例如信號線122發(fā)生缺陷時，電性連接第二支線142b與信號線122。連接的方式同樣將修補線與信號線120之間的絕緣層150貫穿，例如直接在接墊127上產生熔接點將第二支線142b與信號線122耦接。而為了避免傳輸信號減弱，一般而言，將第一支線142c與第二修補線142以切割線22切斷；并將第二支線142b在鄰近信號線122之處以切割線23切斷，也就是在發(fā)生瑕疵的信號線122與下一條信號線之間將第二支線142b切斷。需說明的是，上述實施例說明都是以一邊的信號線且相對于某一條修補線所發(fā)生的缺陷的修補方式為范例，然而，二邊的信號線亦發(fā)生缺陷的修補方式或信號線發(fā)生缺陷之處是相對于多條修補線也可適用之，并不限于此。實施例二請參照圖2A及圖2B，其分別繪示本發(fā)明實施例二的第一種陣列基板的俯視示意圖。陣列基板200、200a，具有兩條第一修補線241及第二修補線242。以陣列基板200為例，基板210具有有源區(qū)域212及鄰接有源區(qū)域212的周邊區(qū)域214，掃描線220c與第一組信號線220a及第二組信號線220b相互垂直設置于基板210上。第一組信號線220a及第二組信號線220b分別連接接墊225的第一組接墊225a及第二組接墊225b，掃描線220c連接掃描線接墊225c。修補結構240設置于周邊區(qū)域214上，修補結構240具有第一修補線241及第二修補線242。第二修補線242具有第一支線242a及第二支線242b，第一支線242a位于第一修補線241及第二支線242b之間。本實施例中，信號線220區(qū)分為第一組信號線220a、第二組信號線220b及掃描線220c，分別與接墊250之第一組接墊225a及第二組接墊225b連接。第一修補線241及第一支線242a跨越第一組信號線220a及第二組信號線220b，第二支線242b僅跨越第二組信號線220b。而陣列基板200a與陣列基板200的主要不同之處，在于修補結構240a的第一支線242c僅跨越第一組信號線220a。至于本實施例的信號線發(fā)生瑕疵時，應用修補線進行修補的方法，與實施例的大致相同，在此不加以贅述。然而本發(fā)明所屬的
技術領域：
的普通技術人員，可知本發(fā)明的技術不限于此。例如，信號線可以編號并以奇數(shù)-偶數(shù)(odd-even)分組，分別對應不同的修補支線。也可將信號線分組，并使不同組的信號線形成不同長度，將修補支線形成階梯狀與之對應，皆屬于本發(fā)明的范圍。在基板面積許可下，優(yōu)選地是采用膜上芯片(COFchiponfilm)結構的顯示模塊時，適用實施例的結構，然而，并不限于此；在基板面積有限，無法在掃描線輸入端設置修補線，優(yōu)選地是采用玻璃上芯片(COGchiponglass)結構的顯示模塊時，則適用實施例二的結構，然而，并不限于此。而上述實施例雖以對數(shù)據(jù)線進行修補為例做說明，實際上本發(fā)明也可以對掃描線進行修補。再者，本發(fā)明上述的實施例，可應用于顯示裝置中。顯示裝置，包含屏幕、電視、筆記型計算機、觸控式面板(touchpanel)、攜帶式電子產品的顯示屏(如移動電話、數(shù)字相機、數(shù)字錄像機、數(shù)字影音撥放機、數(shù)字秘書(如PDA(個人數(shù)字助理)、黑莓機(blackberry)、或其它類似的產品)、掌上型游戲機(如GameBoy、PSP(playstationportable)、NintendoDSLite、或其它類似的游戲機))、汽車影音裝置、戶外或室內顯示板、戶外或室內指示板等各種可供顯示的顯示裝置。除了上述的顯示裝置運用類型之外，亦包含不同種類的顯示裝置，包含有機發(fā)光二極管顯示器(OrganicLight-EmittingDiodesDisplay；OLED)、等離子體顯示器(PlasmaDisplayPanel；PDP)、液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay；LCD)、以及場發(fā)射顯示器(FieldEmissionDisplay；FED)等。本發(fā)明上述實施例所揭露的陣列基板及其修補方法，在至少其中一條修補線上，延伸出至少兩條支線。每一支線對應不同組的信號線。因此每一支線跨越的信號線數(shù)量減少，可以減少因RC負載所產生的信號衰減，使修補線能發(fā)揮預期的功效。上述的實施例僅用來例舉本發(fā)明的實施方案，以及闡釋本發(fā)明的技術特征，并非用來限制本發(fā)明的范疇。任何本領域的技術人員可輕易完成的改變或等同性的安排均屬于本發(fā)明所主張的范圍，本發(fā)明的權利范圍應以權利要求的范圍為準。權利要求1.一種陣列基板，包括基板，具有有源區(qū)域及鄰接該有源區(qū)域的周邊區(qū)域；多條信號線，設置于該基板上；以及至少一修補結構，設置于該周邊區(qū)域上，且該修補結構具有至少一第一修補線及至少一第二修補線，其中，該第二修補線具有第一支線及第二支線，該第一支線位于該第一修補線及該第二支線之間。2.如權利要求1所述的陣列基板，其中所述信號線分別連接多個接墊。3.如權利要求1所述的陣列基板，其中該第一修補線，跨越所述信號線的第一組信號線及第二組信號線。4.如權利要求3所述的陣列基板，其中該第一支線，跨越所述信號線的該第一組信號線及該第二組信號線。5.如權利要求4所述的陣列基板，其中該第二支線，跨越所述信號線的該第二組信號線。6.如權利要求1所述的陣列基板，其中該第一修補線，跨越所述信號線的第一組信號線。7.如權利要求6所述的陣列基板，其中該第一支線，跨越所述信號線的該第一組信號線。8.如權利要求7所述的陣列基板，其中該第二支線，跨越所述信號線的第二組信號線。9.如權利要求1所述的陣列基板，其中，該修補結構還包括第三修補線及第四修補線，該第三修補線及該第四修補線設置于該周邊區(qū)域上，且該第四修補線具有第三支線及第四支線，該第三支線位于該第三修補線及該第四支線之間。10.如權利要求9所述的陣列基板，其中該第三修補線，跨越所述信號線的第三組信號線及第四組信號線。11.如權利要求10所述的陣列基板，其中該第三支線，跨越所述信號線的該第三組信號線及該第四組信號線。12.如權利要求11所述的陣列基板，其中該第四支線，跨越所述信號線的該第四組信號線。13.如權利要求9所述的陣列基板，其中該第三修補線，跨越所述信號線的第三組信號線。14.如權利要求13所述的陣列基板，其中該第三支線，跨越所述信號線的該第三組信號線。15.如權利要求14所述的陣列基板，其中該第四支線，跨越所述信號線的第四組信號線。16.如權利要求9所述的陣列基板，其中該第一修補線及該第二修補線，與該第三修補線及該第四修補線分別設置于該基板的相對側上。17.如權利要求9所述的陣列基板，其中該第一修補線及該第二修補線，與該第三修補線及該第四修補線為對稱。18.一種陣列基板的修補方法，該陣列基板具有多條信號線，與至少一第一修補線及一第二修補線，且該第二修補線具有第一支線及第二支線，該第一支線跨越所述信號線的第一組信號線，該第二支線跨越所述信號線的第二組信號線，該修補方法包括(a)當該第一組信號線中的其中之一信號線發(fā)生缺陷時，電性連接該第一支線與該信號線；以及(b)當該第二組信號線中之其中的另一信號線發(fā)生缺陷時，電性連接該第二支線與另一條該信號線。19.如權利要求18所述的修補方法，其中步驟(a)還包括(a1)切斷該第二支線與該第二修補線。20.如權利要求19所述的修補方法，其中該陣列基板還包括在該第一修補線、該第二修補線與所述信號線之間的絕緣層，步驟(a)還包括(a2)貫穿該絕緣層；以及(a3)熔接該第一支線與該信號線。21.如權利要求20所述的修補方法，其中步驟(a3)后還包括(a4)在鄰近該信號線之處切斷該第一支線。22.如權利要求18所述的修補方法，其中步驟(b)還包括(b1)切斷該第一支線與該第二修補線。23.如權利要求22所述的修補方法，其中該陣列基板還包括在該第一修補線、該第二修補線與所述信號線之間的絕緣層，步驟(b)還包括(b2)貫穿該絕緣層；以及(b3)熔接該第二支線與另一條該信號線。24.如權利要求23所述的修補方法，其中步驟(b3)后還包括(b4)在鄰近另一條該信號線之處切斷該第二支線。25.一種陣列基板，包括基板；多條信號線，設置于該基板上；以及至少一修補結構，設置于該基板上，且該修補結構具有至少一第一修補線及至少一第二修補線，該第二修補線具有第一支線及第二支線，該第一支線位于該第一修補線及該第二支線之間；其中，該第一支線及該第二支線的至少之一者透過至少一熔接點與所述信號線其中之一熔接，且該第一修補線、該第一支線及該第二支線的至少之一具有至少一切割線。26.如權利要求25所述的陣列基板，其中該第一支線，跨越所述信號線的第一組信號線。27.如權利要求26所述的陣列基板，其中該第一支線透過該熔接點與該第一組信號線其中的一信號線熔接，且該切割線，位于該第二支線上。28.如權利要求26所述的陣列基板，其中該切割線鄰近于該第一支線上的該熔接點處。29.如權利要求25所述的陣列基板，其中該第二支線，跨越所述信號線的第二組信號線。30.如權利要求29所述的陣列基板，其中該第二支線透過該熔接點與該第二組信號線其中之一信號線熔接，且該切割線，位于該第一支線上。31.如權利要求29所述的陣列基板，其中該切割線鄰近于該第二支線上的該熔接點處。32.一種顯示面板，包括如權利要求1所述的陣列基板。33.一種顯示裝置，包括如權利要求1所述的陣列基板。34.一種顯示面板，包括如權利要求25所述的陣列基板。35.一種顯示裝置，包括如權利要求25所述的陣列基板。全文摘要本發(fā)明公開了一種陣列基板及包含該陣列基板的顯示面板及顯示裝置及其修補方法，該陣列基板包括基板、多條信號線及至少一修補結構?；寰哂杏性磪^(qū)域及鄰接有源區(qū)域的周邊區(qū)域，信號線設置于基板上。修補結構設置于周邊區(qū)域上，且修補結構具有至少一第一修補線及至少一第二修補線。第二修補線具有第一支線及第二支線，第一支線位于第一修補線及第二支線之間。文檔編號G09G3/00GK1928954SQ20061015429公開日2007年3月14日申請日期2006年9月20日優(yōu)先權日2006年9月20日發(fā)明者彭中宏,鄭孟杰,陳卿峰申請人:友達光電股份有限公司