技術(shù)編號：6186225
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種，測試系統(tǒng)包括真空加熱機構(gòu)、黑體、溫控機構(gòu)、測量機構(gòu)、驅(qū)動機構(gòu)和計算機處理機構(gòu)。溫控機構(gòu)控制真空加熱機構(gòu)和黑體運作，驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動測量機構(gòu)運作，測量機構(gòu)分別對待測樣品和黑體的能量進(jìn)行探測，并將探測的能量轉(zhuǎn)換成電壓信號后傳送至計算機處理機構(gòu)。本發(fā)明測試系統(tǒng)簡單、成本低廉、性能穩(wěn)定、操作方便；測試方法簡單，技術(shù)可靠，測試效率高。專利說明[0001]本發(fā)明涉及發(fā)射率測量，特別是涉及一種。背景技術(shù)[0002]熱輻射體表面的法線方向光譜輻射強度與相同溫...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。