專利名稱：測試驅(qū)動電路的方法以及用于顯示裝置的驅(qū)動電路的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于能夠以高精度測試的顯示裝置的驅(qū)動電路以及測試該顯示裝置的方法。
背景技術：
通常，用于驅(qū)動例如液晶顯示器的顯示裝置的顯示驅(qū)動器包括移位寄存器、數(shù)據(jù)寄存器、數(shù)據(jù)鎖存器、電平移位器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(D/A轉(zhuǎn)換器)以及輸出放大器。該移位寄存器順序移位每個像素的輸入數(shù)字圖像信號的灰度級數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寄存器保持對應于一條掃描線順序的該灰度級數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)鎖存器鎖存對應于一條掃描線的該灰度級數(shù)據(jù)。該電平移位器改變該灰度級數(shù)據(jù)的電壓電平。該D/A轉(zhuǎn)換器對該灰度級數(shù)據(jù)執(zhí)行D/A轉(zhuǎn)換，以對應于該灰度級數(shù)據(jù)產(chǎn)生模擬信號。該模擬信號由輸出放大器適當?shù)姆糯?，然后輸出?br>
順便提到，該顯示驅(qū)動器具有許多D/A轉(zhuǎn)換器，這些D/A轉(zhuǎn)換器用于驅(qū)動對應于一條掃描線的每個像素，因此測試該驅(qū)動器以便測試出轉(zhuǎn)換器是否正常運行是非常復雜的。為此，例如在日本未審查專利申請公開號No.2002-304164(后面稱為“現(xiàn)有技術”)中公開了這樣一種測試驅(qū)動器電路的方法，該方法旨在測試該電路以便測試在寬范圍上盡可能短的時間內(nèi)從模擬電壓引線以及輸出引線泄漏的漏電流。
圖9示出在該現(xiàn)有技術中描述的驅(qū)動器電路。如圖9所示，驅(qū)動器電路101包括電壓發(fā)生器107、連接到電壓發(fā)生器107的引線Mi、連接到所有引線Mi的第一切換裝置102以及連接到所有引線Mi的N個輸出級AN。N個輸出級AN中的每一個均包括連接到所有引線Mi的多路復用裝置(后面稱為“選擇電路”)104、連接到選擇電路104的放大器105以及第二切換裝置103，其中第二切換裝置103連接在選擇電路104和放大器105之間并且將選擇電路104的輸出連接到接地端GND。該選擇電路104接收數(shù)字信號EN，從而選擇性輸出任意一個引線Mi的信號。
測試驅(qū)動器電路中的相鄰引線Mi之間的漏電的方法如下所述。也就是，M個總線被充電到最大電位，并且通過第一切換裝置102使得總線Mi從電壓發(fā)生器107斷接，從而使得所有引線Mi處于浮動狀態(tài)。然后，選擇第二切換裝置103之一使其將輸出級AN之一連接到一個GND接線端。然后，數(shù)字信號Ei輸入到連接到接地端GND的該輸出級從而切換任意一個引線Mi到GND。檢查另一個輸出級的輸出電壓從而檢測引線Mi和Mi-1之間的漏電或者引線Mi和Mi+1之間的漏電。因此可以利用數(shù)字信號來測試該驅(qū)動器，因此能夠減短測試周期。
順便提到，除了測試引線之間的漏電之外，通過測試驅(qū)動器的其他功能，通過對在放大器105前一級設置的選擇電路(ROM單元)進行速度測試(通過速率測試)，可以確定該驅(qū)動器是否能夠被接受。在速度測試中，在預定周期對輸出電壓電平進行采樣，從而檢測通過速率是否是預設周期或者更高。因此，能夠檢測出選擇電路的導通(ON)電阻中以及輸出放大器的驅(qū)動功率中的異常性。在這種情況下，通常，選擇電路104從電壓發(fā)生器107產(chǎn)生的電壓中選擇預定電壓來檢查放大器(AMP)105的輸出電壓。
然而，在該現(xiàn)有技術中所述的測試方法中，第一切換裝置102首先被連接到電壓發(fā)生器107并被充電到預定電位，然后關斷第二切換裝置103。接著，基于數(shù)字信號Ei選擇一個目標引線Mi，然后將其連接到GND。最后，檢查每個輸出其他引線的電位的輸出級AN的電位。這些步驟的順序能夠重復引線Mi的數(shù)量那么多次，因此執(zhí)行該測試會花費很長時間。
而且，在上述選擇電路的速度測試中，通過放大器105產(chǎn)生在選擇電路104選擇輸出電壓時的延遲時間(ROM速度)。也就是，在速度測試中，選擇電路104的導通電阻的特性和放大器105的特性相互影響，因此幾乎不能相互區(qū)分開來。圖10是示出傳統(tǒng)驅(qū)動器電路中的放大器的輸出電壓的示意圖。如圖10所示，需要在測量通過速率的過渡周期期間執(zhí)行采樣。因此，如果原始輸出電壓VOUT1是VOUT2，則不可能確定出問題到底是出于AMP(放大器)能力不夠還是選擇電路104的導通電阻值太高。
也就是，由于選擇電路104的輸出電壓不能直接測量，因此，難以在采樣點設定確定標準。此外，如果在選擇電路104的放大器105的輸入側(cè)周圍出現(xiàn)漏電流，以及施加到晶體管的電壓下降，則不能檢測出該漏電流。而且，該問題是由選擇電路104的導通電阻被轉(zhuǎn)換成輸出的通過速率以及檢測其電壓電平所引起的。
如上所述，雖然驅(qū)動電路需要進行多種功能測試，但是，在例如該現(xiàn)有技術中描述的測試方法中，僅能夠測試引線之間的漏電。如果除了特定測試驅(qū)動器電路的引線之間的漏電之外，還能夠準確而快速的執(zhí)行其他多種測試例如選擇電路的速度測試，則能夠容易的獲得例如高性能低成本的顯示裝置。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種測試用于顯示裝置的驅(qū)動電路的方法，包括將測試信號提供到測試開關，該測試開關設置在用于選擇和輸出驅(qū)動電路的灰度級電壓的D/A轉(zhuǎn)換器和用于放大該D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓的放大器之間，從而設定測試模式；以及通過該測試開關將D/A轉(zhuǎn)換器連接到該驅(qū)動電路的輸出端，從而在該D/A轉(zhuǎn)換器上進行測試。
根據(jù)本發(fā)明，該D/A轉(zhuǎn)換器連接到該輸出端，并且不通過放大器而是通過測試開關來測量輸出電壓，從而使得可以基于不根據(jù)放大器而變化的電流或者電壓值來執(zhí)行測試，以及可以高精度測量該D/A轉(zhuǎn)換器中的選擇電路的導通電阻。
根據(jù)本發(fā)明，可以提供一種用于顯示裝置的通用驅(qū)動電路以及一種測試驅(qū)動電路的方法，其中在該顯示裝置上，能夠通過直接檢測該D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓來執(zhí)行多種測試。
結(jié)合附圖，參照下面的描述，本發(fā)明的上述和其他目的、優(yōu)點和特征都將變得更加明顯，其中圖1是示出一般的驅(qū)動器電路的方框圖；圖2是輸入到圖1的驅(qū)動器電路的每個信號的定時圖；
圖3A和3B示出從根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的驅(qū)動器電路的D/A轉(zhuǎn)換器到輸出端之間的電路；圖4示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例用于驅(qū)動器的測試器的特定示例；圖5示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例通過測試驅(qū)動器如何執(zhí)行提供直流電源(電壓V0到V7)繼電器開關的開/關控制的示例；圖6是測試方法的流程圖，其中該測試方法根據(jù)圖5的直流電源繼電器開關的開/關控制來檢測在灰度級電壓選擇電路的導通電阻中是否存在異常性；圖7是測試方法的另一個流程圖，其中該測試方法檢測在灰度級電壓選擇電路的導通電阻中是否存在異常性；圖8是基于每個輸出端上的輸出電壓對給定灰度級電壓進行故障/無故障測試的流程圖；圖9示出現(xiàn)有技術的驅(qū)動器電路；以及圖10是示出傳統(tǒng)的驅(qū)動器電路的放大器的輸出的示意圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在，將參照示例性實施例來描述本發(fā)明。本領域技術人員將意識到，利用本發(fā)明的教義能夠?qū)崿F(xiàn)多種可選實施例，以及本發(fā)明不限于這些實施例，這些實施例僅用于闡述性目的。
下面，將參照附圖來詳細描述本發(fā)明的一個實施例。通過將本發(fā)明應用為用作驅(qū)動顯示裝置的驅(qū)動器的驅(qū)動器電路而獲得本實施例，其中該驅(qū)動器電路測量灰度級電壓選擇電路的導通電阻，而該灰度級電壓選擇電路解碼輸入信號并且選擇灰度級電壓，從而高精度的確定該灰度級電壓選擇電路的質(zhì)量(異常性檢測)。
更具體而言，為了獨立于連接到該灰度級電壓選擇電路的輸出的AMP等來測量該導通電阻，在該灰度級電壓選擇電路和該AMP之間設置切換電路。利用該切換電路可以將該AMP等斷接于該灰度級電壓選擇電路，從而使得可以準確測量該灰度級電壓選擇電路的導通電阻。
在描述根據(jù)本實施例的驅(qū)動器電路和測試該驅(qū)動器電路的方法之前，闡述顯示裝置的驅(qū)動器電路。圖1是示出一般的驅(qū)動器電路的方框圖，而圖2是輸入到圖1的驅(qū)動器電路的每個信號的定時圖。如圖1所示，驅(qū)動器電路1輸出信號S1至Sn，也就是，n個像素的數(shù)據(jù)，并且包括移位寄存器2、數(shù)據(jù)寄存器3、數(shù)據(jù)鎖存器4、電平移位器5、D/A轉(zhuǎn)換器6以及輸出放大器單元7。驅(qū)動器電路1的移位寄存器2的輸出電壓施加到隨后級聯(lián)的驅(qū)動器電路，而多個驅(qū)動器電路1級聯(lián)從而構(gòu)成數(shù)據(jù)驅(qū)動電路(源驅(qū)動器)。移位寄存器2包括n級寄存器，并且施加移位啟動脈沖和時鐘，從而隨后和時鐘同步移位該啟動脈沖，從而獲得移位脈沖信號(S1)到(Sn)，如圖2所示。
數(shù)據(jù)寄存器3包括n級寄存器，數(shù)字圖像信號(后面稱為“數(shù)據(jù)”)并行提供到這些寄存器。這些寄存器隨后保持在例如由移位寄存器2提供的移位脈沖信號(S1)到(Sn)的下降沿的數(shù)據(jù)。
在完成將數(shù)據(jù)輸入到數(shù)據(jù)寄存器3的所有寄存器之后，數(shù)據(jù)鎖存器4接受數(shù)據(jù)鎖存信號，從而將鎖存存儲在數(shù)據(jù)寄存器3的寄存器中的所有數(shù)據(jù)。利用數(shù)據(jù)鎖存器4鎖存的數(shù)據(jù)的電壓電平通過電平移位器5而適當?shù)倪M行移位。
D/A轉(zhuǎn)換器6解碼已經(jīng)移位至輸出灰度級電壓的電壓電平的數(shù)據(jù)。該轉(zhuǎn)換器包括灰度級電壓產(chǎn)生單元以及灰度級電壓選擇電路，如下所述?；叶燃墔⒖茧妷菏┘拥皆摶叶燃夒妷寒a(chǎn)生單元，而該灰度級電壓選擇電路選擇性輸出例如64個灰度級的電壓。該輸出放大器單元7放大D/A轉(zhuǎn)換器6的輸出電壓，然后將放大的電壓輸出作為輸出信號S1至Sn。提供到數(shù)據(jù)鎖存器4的數(shù)據(jù)鎖存信號和極性反向信號也被提供到輸出放大器單元7，而選擇對應于該極性反向信號的極性信號并與該數(shù)據(jù)鎖存信號同步輸出。
該輸出放大器單元7包括放大器單元和開關，其中該放大器單元根據(jù)該極性來放大信號，而開關(下面稱為“關斷開關”)控制放大器單元的輸出的開/關狀態(tài)。如圖2所示，該關斷開關在從數(shù)據(jù)鎖存信號的上升沿到下降沿之間也就是輸出高阻抗周期期間根據(jù)放大器的極性來關斷輸出。該周期是D/A轉(zhuǎn)換器6的過渡周期。在該過渡周期中直到確定電位時，該關斷開關(TOFFSW)能夠被關斷從而獲得高阻抗(Hi-Z)狀態(tài)。
在檢測這種驅(qū)動器電路中的D/A轉(zhuǎn)換器的異常性時，提供測試信號用于使D/A轉(zhuǎn)換器6選擇灰度級，并且測量輸出放大器單元7的輸出電壓。然而，在這種情況下，D/A轉(zhuǎn)換器6的輸出電壓不能被直接測量，因此僅通過輸出放大器單元7來獲得測試結(jié)果。因此，不能如上所述根據(jù)放大器的性能來精確測試該電路。在本實施例中，不是通過輸出放大器單元7來獲得測試結(jié)果，這使得可以精確測試D/A轉(zhuǎn)換器的異常性。
圖3A和3B示出從根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的驅(qū)動器電路的D/A轉(zhuǎn)換器到輸出端之間的電路。為了避免輸出放大器單元的影響，如圖3A所示，連接到D/A轉(zhuǎn)換器的灰度級電壓選擇電路11的輸出放大器單元7的輸入以及輸出放大器單元7的輸出OUT通過例如MOS晶體管的測試開關(TTESTSW)20a而旁路。測試開關20a具有控制端(TEST端)，能夠控制連續(xù)性(開/關狀態(tài))。測試開關20a開啟從而將輸出放大器單元7的輸入直接連接到輸出OUT，并且能夠直接測量灰度級電壓選擇電路11的輸出電壓。
D/A轉(zhuǎn)換器包括灰度級電壓產(chǎn)生單元以及灰度級電壓選擇電路11，其中該灰度級電壓產(chǎn)生單元產(chǎn)生例如灰度級電壓γ1至γ4，而灰度級電壓選擇電路11選擇性輸出灰度級電壓γ1至γ4?；叶燃夒妷哼x擇電路11包括多個開關(晶體管)，其用于根據(jù)輸入信號來選擇所需灰度級電壓。該D/A轉(zhuǎn)換器的質(zhì)量能夠通過精確測量其導通電阻來進行確定。輸出放大器單元7包括AMP7a和關斷開關(TOFFSW)7b，該關斷開關(TOFFSW)7b執(zhí)行AMP7a的輸出的開/關控制。如上所述，關斷開關7b將AMP7a的輸出信號導入正常運行模式中的高阻抗狀態(tài)，直到灰度級電壓選擇電路11的輸出電壓得以穩(wěn)定。
例如，如果當開關TSEL1和TSEL2的晶體管導通時測量導通電阻，并且選擇器選擇灰度級電壓γ1，則測試信號TEST輸入到測試開關20a，而灰度級電壓選擇電路11和AMP7a之間的節(jié)點通過測試開關20a連接到輸出端OUT。因此，測試開關20a導通，而關斷開關7b關斷(輸出Hi-Z)。圖3B示出這種情況下的等效電路圖。假設，灰度級電壓γ1和施加到輸出的電壓VOUT之間的關系為Vγ1＞VOUT，并且其他灰度級電壓(γ2至γ4)保持為開路。在這種情況下，灰度級電壓選擇電路11的導通電阻能夠從下面的表達式獲取。
ISEL_ON＝(VOUT-Vγ1)/(RON_SEL1+RON_SEL2+RON_TESTSW)ISEL_ON表示測量電流，而RON_SEL1、RON_SEL2和RON_TESTSW分別表示開關晶體管TSEL1和TSEL2以及測試開關20a的導通電阻。在這種情況下，用于灰度級電壓選擇電路11中的開關晶體管的導通電阻在Pch晶體管的情況中為數(shù)百千歐姆。相反，測試開關20a的導通電阻小至數(shù)十歐姆，因此幾乎不影響測量精度。而且，從AMP7a的輸入到關斷開關7b之間的路徑被短路，因此輸出放大器單元7不會影響測量結(jié)果。因此，灰度級電壓選擇電路11的導通電阻能夠被精確測量。順便提到，可以執(zhí)行該測試，以使得不利用或提供關斷開關7b，從而測試信號提供到AMP7a，而輸出信號導致高阻抗狀態(tài)。
而且，電源電位VDD提供到輸出放大器單元7的輸出OUT作為第一電壓，該第一電壓不同于用作第二電壓的電壓γ1。因此，設定灰度級電壓選擇電路11的輸出電壓和電壓γ1之間的差值。測試開關20a在測試模式中導通，灰度級電壓選擇電路11的輸出被設定為電源電位VDD。類似于上述情況，當開關TSEL1和TSEL2導通以選擇灰度級電壓γ1時，由于Vγ＜VDD，所以電流ISEL_ON流向灰度級電壓γ1的電源側(cè)。測量該電流從而測量灰度級電壓選擇電路11的導通電阻，而不會影響輸出放大器單元7。而且，測試開關20a的導通電阻比構(gòu)成灰度級電壓選擇電路11的開關晶體管的導通電阻要小得多，因此不會影響測量精度。
D/A轉(zhuǎn)換器或者根據(jù)上述概念來測試灰度級電壓選擇電路的方法將更加詳細的描述。圖4示出用于本實施例的驅(qū)動器的測試器。如圖4所示，D/A轉(zhuǎn)換器6連接到測量電路(LST測試器)30A。測量電路30A是可編程直流電源。在本實施例中，設置8個直流電源311至318(31k)，從而能夠提供8個直流電壓。
而且，移位寄存器2、數(shù)據(jù)寄存器3、數(shù)據(jù)鎖存器4和電平移位器5連接到測量電路30B。測量電路30B是測試圖案發(fā)生器，其產(chǎn)生并施加提供到移位寄存器2的啟動脈沖和時鐘、提供到數(shù)據(jù)寄存器3的數(shù)據(jù)、提供到數(shù)據(jù)鎖存器的數(shù)據(jù)鎖存信號和極性反向信號。而且，該電路產(chǎn)生測試信號以將該測試信號提供到測試開關20。
而且，輸出放大器單元7的輸出連接到測量電路30C。當測試開美20響應于測試信號而導通時，連接輸出放大器7的輸入和輸出。然后，灰度級電壓選擇電路11的輸出不是通過輸出放大器7而是通過測試開關20從而連接到測量電路30C。測量電路30C是直流測試單元，并且包括直流繼電器開關(relay switch)33a和33b、電壓源/電流測量電路(VSIM)34以及電流源/電壓測量電路(ISVM)35。該直流繼電器開關33a用于將對應于預定輸出端的輸出連接到測量電路30C。而且，直流繼電器開關33b切換電壓源/電流測量電路34以及電流源/電壓測量電路35。因此，可以產(chǎn)生電壓來測量電流，或者可以產(chǎn)生電流來測量電壓。
D/A轉(zhuǎn)換器6包括灰度級電壓選擇電路11以及灰度級電壓產(chǎn)生單元12。在本實施例中，產(chǎn)生并選擇性輸出64位灰度級的灰度級電壓。在這種情況下，例如，灰度級電壓產(chǎn)生單元12包括63個電阻器R0至R62。產(chǎn)生64位灰度級的灰度級電壓以通過電阻性劃分來劃分測量電路30A提供的直流功率。在本實施例中，設置用于提供直流功率(電壓V0至V7)的8個直流電源311至318(31k)以及用于將直流電源31k連接到灰度級電壓產(chǎn)生單元12的繼電器開關321至328(32k)。通過適當導通/關斷繼電器開關32k，從而能夠?qū)㈩A定直流功率(電壓V0至V7)提供給灰度級電壓產(chǎn)生單元12?；叶燃夒妷哼x擇電路11包括64個接線端GMA0至GMA63?；叶燃夒妷寒a(chǎn)生單元12的電阻器R0至R62的每端都連接到接線端GMA0至GMA63，從而基于從電平移位器5提供的輸入數(shù)據(jù)來選擇和輸出64個灰度級的灰度級電壓V0至V63(Vn)中的任意一個。該輸出如上所述通過測試開關20連接到測量裝置30C，從而測量構(gòu)成D/A轉(zhuǎn)換器6的灰度級電壓選擇電路11的晶體管的導通電阻。
接著，描述測試如上所述構(gòu)建而成的測試電路的方法。執(zhí)行該測試，以使得輸入數(shù)據(jù)由測量電路(測試圖案發(fā)生器)30B來產(chǎn)生，灰度級電壓選擇電路11選擇預定灰度級電壓，而電壓由測量電路(直流測試單元)30C來測量。這時，測試電路(可編程直流電源)30A的直流電源繼電器開關32k適當?shù)膶?關斷，從而將直流電源(電壓V0至V7)提供給灰度級電壓產(chǎn)生單元12。圖5示出如何開/關提供直流電源(電壓V0到V7)的繼電器開關321至328的示例。而且，圖6和7是測試方法的流程圖，其中利用上述方法，該測試方法根據(jù)圖5的直流電源繼電器開關32k的開/關控制來檢測在灰度級電壓選擇電路11的導通電阻中的異常性。此外，圖8是為每個輸出端k(輸出端的數(shù)量k＝1至A)輸出灰度級電壓(灰度級的數(shù)量M＝0至m)的情況下進行故障/無故障測試的流程圖。
順便提到，在本實施例中，測量灰度級電壓選擇電路11的導通電阻。然而，該測試可以在驅(qū)動器的另一個單元的測試或者其他運行測試之后執(zhí)行。根據(jù)本實施例的該測試，如圖6所示，驅(qū)動器和測量電路首先被初始化(步驟S1)。通過該初始化步驟，關斷提供給驅(qū)動器電源的的裝置電源，關斷可編程直流電源繼電器開關32k，并且關斷直流繼電器開關33a和33b。
接著，設定裝置電源和直流電源(步驟S2)。首先，啟用裝置電源(步驟S3)，以及啟用直流電源31k(步驟S4)。接著，導通V0繼電器開關(步驟S5)。然后，測量電路30B輸入用于選擇0灰度級電壓V0的灰度級數(shù)據(jù)，以及利用測試信號TEST設定測試模式(步驟S6)。例如，如果測試開關20由Pch晶體管構(gòu)成，則測試信號設定為L電平從而導通測試開關20。
接著，從每個輸出端輸出灰度級電壓V0(步驟S7)。順便提到，下面將進行步驟S7的處理過程。通過完成步驟S7的處理過程，如圖7所示，灰度級m的數(shù)量被設定為1(步驟S8)。然后，根據(jù)圖5的圖示，V0至V7繼電器開關32k被開/關。也就是，在測試灰度級電壓V1至V8(m＝1至8)的情況下，例如，關斷V0繼電器開關321(步驟S9)，以及導通V1繼電器開關322(步驟S11)。然后，重復輸入用于選擇灰度級電壓的灰度級數(shù)據(jù)從而執(zhí)行步驟S7的處理過程的操作，直到m＝8(步驟S12至步驟S14)。
當m＝9時，根據(jù)圖5的圖示來切換V0至V7繼電器開關32k。也就是，關斷V1繼電器開關322(步驟S15)，以及導通V2繼電器開關323(步驟S16)，從而將直流電壓V2提供給灰度級電壓產(chǎn)生單元12。然后，測量灰度級電壓V9至V23(步驟S17至步驟S20)。根據(jù)圖5的圖示，基于灰度級電壓Vm來適當?shù)拈_/關V0至V7繼電器開關32k，從而持續(xù)執(zhí)行該測試，一直測試到灰度級電壓V63(至步驟S42)。此后，基于所有灰度級電壓Vm的測量結(jié)果來執(zhí)行故障/無故障測試(步驟S43)。最后，關斷裝置電源，關斷裝置直流電源繼電器開關32k，以及關斷直流測試單元的直流繼電器開關33a和33b，從而完成測試。順便提到，還可以在步驟S43接受的電路上執(zhí)行其他測試。
接著，詳細描述步驟S7的處理過程。在該示例中，描述本實施例的驅(qū)動器的輸出端K的數(shù)量為A的情況。首先，通過將計數(shù)器的計數(shù)值k設定為0，從而執(zhí)行初始化過程(步驟S51)，接著對所有輸出端執(zhí)行下面的測量過程(步驟S52)。也就是，首先，連接到輸出OUTk的測量電路30C的直流繼電器開關33a和33b導通從而設定VSIM模式(步驟S53)。然后，測量輸出OUTk的電流值(步驟S54)。如果該電流值大于預定值(步驟S55是)，則關斷連接到輸出OUTk的測量電路30C的直流繼電器開關33a和33b(步驟S56)，從而增加k(步驟S57)。確定每個輸出OUTk的電流值是否大于預定值k，直到k達到輸出端A的數(shù)量。另一方面，在步驟S55中，如果測量電流值小于預定值，也就是，灰度級電壓選擇電路11的導通電阻比較大，則舍棄該電路(步驟S58)。關斷電源和開關從而完成測試(步驟S59)。而且，當k達到輸出端A的數(shù)量時，完成該處理過程(SUB1處理過程)然后該過程進行到下一個步驟(步驟S8、S14、S20、S26、S32、S38或者S43)。
在本實施例中，將測試開關20提供到D/A轉(zhuǎn)換器6的灰度級電壓選擇電路11的輸出，并且直接測量灰度級電壓選擇電路11的輸出電壓。因此，能夠精確測量灰度級電壓選擇電路11的導通電阻，而沒有輸出放大器單元7造成的影響。而且，對于在輸出放大器單元7的前一級中執(zhí)行的多種測試，僅通過導通測試開關20能夠類似的直接測量D/A轉(zhuǎn)換器6的輸出電壓。而且，測試開關20可以在測試模式中導通，以及能夠利用簡單的結(jié)構(gòu)和簡單的控制來獲得通用的測試電路。
順便提到，本發(fā)明不限于上述實施例，可以在本發(fā)明的范圍內(nèi)進行多種變型。例如，在圖4中，測量的是灰度級電壓選擇電路11的輸出電流，但是也可以測量電壓。而且，通過測試開關20來將電源電壓提供給灰度級電壓選擇電路11，但是也可以利用連接到灰度級電壓產(chǎn)生單元12的測量電路30B來測量電流。此外，本實施例描述了用于檢測灰度級電壓選擇電路的導通電阻的異常性的速度測試。然而，也可以執(zhí)行其他的功能測試，例如，利用LSI測試器來測試輸出引腳直接的漏電。在這種情況下，在測試期間，在驅(qū)動器側(cè)可以保持測試信號為有源，因此不同于上述現(xiàn)有技術，開關的開/關控制是不必要的，這使得可以縮短測試周期。
明顯的是，本發(fā)明不限于上述實施例，上述實施例可以進行變型和改變，而不會脫離本發(fā)明的范圍和精神。
權利要求
1.一種測試用于顯示裝置的驅(qū)動電路的方法，包括將測試信號提供到測試開關，該測試開關設置在用于選擇和輸出驅(qū)動電路的灰度級電壓的D/A轉(zhuǎn)換器和用于放大該D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓的放大器之間，從而設定測試模式；以及通過該測試開關將D/A轉(zhuǎn)換器連接到該驅(qū)動電路的輸出端，從而在該D/A轉(zhuǎn)換器上進行測試。
2.根據(jù)權利要求1所述的測試驅(qū)動電路的方法，其中D/A轉(zhuǎn)換器選擇并輸出預定灰度級電壓來測量輸出端上的輸出電壓。
3.根據(jù)權利要求1所述的測試驅(qū)動電路的方法，其中第一電壓提供給輸出端，而第二電壓施加到D/A轉(zhuǎn)換器的輸入端，從而通過測試開關將電流提供給在D/A轉(zhuǎn)換器中選擇性設置的路徑，從而測量D/A轉(zhuǎn)換器的電阻值。
4.根據(jù)權利要求1所述的測試驅(qū)動電路的方法，其中D/A轉(zhuǎn)換器的灰度級電壓產(chǎn)生單元通過利用用于提供用于產(chǎn)生灰度級電壓的電壓的第一測量裝置來產(chǎn)生多個灰度級電壓，D/A轉(zhuǎn)換器的灰度級電壓選擇單元從利用D/A轉(zhuǎn)換器的灰度級電壓產(chǎn)生單元產(chǎn)生的多個灰度級電壓中選擇預定灰度級電壓，從而通過利用用于選擇并輸出預定灰度級電壓的第二測量裝置來輸出選定的灰度級電壓，以及為基于灰度級電壓的操作測試該灰度級電壓選擇單元，其中該灰度級電壓通過利用連接到輸出端的第三測量裝置利用該灰度級電壓選擇單元來進行選擇和輸出。
5.一種用于顯示裝置的驅(qū)動電路，其根據(jù)提供的圖像信號來選擇和輸出灰度級電壓，從而放大并輸出該灰度級電壓，包括用于選擇并輸出灰度級電壓的D/A轉(zhuǎn)換器；用于放大D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓的放大器；以及用于將D/A轉(zhuǎn)換器連接到放大器的輸出端的測試開關，其中當在測試模式中接收測試信號時該測試開關將放大器斷接于D/A轉(zhuǎn)換器，從而使得能夠通過測試開關和輸出端來測量D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓。
6.根據(jù)權利要求5所述的用于顯示裝置的驅(qū)動電路，其中D/A轉(zhuǎn)換器包括用于基于從電源提供的電壓來產(chǎn)生多個灰度級電壓的灰度級電壓產(chǎn)生單元，以及用于利用D/A轉(zhuǎn)換器的灰度級電壓產(chǎn)生單元產(chǎn)生的多個灰度級電壓中選擇預定灰度級電壓從而輸出選定的灰度級電壓的灰度級電壓選擇單元，以及測試開關將灰度級電壓選擇單元連接到輸出端。
全文摘要
將測試信號提供到測試開關，該測試開關設置在用于選擇和輸出驅(qū)動電路的灰度級電壓的D/A轉(zhuǎn)換器和用于放大該D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓的放大器之間，從而設定測試模式，以及通過測試開關由測量裝置來直接測量D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓，從而測量D/A轉(zhuǎn)換器的灰度級電壓選擇電路的導通電阻。
文檔編號G09G3/20GK1924988SQ20061012669
公開日2007年3月7日 申請日期2006年9月1日 優(yōu)先權日2005年9月2日
發(fā)明者奧苑登, 森上隆, 安田司 申請人:恩益禧電子股份有限公司