專利名稱：基板監(jiān)測(cè)裝置和x射線ct裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及基板監(jiān)測(cè)裝置和X射線CT裝置。
背景技術(shù)：
X射線CT (Computed Tomography)裝置是醫(yī)療用診斷裝置之一。具體而言，X射線CT裝置具備架臺(tái)裝置、寢臺(tái)裝置和操作臺(tái)裝置。操作臺(tái)裝置由操作臺(tái)控制部、輸入操作部、顯示部等構(gòu)成。架臺(tái)裝置由蓋體、旋轉(zhuǎn)部、主框架等構(gòu)成。旋轉(zhuǎn)部?jī)?nèi)部裝配有X射線管、高壓發(fā)生裝置、檢測(cè)器、電源等部件。架臺(tái)裝置的主框架上安裝有用于對(duì)架臺(tái)側(cè)的各電子元件進(jìn)行控制的基板。當(dāng)這些元器件中的某個(gè)部件出現(xiàn)異常狀況時(shí)，為了便于操作者獲知是哪個(gè)部件出現(xiàn)了異常，在基板上設(shè)置有多個(gè)LED燈，由基板上的CPU進(jìn)行控制。當(dāng)其中某個(gè)部件出現(xiàn)異常狀況時(shí)，基板上的CPU就使與該部件相對(duì)應(yīng)的LED燈亮起，同時(shí)在顯示部出現(xiàn)錯(cuò)誤代碼提
/Jn ο這種情況下，操作者就根據(jù)在顯示部出現(xiàn)的錯(cuò)誤代碼提示查找服務(wù)手冊(cè)，并查找相應(yīng)基板上的LED顯示燈，進(jìn)而明確出具體的錯(cuò)誤位置，然后確定如何維護(hù)。因此，操作者要想具體確認(rèn)出基板的異常信息，就需要拆卸蓋體，然后再查找基板上的LED等，及服務(wù)手冊(cè)上的相關(guān)信息，才能具體定位出錯(cuò)誤的具體位置，增加了操作者進(jìn)行異常情況確認(rèn)的難度。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型是為了解決上述問題而提出的，其目的在于，提供一種基板監(jiān)測(cè)裝置和X射線CT裝置，能夠便于操作者確認(rèn)架臺(tái)側(cè)由基板控制的各電子元件的狀態(tài)。本實(shí)用新型的實(shí)施例的基板監(jiān)測(cè)裝置包括信號(hào)采集單元，采集設(shè)置在架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件對(duì)架臺(tái)側(cè)的基板反饋的信號(hào)；信號(hào)分析與控制單元，根據(jù)所述信息采集單元采集的信號(hào)分析各所述電子元件的工作狀態(tài)，并輸出相應(yīng)的控制信號(hào)；顯示單元，根據(jù)所述信號(hào)分析與控制單元輸出的控制信號(hào)顯示相應(yīng)的信息。本實(shí)用新型的另一實(shí)施例的基板監(jiān)測(cè)裝置，還包括用于對(duì)所述顯示單元進(jìn)行顯示信息切換的切換鍵。本實(shí)用新型的另一實(shí)施例的基板監(jiān)測(cè)裝置，所述顯示單元為IXD顯示屏。本實(shí)用新型的實(shí)施例的X射線CT裝置包括X射線管，向被檢體照射X射線；X射線檢測(cè)器，檢測(cè)從所述X射線管照射并透過所述被檢體P的X射線；信號(hào)采集單元，采集設(shè)置在架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件對(duì)架臺(tái)側(cè)的基板反饋的信號(hào)；信號(hào)分析與控制單元，根據(jù)所述信息采集單元采集的信號(hào)分析各所述電子元件的工作狀態(tài)，并輸出相應(yīng)的控制信號(hào)；[0019]顯示單元，根據(jù)所述信號(hào)分析與控制單元輸出的控制信號(hào)顯示相應(yīng)的信息。本實(shí)用新型的另一實(shí)施例的X射線CT裝置，還包括用于對(duì)所述顯示單元進(jìn)行顯示信息切換的切換鍵。本實(shí)用新型的另一實(shí)施例的X射線CT裝置，所述顯示單元為IXD顯示屏。本實(shí)用新型通過采用信號(hào)采集單元來(lái)采集各電子元件對(duì)基板反饋的信號(hào)，信號(hào)分析與控制單元再根據(jù)該信號(hào)判斷各電子元件的工作狀態(tài)，并控制顯示單元顯示相應(yīng)工作狀態(tài)信息，這樣，操作者就只需要直接查看顯示單元即可以知道這些單子元器件的狀態(tài)，從而便于進(jìn)一步檢查或是維修。

圖1為表示本實(shí)用新型的一種實(shí)施方式的X射線CT裝置的簡(jiǎn)略結(jié)構(gòu)框圖；圖2為表示架臺(tái)裝置的外觀結(jié)構(gòu)主視圖；圖3為表示本實(shí)用新型基板監(jiān)測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意框圖。
具體實(shí)施方式
下面，參照附圖說(shuō)明本實(shí)用新型的一種實(shí)施方式。圖1為表示本實(shí)用新型的一種實(shí)施方式的X射線CT裝置的簡(jiǎn)略結(jié)構(gòu)框圖。圖2為表示架臺(tái)裝置的外觀結(jié)構(gòu)主視圖。X射線CT裝置由架臺(tái)裝置1、寢臺(tái)裝置2和操作臺(tái)裝置3構(gòu)成。架臺(tái)裝置I包括架臺(tái)控制部4、高電壓發(fā)生部5、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部6、傾斜驅(qū)動(dòng)部7、X射線管8、X射線檢測(cè)器9、數(shù)據(jù)收集部10以及對(duì)架臺(tái)控制部4進(jìn)行監(jiān)測(cè)的基板監(jiān)測(cè)裝置(下述)，以及安裝各部的主框架22和將主框架22罩住的蓋體23。本實(shí)用新型下述所說(shuō)的基板即指這里的架臺(tái)控制部4。寢臺(tái)裝置2包括寢臺(tái)基座11、寢臺(tái)控制部12、寢臺(tái)天板13。操作臺(tái)裝置3包括操作臺(tái)控制部14、輸入操作部15、前處理部16、X射線投影數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部17、重構(gòu)處理部18、圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部19、圖像處理部20、顯示部21。架臺(tái)控制部4根據(jù)來(lái)自操作臺(tái)裝置3的輸入操作部15的輸入，控制架臺(tái)裝置I內(nèi)的各個(gè)部分。高電壓發(fā)生部5根據(jù)從架臺(tái)控制部4發(fā)送的控制信號(hào)，將從X射線管8照射X射線所必要的高電壓供給X射線管8。X射線管8借助由高電壓發(fā)生部5提供的高電壓照射X射線。從X射線管8照射的X射線形成扇形或是錐形。X射線檢測(cè)器9檢測(cè)從X射線管8照射并透過被檢體P的X射線。在單切片CT裝置的情況下，X射線檢測(cè)器9將例如1000通道的X射線檢測(cè)元件呈扇形或者直線形排列成一列。另外，在多切片CT裝置的情況下，X射線檢測(cè)器9在相互正交的兩個(gè)方向(切片方向及通道方向)呈陣列狀配置多個(gè)X射線檢測(cè)元件，借此構(gòu)成二維X射線檢測(cè)器。數(shù)據(jù)收集部10與X射線檢測(cè)器9的各個(gè)X射線檢測(cè)元件一樣，具有排列成陣列狀的數(shù)據(jù)收集元件，根據(jù)從架臺(tái)控制部4輸出的數(shù)據(jù)收集控制信號(hào)，收集由X射線檢測(cè)器9檢測(cè)出來(lái)的X射線(實(shí)際上，是檢測(cè)信號(hào))。收集起來(lái)的數(shù)據(jù)成為X射線投影數(shù)據(jù)。[0036]旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部6利用從架臺(tái)控制部4輸出的控制信號(hào)，驅(qū)動(dòng)圖中未示出的馬達(dá)，對(duì)旋轉(zhuǎn)體進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。傾斜驅(qū)動(dòng)部7借助從架臺(tái)控制部4輸出的控制信號(hào)使驅(qū)動(dòng)缸和從動(dòng)缸伸縮，使旋轉(zhuǎn)體和主體框架一起以任意的角度傾斜。寢臺(tái)驅(qū)動(dòng)部12根據(jù)來(lái)自操作臺(tái)裝置3的輸入操作部15的輸入，是寢臺(tái)基座11沿上下方向移動(dòng)，以及是寢臺(tái)天板13沿長(zhǎng)度方向(箭頭X方向)移動(dòng)。接受X射線CT掃描的被檢體P，以被檢體P的體軸方向與寢臺(tái)天板13的移動(dòng)方向(箭頭X方向)相一致的取向，被載置在寢臺(tái)天板13上。輸入操作部15由鍵盤、觸摸面板、鼠標(biāo)等構(gòu)成，進(jìn)行用于驅(qū)動(dòng)X射線CT裝置的各 種輸入操作。操作臺(tái)控制部14產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于來(lái)自輸入操作部15的輸入的控制信號(hào)，將該控制信號(hào)發(fā)送到架臺(tái)控制部4、寢臺(tái)驅(qū)動(dòng)部12以及操縱臺(tái)裝置3內(nèi)的各個(gè)部分。前處理部16對(duì)從數(shù)據(jù)收集部10輸出的X射線投影數(shù)據(jù)施行靈敏度修正、X射線強(qiáng)度修正等前處理。在前處理部16施行了靈敏度修正等前處理的X射線投影數(shù)據(jù)，被暫時(shí)存儲(chǔ)在X射線投影數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部17內(nèi)。重構(gòu)處理部18通過對(duì)存儲(chǔ)在X射線投影數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部17內(nèi)的X射線投影數(shù)據(jù)進(jìn)行逆投影處理，重新構(gòu)成圖像數(shù)據(jù)。這種逆投影的方法和公知的方法相同，省略其說(shuō)明。另外，在對(duì)X射線投影數(shù)據(jù)進(jìn)行內(nèi)插處理的情況下，利用360度內(nèi)插法或者180內(nèi)插法等公知的內(nèi)插法，求出目標(biāo)切片位置處的X射線投影數(shù)據(jù)。重新構(gòu)成的圖像數(shù)據(jù)在被暫時(shí)存儲(chǔ)在圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部19內(nèi)之后，被發(fā)送到圖像處理部20。圖像處理部20根據(jù)來(lái)自輸入操作部15的輸入，利用公知的方法，將圖像數(shù)據(jù)變換成任意截面的斷層像、來(lái)自任意方向的投影像、或者通過渲染處理形成的三維圖像等的圖像數(shù)據(jù)，發(fā)送到顯示部21。在顯示部21根據(jù)圖像數(shù)據(jù)顯示圖像。圖3為表示本實(shí)用新型基板監(jiān)測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意框圖。如圖2、3所示，本實(shí)用新型基板監(jiān)測(cè)裝置包括信號(hào)采集單元32、信號(hào)分析與控制單元33和顯示單元34。信號(hào)采集單元32與基板31相連，信號(hào)采集單元32用于采集設(shè)置在架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件對(duì)架臺(tái)側(cè)的基板31反饋的信號(hào)。通常情況下，基板31控制架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件進(jìn)行工作，這些電子元件同時(shí)會(huì)反饋給基板31信號(hào)。例如，高電壓發(fā)生部5反饋的輸出電壓信號(hào)，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部6反饋的電機(jī)控制信號(hào)，傾斜驅(qū)動(dòng)部7反饋的電機(jī)控制信號(hào)，X射線管8、X射線檢測(cè)器9以及數(shù)據(jù)收集部10反饋的通信狀態(tài)信號(hào)。信號(hào)分析與控制單元33與信號(hào)采集單元32相連，用于根據(jù)信息采集單元32采集的信號(hào)分析各電子元件的工作狀態(tài)，并輸出相應(yīng)的控制信號(hào)。顯示單元34與信號(hào)分析與控制單元33相連，用于根據(jù)信號(hào)分析與控制單元33輸出的控制信號(hào)顯示相應(yīng)的信息。顯示單元34可以設(shè)置在如圖2所示的蓋體23上，便于操作者查看。此外，在顯示單元34上還設(shè)置有用于對(duì)顯示單元34進(jìn)行顯示信息切換的切換鍵34，該切換鍵34與信號(hào)分析與控制單元33相連。這樣，當(dāng)基板31控制的架臺(tái)側(cè)的各電子元件中某個(gè)部件出現(xiàn)工作異常時(shí)，例如當(dāng)X射線管8出現(xiàn)異常狀況時(shí)，顯示部21就會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤提示。此時(shí)，操作者直接通過查看顯示單元34顯示的信息，就能夠知道是X射線管8出現(xiàn)了異常狀況，從而便于操作者進(jìn)一步檢查或是維修。如果出現(xiàn)異常狀況是多個(gè)部件，例如，當(dāng)多個(gè)電氣元件(如X射線管8、傾斜驅(qū)動(dòng)部7的電機(jī))同時(shí)出現(xiàn)異常狀況時(shí)，操作者還可以通過切換鍵34進(jìn)行切換顯示，這樣就能夠便于操作者快速查閱到是這幾個(gè)部件出現(xiàn)了異常狀況，從而便于操作者快速做出進(jìn)一步檢查或是維修的決定。在本實(shí)用新型實(shí)施例中，顯示單元34采用LCD顯示屏，或是具有觸摸功能的LCD顯示屏，而信號(hào)采集單元32和信號(hào)分析與控制單元33可以采用數(shù)據(jù)采集卡。另外，顯示單元34可以如圖2所示,將顯示單元34設(shè)置在蓋體23的側(cè)蓋上,這樣，操作者不用打開蓋就能夠通過顯示單元34進(jìn)行查看，從而方便了操作者進(jìn)行異常狀況查閱。當(dāng)然，顯示單元34也可以是設(shè)置其它位置，例如，安裝在由蓋體23覆蓋的主體框架22上。這時(shí)，操作者將蓋體23的相應(yīng)部分打開，就能夠很方便地進(jìn)行異常狀況查閱。雖然上面對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行了說(shuō)明，但是這些實(shí)施方式是作為例子而提示的，而不試圖去限制實(shí)用新型的范圍。這些新的實(shí)施方式能夠以其他各種方式來(lái)實(shí)施，在不脫離實(shí)用新型的主旨的范圍內(nèi)，能夠進(jìn)行各種省略、置換和變更。這些實(shí)施方式或其變形包含于實(shí)用新型的范圍和主旨中，并且包含于專利請(qǐng)求的范圍所記載的實(shí)用新型和與其均等的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種基板監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，包括信號(hào)采集單元(32)，采集設(shè)置在架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件對(duì)架臺(tái)側(cè)的基板(31)反饋的信號(hào);信號(hào)分析與控制單元(33)，根據(jù)所述信息采集單元(32)采集的信號(hào)分析各所述電子元件的工作狀態(tài)，并輸出相應(yīng)的控制信號(hào)；顯示單元(34)，根據(jù)所述信號(hào)分析與控制單元(33)輸出的控制信號(hào)顯示相應(yīng)的信息。
2.如權(quán)利要求1所述的基板監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，還包括用于對(duì)所述顯示單元(34) 進(jìn)行顯示信息切換的切換鍵(35)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的基板監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述顯示單元(34)為IXD顯示屏。
4.一種X射線CT裝置，其特征在于，包括X射線管，向被檢體照射X射線；X射線檢測(cè)器，檢測(cè)從所述X射線管照射并透過所述被檢體P的X射線；信號(hào)采集單元(32)，采集設(shè)置在架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件對(duì)架臺(tái)側(cè)的基板(31)反饋的信號(hào);信號(hào)分析與控制單元(33)，根據(jù)所述信息采集單元(32)采集的信號(hào)分析各所述電子元件的工作狀態(tài)，并輸出相應(yīng)的控制信號(hào)；顯示單元(34)，根據(jù)所述信號(hào)分析與控制單元(33)輸出的控制信號(hào)顯示相應(yīng)的信息。
5.如權(quán)利要求4所述的X射線CT裝置，其特征在于，還包括用于對(duì)所述顯示單元(34) 進(jìn)行顯示信息切換的切換鍵(35)。
6.如權(quán)利要求4或5所述的X射線CT裝置，所述顯示單元(34)為IXD顯示屏。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種基板監(jiān)測(cè)裝置和X射線CT裝置，基板監(jiān)測(cè)裝置包括信號(hào)采集單元，采集設(shè)置在架臺(tái)側(cè)的各個(gè)電子元件對(duì)架臺(tái)側(cè)的基板反饋的信號(hào)；信號(hào)分析與控制單元，根據(jù)所述信息采集單元采集的信號(hào)分析各所述電子元件的工作狀態(tài)，并輸出相應(yīng)的控制信號(hào)；顯示單元，根據(jù)所述信號(hào)分析與控制單元輸出的控制信號(hào)顯示相應(yīng)的信息。本實(shí)用新型通過采用信號(hào)采集單元來(lái)采集各電子元件對(duì)基板反饋的信號(hào)，信號(hào)分析與控制單元再根據(jù)該信號(hào)判斷各電子元件的工作狀態(tài)，并控制顯示單元顯示相應(yīng)工作狀態(tài)信息，這樣，操作者就只需要直接查看顯示單元即可以知道這些單子元器件的狀態(tài)，從而便于進(jìn)一步檢查或是維修。
文檔編號(hào)A61B6/03GK202821402SQ20122056936
公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2012年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月31日
發(fā)明者馬曉東 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝, 東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會(huì)社