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一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng)的制作方法

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一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),正電子發(fā)射斷層掃描儀包括外圍電子學(xué)板,探測(cè)器模塊和底部電子學(xué)板;冷卻系統(tǒng)包括:冷卻裝置,外圍冷卻氣道,內(nèi)腔冷卻氣道與底部冷卻氣道。內(nèi)腔冷卻氣道為腔體,包括進(jìn)風(fēng)通道與回風(fēng)通道。外圍電子學(xué)板位于外圍冷卻氣道中,探測(cè)器模塊位于進(jìn)風(fēng)通道與回風(fēng)通道之間,底部電子學(xué)板位于底部冷卻氣道中。冷卻裝置用于向外圍冷卻氣道,內(nèi)腔冷卻氣道和底部冷卻氣輸送冷卻氣流,以冷卻外圍電子學(xué)板、探測(cè)器模塊和底部電子學(xué)板。本發(fā)明對(duì)外圍電子學(xué)板和底部電子學(xué)板采用通風(fēng)冷卻,為探測(cè)器模塊提供低溫且穩(wěn)定的內(nèi)腔冷卻氣道,提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性和成像質(zhì)量。
【專利說(shuō)明】一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及醫(yī)療儀器【技術(shù)領(lǐng)域】,尤其涉及一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]正電子發(fā)射斷層掃描儀在現(xiàn)今的醫(yī)學(xué)診斷中發(fā)揮著巨大的作用。正電子發(fā)射斷層掃描儀利用正電子核素標(biāo)記葡萄糖等人體代謝物作為顯像劑,通過(guò)探測(cè)器探測(cè)病灶對(duì)顯像劑的攝取來(lái)反映其代謝變化,從而為臨床提供疾病的生物代謝信息。其成像原理是:正電子核素衰變時(shí)發(fā)射的一個(gè)正電子與人體組織中的自由電子結(jié)合湮滅,轉(zhuǎn)化為兩個(gè)方向相反,能量各為511KeV的Y光子。當(dāng)對(duì)向排列在發(fā)射體兩邊的閃爍探頭同時(shí)接收到這一對(duì)Y光子時(shí),就確定了該核素位于兩個(gè)探頭的連線(稱為符合線,L0R)上,這種探測(cè)方式就是符合探測(cè)。通過(guò)計(jì)算機(jī)的重建算法對(duì)各個(gè)方向探測(cè)到的攜帶空間位置信息的探測(cè)點(diǎn)進(jìn)行圖像重建,得到核素在生物體內(nèi)空間的分布,就生成了帶有正電子核素信息的圖像。為了獲得清晰穩(wěn)定的掃描圖像,正電子發(fā)射斷層掃描儀中的探測(cè)器和電子學(xué)需要工作在一個(gè)合適且穩(wěn)定的溫度環(huán)境下。溫度升高會(huì)顯著增加系統(tǒng)噪聲,溫度波動(dòng)會(huì)引起系統(tǒng)漂移,從而降低圖像質(zhì)量。因此冷卻系統(tǒng)是保證正電子發(fā)射斷層掃描儀質(zhì)量的關(guān)鍵部件之一?,F(xiàn)今普遍采用的是普通的通風(fēng)冷卻,即直接抽入掃描間內(nèi)的空氣帶走機(jī)器內(nèi)部的熱量,這種冷卻方式直接受掃描間溫度波動(dòng)的影響,難以保持系統(tǒng)工作溫度的穩(wěn)定,同時(shí)容易將環(huán)境中的灰塵雜質(zhì)帶入探測(cè)器,影響成像效果和系統(tǒng)穩(wěn)定性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明提出了一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),所述正電子發(fā)射斷層掃描儀包括外圍電子學(xué)板,探測(cè)器模塊和底部電子學(xué)板,所述冷卻系統(tǒng)包括:`[0004]外圍冷卻氣道,所述外圍電子學(xué)板位于所述外圍冷卻氣道中;
[0005]內(nèi)腔冷卻氣道,其為腔體,包括進(jìn)風(fēng)通道與回風(fēng)通道,所述探測(cè)器模塊位于所述進(jìn)風(fēng)通道與回風(fēng)通道之間;
[0006]底部冷卻氣道,所述底部電子學(xué)板位于所述底部冷卻氣道中;以及
[0007]冷卻裝置,用于向所述外圍冷卻氣道,內(nèi)腔冷卻氣道和底部冷卻氣道輸送冷卻氣流,以冷卻所述外圍電子學(xué)板、探測(cè)器模塊和底部電子學(xué)板。
[0008]其中,所述外圍冷卻氣道的入風(fēng)口處與所述底部冷卻氣道的入風(fēng)口處設(shè)置有導(dǎo)風(fēng)板;所述導(dǎo)風(fēng)板分流所述外圍風(fēng)機(jī)輸送的氣流至所述外圍冷卻氣道與底部冷卻氣道中。
[0009]其中,氣流從所述外圍冷卻氣道的入風(fēng)口中吹入,經(jīng)過(guò)并冷卻所述外圍電子學(xué)板后從所述外圍冷卻氣道的出風(fēng)口流出。
[0010]其中,所述內(nèi)腔冷卻氣道中的氣流經(jīng)冷卻后,由所述進(jìn)風(fēng)通道流過(guò)并冷卻所述探測(cè)器模塊,所述氣流再經(jīng)所述回風(fēng)通道回流進(jìn)行重新冷卻。
[0011]其中,氣流從所述底部冷卻氣道的入風(fēng)口中吹入,經(jīng)過(guò)并冷卻所述底部電子學(xué)板后從所述底部冷卻氣道的出風(fēng)口流出。
[0012]其中,所述探測(cè)器模塊的兩側(cè)均設(shè)有通氣孔;所述通氣孔使所述冷卻氣流均勻通過(guò)所述探測(cè)器模塊。
[0013]其中,所述冷卻裝置包括:
[0014]外圍風(fēng)機(jī),其設(shè)置在所述底部冷卻氣道中;所述外圍風(fēng)機(jī)同時(shí)向所述外圍冷卻氣道與所述底部冷卻氣道輸送冷卻氣流,并帶走冷凝器散發(fā)的熱量;
[0015]內(nèi)腔風(fēng)機(jī),其設(shè)置在所述內(nèi)腔冷卻氣道中;所述內(nèi)腔冷卻氣道中的氣流由所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)驅(qū)動(dòng);
[0016]壓縮機(jī)電源,其與所述外圍風(fēng)機(jī)以及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)并聯(lián)連接,并與壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器、壓縮機(jī)串聯(lián)連接,用于向所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器、壓縮機(jī)供電;
[0017]所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器用于驅(qū)動(dòng)并調(diào)節(jié)所述壓縮機(jī)的工作轉(zhuǎn)速;
[0018]所述壓縮機(jī)依次與冷凝器、高壓沖注口、膨脹閥、蒸發(fā)器、低壓沖注口連通并形成回路;所述壓縮機(jī)提高氣態(tài)的制冷劑的壓力,并將所述氣態(tài)的制冷劑傳輸至所述冷凝器;
[0019]所述冷凝器正對(duì)于所述外圍風(fēng)機(jī)設(shè)置在所述底部冷卻氣道中;流經(jīng)所述冷凝器的氣態(tài)的制冷劑受所述外圍風(fēng)機(jī)的風(fēng)冷影響而液化,形成液態(tài)的制冷劑被傳輸至所述膨脹閥;
[0020]所述 膨脹閥將所述液態(tài)的制冷劑轉(zhuǎn)變?yōu)殪F狀的制冷劑,并將所述氣霧狀的制冷劑傳輸至所述蒸發(fā)器;
[0021]所述蒸發(fā)器正對(duì)于所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)設(shè)置在所述內(nèi)腔冷卻氣道中;所述霧狀的制冷劑流經(jīng)所述蒸發(fā)器轉(zhuǎn)為氣態(tài)的制冷劑,所述氣態(tài)的制冷劑吸收由所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)所驅(qū)動(dòng)的內(nèi)腔氣流中的熱量,之后所述氣態(tài)的制冷劑回輸至所述壓縮機(jī),如此循環(huán)。
[0022]其中,所述冷卻裝置進(jìn)一步包括:溫度控制器與至少一個(gè)溫度探頭;
[0023]所述溫度控制器與所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器、外圍風(fēng)機(jī)以及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)連接;所述溫度控制器向所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器發(fā)送壓縮機(jī)控制信號(hào),控制所述壓縮機(jī)的工作轉(zhuǎn)速;所述溫度控制器調(diào)節(jié)所述外圍風(fēng)機(jī)及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)的功率;
[0024]所述溫度探頭測(cè)量所述內(nèi)腔冷卻氣道和/或所述蒸發(fā)器的溫度,將測(cè)量結(jié)果傳送至所述溫度控制器中。
[0025]其中,所述冷卻裝置進(jìn)一步包括干燥過(guò)濾器;所述干燥過(guò)濾器安裝在所述高壓沖注口與膨脹閥之間,用于濾除液態(tài)的制冷劑中的水分與雜質(zhì)。
[0026]其中,所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)驅(qū)動(dòng)所述內(nèi)腔冷卻氣道中的氣流流過(guò)所述蒸發(fā)器,所述蒸發(fā)器對(duì)所述氣流進(jìn)行冷卻。
[0027]本發(fā)明在保證外圍電子學(xué)板和底部電子學(xué)板通風(fēng)冷卻的基礎(chǔ)上,為探測(cè)器模塊創(chuàng)造了一個(gè)溫度較低且十分穩(wěn)定的內(nèi)腔環(huán)境,避免了探測(cè)器模塊因熱量積聚導(dǎo)致的檢測(cè)噪聲以及溫度波動(dòng)引起的系統(tǒng)漂移,提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性和成像質(zhì)量。
[0028]本發(fā)明設(shè)置了內(nèi)腔冷卻氣道、外圍冷卻氣道。外圍冷卻氣道儀作普通通風(fēng)冷卻,內(nèi)腔冷卻氣道配備專門的制冷系統(tǒng),在內(nèi)腔小熱負(fù)載環(huán)境中得到較高的溫度控制精度,同時(shí)降低了對(duì)制冷系統(tǒng)的容量要求。
[0029]本發(fā)明設(shè)置的內(nèi)腔冷卻氣道封閉循環(huán),既有利于內(nèi)腔溫度的穩(wěn)定,也可防止外部灰塵雜質(zhì)污染探測(cè)器。[0030]本發(fā)明的外圍冷卻氣道與底部冷卻氣道共用一個(gè)外圍風(fēng)機(jī),降低了本發(fā)明的成本與復(fù)雜程度。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0031]圖1顯示根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的正電子發(fā)射斷層掃描儀的剖面圖。
[0032]圖2顯示根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的冷卻系統(tǒng)的內(nèi)腔冷卻氣道的示意圖。
[0033]圖3顯示根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的冷卻系統(tǒng)的冷卻裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0034]結(jié)合以下具體實(shí)施例和附圖,對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。實(shí)施本發(fā)明的過(guò)程、條件、實(shí)驗(yàn)方法等,除以下專門提及的內(nèi)容之外,均為本領(lǐng)域的普遍知識(shí)和公知常識(shí),本發(fā)明沒(méi)有特別限制內(nèi)容。
[0035]1-冷卻裝置,2-隔板結(jié)構(gòu),3-正電子發(fā)射斷層掃描儀,10-外圍風(fēng)機(jī),11-內(nèi)腔風(fēng)機(jī),12-冷凝器,13-高壓沖注口,14-干燥過(guò)濾器,15-膨脹器,16-蒸發(fā)器,17-低壓沖注口,18-壓縮機(jī),181-壓縮機(jī)電源,182-壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器,20-外圍冷卻氣道,21-底部冷卻氣道,22-內(nèi)腔冷卻氣道,23-進(jìn)風(fēng)通道,24-回風(fēng)通道,31-外圍電子學(xué)板,32-探測(cè)器模塊,33-底部電子學(xué)板,34-導(dǎo)風(fēng)板,35-通風(fēng)孔,36-空氣過(guò)濾裝置,41-溫度控制器,42-溫度探頭。
[0036]其中,冷卻裝置I包括外圍風(fēng)機(jī)10與內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11。外圍風(fēng)機(jī)10設(shè)置在底部冷卻氣道21中。外圍風(fēng)機(jī)10同時(shí)向外圍冷卻氣道20與底部冷卻氣道21輸送氣流以冷卻外圍電子學(xué)板31與底部電子學(xué)板33。內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11設(shè)置在內(nèi)腔冷卻氣道22中。內(nèi)腔冷卻氣道22中的氣流由內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11驅(qū)動(dòng),以冷卻探測(cè)器模塊32。其中,外圍電子學(xué)板31為探測(cè)器模塊信號(hào)處理板,用于探測(cè)`器模塊信號(hào)的前置處理。探測(cè)器模塊32為Y光子探測(cè)器,用于探測(cè)Y光子。底部電子學(xué)板33為探測(cè)器系統(tǒng)處理板,用于整機(jī)系統(tǒng)信號(hào)處理。
[0037]圖1顯示本發(fā)明一實(shí)施例的正電子發(fā)射斷層掃描儀3的剖面圖。正電子發(fā)射斷層掃描儀3包括外圍電子學(xué)板31,探測(cè)器模塊32,底部電子學(xué)板33。冷卻系統(tǒng)包括三個(gè)氣流通道:外圍冷卻氣道20、內(nèi)腔冷卻氣道22以及底部冷卻氣道21。其中正電子發(fā)射斷層掃描儀的探測(cè)器環(huán)(PET Ring)由隔板結(jié)構(gòu)2分為內(nèi)腔冷卻氣道22和外圍冷卻氣道20。內(nèi)腔氣道為安裝其中的探測(cè)器模塊32提供冷卻氣流。外圍氣道為安裝其中的外圍電子學(xué)板31提供冷卻氣流。底部冷卻氣道21位于外圍冷卻氣道20和內(nèi)腔冷卻氣道22的下方,底部冷卻氣道21為安裝其中的底部電子學(xué)板33等部件提供冷卻氣流。冷卻系統(tǒng)還包括冷卻裝置I。冷卻裝置I向外圍冷卻氣道20、底部冷卻氣道21及內(nèi)腔冷卻氣道提供冷卻氣流,用于冷卻外圍電子學(xué)板31、探測(cè)器模塊32和底部電子學(xué)板33。
[0038]外圍冷卻氣道20與底部冷卻氣道21共用一個(gè)外圍風(fēng)機(jī)10,外圍風(fēng)機(jī)10安裝在底部冷卻氣道21中,兩個(gè)氣流通道風(fēng)量分配由導(dǎo)風(fēng)板34完成。外圍風(fēng)機(jī)10從正電子發(fā)射斷層掃描儀3所在的外部空間吸入空氣,該吸入側(cè)裝有空氣過(guò)濾裝置36。
[0039]圖2顯示的是內(nèi)腔冷卻氣道22的示意圖。內(nèi)腔冷卻氣道22是一個(gè)封閉腔體,內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11實(shí)現(xiàn)內(nèi)腔冷卻氣道22內(nèi)部空氣循環(huán)流動(dòng),蒸發(fā)器16將內(nèi)腔氣道的熱量帶出,并通過(guò)冷凝器12在底部冷卻氣道21中散熱。內(nèi)腔冷卻氣道22包括進(jìn)風(fēng)通道23與回風(fēng)通道24,正電子發(fā)射斷層掃描儀3的探測(cè)器模塊32位于進(jìn)風(fēng)通道23與回風(fēng)通道24之間。內(nèi)腔冷卻氣道22中探測(cè)器模塊32的兩側(cè)均勻地分布有通風(fēng)孔35,以保證不同位置的探測(cè)器模塊32受到的均勻的冷卻氣流。
[0040]圖3顯示的是冷卻裝置的示意圖。冷卻系統(tǒng)包含了冷卻裝置1,以保證外圍電子學(xué)板31,探測(cè)器模塊32和底部電子學(xué)板33工作在較低且穩(wěn)定的溫度下。冷卻裝置I還包括壓縮機(jī)18、冷凝器12、膨脹閥15、蒸發(fā)器16、外圍風(fēng)機(jī)10、內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11、壓縮機(jī)電源181與壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器182。其中,壓縮機(jī)電源181與外圍風(fēng)機(jī)10以及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11并聯(lián)連接,并與壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器182、壓縮機(jī)18串聯(lián)連接。壓縮機(jī)18依次與冷凝器12、高壓沖注口 13、膨脹閥15、蒸發(fā)器16、低壓沖注口 17連通并形成回路。高壓充注口 13與低壓充注口 17用于灌注制冷劑。壓縮機(jī)18用于提高氣態(tài)的制冷劑的壓力,并將氣態(tài)的制冷劑傳輸至冷凝器12。冷凝器12正對(duì)于外圍風(fēng)機(jī)10設(shè)置在底部冷卻氣道21中;流經(jīng)冷凝器12的氣態(tài)的制冷劑受外圍風(fēng)機(jī)10的風(fēng)冷影響而液化,形成液態(tài)的制冷劑;液態(tài)的制冷劑傳輸至膨脹閥15。膨脹閥15將液態(tài)的制冷劑轉(zhuǎn)變?yōu)殪F狀的制冷劑,并將氣霧狀的制冷劑傳輸至蒸發(fā)器16。蒸發(fā)器16正對(duì)于內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11設(shè)置在內(nèi)腔冷卻氣道22中;霧狀的制冷劑流經(jīng)蒸發(fā)器16轉(zhuǎn)為氣態(tài)的制冷劑輸送至液壓機(jī)18,如此循環(huán)。
[0041]冷卻裝置I進(jìn)一步包括溫度控制器41與至少一個(gè)溫度探頭42。本實(shí)施例中溫度探頭42為2個(gè)。溫度控制器41分別與壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器182、外圍風(fēng)機(jī)10、內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11以及溫度探頭42連接。溫度控制器41向壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器182發(fā)送壓縮機(jī)控制信號(hào)以控制壓縮機(jī)18的工作轉(zhuǎn)速。溫度控制器41調(diào)節(jié)外圍風(fēng)機(jī)10及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11的功率。溫度探頭42分別測(cè)量?jī)?nèi)腔冷卻氣道22和蒸發(fā)器16的溫度,并將測(cè)量結(jié)果傳送至溫度控制器41中。
[0042]冷卻裝置I還進(jìn)一步包括干燥過(guò)濾器14。干燥過(guò)濾器14安裝在高壓沖注口 13與膨脹閥15之間,用于濾除液態(tài)的制冷劑中的水分與雜質(zhì)。
[0043]本實(shí)施例 中,一個(gè)溫度探頭42安裝在蒸發(fā)器16的出風(fēng)口,多個(gè)溫度探頭42均勻地安裝在內(nèi)腔冷卻氣道22中。溫度控制器41通過(guò)溫度探頭42的反饋結(jié)果控制壓縮機(jī)18的轉(zhuǎn)速及外圍風(fēng)機(jī)10和內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11的風(fēng)量來(lái)達(dá)到溫度控制的目的。
[0044]冷卻裝置I的工作過(guò)程如下:壓縮機(jī)18將經(jīng)過(guò)蒸發(fā)器16的氣態(tài)的制冷劑壓縮,提高壓力(同時(shí)溫度也提高),使制冷劑比較容易液化放熱。高壓的氣態(tài)的制冷劑進(jìn)入冷凝器12,外圍風(fēng)機(jī)10使空氣通過(guò)冷凝器12的縫隙,帶走制冷劑放出的熱量并使其液化。液化后的制冷劑進(jìn)入干燥過(guò)濾器14,濾掉其中的雜質(zhì)、水分,同時(shí)存儲(chǔ)適量的液態(tài)的制冷劑以備制冷負(fù)荷發(fā)生變化時(shí)制冷劑不會(huì)斷流。從干燥過(guò)濾器14出來(lái)的制冷劑流至膨脹閥15,從膨脹閥15中的節(jié)流孔噴出形成霧狀制冷劑。霧狀的制冷劑進(jìn)入蒸發(fā)器16,由于制冷劑的壓力急劇下降,很快蒸發(fā)氣化,吸收熱量,內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11使空氣不斷通過(guò)蒸發(fā)器16的縫隙,其溫度下降,并將低溫氣體吹送至內(nèi)腔冷卻氣道22以冷卻其中的探測(cè)器模塊32。蒸發(fā)器16流出的氣態(tài)的制冷劑再進(jìn)入壓縮機(jī)18重復(fù)上述過(guò)程。當(dāng)溫度探頭42檢測(cè)到溫度變化時(shí),溫度控制器41可調(diào)節(jié)壓縮機(jī)18的轉(zhuǎn)速及外圍風(fēng)機(jī)10和內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11的風(fēng)量來(lái)達(dá)到溫度控制的目的。
[0045]外圍風(fēng)機(jī)10通過(guò)空氣過(guò)濾裝置36從PET所在的外部空間吸入空氣,鼓出的氣流經(jīng)導(dǎo)風(fēng)板34后,一部分流至底部冷卻氣道21的另一側(cè)以冷卻底部電子學(xué)板33,隨后排入外部空間。另一部分流至外圍冷卻氣道20以冷卻其中的外圍電子學(xué)板31,后經(jīng)頂部的出風(fēng)口排入外部空間。[0046]內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11驅(qū)動(dòng)內(nèi)腔冷卻氣道22內(nèi)的空氣流經(jīng)蒸發(fā)器16并冷卻,冷卻后的氣流上行至進(jìn)風(fēng)通道23并進(jìn)入均布的通風(fēng)孔35以冷卻其中的探測(cè)器模塊32。此后氣流經(jīng)對(duì)側(cè)的通風(fēng)孔35匯集到回風(fēng)通道24并由內(nèi)腔風(fēng)機(jī)11吸入進(jìn)行新的冷卻循環(huán)。
[0047]本發(fā)明的保護(hù)內(nèi)容不局限于以上實(shí)施例。在不背離發(fā)明構(gòu)思的精神和范圍下,本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到的變化和優(yōu)點(diǎn)都被包括在本發(fā)明中,并且以所附的權(quán)利要求書(shū)為保護(hù)范圍 。
【權(quán)利要求】
1.一種正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),所述正電子發(fā)射斷層掃描儀(3)包括外圍電子學(xué)板(31),探測(cè)器模塊(32)和底部電子學(xué)板(33),其特征在于,所述冷卻系統(tǒng)包括: 外圍冷卻氣道(20),所述外圍電子學(xué)板(31)位于所述外圍冷卻氣道(20)中; 內(nèi)腔冷卻氣道(22),其為腔體,包括進(jìn)風(fēng)通道(23)與回風(fēng)通道(24),所述探測(cè)器模塊(32)位于所述進(jìn)風(fēng)通道(23)與回風(fēng)通道(24)之間;底部冷卻氣道(21),所述底部電子學(xué)板(33)位于所述底部冷卻氣道(21)中;以及冷卻裝置(1),用于向所述外圍冷卻氣道(20),內(nèi)腔冷卻氣道(22)和底部冷卻氣道(21)輸送冷卻氣流,以冷卻所述外圍電子學(xué)板(31)、探測(cè)器模塊(32)和底部電子學(xué)板(33)。
2.如權(quán)利要求1所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述外圍冷卻氣道(20)的入風(fēng)口處與所述底部冷卻氣道(21)的入風(fēng)口處設(shè)置有導(dǎo)風(fēng)板(34);所述導(dǎo)風(fēng)板(34)分流所述外圍風(fēng)機(jī)(10)輸送的氣流至所述外圍冷卻氣道(20)與底部冷卻氣道(21)中。
3.如權(quán)利要求1所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,氣流從所述外圍冷卻氣道(20)的入風(fēng)口中吹入,經(jīng)過(guò)并冷卻所述外圍電子學(xué)板(31)后從所述外圍冷卻氣道(20)的出風(fēng)口流出。
4.如權(quán)利要求1所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述內(nèi)腔冷卻氣道(22)中的氣流經(jīng)冷卻后,由`所述進(jìn)風(fēng)通道(23)流過(guò)并冷卻所述探測(cè)器模塊(32),所述氣流再經(jīng)所述回風(fēng)通道(24)回流進(jìn)行重新冷卻。
5.如權(quán)利要求1所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,氣流從所述底部冷卻氣道(21)的入風(fēng)口中吹入,經(jīng)過(guò)并冷卻所述底部電子學(xué)板(33)后從所述底部冷卻氣道(21)的出風(fēng)口流出。
6.如權(quán)利要求1所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述探測(cè)器模塊(32)的兩側(cè)均設(shè)有通氣孔(35);所述通氣孔(35)使所述冷卻氣流均勻通過(guò)所述探測(cè)器模塊(32)。
7.如權(quán)利要求1所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻裝置⑴包括: 外圍風(fēng)機(jī)(10),其設(shè)置在所述底部冷卻氣道(21)中;所述外圍風(fēng)機(jī)(10)同時(shí)向所述外圍冷卻氣道(20)與所述底部冷卻氣道(21)輸送冷卻氣流; 內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11),其設(shè)置在所述內(nèi)腔冷卻氣道(22)中;所述內(nèi)腔冷卻氣道(22)中的氣流由所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)驅(qū)動(dòng); 壓縮機(jī)電源(181),其與所述外圍風(fēng)機(jī)(10)以及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)并聯(lián)連接,并與壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器(182)、壓縮機(jī)(18)串聯(lián)連接,用于向所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器(182)、壓縮機(jī)(18)供電;所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器(182)用于驅(qū)動(dòng)并調(diào)節(jié)所述壓縮機(jī)(18)的工作轉(zhuǎn)速; 所述壓縮機(jī)(18)依次與冷凝器(12)、高壓沖注口(13)、膨脹閥(15)、蒸發(fā)器(16)、低壓沖注口(17)連通并形成回路;所述壓縮機(jī)(18)提高氣態(tài)的制冷劑的壓力,并將所述氣態(tài)的制冷劑傳輸至所述冷凝器(12); 所述冷凝器(12)正對(duì)于所述外圍風(fēng)機(jī)(10)設(shè)置在所述底部冷卻氣道(21)中;流經(jīng)所述冷凝器(12)的氣態(tài)的制冷劑受所述外圍風(fēng)機(jī)(10)的風(fēng)冷影響而液化,形成液態(tài)的制冷劑;所述液態(tài)的制冷劑被傳輸至所述膨脹閥(15); 所述膨脹閥(15)將所述液態(tài)的制冷劑轉(zhuǎn)變?yōu)殪F狀的制冷劑,并將所述氣霧狀的制冷劑傳輸至所述蒸發(fā)器(16); 所述蒸發(fā)器(16)正對(duì)于所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)設(shè)置在所述內(nèi)腔冷卻氣道(22)中;所述霧狀的制冷劑流經(jīng)所述蒸發(fā)器(16)轉(zhuǎn)為氣態(tài)的制冷劑,所述氣態(tài)的制冷劑吸收由所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)所驅(qū)動(dòng)的內(nèi)腔氣流中的熱量,之后所述氣態(tài)的制冷劑回輸至所述壓縮機(jī)(18),如此循環(huán)。
8.如權(quán)利要求7所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻裝置(I)進(jìn)一步包括:溫度控制器(41)與至少一個(gè)溫度探頭(42); 所述溫度控制器(41)與所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器(182)、外圍風(fēng)機(jī)(10)以及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)連接;所述溫度控制器(41)向所述壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)器(182)發(fā)送壓縮機(jī)控制信號(hào),控制所述壓縮機(jī)(18)的工作轉(zhuǎn)速;所述溫度控制器(41)調(diào)節(jié)所述外圍風(fēng)機(jī)(10)及內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)的轉(zhuǎn)速,從而調(diào)節(jié)空氣流速; 所述溫度探頭(42)測(cè)量所述內(nèi)腔冷卻氣道(22)和/或所述蒸發(fā)器(16)的溫度,將測(cè)量結(jié)果傳送至所述溫度控制器(41)中。
9.如權(quán)利要求7所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻裝置(I)進(jìn)一步包括干燥過(guò)濾器(14);所述干燥過(guò)濾器(14)安裝在所述高壓沖注口(13)與膨脹閥(15)之間,用于濾除所述液態(tài)的制冷劑中的水分與雜質(zhì)。
10.如權(quán)利要求7所述的正電子發(fā)射斷層掃描儀的冷卻系統(tǒng),其特征在于,所述內(nèi)腔風(fēng)機(jī)(11)驅(qū)動(dòng)所述內(nèi)腔冷卻氣道(22`)中的氣流流過(guò)所述蒸發(fā)器(16),所述蒸發(fā)器(16)對(duì)所述氣流進(jìn)行冷卻。
【文檔編號(hào)】A61B6/03GK103860187SQ201210529729
【公開(kāi)日】2014年6月18日 申請(qǐng)日期:2012年12月10日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月10日
【發(fā)明者】劉士濤, 劉偉平 申請(qǐng)人:上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司
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